CN109828878A - 存储模块的测试方法、主板中存储单元的测试方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了存储模块的测试方法、主板中存储单元的测试方法及装置，属于存储设备技术领域。在训练存储模块时，通过识别存储模块是否通过训练，可初步判断存储模块是否存在异常，对于无法通过训练存储模块可采用维修参数集合设置存储模块，以使存储模块进行检测，避免主板因存储模块异常进入死机状态无法检测，通过检测结果可精准的定位出存储模块的故障问题，提供了检测的效率，缩短了检测时间。对于主板的存储单元中包括多个存储模块时，可逐个对每个存储模块依次进行检测，防止了因某一个存储模块存在故障至少主板死机，无法准确定位故障存储模块及该故障存储模块的故障数据线的问题。

Description

存储模块的测试方法、主板中存储单元的测试方法及装置

技术领域

本发明涉及存储设备技术领域，尤其涉及存储模块的测试方法、主板中存储单元的测试方法及装置。

背景技术

目前内存颗粒作为电子系统当中最核心的部件之一，一直以来都是电子系统研究和应用最广泛的对象；当前的智能电子产品，如移动终端(手机、笔记本电脑)、机顶盒、电视机等，这些智能设备主板一般都会大量用到存储器(如：双倍速率存储器，简称DDR，英文Double Data Rate)。主板在生成中会遇到DDR数据线连接不良的问题。对于这种不良板，往往会导致整个系统不能工作(即整个主板报废)，当累积的废板多起来，造成的损失会越来越大。目前对于主板的DDR检测的通常先对DDR进行训练，若训练失败，则主板会进入死机状态，无法检测DDR线路情况，因此，无法准确的定位是哪一个颗DDR出了问题，只能尝试性的拆焊，检测的效率低，且用时长。

发明内容

针对现有存储器测试存在的问题，现提供一种旨在可对故障精准定位，提高测试效率、缩短测试时间的存储模块的测试方法、主板中存储单元的测试方法及装置。

一种存储模块的测试方法，存储模块中存储有用于设置所述存储模块的训练参数集合；所述测试方法包括下述步骤：

S1.训练所述存储模块；

S2.识别所述存储模块是否通过训练，若是，执行步骤S3；若否，执行步骤S4；

S3.提取通过训练的训练参数集合设置所述存储模块，执行步骤S5；

S4.依据所述维修参数集合设置所述存储模块，执行步骤S5；

S5.检测所述存储模块的数据线是否正常，若是，输出检测正常的结果；若否，输出检测异常的结果。

优选的，所述步骤S5检测所述存储模块的数据线是否正常包括：预先将原始测试数据写入所述存储模块中；

S51.读取所述存储模块中的测试数据；

S52.将读取的测试数据与所述原始测试数据比对，判断读取的测试数据与所述原始测试数据是否相同，若是，执行步骤S53；若否，执行步骤S54；

S53.输出检测正常的结果；

S54.输出检测异常的结果。

优选的，所述步骤S52还包括：

当读取的测试数据与所述原始测试数据不相同时，判断根据读取的测试数据与所述原始测试数据的区别，识别故障的数据线，并生成故障数据线的报错信息。

本发明还提供了一种主板中存储单元的测试方法，所述存储单元包括至少两个存储模块，每一存储模块中存储有用于设置所述存储模块的训练参数集合；所述测试方法包括：

A1.对所述存储单元中的一待测存储模块进行训练；

A2.识别所述待测存储模块是否通过训练，若是，执行步骤A3；若否，执行步骤A4；

A3.提取通过训练的训练参数集合设置所述待测存储模块，执行步骤A5；

A4.依据所述维修参数集合设置所述待测存储模块，执行步骤A5；

A5.检测所述待测存储模块的数据线是否正常，若是，输出检测正常的结果，执行步骤A6；若否，生成检测异常的结果，执行步骤A6；

A6.判断所述存储单元中是否有未检测的存储模块，若是，返回执行步骤A1；若否，结束。

优选的，所述步骤A5检测所述待测存储模块的数据线是否正常包括：预先将原始测试数据写入所述待测存储模块中；

A51.读取所述待测存储模块中的测试数据；

A52.将读取的测试数据与所述原始测试数据比对，判断读取的测试数据与所述原始测试数据是否相同，若是，执行步骤SA3；若否，执行步骤SA4；

A53.输出检测正常的结果；

A54.输出检测异常的结果。

本发明还提供了一种存储模块的测试装置，存储模块中存储有用于设置所述存储模块的训练参数集合；所述测试装置包括：

第一训练单元，用于训练所述存储模块；

第一识别单元，用于识别所述存储模块是否通过训练；

第一设置单元，用于提取通过训练的训练参数集合设置所述存储模块，执行步骤S5；

第一维修设置单元，用于依据所述维修参数集合设置所述存储模块，执行步骤S5；

第一检测单元，用于检测所述存储模块的数据线是否正常，当所述存储模块的数据线正常时，输出检测正常的结果；当所述存储模块的数据线异常时，输出检测异常的结果。

优选的，预先将原始测试数据写入所述存储模块中；所述第一检测单元包括：

第一读取模块，用于读取所述存储模块中的测试数据；

第一比对模块，用于将读取的测试数据与所述原始测试数据比对，判断读取的测试数据与所述原始测试数据是否相同，当读取的测试数据与所述原始测试数据相同时，输出检测正常的结果；当读取的测试数据与所述原始测试数据不相同时，输出检测异常的结果。

优选的，所述第一比对模块还用于当读取的测试数据与所述原始测试数据不相同时，判断根据读取的测试数据与所述原始测试数据的区别，识别故障的数据线，并生成故障数据线的报错信息。

本发明还提供了一种主板中存储单元的测试装置，所述存储单元包括至少两个存储模块，每一存储模块中存储有用于设置所述存储模块的训练参数集合；所述测试装置包括：

第二训练单元，用于对所述存储单元中的一待测存储模块进行训练；

第二识别单元，用于识别所述待测存储模块是否通过训练；

第二设置单元，用于提取通过训练的训练参数集合设置所述待测存储模块；

第二维修设置单元，用于依据所述维修参数集合设置所述待测存储模块；

第二检测单元，用于检测所述待测存储模块的数据线是否正常，当所述待测存储模块的数据线正常时，输出检测正常的结果；当所述待测存储模块的数据线异常时，输出检测异常的结果；

控制单元，用于判断所述存储单元中是否有未检测的存储模块，当所述存储单元中有未检测的存储模块时，控制所述第二训练单元对所述存储单元中的一待测存储模块进行训练。

优选的，预先将原始测试数据写入所述待测存储模块中；所述第二检测单元包括：

第二读取模块，用于读取所述待测存储模块中的测试数据；

第二比对模块，用于将读取的测试数据与所述原始测试数据比对，判断读取的测试数据与所述原始测试数据是否相同，当读取的测试数据与所述原始测试数据相同时，输出检测正常的结果；当读取的测试数据与所述原始测试数据不相同时，输出检测异常的结果。

上述技术方案的有益效果：

本技术方案中，在训练存储模块时，通过识别存储模块是否通过训练，可初步判断存储模块是否存在异常，对于无法通过训练存储模块可采用维修参数集合设置存储模块，以使存储模块进行检测，避免主板因存储模块异常进入死机状态无法检测，通过检测结果可精准的定位出存储模块的故障问题，提供了检测的效率，缩短了检测时间。

附图说明

图1为本发明所述的存储模块的测试方法的流程图；

图2为本发明所述的主板中存储单元的测试方法的流程图；

图3为本发明所述的存储模块的测试装置的模块图；

图4为本发明所述的主板中存储单元的测试装置的模块图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明的是，在不冲突的情况下，本发明中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明，但不作为本发明的限定。

如图1所示，本发明提供了一种存储模块的测试方法，存储模块中存储有用于设置所述存储模块的训练参数集合(当存储模块存在故障无法进行训练时，可采用训练参数集合设置存储模块，对存储模块进行检测)；本发明主要适用于对DDR等存储器的测试。

所述测试方法包括下述步骤：

S1.训练所述存储模块；

在本步骤中，通过对存储模块进行训练获取存储模块最佳的训练参数，以使存储模块可以稳定运行；

S2.识别所述存储模块是否通过训练，若是，执行步骤S3；若否，表示该存储模块存在故障，执行步骤S4；

S3.提取通过训练的训练参数集合设置所述存储模块，执行步骤S5；

在本步骤中采用训练参数集合为最佳的训练参数集合，采用该参数集合可使存储模块在最优的状态下运行；

S4.依据所述维修参数集合设置所述存储模块，执行步骤S5；

需要说明的是：维修参数集合虽然不是最佳的参数集合，但是这个维修参数集合是可以使用的。因为在余量充足的情况下，存储模块的参数稍微偏了一点，并不影响存储模块的使用；

S5.检测所述存储模块的数据线是否正常，若是，输出检测正常的结果；若否，输出检测异常的结果。

需要说明的是：当数据线正常时，表示存储模块正常，输出检测正常的结果；当数据线出现异常时，输出检测异常的结果，该异常结果包含故障的数据线的编号。

进一步地，所述步骤S5检测所述存储模块的数据线是否正常包括：预先将原始测试数据写入所述存储模块中；

S51.读取所述存储模块中的测试数据；

S52.将读取的测试数据与所述原始测试数据比对，判断读取的测试数据与所述原始测试数据是否相同，若是，执行步骤S53；若否，执行步骤S54；

S53.输出检测正常的结果；

S54.输出检测异常的结果。

在步骤S5中若读取的测试数据与所述原始测试数据相同，则表示所述存储模块的数据线正常，输出检测正常的结果；若读取的测试数据与所述原始测试数据不同，则表示所述存储模块的数据线异常，输出检测异常的结果。

其中，所述步骤S52还可包括：

当读取的测试数据与所述原始测试数据不相同时，判断根据读取的测试数据与所述原始测试数据的区别，识别故障的数据线，并生成故障数据线的报错信息。

存储模块的故障主要包括：数据线之间短路、数据线短路到电源地GND,及数据线短路到电源VDD，这三种情况都会造成存储模块初始化失败，当存储模块出现这三种情况任一种时，存储模块都无法通过训练阶段。

需要说明的是：报错信息是指故障数据线的编号，以便于精准定位故障位置。

在实际应用中，检测存储模块的数据线是否正常，通常是将把一些标志性的数据写进某个区域中，然后再读出来，与标志性的数据做比对，从而判断存储模块的数据线哪里连接不良；

作为举例而非限定：例如将0xFFFF FFFF写进地址[0x1000]中，如果读出来的数据不是0xFFFF FFFF，说明有数据线短路到电源地GND，如果读出来是0xFFFF FFFE，说明DQ0短路到电源地GND；将0x0000 0000写进地址[0x1000]中，如果读出来的数据不是0x00000000，说明有数据线短路到电源VDDQ，如果读出来是0x0001 0000，说明DQ16短路到VDDQ；将0xAAAA AAAA写进地址[0x1000]中，如果读出来的数据不是0xAAAA AAAA，说明有数据线之间存在短路；将0x5555 5555写进地址[0x1000]中，如果读出来的数据不是0x5555 5555，说明有数据线之间存在短路。

如图2所述，本发明还提供了一种主板中存储单元的测试方法，所述存储单元包括至少两个存储模块，每一存储模块中存储有用于设置所述存储模块的训练参数集合；本发明主要适用于对DDR等存储器的测试。

所述测试方法包括：

A1.对所述存储单元中的一待测存储模块进行训练；

A2.识别所述待测存储模块是否通过训练，若是，执行步骤A3；若否，执行步骤A4；

A3.提取通过训练的训练参数集合设置所述待测存储模块，执行步骤A5；

A4.依据所述维修参数集合设置所述待测存储模块，执行步骤A5；

A5.检测所述待测存储模块的数据线是否正常，若是，输出检测正常的结果，执行步骤A6；若否，生成检测异常的结果，执行步骤A6；

进一步地，所述步骤A5检测所述待测存储模块的数据线是否正常包括：预先将原始测试数据写入所述待测存储模块中；

A51.读取所述待测存储模块中的测试数据；

A52.将读取的测试数据与所述原始测试数据比对，判断读取的测试数据与所述原始测试数据是否相同，若是，执行步骤SA3；若否，执行步骤SA4；

A53.输出检测正常的结果；

A54.输出检测异常的结果。

A6.判断所述存储单元中是否有未检测的存储模块，若是，则对为未检测的存储模块进行训练，返回执行步骤A1；若否，则表示存储单元中的存储模块均检测完毕，结束。

在本实施例中，对于主板的存储单元中包括多个存储模块时，可逐个对每个存储模块依次进行检测，防止了因某一个存储模块存在故障至少主板死机，无法准确定位故障存储模块及该故障存储模块的故障数据线的问题。在训练存储模块时，通过识别存储模块是否通过训练，可初步判断存储模块是否存在异常，对于无法通过训练存储模块可采用维修参数集合设置存储模块，以使存储模块进行检测，避免主板因存储模块异常进入死机状态无法检测，通过检测结果可精准的定位出存储模块的故障问题，提供了检测的效率，缩短了检测时间。

如图3所示，本发明提供了一种存储模块的测试装置，存储模块中存储有用于设置所述存储模块的训练参数集合；本发明主要适用于对DDR等存储器的测试。所述测试装置可包括：

第一训练单元11，用于训练所述存储模块；

第一识别单元12，用于识别所述存储模块是否通过训练；

第一设置单元13，用于提取通过训练的训练参数集合设置所述存储模块，执行步骤S5；

第一维修设置单元14，用于依据所述维修参数集合设置所述存储模块，执行步骤S5；

第一检测单元15，用于检测所述存储模块的数据线是否正常，当所述存储模块的数据线正常时，输出检测正常的结果；当所述存储模块的数据线异常时，输出检测异常的结果。

本实施例中，在训练存储模块时，通过识别存储模块是否通过训练，可初步判断存储模块是否存在异常，对于无法通过训练存储模块可采用维修参数集合设置存储模块，以使存储模块进行检测，避免主板因存储模块异常进入死机状态无法检测，通过检测结果可精准的定位出存储模块的故障问题，提供了检测的效率，缩短了检测时间。

在优选的实施例中，预先将原始测试数据写入所述存储模块中；所述第一检测单元15可包括：

第一读取模块，用于读取所述存储模块中的测试数据；

第一比对模块，用于将读取的测试数据与所述原始测试数据比对，判断读取的测试数据与所述原始测试数据是否相同，当读取的测试数据与所述原始测试数据相同时，输出检测正常的结果；当读取的测试数据与所述原始测试数据不相同时，输出检测异常的结果。

在本实施例中，若读取的测试数据与所述原始测试数据相同，则表示所述存储模块的数据线正常，输出检测正常的结果；若读取的测试数据与所述原始测试数据不同，则表示所述存储模块的数据线异常，输出检测异常的结果。

在优选的实施例中，所述第一比对模块还可当读取的测试数据与所述原始测试数据不相同时，判断根据读取的测试数据与所述原始测试数据的区别，识别故障的数据线，并生成故障数据线的报错信息。

存储模块的故障主要包括：数据线之间短路、数据线短路到电源地GND,及数据线短路到电源VDD，这三种情况都会造成存储模块初始化失败，当存储模块出现这三种情况任一种时，存储模块都无法通过训练阶段。

需要说明的是：报错信息是指故障数据线的编号，以便于精准定位故障位置。

如图4所示，一种主板中存储单元的测试装置，所述存储单元包括至少两个存储模块，每一存储模块中存储有用于设置所述存储模块的训练参数集合；本发明主要适用于对DDR等存储器的测试。所述测试装置可包括：

第二训练单元21，用于对所述存储单元中的一待测存储模块进行训练；

第二识别单元22，用于识别所述待测存储模块是否通过训练；

第二设置单元23，用于提取通过训练的训练参数集合设置所述待测存储模块；

第二维修设置单元24，用于依据所述维修参数集合设置所述待测存储模块；

第二检测单元25，用于检测所述待测存储模块的数据线是否正常，当所述待测存储模块的数据线正常时，输出检测正常的结果；当所述待测存储模块的数据线异常时，输出检测异常的结果；

控制单元26，用于判断所述存储单元中是否有未检测的存储模块，当所述存储单元中有未检测的存储模块时，控制所述第二训练单元21对所述存储单元中的一待测存储模块进行训练。

在本实施例中，对于主板的存储单元中包括多个存储模块时，可逐个对每个存储模块依次进行检测，防止了因某一个存储模块存在故障至少主板死机，无法准确定位故障存储模块及该故障存储模块的故障数据线的问题。在训练存储模块时，通过识别存储模块是否通过训练，可初步判断存储模块是否存在异常，对于无法通过训练存储模块可采用维修参数集合设置存储模块，以使存储模块进行检测，避免主板因存储模块异常进入死机状态无法检测，通过检测结果可精准的定位出存储模块的故障问题，提供了检测的效率，缩短了检测时间。

在优选的实施例中，预先将原始测试数据写入所述待测存储模块中；所述第二检测单元25可包括：

第二读取模块，用于读取所述待测存储模块中的测试数据；

第二比对模块，用于将读取的测试数据与所述原始测试数据比对，判断读取的测试数据与所述原始测试数据是否相同，当读取的测试数据与所述原始测试数据相同时，输出检测正常的结果；当读取的测试数据与所述原始测试数据不相同时，输出检测异常的结果。

采用本实施例中可正常识别哪颗DDR数据线出现了问题。

以上所述仅为本发明较佳的实施例，并非因此限制本发明的实施方式及保护范围，对于本领域技术人员而言，应当能够意识到凡运用本发明说明书及图示内容所作出的等同替换和显而易见的变化所得到的方案，均应当包含在本发明的保护范围内。

Claims (10)

1.一种存储模块的测试方法，其特征在于：存储模块中存储有用于设置所述存储模块的训练参数集合；所述测试方法包括下述步骤：

S1.训练所述存储模块；

S2.识别所述存储模块是否通过训练，若是，执行步骤S3；若否，执行步骤S4；

S3.提取通过训练的训练参数集合设置所述存储模块，执行步骤S5；

S4.依据所述维修参数集合设置所述存储模块，执行步骤S5；

S5.检测所述存储模块的数据线是否正常，若是，输出检测正常的结果；若否，输出检测异常的结果。

2.根据权利要求1所述的存储模块的测试方法，其特征在于：所述步骤S5检测所述存储模块的数据线是否正常包括：预先将原始测试数据写入所述存储模块中；

S51.读取所述存储模块中的测试数据；

S52.将读取的测试数据与所述原始测试数据比对，判断读取的测试数据与所述原始测试数据是否相同，若是，执行步骤S53；若否，执行步骤S54；

S53.输出检测正常的结果；

S54.输出检测异常的结果。

3.根据权利要求2所述的存储模块的测试方法，其特征在于：所述步骤S52还包括：

当读取的测试数据与所述原始测试数据不相同时，判断根据读取的测试数据与所述原始测试数据的区别，识别故障的数据线，并生成故障数据线的报错信息。

4.一种主板中存储单元的测试方法，所述存储单元包括至少两个存储模块，其特征在于：每一存储模块中存储有用于设置所述存储模块的训练参数集合；所述测试方法包括：

A1.对所述存储单元中的一待测存储模块进行训练；

A2.识别所述待测存储模块是否通过训练，若是，执行步骤A3；若否，执行步骤A4；

A3.提取通过训练的训练参数集合设置所述待测存储模块，执行步骤A5；

A4.依据所述维修参数集合设置所述待测存储模块，执行步骤A5；

A5.检测所述待测存储模块的数据线是否正常，若是，输出检测正常的结果，执行步骤A6；若否，生成检测异常的结果，执行步骤A6；

A6.判断所述存储单元中是否有未检测的存储模块，若是，返回执行步骤A1；若否，结束。

5.根据权利要求4所述的主板中存储单元的测试方法，其特征在于：所述步骤A5检测所述待测存储模块的数据线是否正常包括：预先将原始测试数据写入所述待测存储模块中；

A51.读取所述待测存储模块中的测试数据；

A52.将读取的测试数据与所述原始测试数据比对，判断读取的测试数据与所述原始测试数据是否相同，若是，执行步骤SA3；若否，执行步骤SA4；

A53.输出检测正常的结果；

A54.输出检测异常的结果。

6.一种存储模块的测试装置，其特征在于：存储模块中存储有用于设置所述存储模块的训练参数集合；所述测试装置包括：

第一训练单元，用于训练所述存储模块；

第一识别单元，用于识别所述存储模块是否通过训练；

第一设置单元，用于提取通过训练的训练参数集合设置所述存储模块，执行步骤S5；

第一维修设置单元，用于依据所述维修参数集合设置所述存储模块，执行步骤S5；

第一检测单元，用于检测所述存储模块的数据线是否正常，当所述存储模块的数据线正常时，输出检测正常的结果；当所述存储模块的数据线异常时，输出检测异常的结果。

7.根据权利要求6所述的存储模块的测试装置，其特征在于：预先将原始测试数据写入所述存储模块中；所述第一检测单元包括：

第一读取模块，用于读取所述存储模块中的测试数据；

第一比对模块，用于将读取的测试数据与所述原始测试数据比对，判断读取的测试数据与所述原始测试数据是否相同，当读取的测试数据与所述原始测试数据相同时，输出检测正常的结果；当读取的测试数据与所述原始测试数据不相同时，输出检测异常的结果。

8.根据权利要求7所述的存储模块的测试装置，其特征在于：所述第一比对模块还用于当读取的测试数据与所述原始测试数据不相同时，判断根据读取的测试数据与所述原始测试数据的区别，识别故障的数据线，并生成故障数据线的报错信息。

9.一种主板中存储单元的测试装置，所述存储单元包括至少两个存储模块，每一存储模块中存储有用于设置所述存储模块的训练参数集合；其特征在于：所述测试装置包括：

第二训练单元，用于对所述存储单元中的一待测存储模块进行训练；

第二识别单元，用于识别所述待测存储模块是否通过训练；

第二设置单元，用于提取通过训练的训练参数集合设置所述待测存储模块；

第二维修设置单元，用于依据所述维修参数集合设置所述待测存储模块；

第二检测单元，用于检测所述待测存储模块的数据线是否正常，当所述待测存储模块的数据线正常时，输出检测正常的结果；当所述待测存储模块的数据线异常时，输出检测异常的结果；

控制单元，用于判断所述存储单元中是否有未检测的存储模块，当所述存储单元中有未检测的存储模块时，控制所述第二训练单元对所述存储单元中的一待测存储模块进行训练。

10.根据权利要求4所述的主板中存储单元的测试装置，其特征在于：预先将原始测试数据写入所述待测存储模块中；所述第二检测单元包括：

第二读取模块，用于读取所述待测存储模块中的测试数据；

第二比对模块，用于将读取的测试数据与所述原始测试数据比对，判断读取的测试数据与所述原始测试数据是否相同，当读取的测试数据与所述原始测试数据相同时，输出检测正常的结果；当读取的测试数据与所述原始测试数据不相同时，输出检测异常的结果。