CN103440133A - 一种芯片测试软件的开发方法和系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种IC测试软件开发的方法和系统，应用于芯片测试中的测试软件开发和调试，其至少包括：主机，运行主机程序的若干计算机或网络终端；ATE仿真器，运行ATE仿真器程序的若干计算机或网络终端；数据源：用于主机的程序的有效数据的任何载体，所述的有效数据用于记载ATE仿真器不可直接访问的数据；本发明通过采用无ATE的条件下开发ATE数据处理模块，网络通信模块，主机程序的方式，使得ATE可以从芯片测试软件开发中解放出来用于正式测试，从而大幅降低了芯片测试软件开发的成本；同时不需要芯片参与，能够更早启动芯片测试软件的开发，避免芯片测试软件开发成为芯片测试延时的原因，缩短芯片上市时间；同时，开发者有足够的开发和调试软件的时间，能够充分的保证软件的成功率。

Description

一种芯片测试软件的开发方法和系统

技术领域

本发明涉及芯片测试领域，主要涉及一种芯片测试中的ATE仿真器以及在芯片测试中ATE周边软件开发的一种方法。

背景技术

近年来，随着芯片/IC设计复杂度的规模的不断扩大，芯片测试也变得越来越复杂，这使得IC测试的成本越来越高。同时为了迎合客户的各种需求，特别是信息安全和复杂运算的需要，在芯片进行ATE(Automatic Test Equipment,集成电路(IC)自动测试机)测试的时候需要使用客户指定的主机进行数据处理，而不希望由ATE来完成这些数据处理（例如信息安全需求，或者数据处理速度需求），这就需要开发主机上的主机程序。如果开发这些主机程序需要ATE参与进来，首先需要在得到芯片的样片已后才能进行开发主机程序，使得开发过程启动太晚；其次，ATE停止测试芯片，而用于主机程序开发，使得主机程序的开发成本过高；最后，主机程序的开发人员一般不是ATE厂商人员，ATE与主机程序开发人员的工作环境协调需要耗费一定成本。

同时，目前现有技术中作为ATE仿真器，例如“SIMULATOR FOR IC TESTING DEVICE”，其方法也存在以下诸多弊端：

1.没有本地数据处理能力。目前的ATE仿真器一般是对IC测试结果直接打印或者显示出来，而随着IC测试复杂度的增大，打印大量的数据对于用户来说无法快速判断测试正确性，所以ATE需要本地数据处理能力，而新的仿真器能提供开发本地数据处理能力软件的开发环境。

2.没有网络通信功能。目前的ATE仿真器只面向芯片，而没有面向互联网的接口程序。因此无法实现芯片测试数据的外部处理功能，当用户需要指定主机处理IC测试的数据时，目前的ATE仿真器无法与外部主机互联，并且及时响应外部主机的指令。

综上所述，为了避免上述情形，降低芯片测试成本，一种新的，灵活、实用的芯片（IC）测试软件开发方法和系统的发明是势在必行的。

发明内容

本发明的目的是，在没有ATE的前提下：

1、提供一种用于生成IC测试数据的方法和数据生成器，以解决在没有ATE的前提下，无法生成各种正确和错误的IC测试数据流的问题。

2、提供一种用于开发和调试ATE数据处理模块的方法和系统，使得ATE数据处理程序的开发成本大幅降低，成功率大幅提升。

3、提供一种用于开发和调试ATE网络通信模块的方法和系统，使得ATE与主机通信的网络通信程序开发成本大幅降低，成功率大幅提升。

4、提供一种用于开发主机程序的方法和系统，使得主机程序开发成本大幅降低，成功率大幅提升。

为了解决上述技术问题，本发明提供的技术方案为：

一种芯片测试软件的开发系统,应用于芯片测试中的测试软件开发和调试，其至少包括：

主机，运行主机程序的若干计算机或网络终端；

ATE仿真器，运行ATE仿真器程序的若干计算机或网络终端；

数据源：用于主机的程序的有效数据的任何载体，所述的有效数据用于记载ATE仿真器不可直接访问的数据。

所述ATE仿真器包括：ATE主控模块，芯片测试数据生成模块，ATE数据处理模块，网络通信模块以及网络编程调试模块。

所述ATE主控模块：启动芯片测试模式，生成测试条件，并将芯片测试模式信息和测试条件发送给芯片测试数据生成模块，然后从芯片测试数据生成模块获取芯片测试数据，将需要在ATE仿真器处理的芯片测试数据发送给ATE数据处理模块，获得结果；将需要发送给主机进行处理的芯片测试数据，通过网络通信模块发送给主机，接收来自主机的处理结果。

所述芯片测试数据生成模块：模拟芯片测试过程，将来自ATE主控模块的模式信息和条件，随机生成芯片测试数据并且返回给ATE主控模块；其中，本模块生成的芯片测试数据的取值范围大于等于ATE的返回数据范围。

所述ATE数据处理模块：用于处理芯片测试数据，采用本方法开发的ATE数据处理模块将直接移植到ATE使用;所述网络通信模块：用于ATE仿真器与主机通信；所述网络编程调试模块：在ATE仿真器和主机分别运行，用于调试网络通信模块和主机程序的网络通信功能。

所述主机程序对数据源和来自ATE仿真器的芯片测试数据进行处理。

一种芯片测试软件的开发方法，其包括ATE仿真器，所述ATE仿真器包括：ATE主控模块，芯片测试数据生成模块，ATE数据处理模块，网络通信模块以及网络编程调试模块，其至少包括以下步骤：

1）ATE主控模块加载待开发芯片测试模式和测试条件，并将这些信息发送给芯片测试数据生成模块；

2）芯片测试数据生成模块根据测试模式和测试条件，生成模拟的芯片测试数据；

3）ATE主控模块将上述的芯片测试数据加载到ATE数据处理模块；

4）使用主机的网络编程调试模块调试ATE仿真器的网络通信模块的网络通信功能，ATE主控模块通过网络通信模块实现与主机进行网络连接和交换数据的功能；

5）使用ATE仿真器端的网络编程调试模块调试主机程序的网络通信功能；

6）主机程序的网络通信功能和ATE仿真器的网络通信模块一起调试，完成主机和ATE仿真器的网络通信功能；

7）开发主机的数据源读取，数据处理，返回和输出结果功能；

对于多个主机和多个ATE仿真器，上述步骤4）-7）重复进行。

所述芯片测试数据的取值范围大于等于ATE的返回数据范围。

本方法提供一种用于开发和调试ATE数据处理模块的方法和系统、一种用于开发和调试ATE网络通信模块的方法和系统、一种用于开发主机程序的方法和系统。

本发明的有益效果是：通过采用无ATE的条件下开发ATE数据处理模块，网络通信模块，主机程序的方式，使得ATE可以从芯片测试软件开发中解放出来用于正式测试，从而大幅降低了芯片测试软件开发的成本；同时不需要芯片参与，能够更早启动芯片测试软件的开发，避免芯片测试软件开发成为芯片测试延时的原因，缩短芯片上市时间；同时，开发者有足够的开发和调试软件的时间，能够充分的保证软件的成功率。

另外，本发明提供一种可以满足用户指定主机来处理芯片测试数据和数据源要求的芯片测试软件开发方法，能完全满足芯片测试过程中的信息安全需求或者数据处理速度需求等。

附图说明：

通过以下对本发明的实施例结合其附图的描述，可以进一步理解其发明的目的、具体结构特征和优点。其中，附图为：

图1是：本发明的芯片测试软件开发系统的示意图。

图2是：本发明芯片测试软件运行系统示意图。

图3是：本发明满足最小系统和复杂系统的网络拓扑结构示意图。

具体实施方式：

下面结合附图中的实例对本发明作进一步的描述。

本发明涉及芯片（IC）测试领域，主要是指一种芯片测试软件开发系统和方法，应用于芯片测试软件的开发和调试。采用本发明的系统以及方法,在芯片测试软件开发时无需ATE和芯片的参与，从而大幅降低芯片测试的成本。同时，无须芯片参与使得，芯片测试软件开发启动可以大大提前，保证了芯片测试软件的开发和调试时间，可以大幅提芯片测试软件的成功率。

同时，本方法能够用于开发用户指定主机进行数据源与芯片测试数据处理的芯片测试软件。满足了用户在无ATE和芯片的前提条件下进行主机程序开发的需求。

本发明公开了一种IC测试软件开发的方法和系统,硬件包括：数据源，主机，ATE仿真器(Automatic Test Equipment,集成电路(IC)自动测试机)，其中，主机可以是一台或者多台计算机或者网络终端。用于运行主机程序；ATE仿真器可以是一台或者多台计算机或者网络终端，用于执行ATE仿真器软件；数据源：可以是有效数据的任何载体，例如主机的硬盘，移动硬盘，U盘，光盘等等。用于记载ATE不可直接访问的数据，但该数据用于主机程序；ATE仿真器通过互联网与主机相连；软件包括，ATE仿真器软件，网络编程调试软件，主机程序，ATE仿真器软件包括网络通信模块，ATE主控模块，芯片测试数据生成模块，ATE数据处理模块。ATE主控模块，配置ATE仿真器的测试模式和条件；芯片测试数据生成模块，根据测试模式和条件生成模拟的芯片测试数据；ATE数据处理模块，对芯片测试数据进行处理；网络通信模块，用于ATE仿真器与主机通信；网络编程调试软件，用于调试网络通信模块和主机程序的网络通信功能，在ATE仿真器和主机上分别运行，本发明申请中以网络编程调试模块加以表述；主机程序，从ATE仿真器得到芯片测试数据，同时访问其他数据源，根据两者进行数据处理，向ATE仿真器返回结果。

下面以一台ATE仿真器和一台主机最简单的实例具体介绍本发明方法及系统。当然，在实际开发过程中，本方法支持多台ATE仿真器和多台主机的开发。只需要合理的配置网络通信配置即可实现，具体参考附图3。

如图1所示，本发明所述的芯片测试软件开发系统具体的硬件至少包括：

ATE仿真器：一台连在互联网上的个人电脑。

主机：一台连在互联网上的个人电脑。其中主机的硬盘存放了数据源。

ATE仿真器包括ATE主控模块，芯片测试数据生成模块，ATE数据处理模块，网络通信模块，网络编程调试模块。

ATE主控模块，芯片测试数据生成模块，ATE数据处理模块，网络通信模块需要采用ATE相同的编程语言，程序库，系统和运行环境。以便保证程序移植的成功率。本例中由于参考的ATE程序是采用VBA(Visual Basic for Applications)编写的，该四个模块采用VBA编写。其中需要向ATE移植的是ATE数据处理模块和网络通信模块。所述的ATE主控模块控制ATE仿真器的整个流程。其流程应该与ATE的流程完全相同，（如果可能）ATE主控模块的程序应该从ATE厂商获取：首先会读取测试模式和测试条件，将测试模式和条件整理后发送给芯片测试数据生成模块，从芯片测试数据生成模块获取芯片测试数据。（如果需要）调用ATE数据处理模块处理芯片测试数据。（如果需要）调用网络通信模块将芯片测试数据和ATE数据处理模块处理过的数据发向主机，接收来自主机的处理结果，显示并打印结果。

所述的芯片测试数据生成模块从前述的ATE主控模块获得模式和条件，模拟生成芯片测试数据；该数据的取值范围就是ATE的芯片测试数据的取值范围，当然，在某些特定情况下是大于该ATE的芯片测试数据的取值范围的，例如，恶意的软件测试。这个取值范围需要从ATE方面得到。用户可以设置或者编写各种算法，生成满足需要的芯片测试数据；然后将该芯片测试数据结果返回给ATE主控模块。所述的ATE数据处理模块，完成无须由主机参与的芯片测试数据的处理，然后把处理结果返回给ATE主控模块。经过用户确认，这些处理无须由主机处理，就可以在ATE仿真器完成（将来在ATE完成），这样省去了网络通信，提高数据处理速度，节省芯片测试时间，从而降低了成本。

所述的网络通信模块，会被ATE主控模块调用，实现与主机的通信。ATE主控模块调用网络通信模块将芯片测试数据和ATE数据处理模块处理过的数据发向主机，接收来自主机的处理结果。在网络通信模块开发的时候要与真实ATE所采用的通信模式保持一直，本例中的ATE与主机的通信模式为UDP(User Datagram Protocol)通信方式。具体实现方式为，主机绑定端口A和端口B，ATE也绑定端口A和端口B。设置主机在端口A发送数据，端口B驻守，ATE在端口A驻守，通过端口B发送数据。这样主机就通过端口A将数据发送给ATE，ATE通过端口B把数据发送给主机，从而实现通信。如果真实的ATE所采用的是TCP/IP(Transport ControlProtocol/Internetworking Protocol)或者其他协议，那么本模块开发时也要与之保持一致。

所述的在ATE仿真器上运行的网络编程调试模块/软件，用于在网络通信模块的功能还没有确认的情况下，调试主机的网络通信功能。本发明方法和系统的软件的要求是必须确认可以进行设置网络端口模式和发送和观测网络端口数据。软件来源无要求，可以是外部获取的，也可以是用户自己开发的。主机上运行的软件包括主机程序，网络编程调试软件。

所述的主机程序用于完成用户指定在主机上完成的芯片测试数据处理。来自ATE仿真器的芯片测试数据（包括芯片测试数据生成模块生成的和经过ATE数据处理模块处理过的）会作为输入，（如果需要）数据源会作为输入。处理结果会发送给ATE仿真器。主机程序所有的内容都用于将来的芯片测试，参考附图2。主机程序可以由任意可以进行网络编程的语言进行编写，本例使用phython完成。

所述的在主机上运行的网络编程调试软件，用于在主机程序的网络通信的功能还没有确认的情况下，调试的网络通信模块的功能。本发明方法和系统的软件的要求是必须确认可以进行设置网络端口模式和发送和观测网络端口数据。软件来源无要求，可以是外部获取的，也可以是用户自己开发的。可以与ATE仿真器上的网络编程调试软件相同也可以不同。

即，本发明芯片测试软件的开发的方法包括以下步骤：

1.ATE主控模块加载待开发芯片测试模式和测试条件，并把这些信息发送给芯片测试数据生成模块；

2.芯片测试数据生成模块根据测试模式和测试条件，生成模拟的芯片测试数据；该芯片测试数据的取值范围等于ATE的返回数据范围；当然，如果需要对本发明的被开发模块进行恶意软件测试则芯片测试数据的取值范围大于ATE的返回数据范围；

3.ATE主控模块的程序将芯片测试数据加载到ATE数据处理模块。ATE数据处理模块为待开发的模块通过调试ATE数据处理模块，实现对该模块的开发；

4.ATE主控模块通过网络通信模块实现与主机进行网络连接和交换数据的功能。网络通信模块为待开发模块，使用主机端的网络编程调试软件调试该模块功能实现对该模块的开发；

5.使用ATE仿真器端的网络编程调试软件调试主机程序的网络通信功能；

6.主机程序的网络通信功能和ATE仿真器的网络通信模块一起调试，完成主机和ATE仿真器的网络通信功能；

7.开发主机的数据源读取，数据处理，返回和输出结果功能。

而对于多个主机和多个仿真器，上述步骤4～7可以重复进行。

综上所述，本发明芯片测试软件开发系统以及方法通过采用在没有ATE和芯片参与的条件下进行芯片测试软件开发的方式，使得ATE可以从芯片测试软件开发中解放出来用于正式测试。从而大幅降低了芯片测试软件开发的成本。同时不需要芯片参与，能够更早启动芯片测试软件的开发。避免芯片测试软件开发成为芯片测试延时的原因。缩短芯片上市时间。同时，开发者有足够的开发和调试软件的时间，能够充分的保证软件的成功率。另外，本发明提供一种，可以满足用户指定主机来处理芯片测试数据和数据源要求的芯片测试软件开发方法。

Claims (10)

1.一种芯片测试软件的开发系统,应用于芯片测试中的测试软件开发和调试，其特征在于，其至少包括：

主机，运行主机程序的若干计算机或网络终端，其包括网络编程调试模块；

ATE仿真器，运行ATE仿真器程序的若干计算机或网络终端；

数据源：用于主机的程序的有效数据的任何载体，所述的有效数据用于记载ATE仿真器不可直接访问的数据。

2.如权利要求1所述的芯片测试软件的开发系统,其特征在于：所述ATE仿真器包括：ATE主控模块，芯片测试数据生成模块，ATE数据处理模块，网络通信模块以及网络编程调试模块。

3.如权利要求2所述的芯片测试软件的开发系统,其特征在于：所述ATE主控模块：启动芯片测试模式，生成测试条件，并将芯片测试模式信息和测试条件发送给芯片测试数据生成模块，然后从芯片测试数据生成模块获取芯片测试数据，将需要在ATE仿真器处理的芯片测试数据发送给ATE数据处理模块，获得结果；将需要发送给主机进行处理的芯片测试数据，通过网络通信模块发送给主机，接收来自主机的处理结果。

4.如权利要求2所述的芯片测试软件的开发系统,其特征在于：所述芯片测试数据生成模块：模拟芯片测试过程，将来自ATE主控模块的模式信息和条件，随机生成芯片测试数据并且返回给ATE主控模块；其中，本模块生成的芯片测试数据的取值范围大于等于ATE的返回数据范围。

5.如权利要求2所述的芯片测试软件的开发系统,其特征在于：所述ATE数据处理模块：用于处理芯片测试数据，采用本方法开发的ATE数据处理模块将直接移植到ATE使用;所述网络通信模块：用于ATE仿真器与主机通信，将直接移植到ATE使用；所述网络编程调试模块：在ATE仿真器和主机分别运行，用于调试网络通信模块和主机程序的网络通信功能。

6.如权利要求1所述的芯片测试软件的开发系统,其特征在于：所述主机程序对数据源和来自ATE仿真器的芯片测试数据进行处理。

7.如权利要求1所述的一种芯片测试软件的开发方法，其特征在于，所述ATE仿真器包括：ATE主控模块，芯片测试数据生成模块，ATE数据处理模块，网络通信模块以及网络编程调试模块，其至少包括以下步骤：

1）ATE主控模块加载待开发芯片测试模式和测试条件，并将这些信息发送给芯片测试数据生成模块；

2）芯片测试数据生成模块根据测试模式和测试条件，生成模拟的芯片测试数据；

3）ATE主控模块将上述的芯片测试数据加载到ATE数据处理模块；

4）使用主机的网络编程调试模块调试ATE仿真器的网络通信模块的网络通信功能；

5）使用ATE仿真器端的网络编程调试模块调试主机程序的网络通信功能；

6）主机程序的网络通信功能和ATE仿真器的网络通信模块一起调试，完成主机和ATE仿真器的网络通信功能；

7）开发主机的数据源读取，数据处理，返回和输出结果功能；

8.如权利要求7所述的一种芯片测试软件的开发方法，其特征在于，对于多个主机和多个ATE仿真器，上述步骤4）-7）重复进行。

9.如权利要求7所述的一种芯片测试软件的开发方法，其特征在于，所述芯片测试数据的取值范围大于等于ATE仿真器的返回数据范围。

10.如权利要求7所述的一种芯片测试软件的开发方法，其特征在于，本方法提供一种用于开发和调试ATE数据处理模块的方法和系统、一种用于开发和调试ATE网络通信模块的方法和系统、一种用于开发主机程序的方法和系统。

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