CN112732586A - 一种芯片调试方法、系统、设备及计算机可读存储介质 - Google Patents

一种芯片调试方法、系统、设备及计算机可读存储介质 Download PDF

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Abstract

本申请公开了一种芯片调试方法、系统、设备及计算机可读存储介质，在预设的内存数据库中获取调试信息；按照调试信息对目标芯片进行调试，得到调试结果；将调试结果记录至内存数据库中。本申请中，借助内存数据库保存调试信息，这样，当需要修改调试信息时，可以直接通过内存数据库对其进行修改，无需对SDK的源代码进行修改，且可以将调试结果保存在内存数据库中，可以保存调试结果中的有效信息，还便于借助内存数据库对调试结果进行处理，适用性好。本申请提供的一种芯片调试系统、设备及计算机可读存储介质也解决了相应技术问题。

Description

一种芯片调试方法、系统、设备及计算机可读存储介质
技术领域
本申请涉及计算机技术领域，更具体地说，涉及一种芯片调试方法、系统、设备及计算机可读存储介质。
背景技术
在计算机中，需要根据应用需要对芯片进行调试，比如可以通过软件开发工具包(Software Development Kit，SDK)来进行芯片调试。
但是，在应用SDK进行芯片调试的过程中，芯片性能调试时不同的场景有不同的性能数据统计需求，也即需要根据需要修改调测信息的调测信息，但调试信息的修改一般需要修改SDK相关源代码，过程繁琐不易实时；且调试信息存储在SDK中，无法保留有效信息；适用性差。
综上所述，如何提高芯片调试方法的适用性是目前本领域技术人员亟待解决的问题。
发明内容
本申请的目的是提供一种芯片调试方法，其能在一定程度上解决如何提高芯片调试方法的适用性的技术问题。本申请还提供了一种芯片调试系统、设备及计算机可读存储介质。
为了实现上述目的，本申请提供如下技术方案：
一种芯片调试方法，包括：
在预设的内存数据库中获取调试信息；
按照所述调试信息对目标芯片进行调试，得到调试结果；
将所述调试结果记录至所述内存数据库中。
优选的，所述在预设的内存数据库中获取调试信息，包括：
在所述内存数据库中获取调试信息控制表；
基于所述调试信息控制表确定所述调试信息；
其中，所述调试信息控制表的数据结构包括：芯片模块标识、调试级别、性能模式、文件名、行号。
优选的，所述将所述调试结果记录至所述内存数据库中，包括：
将所述调试结果记录至所述内存数据库的调试信息记录表中；
所述调试信息记录表的数据结构包括：时间戳、进程标识、线程标识、芯片模块标识、调试级别、文件名、行号、调试结果。
优选的，所述按照所述调试信息对目标芯片进行调试，得到调试结果，包括：
按照所述调试信息对所述目标芯片进行调试；
判断所述调试信息中的所述性能模式是否开启，若是，则记录性能数据作为所述调试结果。
优选的，所述判断所述调试信息中的所述性能模式是否开启之后，还包括：
若所述性能模式未开启，则判断所述调试信息中是否包含文件名和/或行号；
若包含文件名和/或行号，则直接记录所述调试结果；
若不包含文件名，且不包含行号，则判断所述调试信息中的调试级别是否高于预设级别；
若所述调试信息中的调试级别高于所述预设级别，则直接记录所述调试结果。
优选的，所述将所述调试结果记录至所述内存数据库中之后，还包括：
在所述内存数据库中持久化所述调试结果。
优选的，所述将所述调试结果记录至所述内存数据库中之后，还包括：
基于所述内存数据库对所述调试结果进行分析，得到分析结果，所述分析的方式包括筛选、统计、排序、查找。
一种芯片调试系统，包括：
第一获取模块，用于在预设的内存数据库中获取调试信息；
第一调试模块，用于按照所述调试信息对目标芯片进行调试，得到调试结果；
第一记录模块，用于将所述调试结果记录至所述内存数据库中。
一种芯片调试设备，包括：
存储器，用于存储计算机程序；
处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上任一所述芯片调试方法的步骤。
一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上任一所述芯片调试方法的步骤。
本申请提供的一种芯片调试方法，在预设的内存数据库中获取调试信息；按照调试信息对目标芯片进行调试，得到调试结果；将调试结果记录至内存数据库中。本申请中，借助内存数据库保存调试信息，这样，当需要修改调试信息时，可以直接通过内存数据库对其进行修改，无需对SDK的源代码进行修改，且可以将调试结果保存在内存数据库中，可以保存调试结果中的有效信息，还便于借助内存数据库对调试结果进行处理，适用性好。本申请提供的一种芯片调试系统、设备及计算机可读存储介质也解决了相应技术问题。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例提供的一种芯片调试方法的流程图；
图2为本申请实施例提供的一种芯片调试系统的结构示意图；
图3为本申请实施例提供的一种芯片调试设备的结构示意图；
图4为本申请实施例提供的一种芯片调试设备的另一结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
请参阅图1，图1为本申请实施例提供的一种芯片调试方法的流程图。
本申请实施例提供的一种芯片调试方法，可以包括以下步骤：
步骤S101：在预设的内存数据库中获取调试信息。
实际应用中，可以先在预设的内存数据库中获取调试信息，也即本申请中需预先设置内存数据库，并借助内存数据库保存调试信息，调试信息的类型及内容可以根据实际需要确定，本申请在此不做具体限定。
步骤S102：按照调试信息对目标芯片进行调试，得到调试结果。
实际应用中，在预设的内存数据库中获取调试信息之后，便可以按照调试信息对目标芯片进行调试，得到相应的调试结果，调试结果的类型及内容可以根据实际需要确定，本申请在此不做具体限定。
步骤S103：将调试结果记录至内存数据库中。
实际应用中，在按照调试信息对目标芯片进行调试，得到调试结果之后，为了保存调试结果中的有效内容，及便于对调试结果进行处理，可以将调试结果记录至内存数据库中，具体的，可以相对应的保存调试信息及调试结果等。
本申请提供的一种芯片调试方法，在预设的内存数据库中获取调试信息；按照调试信息对目标芯片进行调试，得到调试结果；将调试结果记录至内存数据库中。本申请中，借助内存数据库保存调试信息，这样，当需要修改调试信息时，可以直接通过内存数据库对其进行修改，无需对SDK的源代码进行修改，且可以将调试结果保存在内存数据库中，可以保存调试结果中的有效信息，还便于借助内存数据库对调试结果进行处理，适用性好。
本申请实施例提供的一种芯片调试方法中，在预设的内存数据库中获取调试信息的过程中，为了条理性的保存调试信息，可以在内存数据库中获取调试信息控制表；基于调试信息控制表确定调试信息；其中，调试信息控制表的数据结构包括：芯片模块标识、调试级别、性能模式、文件名、行号。比如调试信息控制表的结构可以如表1所示。
表1调试信息控制表的结构
Figure BDA0002907620940000041
本申请实施例提供的一种芯片调试方法中，在将调试结果记录至内存数据库中的过程中，为了条理性的记录调试结构，可以将调试结果记录至内存数据库的调试信息记录表中；调试信息记录表的数据结构可以包括：时间戳、进程标识、线程标识、芯片模块标识、调试级别、文件名、行号、调试结果。比如调试信息记录表的结构可以如表2所示。
表2调试信息记录表的结构
Figure BDA0002907620940000051
本申请实施例提供的一种芯片调试方法中，在按照调试信息对目标芯片进行调试，得到调试结果的过程中，可以先按照调试信息对目标芯片进行调试；再判断调试信息中的性能模式是否开启，若是，则直接记录性能数据作为调试结果。相应的，若性能模式未开启，则可以判断调试信息中是否包含文件名和/或行号；若包含文件名和/或行号，则直接记录调试结果；若不包含文件名，且不包含行号，则判断调试信息中的调试级别是否高于预设级别；若调试信息中的调试级别高于预设级别，则直接记录调试结果；若调试信息中的调试级别低于等于预设级别，则可以不调试结果。
本申请实施例提供的一种芯片调试方法中，在将调试结果记录至内存数据库中之后，还可以在内存数据库中持久化调试结果，具体的，可以将内存数据库中的调试结果转换为磁盘日志文件进行存储等。
本申请实施例提供的一种芯片调试方法中，在将调试结果记录至内存数据库中之后，还可以基于内存数据库对调试结果进行分析，得到分析结果，分析的方式包括筛选、统计、排序、查找等，以便快速得到调试结果的分析结果。
请参阅图2，图2为本申请实施例提供的一种芯片调试系统的结构示意图。
本申请实施例提供的一种芯片调试系统，可以包括：
第一获取模块101，用于在预设的内存数据库中获取调试信息；
第一调试模块102，用于按照调试信息对目标芯片进行调试，得到调试结果；
第一记录模块103，用于将调试结果记录至内存数据库中。
本申请实施例提供的一种芯片调试系统，第一获取模块可以包括：
第一获取单元，用于在内存数据库中获取调试信息控制表；
第一确定单元，用于基于调试信息控制表确定调试信息；
其中，调试信息控制表的数据结构包括：芯片模块标识、调试级别、性能模式、文件名、行号。
本申请实施例提供的一种芯片调试系统，第一记录模块可以包括：
第一记录单元，用于将调试结果记录至内存数据库的调试信息记录表中；
调试信息记录表的数据结构包括：时间戳、进程标识、线程标识、芯片模块标识、调试级别、文件名、行号、调试结果。
本申请实施例提供的一种芯片调试系统，第一调试模块可以包括：
第一调试单元，用于按照调试信息对目标芯片进行调试；
第一判断单元，用于判断调试信息中的性能模式是否开启，若是，则记录性能数据作为调试结果。
本申请实施例提供的一种芯片调试系统，第一判断单元还可以用于：若性能模式未开启，则判断调试信息中是否包含文件名和/或行号；若包含文件名和/或行号，则直接记录调试结果；若不包含文件名，且不包含行号，则判断调试信息中的调试级别是否高于预设级别；若调试信息中的调试级别高于预设级别，则直接记录调试结果。
本申请实施例提供的一种芯片调试系统，还可以包括：
第一持久化模块，用于第一记录模块将调试结果记录至内存数据库中之后，在内存数据库中持久化调试结果。
本申请实施例提供的一种芯片调试系统，还可以包括：
第一分析模块，用于第一记录模块将调试结果记录至内存数据库中之后，基于内存数据库对调试结果进行分析，得到分析结果，分析的方式包括筛选、统计、排序、查找。
本申请还提供了一种芯片调试设备及计算机可读存储介质，其均具有本申请实施例提供的一种芯片调试方法具有的对应效果。请参阅图3，图3为本申请实施例提供的一种芯片调试设备的结构示意图。
本申请实施例提供的一种芯片调试设备，包括存储器201和处理器202，存储器201中存储有计算机程序，处理器202执行计算机程序时实现如下步骤：
在预设的内存数据库中获取调试信息；
按照调试信息对目标芯片进行调试，得到调试结果；
将调试结果记录至内存数据库中。
本申请实施例提供的一种芯片调试设备，包括存储器201和处理器202，存储器201中存储有计算机程序，处理器202执行计算机程序时实现如下步骤：在内存数据库中获取调试信息控制表；基于调试信息控制表确定调试信息；其中，调试信息控制表的数据结构包括：芯片模块标识、调试级别、性能模式、文件名、行号。
本申请实施例提供的一种芯片调试设备，包括存储器201和处理器202，存储器201中存储有计算机程序，处理器202执行计算机程序时实现如下步骤：将调试结果记录至内存数据库的调试信息记录表中；调试信息记录表的数据结构包括：时间戳、进程标识、线程标识、芯片模块标识、调试级别、文件名、行号、调试结果。
本申请实施例提供的一种芯片调试设备，包括存储器201和处理器202，存储器201中存储有计算机程序，处理器202执行计算机程序时实现如下步骤：按照调试信息对目标芯片进行调试；判断调试信息中的性能模式是否开启，若是，则记录性能数据作为调试结果。
本申请实施例提供的一种芯片调试设备，包括存储器201和处理器202，存储器201中存储有计算机程序，处理器202执行计算机程序时实现如下步骤：判断调试信息中的性能模式是否开启之后，若性能模式未开启，则判断调试信息中是否包含文件名和/或行号；若包含文件名和/或行号，则直接记录调试结果；若不包含文件名，且不包含行号，则判断调试信息中的调试级别是否高于预设级别；若调试信息中的调试级别高于预设级别，则直接记录调试结果。
本申请实施例提供的一种芯片调试设备，包括存储器201和处理器202，存储器201中存储有计算机程序，处理器202执行计算机程序时实现如下步骤：将调试结果记录至内存数据库中之后，在内存数据库中持久化调试结果。
本申请实施例提供的一种芯片调试设备，包括存储器201和处理器202，存储器201中存储有计算机程序，处理器202执行计算机程序时实现如下步骤：将调试结果记录至内存数据库中之后，基于内存数据库对调试结果进行分析，得到分析结果，分析的方式包括筛选、统计、排序、查找。
请参阅图4，本申请实施例提供的另一种芯片调试设备中还可以包括：与处理器202连接的输入端口203，用于传输外界输入的命令至处理器202；与处理器202连接的显示单元204，用于显示处理器202的处理结果至外界；与处理器202连接的通信模块205，用于实现芯片调试设备与外界的通信。显示单元204可以为显示面板、激光扫描使显示器等；通信模块205所采用的通信方式包括但不局限于移动高清链接技术(HML)、通用串行总线(USB)、高清多媒体接口(HDMI)、无线连接：无线保真技术(WiFi)、蓝牙通信技术、低功耗蓝牙通信技术、基于IEEE802.11s的通信技术。
本申请实施例提供的一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质中存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如下步骤：
在预设的内存数据库中获取调试信息；
按照调试信息对目标芯片进行调试，得到调试结果；
将调试结果记录至内存数据库中。
本申请实施例提供的一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质中存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如下步骤：在内存数据库中获取调试信息控制表；基于调试信息控制表确定调试信息；其中，调试信息控制表的数据结构包括：芯片模块标识、调试级别、性能模式、文件名、行号。
本申请实施例提供的一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质中存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如下步骤：将调试结果记录至内存数据库的调试信息记录表中；调试信息记录表的数据结构包括：时间戳、进程标识、线程标识、芯片模块标识、调试级别、文件名、行号、调试结果。
本申请实施例提供的一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质中存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如下步骤：按照调试信息对目标芯片进行调试；判断调试信息中的性能模式是否开启，若是，则记录性能数据作为调试结果。
本申请实施例提供的一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质中存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如下步骤：判断调试信息中的性能模式是否开启之后，若性能模式未开启，则判断调试信息中是否包含文件名和/或行号；若包含文件名和/或行号，则直接记录调试结果；若不包含文件名，且不包含行号，则判断调试信息中的调试级别是否高于预设级别；若调试信息中的调试级别高于预设级别，则直接记录调试结果。
本申请实施例提供的一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质中存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如下步骤：将调试结果记录至内存数据库中之后，在内存数据库中持久化调试结果。
本申请实施例提供的一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质中存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如下步骤：将调试结果记录至内存数据库中之后，基于内存数据库对调试结果进行分析，得到分析结果，分析的方式包括筛选、统计、排序、查找。
本申请所涉及的计算机可读存储介质包括随机存储器(RAM)、内存、只读存储器(ROM)、电可编程ROM、电可擦除可编程ROM、寄存器、硬盘、可移动磁盘、CD-ROM、或技术领域内所公知的任意其它形式的存储介质。
本申请实施例提供的芯片调试系统、设备及计算机可读存储介质中相关部分的说明请参见本申请实施例提供的芯片调试方法中对应部分的详细说明，在此不再赘述。另外，本申请实施例提供的上述技术方案中与现有技术中对应技术方案实现原理一致的部分并未详细说明，以免过多赘述。
还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
对所公开的实施例的上述说明，使本领域技术人员能够实现或使用本申请。对这些实施例的多种修改对本领域技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本申请的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本申请将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (10)

1.一种芯片调试方法，其特征在于，包括：
在预设的内存数据库中获取调试信息；
按照所述调试信息对目标芯片进行调试，得到调试结果；
将所述调试结果记录至所述内存数据库中。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在预设的内存数据库中获取调试信息，包括：
在所述内存数据库中获取调试信息控制表；
基于所述调试信息控制表确定所述调试信息；
其中，所述调试信息控制表的数据结构包括：芯片模块标识、调试级别、性能模式、文件名、行号。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述将所述调试结果记录至所述内存数据库中，包括：
将所述调试结果记录至所述内存数据库的调试信息记录表中；
所述调试信息记录表的数据结构包括：时间戳、进程标识、线程标识、芯片模块标识、调试级别、文件名、行号、调试结果。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述按照所述调试信息对目标芯片进行调试，得到调试结果，包括：
按照所述调试信息对所述目标芯片进行调试；
判断所述调试信息中的所述性能模式是否开启，若是，则记录性能数据作为所述调试结果。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述判断所述调试信息中的所述性能模式是否开启之后，还包括：
若所述性能模式未开启，则判断所述调试信息中是否包含文件名和/或行号；
若包含文件名和/或行号，则直接记录所述调试结果；
若不包含文件名，且不包含行号，则判断所述调试信息中的调试级别是否高于预设级别；
若所述调试信息中的调试级别高于所述预设级别，则直接记录所述调试结果。
6.根据权利要求1至5任一项所述的方法，其特征在于，所述将所述调试结果记录至所述内存数据库中之后，还包括：
在所述内存数据库中持久化所述调试结果。
7.根据权利6所述的方法，其特征在于，所述将所述调试结果记录至所述内存数据库中之后，还包括：
基于所述内存数据库对所述调试结果进行分析，得到分析结果，所述分析的方式包括筛选、统计、排序、查找。
8.一种芯片调试系统，其特征在于，包括：
第一获取模块，用于在预设的内存数据库中获取调试信息；
第一调试模块，用于按照所述调试信息对目标芯片进行调试，得到调试结果；
第一记录模块，用于将所述调试结果记录至所述内存数据库中。
9.一种芯片调试设备，其特征在于，包括：
存储器，用于存储计算机程序；
处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述芯片调试方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述芯片调试方法的步骤。
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