CN117215966A - 一种芯片sdk接口的测试方法、测试装置及电子设备 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种芯片SDK接口的测试方法、测试装置及电子设备，涉及芯片测试技术领域，以解决现有的测试方法测试效率更低，测试成本更高，且在测试过程中存在操作繁琐、参数管理不便的技术问题。所述芯片SDK接口的测试方法包括：基于目标芯片的实际运行环境，设置与目标芯片的SDK接口对应的系统调用函数，其中，系统调用函数至少包括多个支持的API接口函数。设置测试用例。通过预设命令行接口，基于预设的测试用例对系统调用函数进行测试，输出实际测试结果。当实际测试结果与预设测试结果不匹配时，通过预设命令行接口对目标芯片的SDK接口对应的目标参数进行调整，直至实际测试结果与预设测试结果匹配。

Description

一种芯片SDK接口的测试方法、测试装置及电子设备

技术领域

本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种芯片SDK接口的测试方法、测试装置及电子设备。

背景技术

随着集成电路技术的不断发展，芯片的功能越来越复杂，相应的，对芯片的测试要求也越来越高。为了测试芯片的功能，需要使用软件开发工具包（Software DevelopmentKit，SDK）接口。

现有技术中，在对芯片的SDK接口进行测试时，需要对每个应用程序（ApplicationProgramming Interface，API）接口分别编写控制台命令，存在操作繁琐、参数管理不便的问题，大大提高了测试成本，也降低了测试效率。

发明内容

本发明的目的在于提供一种芯片SDK接口的测试方法、测试装置及电子设备，以解决现有的测试方法测试效率更低，测试成本更高，且在测试过程中存在操作繁琐、参数管理不便的技术问题。

第一方面，本发明提供一种芯片SDK接口的测试方法，用于对目标芯片的SDK接口进行测试，所述测试方法包括：

基于目标芯片的实际运行环境，设置与目标芯片的SDK接口对应的系统调用函数，其中，系统调用函数至少包括多个支持的API接口函数。设置多个测试用例。通过预设命令行接口，基于预设的测试用例对系统调用函数进行测试，输出实际测试结果。当实际测试结果与预设测试结果不匹配时，通过预设命令行接口对目标芯片的SDK接口对应的目标参数进行调整，直至实际测试结果与预设测试结果匹配。

采用上述技术方案的情况下，本申请提供的芯片SDK接口的测试方法通过在芯片的实际运行环境中编写与目标芯片的SDK接口对应的系统调用函数，系统调用函数中可以包括多个支持的API接口函数，从而在对SDK接口进行测试时，能够通过任一API接口输出实际测试结果，而无需为每个API接口编写对应的控制台命令，可以在一定程度上节约测试时间，提高测试效率。本申请提供的测试方法还可以设置多个测试用例，使得用户端可以通过预设的命令行接口，对系统调用函数执行相应的操作，基于预设的多个测试用例对系统调用函数进行测试，从而通过任一API接口输出实际测试结果，且在实际测试结果与预设测试结果不匹配时，可以直接通过命令行接口对所述目标芯片的SDK接口对应的目标参数进行调整和管理，使得实际测试结果与测试用例中的预设测试结果相匹配，从而实现对芯片SDK接口的优化和调整，能够进一步提高芯片SDK接口的性能和稳定性。且对参数的管理也更为便捷，简化了用户端的操作过程。此外，由于本发明中的SDK接口对应的系统调用函数是在芯片的实际运行环境下确定的，因此也能够避免芯片由于环境参数导致的测试误差，进一步提高芯片测试的准确性，提高测试效率，降低测试成本。

由此可知，本发明提供的芯片SDK接口的测试方法能够解决现有的测试方法测试效率更低，测试成本更高，且在测试过程中存在操作繁琐、参数管理不便的技术问题。

在一种可选方式中，所述基于目标芯片的实际运行环境，设置与所述目标芯片的SDK接口对应的系统调用函数，包括：基于目标芯片的实际运行环境，确定与所述目标芯片的SDK接口对应的系统调用函数列表、系统调用变量列表以及系统调用参数结构体。

在一种可选方式中，在所述设置多个测试用例之前，所述测试方法还包括：

提供命令行接口。接收通过所述命令行接口发送的操作指令。

基于所述操作指令，对所述系统调用函数执行相应的操作，其中，所述相应的操作至少包括：调用所述系统调用函数、对所述目标参数进行设置以及获取所述目标参数。

在一种可选方式中，所述多个测试用例至少包括基本功能测试用例、函数性能测试用例、稳定性测试用例以及兼容性测试用例。

在一种可选方式中，所述基于预设的所述测试用例对所述系统调用函数进行测试，包括：基于预设的所述测试用例对所述系统调用函数的基本功能进行测试。

在一种可选方式中，所述基于预设的所述测试用例对所述系统调用函数进行测试，包括：基于预设的所述测试用例对所述系统调用函数的性能进行测试。

在一种可选方式中，所述基于预设的所述测试用例对所述系统调用函数进行测试，包括：基于预设的所述测试用例对所述系统调用函数的稳定性进行测试。

在一种可选方式中，所述基于预设的所述测试用例对所述系统调用函数进行测试，包括：基于预设的所述测试用例对所述系统调用函数的兼容性进行测试。

第二方面，本发明提供一种芯片SDK接口的测试装置，包括：

第一设置模块，用于基于目标芯片的实际运行环境，设置与所述目标芯片的SDK接口对应的系统调用函数，其中，所述系统调用函数至少包括多个支持的API接口函数；

第二设置模块，用于设置多个测试用例；

测试模块，用于通过预设命令行接口，基于预设的所述测试用例对所述系统调用函数进行测试，通过任一所述API接口函数对应的API接口输出实际测试结果；

检验模块，用于当所述实际测试结果与预设测试结果不匹配时，通过所述预设命令行接口对所述目标芯片的SDK接口对应的目标参数进行调整，直至所述实际测试结果与所述预设测试结果匹配。

与现有技术相比，第二方面提供的芯片SDK接口的测试装置的有益效果与第一方面或第一方面任一可能的实现方式描述的芯片SDK接口的测试方法的有益效果相同，此处不做赘述。

第三方面，本发明提供一种电子设备，包括一个或多个处理器；和其上存储有指令的一个或多个机器可读介质，当由所述一个或多个处理器执行时，使得执行第一方面任一可能的实现方式描述的芯片SDK接口的测试方法。

与现有技术相比，第三方面提供的电子设备的有益效果与第一方面或第一方面任一可能的实现方式描述的报告生成方法的有益效果相同，此处不做赘述。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本发明的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1为本发明实施例提供的一种芯片SDK接口的测试方法的流程图；

图2为本发明实施例提供的另一种芯片SDK接口的测试方法的流程图；

图3为本发明实施例提供的一种芯片SDK接口的测试装置的结构示意图；

图4为本发明实施例提供的一种电子设备的硬件结构示意图；

图5为本发明实施例提供的芯片的结构示意图。

具体实施方式

为了便于清楚描述本发明实施例的技术方案，在本发明的实施例中，采用了“第一”、“第二”等字样对功能和作用基本相同的相同项或相似项进行区分。例如，第一阈值和第二阈值仅仅是为了区分不同的阈值，并不对其先后顺序进行限定。本领域技术人员可以理解“第一”、“第二”等字样并不对数量和执行次序进行限定，并且“第一”、“第二”等字样也并不限定一定不同。

需要说明的是，本发明中，“示例性的”或者“例如”等词用于表示作例子、例证或说明。本发明中被描述为“示例性的”或者“例如”的任何实施例或设计方案不应被解释为比其他实施例或设计方案更优选或更具优势。确切而言，使用“示例性的”或者“例如”等词旨在以具体方式呈现相关概念。

本发明中，“至少一个”是指一个或者多个，“多个”是指两个或两个以上。“和/或”，描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B的情况，其中A，B可以是单数或者复数。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。“以下至少一项（个）”或其类似表达，是指的这些项中的任意组合，包括单项（个）或复数项（个）的任意组合。例如，a，b或c中的至少一项（个），可以表示：a，b，c，a和b的结合，a和c的结合，b和c的结合，或a、b和c的结合，其中a，b，c可以是单个，也可以是多个。

图1示例出了本发明实施例提供的一种芯片SDK接口的测试方法的流程图，所述测试方法包括：

步骤101：基于目标芯片的实际运行环境，设置与目标芯片的SDK接口对应的系统调用函数，其中，系统调用函数至少包括多个支持的API接口函数。

步骤102：设置多个测试用例。

步骤103：通过预设命令行接口，基于预设的测试用例对系统调用函数进行测试，输出实际测试结果。

步骤104：当实际测试结果与预设测试结果不匹配时，通过预设命令行接口对目标芯片的SDK接口对应的目标参数进行调整，直至实际测试结果与预设测试结果匹配。

采用上述技术方案的情况下，本发明实施例提供的芯片SDK接口的测试方法通过在芯片的实际运行环境中编写与目标芯片的SDK接口对应的系统调用函数，系统调用函数中可以包括多个支持的API接口函数，从而在对SDK接口进行测试时，能够通过任一API接口输出实际测试结果，而无需为每个API接口编写对应的控制台命令，可以在一定程度上节约测试时间，提高测试效率。本申请提供的测试方法还可以设置多个测试用例，使得用户端可以通过预设的命令行接口，对系统调用函数执行相应的操作，基于预设的多个测试用例对系统调用函数进行测试，从而通过任一API接口输出实际测试结果，且在实际测试结果与预设测试结果不匹配时，可以直接通过命令行接口对所述目标芯片的SDK接口对应的目标参数进行调整和管理，使得实际测试结果与测试用例中的预设测试结果相匹配，从而实现对芯片SDK接口的优化和调整，能够进一步提高芯片SDK接口的性能和稳定性。且对参数的管理也更为便捷，简化了用户端的操作过程。此外，由于本发明实施例中的SDK接口对应的系统调用函数是在芯片的实际运行环境下确定的，因此也能够避免芯片由于环境参数导致的测试误差，进一步提高芯片测试的准确性，提高测试效率，降低测试成本。

由此可知，本发明实施例提供的芯片SDK接口的测试方法能够解决现有的测试方法测试效率更低，测试成本更高，且在测试过程中存在操作繁琐、参数管理不便的技术问题。

图2示例中了本发明实施例提供的另一种芯片SDK接口的测试方法的流程图，参见图2，该测试方法包括：

步骤201：基于目标芯片的实际运行环境，确定与目标芯片的SDK接口对应的系统调用函数列表、系统调用变量列表以及系统调用参数结构体，其中，系统调用函数至少包括多个支持的API接口函数。

在本申请中，系统调用函数列表至少包括系统调用函数的名称以及函数指针等信息，系统调用变量列表至少包括系统调用变量名称以及变量值等信息，系统调用参数结构体至少包括参数结构体的名称、类型以及大小等信息。

系统调用函数中包括有支持的所有的API接口函数，列出了所有API接口函数名称和全部的结构体以及与结构体相关的参数，并且对API接口函数的中段处理设置了句柄，便于对API接口函数进行调用。

步骤202：提供命令行接口，接收通过命令行接口发送的操作指令。

在实际中，在后端编写测试代码时，还需要设置命令行接口以及向用户端展示如何使用命令行接口的帮助信息，用户可以通过展示的帮助信息快速了解如何利用命令行接口对芯片SDK接口进行测试，以及如何使用命令行接口实现对系统调用函数的调用、参数设置以及参数获取等操作，能够进一步节约测试时间，提高测试效率。

步骤203：基于操作指令，对系统调用函数执行相应的操作，其中，相应的操作至少包括：调用系统调用函数、对目标参数进行设置以及获取目标参数。

步骤204：设置多个测试用例。其中，多个测试用例至少包括基本功能测试用例、函数性能测试用例、稳定性测试用例以及兼容性测试用例。

基于此，用户端可以通过基本功能测试用例对系统调用函数的基本功能进行测试、通过函数性能测试用例对系统调用函数的性能进行测试、通过稳定性测试用例对系统调用函数的稳定性进行测试以及通过兼容性测试用例对系统调用函数的兼容性进行测试。

步骤205：通过预设命令行接口，基于预设的测试用例对系统调用函数进行测试，通过任一API接口函数对应的API接口输出实际测试结果。

由上述可知，测试用例至少包括基本功能测试用例、函数性能测试用例、稳定性测试用例以及兼容性测试用例，因此，步骤205可以包括以下几个并列的子步骤：

子步骤A1：基于预设的测试用例对系统调用函数的基本功能进行测试。示例性的，例如对系统调用函数基本的读写操作以及中断处理等基本功能进行测试。

子步骤A2：基于预设的测试用例对系统调用函数的性能进行测试。示例性的，例如对系统调用函数的执行速度以及资源占用等性能进行测试。

子步骤A3：基于预设的测试用例对系统调用函数的稳定性进行测试。示例性的，例如对系统调用函数的异常处理以及错误恢复等稳定性进行测试。

子步骤A4：基于预设的测试用例对系统调用函数的兼容性进行测试。示例性的，例如对系统调用函数的不同版本以及不同配置进行测试。

由此可知，通过编写不同的测试用例，可以利用命令行接口可以对目标芯片的SDK接口对应的系统调用函数进行调用、设置和参数获取，从而实现对目标芯片的SDK接口的全面测试。

步骤206：当实际测试结果与预设测试结果不匹配时，通过预设命令行接口对目标芯片的SDK接口对应的目标参数进行调整，直至实际测试结果与预设测试结果匹配。

可以理解的是，即使实际测试结果与预设测试结果匹配，也可以对目标芯片的SDK接口对应的目标参数进行调整，从而进一步对目标芯片的SDK接口进行优化，以达到更优的性能，本发明实施例对此不做具体限定。

本发明实施例提供的芯片SDK接口的测试方法通过在芯片的实际运行环境中编写与目标芯片的SDK接口对应的系统调用函数，系统调用函数中可以包括多个支持的API接口函数，从而在对SDK接口进行测试时，能够通过任一API接口输出实际测试结果，而无需为每个API接口编写对应的控制台命令，可以在一定程度上节约测试时间，提高测试效率。本申请提供的测试方法还可以设置多个测试用例，使得用户端可以通过预设的命令行接口，对系统调用函数执行相应的操作，基于预设的多个测试用例对系统调用函数进行测试，从而通过任一API接口输出实际测试结果，且在实际测试结果与预设测试结果不匹配时，可以直接通过命令行接口对所述目标芯片的SDK接口对应的目标参数进行调整和管理，使得实际测试结果与测试用例中的预设测试结果相匹配，从而实现对芯片SDK接口的优化和调整，能够进一步提高芯片SDK接口的性能和稳定性。且对参数的管理也更为便捷，简化了用户端的操作过程。此外，由于本发明实施例中的SDK接口对应的系统调用函数是在芯片的实际运行环境下确定的，因此也能够避免芯片由于环境参数导致的测试误差，进一步提高芯片测试的准确性，提高测试效率，降低测试成本。

图3示例出了本发明实施例提供的一种芯片SDK接口的测试装置300的结构示意图，该芯片SDK接口的测试装置300包括：

第一设置模块301，用于基于目标芯片的实际运行环境，设置与所述目标芯片的SDK接口对应的系统调用函数，其中，所述系统调用函数至少包括多个支持的API接口函数；

第二设置模块302，用于设置多个测试用例；

测试模块303，用于通过预设命令行接口，基于预设的所述测试用例对所述系统调用函数进行测试，通过任一所述API接口函数对应的API接口输出实际测试结果；

检验模块304，用于当所述实际测试结果与预设测试结果不匹配时，通过所述预设命令行接口对所述目标芯片的SDK接口对应的目标参数进行调整，直至所述实际测试结果与所述预设测试结果匹配。

本发明实施例提供的一种芯片SDK接口的测试装置，可以通过软件、硬件或者两者的结合实现成为计算机设备的全部或一部分，用于实现至少一个如图1至图2任一所示的芯片SDK接口的测试方法，为避免重复，这里不再赘述。

如图4所示，其示出了本申请一个示例性实施例提供的电子设备的结构框图，本发明实施例提供的电子设备，包括一个或多个处理器；和其上存储有指令的一个或多个机器可读介质，当由所述一个或多个处理器执行时，使得执行上述实施例实现方式描述的芯片SDK接口的测试方法。

该电子设备可用于实施上述实施例中提供的SDK测试方法，具体来讲，电子设备可以是装置，也可以是终端中的部件、集成电路、或芯片。该装置可以是移动电子设备，也可以为非移动电子设备。示例性的，移动电子设备可以为手机、平板电脑、笔记本电脑、掌上电脑、车载电子设备、可穿戴设备、超级移动个人计算机（Ultra-Mobile Personal Computer，UMPC）、上网本或者个人数字助理（Personal Digital Assistant，PDA）等，非移动电子设备可以为服务器、网络附属存储器（Network ATTached Storage，NAS）、个人计算机（PersonalComputer，PC）或者自助机等，本发明实施例不作具体限定。

本发明实施例中的电子设备可以为具有操作系统的装置。该操作系统可以为安卓（Android）操作系统，可以为ios操作系统，还可以为其他可能的操作系统，本发明实施例不作具体限定。

图4示出了本发明实施例提供的一种电子设备的硬件结构示意图。如图4所示，该电子设备400包括处理器410。

如图4所示，上述处理器410可以是一个通用中央处理器（Central ProcessingUnit，CPU），微处理器，专用集成电路（Application-Specific Integrated Circuit，ASIC），或一个或多个用于控制本发明方案程序执行的集成电路。

如图4所示，上述电子设备400还可以包括通信线路440。通信线路440可包括一通路，在上述组件之间传送信息。

可选的，如图4所示，上述电子设备400还可以包括通信接口420。通信接口420可以为一个或多个。通信接口420可使用任何收发器一类的装置，用于与其他设备或通信网络通信。

可选的，如图4所示，该电子设备400还可以包括存储器430。存储器430用于存储执行本发明方案的计算机执行指令，并由处理器来控制执行。处理器用于执行存储器中存储的计算机执行指令，从而实现本发明实施例提供的方法。

如图4所示，存储器430可以是只读存储器（Read-Only Memory，ROM）或可存储静态信息和指令的其他类型的静态存储设备，随机存取存储器（Random Access Memory，RAM）或者可存储信息和指令的其他类型的动态存储设备，也可以是电可擦可编程只读存储器（Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory，EEPROM）、只读光盘（CompactDisc Read-Only Memory，CD-ROM）或其他光盘存储、光碟存储（包括压缩光碟、激光碟、光碟、数字通用光碟、蓝光光碟等）、磁盘存储介质或者其他磁存储设备、或者能够用于携带或存储具有指令或数据结构形式的期望的程序代码并能够由计算机存取的任何其他介质，但不限于此。存储器430可以是独立存在，通过通信线路440与处理器410相连接。存储器430也可以和处理器410集成在一起。

可选的，本发明实施例中的计算机执行指令也可以称之为应用程序代码，本发明实施例对此不作具体限定。

在具体实现中，作为一种实施例，如图4所示，处理器410可以包括一个或多个CPU，如图4中的CPU0和CPU1。

在具体实现中，作为一种实施例，如图4所示，终端设备可以包括多个处理器，如图4中的第一处理器4101和第二处理器4102。这些处理器中的每一个可以是一个单核处理器，也可以是一个多核处理器。

图5是本发明实施例提供的芯片的结构示意图。如图5所示，该芯片500包括一个或两个以上（包括两个）处理器410。

可选的，如图5所示，该芯片还包括通信接口420和存储器430，存储器430可以包括只读存储器和随机存取存储器，并向处理器410提供操作指令和数据。存储器的一部分还可以包括非易失性随机存取存储器（Non-Volatile Random Access Memory，NVRAM）。

在一些实施方式中，如图5所示，存储器430存储了如下的元素，执行模块或者数据结构，或者他们的子集，或者他们的扩展集。

在本发明实施例中，如图5所示，通过调用存储器存储的操作指令（该操作指令可存储在操作系统中），执行相应的操作。

如图5所示，处理器410控制终端设备中任一个的处理操作，处理器410还可以称为中央处理单元（Central Processing Unit，CPU）。

如图5所示，存储器430可以包括只读存储器和随机存取存储器，并向处理器提供指令和数据。存储器430的一部分还可以包括NVRAM。例如应用中存储器、通信接口以及存储器通过总线系统耦合在一起，其中总线系统除包括数据总线之外，还可以包括电源总线、控制总线和状态信号总线等。但是为了清楚说明起见，在图5中将各种总线都标为总线系统540。

如图5所示，上述本发明实施例揭示的方法可以应用于处理器中，或者由处理器实现。处理器可能是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。在实现过程中，上述方法的各步骤可以通过处理器中的硬件的集成逻辑电路或者软件形式的指令完成。上述的处理器可以是通用处理器、数字芯片处理器（digital signal processing，DSP）、ASIC、现成可编程门阵列（Field-Programmable Gate Array，FPGA）或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。可以实现或者执行本发明实施例中的公开的各方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。结合本发明实施例所公开的方法的步骤可以直接体现为硬件译码处理器执行完成，或者用译码处理器中的硬件及软件模块组合执行完成。软件模块可以位于随机存储器，闪存、只读存储器，可编程只读存储器或者电可擦写可编程存储器、寄存器等本领域成熟的存储介质中。该存储介质位于存储器，处理器读取存储器中的信息，结合其硬件完成上述方法的步骤。

一方面，提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质中存储有指令，当指令被运行时，实现上述实施例中由终端设备执行的功能。

一方面，提供一种芯片，该芯片应用于终端设备中，芯片包括至少一个处理器和通信接口，通信接口和至少一个处理器耦合，处理器用于运行指令，以实现上述实施例中由芯片测试执行的功能。

在上述实施例中，可以全部或部分地通过软件、硬件、固件或者其任意组合来实现。当使用软件实现时，可以全部或部分地以计算机程序产品的形式实现。所述计算机程序产品包括一个或多个计算机程序或指令。在计算机上加载和执行所述计算机程序或指令时，全部或部分地执行本发明实施例所述的流程或功能。所述计算机可以是通用计算机、专用计算机、计算机网络、终端、用户设备或者其它可编程装置。所述计算机程序或指令可以存储在计算机可读存储介质中，或者从一个计算机可读存储介质向另一个计算机可读存储介质传输，例如，所述计算机程序或指令可以从一个网站站点、计算机、服务器或数据中心通过有线或无线方式向另一个网站站点、计算机、服务器或数据中心进行传输。所述计算机可读存储介质可以是计算机能够存取的任何可用介质或者是集成一个或多个可用介质的服务器、数据中心等数据存储设备。所述可用介质可以是磁性介质，例如，软盘、硬盘、磁带；也可以是光介质，例如，数字视频光盘（Digital Video Disc，DVD）；还可以是半导体介质，例如，固态硬盘（Solid State Drive，SSD）。

尽管在此结合各实施例对本发明进行了描述，然而，在实施所要求保护的本发明过程中，本领域技术人员通过查看附图、公开内容、以及所附权利要求书，可理解并实现公开实施例的其他变化。在权利要求中，“包括”（comprising）一词不排除其他组成部分或步骤，“一”或“一个”不排除多个的情况。单个处理器或其他单元可以实现权利要求中列举的若干项功能。相互不同的从属权利要求中记载了某些措施，但这并不表示这些措施不能组合起来产生良好的效果。

尽管结合具体特征及其实施例对本发明进行了描述，显而易见的，在不脱离本发明的精神和范围的情况下，可对其进行各种修改和组合。相应地，本说明书和附图仅仅是所附权利要求所界定的本发明的示例性说明，且视为已覆盖本发明范围内的任意和所有修改、变化、组合或等同物。显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包括这些改动和变型在内。

Claims (10)

1.一种芯片SDK接口的测试方法，用于对目标芯片的SDK接口进行测试，其特征在于，所述测试方法包括：

基于目标芯片的实际运行环境，设置与所述目标芯片的SDK接口对应的系统调用函数，其中，所述系统调用函数至少包括多个支持的API接口函数；

设置多个测试用例；

通过预设命令行接口，基于预设的所述测试用例对所述系统调用函数进行测试，通过任一所述API接口函数对应的API接口输出实际测试结果；

当所述实际测试结果与预设测试结果不匹配时，通过所述预设命令行接口对所述目标芯片的SDK接口对应的目标参数进行调整，直至所述实际测试结果与所述预设测试结果匹配。

2.根据权利要求1所述的芯片SDK接口的测试方法，其特征在于，所述基于目标芯片的实际运行环境，设置与所述目标芯片的SDK接口对应的系统调用函数，包括：

基于目标芯片的实际运行环境，确定与所述目标芯片的SDK接口对应的系统调用函数列表、系统调用变量列表以及系统调用参数结构体。

3.根据权利要求1所述的芯片SDK接口的测试方法，其特征在于，在所述设置多个测试用例之前，所述测试方法还包括：

提供命令行接口；

接收通过所述命令行接口发送的操作指令；

基于所述操作指令，对所述系统调用函数执行相应的操作，其中，所述相应的操作至少包括：调用所述系统调用函数、对所述目标参数进行设置以及获取所述目标参数。

4.根据权利要求1所述的芯片SDK接口的测试方法，其特征在于，所述多个测试用例至少包括基本功能测试用例、函数性能测试用例、稳定性测试用例以及兼容性测试用例。

5.根据权利要求4所述的芯片SDK接口的测试方法，其特征在于，所述基于预设的所述测试用例对所述系统调用函数进行测试，包括：基于预设的所述测试用例对所述系统调用函数的基本功能进行测试。

6.根据权利要求4所述的芯片SDK接口的测试方法，其特征在于，所述基于预设的所述测试用例对所述系统调用函数进行测试，包括：基于预设的所述测试用例对所述系统调用函数的性能进行测试。

7.根据权利要求4所述的芯片SDK接口的测试方法，其特征在于，所述基于预设的所述测试用例对所述系统调用函数进行测试，包括：基于预设的所述测试用例对所述系统调用函数的稳定性进行测试。

8.根据权利要求4所述的芯片SDK接口的测试方法，其特征在于，所述基于预设的所述测试用例对所述系统调用函数进行测试，包括：基于预设的所述测试用例对所述系统调用函数的兼容性进行测试。

9.一种芯片SDK接口的测试装置，其特征在于，包括：

第一设置模块，用于基于目标芯片的实际运行环境，设置与所述目标芯片的SDK接口对应的系统调用函数，其中，所述系统调用函数至少包括多个支持的API接口函数；

第二设置模块，用于设置多个测试用例；

测试模块，用于通过预设命令行接口，基于预设的所述测试用例对所述系统调用函数进行测试，通过任一所述API接口函数对应的API接口输出实际测试结果；

检验模块，用于当所述实际测试结果与预设测试结果不匹配时，通过所述预设命令行接口对所述目标芯片的SDK接口对应的目标参数进行调整，直至所述实际测试结果与所述预设测试结果匹配。

10.一种电子设备，其特征在于，包括：一个或多个处理器；和其上存储有指令的一个或多个机器可读介质，当由所述一个或多个处理器执行时，使得执行权利要求1至8任一所述的芯片SDK接口的测试方法。