CN108362992A - 主板测试方法、装置、可读存储介质及测试终端 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种主板测试方法、装置、可读存储介质及测试终端，所述方法包括：当接收到测试启动信号时，在高速模式下向与所述主板连接的显示模组中指定的寄存器组写入测试数据；切换至低功耗模式从所述寄存器组中读取所述测试数据；判断读取的测试数据与写入的测试数据是否一致；若读取的测试数据与写入的测试数据一致，则确定所述主板的显示模组供电功能、复位功能、时钟通道和数据通道均测试通过。本发明能够解决主板电路显示功能测试效率低的问题。

Description

主板测试方法、装置、可读存储介质及测试终端

技术领域

本发明涉及主板测试技术领域，特别是涉及一种主板测试方法、装置、可读存储介质及测试终端。

背景技术

随着电子通讯技术的发展，移动终端，如手机、平板电脑、智能相机等，越来越得到发展和普及，给人们的生活带来了极大的乐趣和便利。以手机为例，手机的智能化程度越来越高，如今人们利用手机能够完成各种工作、生活、娱乐等活动，成为人们生活必不可少的常用工具。

主板是移动终端的重要组成部件，其上集成了大量电子元件器，随着移动终端功能的不断丰富，其中的主板电路结构也越来越复杂，因此，在使用过程中也极易出现问题。为提升移动终端产品的稳定性和耐用性，主板在组装生产完成后，需对进行各项测试，其中主板电路上的显示功能测试是重要的环节，主板电路上的显示功能直接影响了终端产品显示效果。

现有技术中，在对主板电路上的显示功能进行测试时，都是在SMT(Surface MountTechnology，表面贴装技术)完成后，由人工进行测试，通过人工判断显示功能测试结果，测试效率低，影响产能。

发明内容

为此，本发明的一个实施例提出一种主板测试方法，解决测试效率低的问题。

根据本发明一实施例的主板测试方法，包括：

当接收到测试启动信号时，在高速模式下向与所述主板连接的显示模组中指定的寄存器组写入测试数据；

切换至低功耗模式从所述寄存器组中读取所述测试数据；

判断读取的测试数据与写入的测试数据是否一致；

若读取的测试数据与写入的测试数据一致，则确定所述主板的显示模组供电功能、复位功能、时钟通道和数据通道均测试通过。

根据本发明实施例的主板测试方法，能够在主板SMT完成后，整机集成前对主板的显示功能进行测试，通过在高速模式下向与主板连接的显示模组中指定的寄存器组写入测试数据，高速模式下能够保证写入的速度，写入完成后，再切换至低功耗模式从寄存器组中读取测试数据，通过判断读取的测试数据与写入的测试数据是否一致以测试主板的显示功能，若两者一致，则能够自动确定出主板的显示功能中，显示模组供电功能、复位功能、时钟通道和数据通道均测试通过，测试过程无需人工判断测试结果，测试效率更高，能够有效提升产能。

另外，根据本发明上述实施例的主板测试方法，还可以具有如下附加的技术特征：

进一步地，在本发明的一个实施例中，所述主板与所述显示模组通过显示串行接口连接，所述显示串行接口包括时钟通道和多个数据通道，所述在高速模式下向与所述主板连接的显示模组中指定的寄存器组写入测试数据的步骤包括：

在高速模式下，使用所述显示串行接口的时钟通道和全部的数据通道向与所述主板连接的显示模组中指定的寄存器组写入测试数据；

所述切换至低功耗模式从所述寄存器组中读取所述测试数据的步骤包括：

切换至低功耗模式，使用所述显示串行接口中其中一个数据通道从所述寄存器组中读取所述测试数据。

进一步地，在本发明的一个实施例中，所述判断读取的测试数据与写入的测试数据是否一致的步骤之后，所述方法还包括：

若读取的测试数据与写入的测试数据不一致，则确定所述主板的显示模组供电功能、复位功能、时钟通道和数据通道中至少有一处存在异常；

发出第一异常提示信息，所述第一异常提示信息用于指示所述主板的显示模组供电功能、复位功能、时钟通道和数据通道中至少有一处存在异常。

进一步地，在本发明的一个实施例中，所述方法还包括；

在高速模式下向与所述主板连接的显示模组中指定的寄存器组写入测试数据，写入完成后，通过预设的协议向所述主板发送数据写入完成信号；

当所述主板接收到所述写入完成信号时，切换至低功耗模式从所述寄存器组中读取所述测试数据。

进一步地，在本发明的一个实施例中，所述若读取的测试数据与写入的测试数据一致，则确定所述主板的显示模组供电功能、复位功能、时钟通道和数据通道均测试通过的步骤之后，所述方法还包括：

向所述显示模组写入反馈信号开启指令，以使所述显示模式显示预存的图片，所述显示模组的输出引脚与所述主板的输出引脚连接；

判断所述主板的应用处理器芯片端是否接收到反馈信号；

若所述主板的应用处理器芯片端接收到反馈信号，则确定所述主板的输出引脚回路正常。

进一步地，在本发明的一个实施例中，所述判断所述主板的应用处理器芯片端是否接收到反馈信号的步骤之后，所述方法还包括：

若所述主板的应用处理器芯片端未接收到反馈信号，则确定所述主板的输出引脚回路异常；

发出第二异常提示信息，所述第一异常提示信息用于指示所述主板的输出引脚回路存在异常。

进一步地，在本发明的一个实施例中，所述向所述显示模组写入反馈信号开启指令的步骤之前，所述方法还包括：

判断所述主板是否具有输出引脚；

若所述主板具有输出引脚，则建立所述主板的输出引脚与所述显示模组的输出引脚的连接。

本发明的另一个实施例提出一种主板测试装置，解决测试效率低的问题，所述装置包括：

写入模块，用于当接收到测试启动信号时，在高速模式下向与所述主板连接的显示模组中指定的寄存器组写入测试数据；

读取模块，用于切换至低功耗模式从所述寄存器组中读取所述测试数据；

第一判断模块，用于判断读取的测试数据与写入的测试数据是否一致；

第一确定模块，用于当读取的测试数据与写入的测试数据一致时，确定所述主板的显示模组供电功能、复位功能、时钟通道和数据通道均测试通过。

另外，根据本发明上述实施例的主板测试装置，还可以具有如下附加的技术特征：

进一步地，在本发明的一个实施例中，所述主板与所述显示模组通过显示串行接口连接，所述显示串行接口包括时钟通道和多个数据通道，所述写入模块具体用于：

在高速模式下，使用显示串行接口的时钟通道和数据通道向与所述主板连接的显示模组中指定的寄存器组写入测试数据；

所述读取模块具体用于：

切换至低功耗模式，使用所述显示串行接口中其中一个数据通道从所述寄存器组中读取所述测试数据。

进一步地，在本发明的一个实施例中，所述装置还包括：

第二确定模块，用于当读取的测试数据与写入的测试数据不一致时，确定所述主板的显示模组供电功能、复位功能、时钟通道和数据通道中至少有一处存在异常；

第一提示模块，用于发出第一异常提示信息，所述第一异常提示信息用于指示所述主板的显示模组供电功能、复位功能、时钟通道和数据通道中至少有一处存在异常。

进一步地，在本发明的一个实施例中，所述写入模块还用于在高速模式下向与所述主板连接的显示模组中指定的寄存器组写入测试数据，写入完成后，通过预设的协议向所述主板发送数据写入完成信号；

所述读取模块还用于当所述主板接收到所述写入完成信号时，切换至低功耗模式从所述寄存器组中读取所述测试数据。

进一步地，在本发明的一个实施例中，所述装置还包括：

开启模块，用于向所述显示模组写入反馈信号开启指令，以使所述显示模式显示预存的图片，所述显示模组的输出引脚与所述主板的输出引脚连接；

第二判断模块，用于判断所述主板的应用处理器芯片端是否接收到反馈信号；

第三确定模块，用于当所述主板的应用处理器芯片端接收到反馈信号时，确定所述主板的输出引脚回路正常。

进一步地，在本发明的一个实施例中，所述装置还包括：

第四确定模块，用于当所述主板的应用处理器芯片端未接收到反馈信号时，确定所述主板的输出引脚回路异常；

第二提示模块，用于发出第二异常提示信息，所述第一异常提示信息用于指示所述主板的输出引脚回路存在异常。

进一步地，在本发明的一个实施例中，所述装置还包括：

第三判断模块，用于判断所述主板是否具有输出引脚；

建立模块，用于若所述主板具有输出引脚，则建立所述主板的输出引脚与所述显示模组的输出引脚的连接。

本发明的另一个实施例还提出一种可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现上述方法的步骤。

本发明的另一个实施例还提出一种测试终端，包括存储器、处理器以及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现上述方法。

本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实施例了解到。

附图说明

本发明实施例的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是根据本发明第一实施例的主板测试方法的流程图；

图2是根据本发明第二实施例的主板测试方法的流程图；

图3是根据本发明第三实施例的主板测试装置的结构示意图；

图4是根据本发明第四实施例的主板测试装置的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1，本发明第一实施例提出的主板测试方法，所述方法包括：

S101，当接收到测试启动信号时，在高速模式下向与所述主板连接的显示模组中指定的寄存器组写入测试数据；

其中，本实施例中的主板主要指移动终端的主板，移动终端例如是手机、平板电脑、车载电脑等，以手机为例，在对手机的主板进行测试时，需要预设配置一台显示模组，显示模组例如是LCD，以实现主板显示功能的相关测试，具体实施时，还可以预设设置一个测试夹具，将显示模组置于该测试夹具中，在需要测试主板时，只要将待测试的主板放置在测试夹具中，使主板与显示模组连接即可。

这里，显示模组与主板连接可以采用多种接口进行连接，例如DBI、DPI、DSI等，但由于用户对显示要求的不断提升，目前主要采用的连接方式是DSI(Display SerialInterface，显示串行接口)，也即主板与显示模组通过显示串行接口连接，具体可以使用差分信号线连接，本实施例主要对采用该连接方式的情况进行说明。DSI接口至少具有一个时钟通道和多个数据通道，时钟通道即为clock lane，多个数据通道例如包括lane0、lane1、lane2、lane3等四个数据通道。

高速模式也即HS模式(High Speed)，高速模式具有低压差分信号、功耗大、高速率(80M-1Gbps)、信号幅值为100mv-300mv等特点。高速模式下能够保证数据的快速写入。

具体实施时，可以预先配置一个测试启动按键，当测试人员按下该测试启动按键后，则产生了测试启动信号。当接收到测试启动信号时，会在高速模式下向显示模组中指定的寄存器组写入测试数据。其中，寄存器组可以由多个寄存器组成，显示模组中通常有一些供测试使用的寄存器，因此可以将测试数据写入这些寄存器中。为了保证测试的可靠性，写入的测试数据应该尽量包含多个字节，本实施例中，写入的测试数据例如是0x10-0x19。在高速模式下写入测试数据时，可以使用DSI接口的全部四个数据通道(lane0、lane1、lane2、lane3)，也即四个数据通道同进行测试数据的传输，这样能够保证数据的快速写入。例如，若写入的测试数据是32位，4个字节的数据，则可以通过每个数据通道分别传输8位数据，这样四个数据通道就能够同时传输4*8位数据。需要说明的是，对于clock lane，在通过DSI接口向显示模组写入测试数据时，是必须使用的。

S102，切换至低功耗模式从所述寄存器组中读取所述测试数据；

其中，测试数据写入完成后，切换至低功耗模式，低功耗模式及LP模式(LowPower)，LP模式的特点为：单端信号功耗小，速率低(<10Mbps)，信号幅值为0-1.2V，LP模式下能够保证数据传输的稳定性。

切换完成后，会返回显示模组中指定的寄存器组，去读回该寄存器组中之前写入的测试数据，之前写入的测试数据有多少，该步骤就需要读回多少。需要指出的是，为了保证数据读取的稳定性，在LP模式下，读取时只使用DSI接口中其中一个数据通道，具体只会使用lane0去读取测试数据，保证读取的稳定性。例如，对于32位，4个字节的测试数据，例如按照先后顺序，每8位读取一次，一共读取4次，最终完成测试数据的读取。

S103，判断读取的测试数据与写入的测试数据是否一致；

其中，需要对步骤S101中写入的测试数据以及步骤S102中读取的测试数据进行对比分析，判断两者是否完全一致。

S104，若读取的测试数据与写入的测试数据一致，则确定所述主板的显示模组供电功能、复位功能、时钟通道和数据通道均测试通过。

其中，若步骤S101中写入的测试数据与步骤S102中读取的测试数据相比，两者完全一致，则说明主板的时钟通道和数据通道都测试通过。此外，需要指出的是，由于进行测试数据的写入和读取的前提必须是主板的显示模组供电功能正常，能够满足正常供电，且复位功能正常，能够进行正常resets。因此，如果测试数据的写入和读取都是正常的，则表明主板的显示模组供电功能和复位功能也都测试通过。

根据本发明实施例的主板测试方法，能够在主板SMT完成后，整机集成前对主板的显示功能进行测试，通过在高速模式下向与主板连接的显示模组中指定的寄存器组写入测试数据，高速模式下能够保证写入的速度，写入完成后，再切换至低功耗模式从寄存器组中读取测试数据，通过判断读取的测试数据与写入的测试数据是否一致以测试主板的显示功能，若两者一致，则能够自动确定出主板的显示功能中，显示模组供电功能、复位功能、时钟通道和数据通道均测试通过，测试过程无需人工判断测试结果，测试效率更高，能够有效提升产能。

此外，作为一个具体示例，本实施例中，在步骤S103之后，所述方法还包括：

若读取的测试数据与写入的测试数据不一致，则确定所述主板的显示模组供电功能、复位功能、时钟通道和数据通道中至少有一处存在异常；

发出第一异常提示信息，所述第一异常提示信息用于指示所述主板的显示模组供电功能、复位功能、时钟通道和数据通道中至少有一处存在异常。

其中，第一异常提示信息可以采用语音或者图像的形式实现，在此不做限制，通过发出第一异常提示信息，能够使测试人员及时获知当前测试的主板存在异常，以及时进行后续排查。

请参阅图2，本发明第二实施例提出的主板测试方法，所述方法包括：

S201，当接收到测试启动信号时，在高速模式下向与所述主板连接的显示模组中指定的寄存器组写入测试数据；

本实施例中，主板与显示模组同样采用DSI接口连接，相关测试过程和原理与第一实施例相同，在此不予赘述。

S202，切换至低功耗模式从所述寄存器组中读取所述测试数据；

其中，本实施例中，可以在步骤S201测试数据写入完成后，通过预设的协议向所述主板发送数据写入完成信号，由于主板与显示模组采用DSI接口连接，因此，预设的协议可以是串行显示接口通讯协议，即通过串行显示接口通讯协议向主板发送数据写入完成信号。当所述主板接收到所述写入完成信号时，代表此时测试数据已写完，此时会切换至低功耗模式从所述寄存器组中读取所述测试数据。通过发送和接收发送数据写入完成信号作为模式切换的分割点，能够减少等待时间，进一步提升测试效率。

S203，判断读取的测试数据与写入的测试数据是否一致；

S204，若读取的测试数据与写入的测试数据一致，则确定所述主板的显示模组供电功能、复位功能、时钟通道和数据通道均测试通过；

S205，向所述显示模组写入反馈信号开启指令，以使所述显示模式显示预存的图片，所述显示模组的输出引脚与所述主板的输出引脚连接；

其中，输出引脚即TE(tearing effect)引脚，是属于信号反馈类的引脚，具体实施时，由于不是所有移动终端的主板都具有输出引脚，例如，TE引脚对video模式的LCD是非必要的，对command模式的LCD则是必须的。因此，具体测试时，可以先判断所述主板是否具有输出引脚；若所述主板具有输出引脚，则建立所述主板的输出引脚与所述显示模组的输出引脚的连接，建立连接后，向显示模组写入反馈信号开启指令，写入的指令例如具体是0x35，以在显示模组中显示任一张图片。

S206，判断所述主板的应用处理器芯片端是否接收到反馈信号；

其中，应用处理器芯片端即主板的AP端(Application Processor)，需要判断主板的AP端是否接收到TE信号(即反馈信号)。

S207，若所述主板的应用处理器芯片端接收到反馈信号，则确定所述主板的输出引脚回路正常。

其中，若主板的AP端接收到TE信号，则表明主板的TE引脚回路正常。

本实施例在第一实施例的基础上，除了对主板的显示模组供电功能、复位功能、时钟通道和数据通道等进行测试外，同样实现了对主板的TE引脚进行测试，最终实现了主板中与显示功能相关的所有主要项目的测试，若测试都能通过，则代表主板电路中显示功能正常，该测试过程无需人工进行测试判断，能够提升测试效率。

此外，作为一个具体示例，本实施例中，在步骤S206之后，所述方法还包括：

若所述主板的应用处理器芯片端未接收到反馈信号，则确定所述主板的输出引脚回路异常；

发出第二异常提示信息，所述第一异常提示信息用于指示所述主板的输出引脚回路存在异常。

其中，第二异常提示信息可以采用语音或者图像的形式实现，在此不做限制，第二异常提示信息可以与第一异常提示信息不同，以形成区别，通过发出第二异常提示信息，能够使测试人员及时获知当前测试的主板存在异常，以及时进行后续排查。

需要说明是，本实施例重点说明的是与上一实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似的部分未重复描述，可以相互参见。

请参阅图3，基于同一发明构思，本发明第三实施例提出一种主板测试装置，所述装置包括：

写入模块10，用于当接收到测试启动信号时，在高速模式下向与所述主板连接的显示模组中指定的寄存器组写入测试数据；

读取模块20，用于切换至低功耗模式从所述寄存器组中读取所述测试数据；

第一判断模块30，用于判断读取的测试数据与写入的测试数据是否一致；

第一确定模块40，用于当读取的测试数据与写入的测试数据一致时，确定所述主板的显示模组供电功能、复位功能、时钟通道和数据通道均测试通过。

根据本实施例的主板测试最终，能够在主板SMT完成后，整机集成前对主板的显示功能进行测试，通过在高速模式下向与主板连接的显示模组中指定的寄存器组写入测试数据，高速模式下能够保证写入的速度，写入完成后，再切换至低功耗模式从寄存器组中读取测试数据，通过判断读取的测试数据与写入的测试数据是否一致以测试主板的显示功能，若两者一致，则能够自动确定出主板的显示功能中，显示模组供电功能、复位功能、时钟通道和数据通道均测试通过，测试过程无需人工判断测试结果，测试效率更高，能够有效提升产能。

请参阅图4，基于同一发明构思，本发明第四实施例提出一种主板测试装置，所述装置包括：

写入模块10，用于当接收到测试启动信号时，在高速模式下向与所述主板连接的显示模组中指定的寄存器组写入测试数据；

读取模块20，用于切换至低功耗模式从所述寄存器组中读取所述测试数据；

第一判断模块30，用于判断读取的测试数据与写入的测试数据是否一致；

第一确定模块40，用于当读取的测试数据与写入的测试数据一致时，确定所述主板的显示模组供电功能、复位功能、时钟通道和数据通道均测试通过。

本实施例中，所述主板与所述显示模组通过显示串行接口连接，所述显示串行接口包括时钟通道和多个数据通道，所述写入模块10具体用于：

在高速模式下，使用显示串行接口的时钟通道和数据通道向与所述主板连接的显示模组中指定的寄存器组写入测试数据；

所述读取模块20具体用于：

切换至低功耗模式，使用所述显示串行接口中其中一个数据通道从所述寄存器组中读取所述测试数据。

本实施例中，所述装置还包括：

第二确定模块50，用于当读取的测试数据与写入的测试数据不一致时，确定所述主板的显示模组供电功能、复位功能、时钟通道和数据通道中至少有一处存在异常；

第一提示模块60，用于发出第一异常提示信息，所述第一异常提示信息用于指示所述主板的显示模组供电功能、复位功能、时钟通道和数据通道中至少有一处存在异常。

本实施例中，所述写入模块10还用于在高速模式下向与所述主板连接的显示模组中指定的寄存器组写入测试数据，写入完成后，通过预设的协议向所述主板发送数据写入完成信号；

所述读取模块20还用于当所述主板接收到所述写入完成信号时，切换至低功耗模式从所述寄存器组中读取所述测试数据。

本实施例中，所述装置还包括：

开启模块70，用于向所述显示模组写入反馈信号开启指令，以使所述显示模式显示预存的图片，所述显示模组的输出引脚与所述主板的输出引脚连接；

第二判断模块80，用于判断所述主板的应用处理器芯片端是否接收到反馈信号；

第三确定模块90，用于当所述主板的应用处理器芯片端接收到反馈信号时，确定所述主板的输出引脚回路正常。

本实施例中，所述装置还包括：

第四确定模块100，用于当所述主板的应用处理器芯片端未接收到反馈信号时，确定所述主板的输出引脚回路异常；

第二提示模块110，用于发出第二异常提示信息，所述第一异常提示信息用于指示所述主板的输出引脚回路存在异常。

本实施例中，所述装置还包括：

第三判断模块120，用于判断所述主板是否具有输出引脚；

建立模块130，用于若所述主板具有输出引脚，则建立所述主板的输出引脚与所述显示模组的输出引脚的连接。

本发明实施例提出的主板测试装置的技术特征和技术效果与本发明实施例提出的方法相同，在此不予赘述。

此外，本发明的实施例还提出一种存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现上述方法的步骤。

此外，本发明的实施例还提出一种测试终端，包括存储器、处理器以及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现上述方法。需要指出的是，该测试终端可以是独立的计算机也可以是具有上述主板的移动终端本身，移动终端可以为手机、平板电脑、PDA(Personal Digital Assistant，个人数字助理)、车载电脑等任意终端设备。

在流程图中表示或在此以其他方式描述的逻辑和/或步骤，例如，可以被认为是用于实现逻辑功能的可执行指令的定序列表，可以具体实现在任何计算机可读介质中，以供指令执行系统、装置或设备(如基于计算机的系统、包括处理器的系统或其他可以从指令执行系统、装置或设备取指令并执行指令的系统)使用，或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用。就本说明书而言，“计算机可读介质”可以是任何可以包含、存储、通信、传播或传输程序以供指令执行系统、装置或设备或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用的装置。

计算机可读介质的更具体的示例(非穷尽性列表)包括以下：具有一个或多个布线的电连接部(电子装置)，便携式计算机盘盒(磁装置)，随机存取存储器(RAM)，只读存储器(ROM)，可擦除可编辑只读存储器(EPROM或闪速存储器)，光纤装置，以及便携式光盘只读存储器(CDROM)。另外，计算机可读介质甚至可以是可在其上打印所述程序的纸或其他合适的介质，因为可以例如通过对纸或其他介质进行光学扫描，接着进行编辑、解译或必要时以其他合适方式进行处理来以电子方式获得所述程序，然后将其存储在计算机存储器中。

应当理解，本发明的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。例如，如果用硬件来实现，和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列(PGA)，现场可编程门阵列(FPGA)等。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例，本领域的普通技术人员可以理解：在不脱离本发明的原理和宗旨的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由权利要求及其等同物限定。

Claims (10)

1.一种主板测试方法，其特征在于，包括：

当接收到测试启动信号时，在高速模式下向与所述主板连接的显示模组中指定的寄存器组写入测试数据；

切换至低功耗模式从所述寄存器组中读取所述测试数据；

判断读取的测试数据与写入的测试数据是否一致；

若读取的测试数据与写入的测试数据一致，则确定所述主板的显示模组供电功能、复位功能、时钟通道和数据通道均测试通过。

2.根据权利要求1所述的主板测试方法，其特征在于，所述主板与所述显示模组通过显示串行接口连接，所述显示串行接口包括时钟通道和多个数据通道，所述在高速模式下向与所述主板连接的显示模组中指定的寄存器组写入测试数据的步骤包括：

在高速模式下，使用所述显示串行接口的时钟通道和全部的数据通道向与所述主板连接的显示模组中指定的寄存器组写入测试数据；

所述切换至低功耗模式从所述寄存器组中读取所述测试数据的步骤包括：

切换至低功耗模式，使用所述显示串行接口中其中一个数据通道从所述寄存器组中读取所述测试数据。

3.根据权利要求1所述的主板测试方法，其特征在于，所述判断读取的测试数据与写入的测试数据是否一致的步骤之后，所述方法还包括：

若读取的测试数据与写入的测试数据不一致，则确定所述主板的显示模组供电功能、复位功能、时钟通道和数据通道中至少有一处存在异常；

发出第一异常提示信息，所述第一异常提示信息用于指示所述主板的显示模组供电功能、复位功能、时钟通道和数据通道中至少有一处存在异常。

4.根据权利要求1所述的主板测试方法，其特征在于，所述方法还包括；

在高速模式下向与所述主板连接的显示模组中指定的寄存器组写入测试数据，写入完成后，通过预设的协议向所述主板发送数据写入完成信号；

当所述主板接收到所述写入完成信号时，切换至低功耗模式从所述寄存器组中读取所述测试数据。

5.根据权利要求1所述的主板测试方法，其特征在于，所述若读取的测试数据与写入的测试数据一致，则确定所述主板的显示模组供电功能、复位功能、时钟通道和数据通道均测试通过的步骤之后，所述方法还包括：

向所述显示模组写入反馈信号开启指令，以使所述显示模式显示预存的图片，所述显示模组的输出引脚与所述主板的输出引脚连接；

判断所述主板的应用处理器芯片端是否接收到反馈信号；

若所述主板的应用处理器芯片端接收到反馈信号，则确定所述主板的输出引脚回路正常。

6.根据权利要求5所述的主板测试方法，其特征在于，所述判断所述主板的应用处理器芯片端是否接收到反馈信号的步骤之后，所述方法还包括：

若所述主板的应用处理器芯片端未接收到反馈信号，则确定所述主板的输出引脚回路异常；

发出第二异常提示信息，所述第一异常提示信息用于指示所述主板的输出引脚回路存在异常。

7.根据权利要求5所述的主板测试方法，其特征在于，所述向所述显示模组写入反馈信号开启指令的步骤之前，所述方法还包括：

判断所述主板是否具有输出引脚；

若所述主板具有输出引脚，则建立所述主板的输出引脚与所述显示模组的输出引脚的连接。

8.一种主板测试装置，其特征在于，包括：

写入模块，用于当接收到测试启动信号时，在高速模式下向与所述主板连接的显示模组中指定的寄存器组写入测试数据；

读取模块，用于切换至低功耗模式从所述寄存器组中读取所述测试数据；

第一判断模块，用于判断读取的测试数据与写入的测试数据是否一致；

第一确定模块，用于当读取的测试数据与写入的测试数据一致时，确定所述主板的显示模组供电功能、复位功能、时钟通道和数据通道均测试通过。

9.一种可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-7任意一项所述的方法。

10.一种测试终端，包括存储器、处理器以及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至7任意一项所述的方法。