CN109856482A - 一种快速测试usb-pd模块的方法 - Google Patents
一种快速测试usb-pd模块的方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN109856482A CN109856482A CN201910088073.3A CN201910088073A CN109856482A CN 109856482 A CN109856482 A CN 109856482A CN 201910088073 A CN201910088073 A CN 201910088073A CN 109856482 A CN109856482 A CN 109856482A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- module
- test
- chip
- measured
- usb
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Abstract
本发明涉及一种快速测试USB‑PD模块的方法，主控芯片接收Python通过串口发送的指令碼，解析对应的指令码，指令码正确则进行对应的PD模块测试，若指令码错误则通过所述串口发送无应答信号给Python，一定时间内未收到Python发出的应答信号，则强制退出测试；通过主控芯片控制指令的发送，对PD模块的物理层，协议层(控制信息功能、数据信息功能，扩展信息功能)，策略层功能模块进行测试；通过该测试方法能够方便、快捷、灵活的测试USB‑PD模块，且自动记录，分析并保存测量数据，以配合测试者快速的找出模块的问题所在。
Description
技术领域
本发明属于USB-PD模块技术领域，尤其涉及一种快速测试USB-PD模块的方法。
背景技术
USB-PD(USB Power Delivery的简称)是USB3.1中即type-c(简称USB-C，是一种通用串行总线(USB)的硬件接口规范)端口后提出的功率传输概念，能将充电能力扩大为目前的10倍最高可达100瓦。
但是目前在测量USB-PD(简称PD)模块时只能按照规范的指令才能进行相关的PD模块测试，由于PD模块协议相对比较复杂，尤其是芯片厂商想拿到PD2.0或者PD3.0的认证，那就必须保证在测量PD模块时，必须要能将PD模块的所有功能，必须能快速的遍历与测试，且可以通过软件灵活的配置，能覆盖与定位协议的每个测试点；这就需要能够灵活的配置参数且提供激励，因此，本方法着重解决这两个难点：第一，解决灵活测试与配置的问题，第二，解决控制激励输出的问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种快速测试USB-PD模块的方法，旨在解决由于现有技术无法提供一种测试速度快，不能够灵活的配置与测试，导致用户工作效率低的问题。
本发明提供了一种快速测试USB-PD模块的方法，所述方法包括下述步骤：
主控芯片接收Python通过串口发送的指令碼，解析对应的指令码，指令码正确则进行对应的PD模块测试，指令码错误则通过所述串口发送无应答信号给Python。
优选地，所述方法还包括：一定时间内未收到Python发出的应答信号，强制退出测试，通过显示屏显示测试异常。
优选地，所述方法还包括：所述主控芯片连接有第一待测芯片和第二待测芯片，所述第一待测芯片和所述第二待测芯片的其中一个待测芯片作为源端另一个待测芯片作为接收端。
优选地，所述方法还包括：所述主控芯片通过发送特定的指令给所述第一待测芯片和所述第二待测芯片，并查看中断与标志位是否遍历成功，若遍历失败则通过串口打印出对应的标志位。
优选地，所述方法还包括：Python发送指令测试协议层，依次发送控制信息指令测试，数据信息指令测试及扩展信息执行测试。
优选地，所述方法还包括：测试所述控制信息指令测试时，有多条控制指令，Python依次遍历对应的指令，待所述第一待测芯片与PD测试设备进行通信以及所述多条控制指令全部测试完毕，所述PD测试设备生成测试日志。
优选地，所述方法还包括：Python通过串口读取测试日志，并自动记录测试结果在串口显示屏上进行显示，提示是否需要继续下一个协议指令的测试，否则结束测试。
优选地，所述方法还包括：所述协议层测试完毕后，所述PD模块进行策略层测试。
优选地，所述方法还包括：所述主控芯片接收到策略层测试指令后发送对应的指令给所述第一待测芯片，所述第一待测芯片响应后发送指令给所述主控芯片，告知开启升压电路，并升压到对应的电压。
优选地，所述方法还包括：保存对应的测试数据，退出当前测试。
本发明的有益效果在于：主控芯片接收Python通过串口发送的指令碼，解析对应的指令码，指令码正确则进行对应的PD模块测试，若指令码错误则通过所述串口发送无应答信号给Python，一定时间内未收到Python发出的应答信号，则强制退出测试；通过主控芯片控制指令的发送，对PD模块的物理层，协议层(控制信息功能、数据信息功能，扩展信息功能)，策略层功能模块进行测试；通过该测试方法能够方便、快捷、灵活的测试USB-PD模块，且自动记录，分析并保存测量数据，以配合测试者快速的找出模块的问题所在。
附图说明
图1是本发明实施例提供的快速测试USB-PD模块的方法的实现流程图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
以下结合具体实施例对本发明的具体实现进行详细描述：
图1示出了本发明实施例提供的快速测试USB-PD模块的方法实现流程，为了便于说明，仅示出了与本发明实施例相关的部分，详述如下：
在步骤S101中，主控芯片接收Python通过串口发送的指令碼，解析对应的指令码，指令码正确则进行对应的PD模块测试，指令码错误则通过串口发送无应答信号给Python。
在步骤S102中，一定时间内未收到Python发出的应答信号，强制退出测试，通过显示屏显示测试异常。
在步骤S103中，主控芯片连接有第一待测芯片和第二待测芯片，第一待测芯片和第二待测芯片的其中一个待测芯片作为源端另一个待测芯片作为接收端。
在步骤S104中，主控芯片通过发送特定的指令给第一待测芯片和第二待测芯片，并查看中断与标志位是否遍历成功，若遍历失败则通过串口打印出对应的标志位。
在步骤S105中，Python发送指令测试协议层，依次发送控制信息指令测试，数据信息指令测试及扩展信息执行测试。
在步骤S106中，测试控制信息指令测试时，有多条控制指令，Python依次遍历对应的指令，待第一待测芯片与PD测试设备进行通信以及多条控制指令全部测试完毕，PD测试设备生成测试日志。
在步骤S107中，Python通过串口读取测试日志，并自动记录测试结果在串口显示屏上进行显示，提示是否需要继续下一个协议指令的测试，否则结束测试。
在步骤S108中，协议层测试完毕后，PD模块进行策略层测试。
在步骤S109中，主控芯片接收到策略层测试指令后发送对应的指令给第一待测芯片，第一待测芯片响应后发送指令给主控芯片，告知开启升压电路，并升压到对应的电压。
在步骤S110中，保存对应的测试数据，退出当前测试。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种快速测试USB-PD模块的方法，其特征在于，所述方法包括下述步骤：
主控芯片接收Python通过串口发送的指令碼，解析对应的指令码，指令码正确则进行对应的PD模块测试，指令码错误则通过所述串口发送无应答信号给Python。
2.如权利要求1所述快速测试USB-PD模块的方法，其特征在于，所述方法还包括：一定时间内未收到Python发出的应答信号，强制退出测试，通过显示屏显示测试异常。
3.如权利要求1所述快速测试USB-PD模块的方法，其特征在于，所述方法还包括：所述主控芯片连接有第一待测芯片和第二待测芯片，所述第一待测芯片和所述第二待测芯片的其中一个待测芯片作为源端另一个待测芯片作为接收端。
4.如权利要求3所述快速测试USB-PD模块的方法，其特征在于，所述方法还包括：所述主控芯片通过发送特定的指令给所述第一待测芯片和所述第二待测芯片，并查看中断与标志位是否遍历成功，若遍历失败则通过串口打印出对应的标志位。
5.如权利要求4所述快速测试USB-PD模块的方法，其特征在于，所述方法还包括：Python发送指令测试协议层，依次发送控制信息指令测试，数据信息指令测试及扩展信息执行测试。
6.如权利要求5所述快速测试USB-PD模块的方法，其特征在于，所述方法还包括：测试所述控制信息指令测试时，有多条控制指令，Python依次遍历对应的指令，待所述第一待测芯片与PD测试设备进行通信以及所述多条控制指令全部测试完毕，所述PD测试设备生成测试日志。
7.如权利要求6所述快速测试USB-PD模块的方法，其特征在于，所述方法还包括：Python通过串口读取测试日志，并自动记录测试结果在串口显示屏上进行显示，提示是否需要继续下一个协议指令的测试，否则结束测试。
8.如权利要求7所述快速测试USB-PD模块的方法，其特征在于，所述方法还包括：所述协议层测试完毕后，所述PD模块进行策略层测试。
9.如权利要求8所述快速测试USB-PD模块的方法，其特征在于，所述方法还包括：所述主控芯片接收到策略层测试指令后发送对应的指令给所述第一待测芯片，所述第一待测芯片响应后发送指令给所述主控芯片，告知开启升压电路，并升压到对应的电压。
10.如权利要求9所述快速测试USB-PD模块的方法，其特征在于，所述方法还包括：保存对应的测试数据，退出当前测试。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201910088073.3A CN109856482A (zh) | 2019-01-29 | 2019-01-29 | 一种快速测试usb-pd模块的方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201910088073.3A CN109856482A (zh) | 2019-01-29 | 2019-01-29 | 一种快速测试usb-pd模块的方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN109856482A true CN109856482A (zh) | 2019-06-07 |
Family
ID=66896818
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201910088073.3A Pending CN109856482A (zh) | 2019-01-29 | 2019-01-29 | 一种快速测试usb-pd模块的方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN109856482A (zh) |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101026511A (zh) * | 2007-03-27 | 2007-08-29 | 华为技术有限公司 | 测试方法、系统及其配置方法和系统 |
| CN102520340A (zh) * | 2012-01-06 | 2012-06-27 | 日月光半导体制造股份有限公司 | 具有测试结构的半导体封装元件及其测试方法 |
| CN105004984A (zh) * | 2015-06-25 | 2015-10-28 | 深圳市芯海科技有限公司 | 一种自动化芯片测试方法 |
| CN106502811A (zh) * | 2016-10-12 | 2017-03-15 | 北京精密机电控制设备研究所 | 一种1553b总线通信故障处理方法 |
| WO2018213015A1 (en) * | 2017-05-18 | 2018-11-22 | Cypress Semiconductor Corporation | Current sensing in a usb power control analog subsystem |
| CN109151860A (zh) * | 2018-07-27 | 2019-01-04 | 深圳市极致汇仪科技有限公司 | 一种无线芯片的测试配置方法及其系统 |
-
2019
- 2019-01-29 CN CN201910088073.3A patent/CN109856482A/zh active Pending
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101026511A (zh) * | 2007-03-27 | 2007-08-29 | 华为技术有限公司 | 测试方法、系统及其配置方法和系统 |
| CN102520340A (zh) * | 2012-01-06 | 2012-06-27 | 日月光半导体制造股份有限公司 | 具有测试结构的半导体封装元件及其测试方法 |
| CN105004984A (zh) * | 2015-06-25 | 2015-10-28 | 深圳市芯海科技有限公司 | 一种自动化芯片测试方法 |
| CN106502811A (zh) * | 2016-10-12 | 2017-03-15 | 北京精密机电控制设备研究所 | 一种1553b总线通信故障处理方法 |
| WO2018213015A1 (en) * | 2017-05-18 | 2018-11-22 | Cypress Semiconductor Corporation | Current sensing in a usb power control analog subsystem |
| CN109151860A (zh) * | 2018-07-27 | 2019-01-04 | 深圳市极致汇仪科技有限公司 | 一种无线芯片的测试配置方法及其系统 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN110050441B (zh) | 在故障情况下实时捕获流量以进行协议调试 | |
| US7610526B2 (en) | On-chip circuitry for bus validation | |
| CN100549711C (zh) | 远程集成电路测试方法和装置 | |
| CN101916087B (zh) | 一种基于CANoe的诊断测试系统 | |
| CN101738550B (zh) | 电子装置测试装置及测试方法 | |
| CN104914845B (zh) | 一种基于工控机的车身控制器故障测试方法和系统 | |
| CN109781179B (zh) | 多通道多参数传感器检测系统及其检测方法 | |
| CN101739770A (zh) | 一种pos机生产中的自动测试控制系统及方法 | |
| CN106932764A (zh) | 雷达接收分系统模块的指标测试与故障定位系统及其方法 | |
| CN106407059A (zh) | 一种服务器节点测试系统及方法 | |
| US8407522B2 (en) | Test apparatus and recording medium | |
| CN101344562A (zh) | 电路印刷板组件的测试方法及设备 | |
| CN108108277A (zh) | 一种pcie发送端码型测试系统及测试方法 | |
| US8391162B2 (en) | Apparatus and method for testing SMNP cards | |
| CN114490208A (zh) | 测试装置、方法、计算机设备、存储介质和程序产品 | |
| CN109856482A (zh) | 一种快速测试usb-pd模块的方法 | |
| US9781527B2 (en) | Smart plug and play automatic OBD-II system tester | |
| CN108776723B (zh) | 测试系统自检适配器连线生成方法、装置、设备及存储介质 | |
| CN116319475A (zh) | 一种信号分析方法、装置、设备及存储介质 | |
| CN113281639A (zh) | 一种板卡测试装置、系统及方法 | |
| CN111858210A (zh) | Wwan测试设备 | |
| KR20210100474A (ko) | 차량용 전자 제어기의 테스트 장치 및 그 테스트 방법 | |
| CN108155979B (zh) | 一种检测设备 | |
| Ungar et al. | Effective use of Reconfigurable Synthetic Instruments in Automatic Testing of Input/Output (I/O) Buses | |
| CN102377614A (zh) | Pci-e切换开关测试系统及方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20190607 |
|
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |