CN109613366A - 一种基于标准靶纸的emv手动检测定位方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种基于标准靶纸的EMV手动检测定位方法,所述方法包括:确定EMV检测的待测物的天线中心点;将所述待测物的天线中心点与标准靶纸的中心点贴合;根据检测项目要求确定PICC板中心与所述天线中心点的相对位置;所述相对位置包括相对距离以及以PICC板中心为原点天线中心点的偏离方向;根据所述相对位置在标准靶纸上确定定位点组;所述多组定位点组的每一组均与所述PICC板上的定位点相匹配;将确定的定位点组与PICC板上的定位点相重合,完成定位;所述方法以及对应的标准靶纸使测试人员对待测物进行测试过程中,可以容易而清晰地定位,大大提高测试人员的工作效率。缩短了检测测时间,缩短了产品研发周期,节约了时间及经济成本。
Description
技术领域
本发明涉及金融领域,更具体地,涉及一种基于标准靶纸的EMV手动检测定位方法。
背景技术
在国际上,EMV是金融领域的重要标准,要使得所研发的适合于EMV规范的卡、终端、ATM机中的相关模块、手机等设备通过EMV检测,才能在国际上销售等。刚刚研发出来的设备,准备进行EMV检测时,统称为待测物。待测物要达到EMV规范的要求,就要进行EMV检测,而要进行EMV手动检测时,需要依据检测项目进行人工定位,即确定PICC板、接收天线相对于待测物的位置,这些位置是EMV规范确定的位置,这就需要精确定位;而因待测物尺寸多样,传统的手动定位存在误差,无法精确定位。
发明内容
为了解决背景技术存在的使用PICC板对符合EMV规范的设备进行检测时无法确定准确的相对位置的问题,本发明提供了一种基于标准靶纸的EMV手动检测定位方法;所述方法通过设置标准靶纸,通过标准靶纸定位EMV的手动检测,所述一种基于标准靶纸的EMV手动检测定位方法包括:
确定EMV检测的待测物的天线中心点;所述天线中心点为该待测物场强的中心;
将所述待测物的天线中心点与标准靶纸的中心点贴合;
根据检测项目要求确定PICC板中心与所述天线中心点的相对位置;所述相对位置包括相对距离以及以PICC板中心为原点天线中心点的偏离方向;
根据所述相对位置在标准靶纸上确定定位点组;所述多组定位点组的每一组均与所述PICC板上的定位点相匹配;
将确定的定位点组与PICC板上的定位点相重合,完成定位。
进一步的,所述确定EMV检测的待测物的天线中心点的方式包括:根据待测物说明书确定天线中心点;所述天线中心点包括待测物的几何中心点。
进一步的,所述确定EMV检测的待测物的天线中心点的方式包括:
使待测物通电运行;
测量待测物的场强,并确定场强中心;
所述场强中心即为所述天线中心点。
进一步的,所述标准靶纸为方形,标准靶纸的边缘均设有刻度,所述标准靶纸的中心为可穿透的孔洞;
通过所述孔洞与所述天线中心点进行对位,并根据各边缘的刻度对所述待测物进行角度调整。
进一步的,所述标准靶纸的一面为可撕除的粘性贴纸,用于粘贴在待测物上,以保证所述待测物的天线中心点与标准靶纸的中心点贴合固定。
进一步的,所述PICC板包括四个呈中心对称的定位点;所述四个定位点的中心即为PICC板中心;所述任意定位点距PICC板中心的距离为a;
在所述标准靶纸上以标准靶纸中心点为圆心、a为半径的圆上,设置有一组定位点组;所述定位点组的相对位置与PICC板的四个定位点相同。
进一步的,根据检测项目要求的PICC板中心与所述天线中心点的相对位置,在所述标准靶纸上设置多组定位点组;
所述多组定位点组对应的圆的圆心与标准靶纸中心点的距离与检测项目要求的PICC板中心与天线中心点的相对距离相同;
所述多组定位点组对应的圆的圆心与标准靶纸中心点的相对方向与检测项目要求的以PICC板中心为原点天线中心点的偏离方向相同;所述方向包括上侧、下侧、左侧以及右侧。
进一步的,所述PICC板上的定位点为凹陷的定位孔时,所述标准靶纸上的各个定位点组为与所述凹陷的定位孔向匹配的凸起,用于与所述凹陷的定位孔相匹配;所述PICC板上的定位点为突起的定位点时,所述标准靶纸上的各个定位点组为与所述突起的定位点向匹配的孔或凹陷,用于与所述突起的定位点相匹配。
进一步的,一种用于EMV手动检测定位的标准靶纸包括:
中心点,所述中心点用于与待测物的天线中心点重合定位;
定位点组,所述定位点组用于与所述PICC板上的定位点相匹配;所述定位点组包括中心定位点组以及多个其他定位点组,所述中心定位点组在以所述中心点为圆心,PICC板上任意定位点距PICC板中心的距离为半径的圆上;
所述多个其他定位点组根据检测项目要求确定PICC板中心与所述天线中心点的相对位置确定其余所述中心定位点组的相对位置。
进一步的,所述标准靶纸为方形,标准靶纸的边缘均设有刻度,所述标准靶纸的中心为可穿透的孔洞;
通过所述孔洞与所述天线中心点进行对位,并根据各边缘的刻度对所述待测物进行角度调整。
进一步的,所述标准靶纸的一面为可撕除的粘性贴纸,用于粘贴在待测物上,以保证所述待测物的天线中心点与标准靶纸的中心点贴合固定。
进一步的,所述PICC板上的定位点为凹陷的定位孔时,所述标准靶纸上的各个定位点组为与所述凹陷的定位孔向匹配的凸起,用于与所述凹陷的定位孔相匹配;所述PICC板上的定位点为突起的定位点时,所述标准靶纸上的各个定位点组为与所述突起的定位点向匹配的孔或凹陷,用于与所述突起的定位点相匹配。
本发明的有益效果为:本发明的技术方案,给出了一种基于标准靶纸的EMV手动检测定位方法;所述方法通过设置标准靶纸,准确定位待测物与PICC板的相对位置,并在不同的测试项目下提供不同的定位点组;使测试人员对待测物进行测试过程中,可以容易而清晰地定位,大大提高测试人员的工作效率。缩短了检测测时间,缩短了产品研发周期,节约了时间及经济成本。
附图说明
通过参考下面的附图,可以更为完整地理解本发明的示例性实施方式:
图1为本发明具体实施方式的基于标准靶纸的EMV手动检测定位方法的流程图;
图2为本发明具体实施方式的一种用于EMV手动检测定位的标准靶纸的示意图。
具体实施方式
现在参考附图介绍本发明的示例性实施方式,然而,本发明可以用许多不同的形式来实施,并且不局限于此处描述的实施例,提供这些实施例是为了详尽地且完全地公开本发明,并且向所属技术领域的技术人员充分传达本发明的范围。对于表示在附图中的示例性实施方式中的术语并不是对本发明的限定。在附图中,相同的单元/元件使用相同的附图标记。
除非另有说明,此处使用的术语(包括科技术语)对所属技术领域的技术人员具有通常的理解含义。另外,可以理解的是,以通常使用的词典限定的术语,应当被理解为与其相关领域的语境具有一致的含义,而不应该被理解为理想化的或过于正式的意义。
图1为本发明具体实施方式的基于标准靶纸的EMV手动检测定位方法的流程图;如图1所示,所述方法包括:
步骤110,确定EMV检测的待测物的天线中心点;所述天线中心点为该待测物场强的中心;
进一步的,所述确定EMV检测的待测物的天线中心点的方式包括:根据待测物说明书确定天线中心点;所述天线中心点包括待测物的几何中心点。
所述确定EMV检测的待测物的天线中心点的方式还包括:
使待测物通电运行;
测量待测物的场强,并确定场强中心;
所述场强中心即为所述天线中心点。
步骤120,将所述待测物的天线中心点与标准靶纸的中心点贴合;
所述标准靶纸为方形,标准靶纸的边缘均设有刻度,所述标准靶纸的中心为可穿透的孔洞;
通过所述孔洞与所述天线中心点进行对位,并根据各边缘的刻度对所述待测物进行角度调整。
以待测物为适于EMV规范的金融卡为例,通过所述标准靶纸中心点的孔洞与所述金融卡的天线中心点进行对位,所述金融卡的天线中心点即为卡的几何中心;根据所述金融卡的边缘与标准靶纸的边缘刻度进行调整,使所述金融卡正置在标准靶纸的中心,即所述金融卡的四边与对应的标准靶纸边缘平行。
所述标准靶纸的一面为可撕除的粘性贴纸,用于粘贴在待测物上,以保证所述待测物的天线中心点与标准靶纸的中心点贴合固定。
步骤130,根据检测项目要求确定PICC板中心与所述天线中心点的相对位置;所述相对位置包括相对距离以及以PICC板中心为原点天线中心点的偏离方向;
步骤140,根据所述相对位置在标准靶纸上确定定位点组;所述多组定位点组的每一组均与所述PICC板上的定位点相匹配;
所述PICC板包括四个呈中心对称的定位点;所述四个定位点的中心即为PICC板中心;所述任意定位点距PICC板中心的距离为a;
在所述标准靶纸上以标准靶纸中心点为圆心、a为半径的圆上,设置有一组定位点组;所述定位点组的相对位置与PICC板的四个定位点相同。
根据检测项目要求的PICC板中心与所述天线中心点的相对位置,在所述标准靶纸上设置多组定位点组;
所述多组定位点组对应的圆的圆心与标准靶纸中心点的距离与检测项目要求的PICC板中心与天线中心点的相对距离相同;
所述多组定位点组对应的圆的圆心与标准靶纸中心点的相对方向与检测项目要求的以PICC板中心为原点天线中心点的偏离方向相同;所述方向包括上侧、下侧、左侧以及右侧。
步骤150,将确定的定位点组与PICC板上的定位点相重合,完成定位。
所述PICC板上的定位点为凹陷的定位孔时,所述标准靶纸上的各个定位点组为与所述凹陷的定位孔向匹配的凸起,用于与所述凹陷的定位孔相匹配;所述PICC板上的定位点为突起的定位点时,所述标准靶纸上的各个定位点组为与所述突起的定位点向匹配的孔或凹陷,用于与所述突起的定位点相匹配;通过定位点的匹配重合,完成定位。
图2为本发明具体实施方式的一种用于EMV手动检测定位的标准靶纸的示意图。如图2所示,标准靶纸包括:
中心点,所述中心点用于与待测物的天线中心点重合定位;本实施例中,所述中心点为中心圆的圆心,图中未明显示出;
定位点组,所述定位点组用于与所述PICC板上的定位点相匹配;所述定位点组包括中心定位点组以及多个其他定位点组,所述中心定位点组在以所述中心点为圆心,PICC板上任意定位点距PICC板中心的距离为半径的圆上;
所述多个其他定位点组根据检测项目要求确定PICC板中心与所述天线中心点的相对位置确定其余所述中心定位点组的相对位置。
本实施例中,所述中心定位点组使用黑实心点表示;说起其他定位点组根据其与中心定位点组移动距离分别用单点非实心点以及双点非实心点表示。
进一步的,所述标准靶纸为方形,标准靶纸的边缘均设有刻度,所述标准靶纸的中心为可穿透的孔洞;
通过所述孔洞与所述天线中心点进行对位,并根据各边缘的刻度对所述待测物进行角度调整。
进一步的,所述标准靶纸的一面为可撕除的粘性贴纸,用于粘贴在待测物上,以保证所述待测物的天线中心点与标准靶纸的中心点贴合固定。
进一步的,所述PICC板上的定位点为凹陷的定位孔时,所述标准靶纸上的各个定位点组为与所述凹陷的定位孔向匹配的凸起,用于与所述凹陷的定位孔相匹配;所述PICC板上的定位点为突起的定位点时,所述标准靶纸上的各个定位点组为与所述突起的定位点向匹配的孔或凹陷,用于与所述突起的定位点相匹配。
如图2所述的本实施例,所述标准靶纸最外侧为一个边长为8cm的正方形,也就是在直角坐标系中,由点(-4cm,-4cm)及点(4cm,4cm)所确定的矩形区域,在区域内共有9个圆半径为1.5cm的圆,包括一个中心圆、四个内圈圆以及四个外圈圆;每个圆上设置有四个点,即每个圆对应一组定位点组;
在平面直角坐标系中,在圆心(0,0)位置的圆叫中心圆,其半径为1.5cm,初圆边上有四个黑色实心点标记,每个标记为一个直径3mm的小实心圆。
圆心分别为(1.5cm,0)、(0,1.5cm)、(-1.5cm,0)、(0,-1.5cm)的四个圆为内圈圆,分别称为右侧内圈圆、上方内圈圆、左侧内圈圆、下方内圈圆,它们的半径都是1.5cm,每个圆的边上有四个明显的单点非实心点的标记,标记为直径为3mm的小圆,小圆的圆心处有一个直径为1mm的小小圆,小小圆为黑色实心,小圆及小小圆的圆心重叠。
圆心分别为(2.5cm,0)、(0,2.5cm)、(-2.5cm,0)、(0,-2.5cm)的四个圆为外圈圆,分别称为右侧外圈圆、上方外圈圆、左侧外圈圆、下方外圈圆,它们的半径都是1.5cm,每个圆的边上有四个明显的双点非实心点的标记,标记为直径为3mm的小圆,小圆的水平直径上排列有两个直径为1mm的小小圆,两个小小圆分别与小圆相切,两个小小圆之间的最小间距为1mm,两个小小圆的圆心相距2mm,两个小小圆均为黑色实心。
所述内圈圆分别代表了检测项目要求PICC板中心与填写中心点偏离距离为1.5cm,方向分别为上、下、左、右的四种情况;所述外圈圆分别代表了检测项目要求PICC板中心与填写中心点偏离距离为2.5cm,方向分别为上、下、左、右的四种情况。
在此处所提供的说明书中,说明了大量具体细节。然而,能够理解,本公开的实施例可以在没有这些具体细节的情况下实践。在一些实例中,并未详细示出公知的方法、结构和技术,以便不模糊对本说明书的理解。
本领域那些技术人员可以理解,可以对实施例中的设备中的模块进行自适应性地改变并且把它们设置在与该实施例不同的一个或多个设备中。可以把实施例中的模块或单元或组件组合成一个模块或单元或组件,以及此外可以把它们分成多个子模块或子单元或子组件。除了这样的特征和/或过程或者单元中的至少一些是相互排斥之外,可以采用任何组合对本说明书(包括伴随的权利要求、摘要和附图)中公开的所有特征以及如此公开的任何方法或者设备的所有过程或单元进行组合。除非另外明确陈述,本说明书(包括伴随的权利要求、摘要和附图)中公开的每个特征可以由提供相同、等同或相似目的的替代特征来代替。本说明书中涉及到的步骤编号仅用于区别各步骤,而并不用于限制各步骤之间的时间或逻辑的关系,除非文中有明确的限定,否则各个步骤之间的关系包括各种可能的情况。
此外,本领域的技术人员能够理解,尽管在此所述的一些实施例包括其它实施例中所包括的某些特征而不是其它特征,但是不同实施例的特征的组合意味着处于本公开的范围之内并且形成不同的实施例。例如,在权利要求书中所要求保护的实施例的任意之一都可以以任意的组合方式来使用。
本公开的各个部件实施例可以以硬件实现,或者以在一个或者多个处理器上运行的软件模块实现,或者以它们的组合实现。本公开还可以实现为用于执行这里所描述的方法的一部分或者全部的设备或者系统程序(例如,计算机程序和计算机程序产品)。这样的实现本公开的程序可以存储在计算机可读介质上,或者可以具有一个或者多个信号的形式。这样的信号可以从因特网网站上下载得到,或者在载体信号上提供,或者以任何其他形式提供。
应该注意的是上述实施例对本公开进行说明而不是对本公开进行限制,并且本领域技术人员在不脱离所附权利要求的范围的情况下可设计出替换实施例。单词“包含”不排除存在未列在权利要求中的元件或步骤。位于元件之前的单词“一”或“一个”不排除存在多个这样的元件。本公开可以借助于包括有若干不同元件的硬件以及借助于适当编程的计算机来实现。在列举了若干系统的单元权利要求中,这些系统中的若干个可以是通过同一个硬件项来具体体现。
以上所述仅是本公开的具体实施方式,应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本公开精神的前提下,可以作出若干改进、修改、和变形,这些改进、修改、和变形都应视为落在本申请的保护范围内。
Claims (12)
1.一种基于标准靶纸的EMV手动检测定位方法,所述方法包括:
确定EMV检测的待测物的天线中心点;所述天线中心点为该待测物场强的中心;
将所述待测物的天线中心点与标准靶纸的中心点贴合;
根据检测项目要求确定PICC板中心与所述天线中心点的相对位置;所述相对位置包括相对距离以及以PICC板中心为原点天线中心点的偏离方向;
根据所述相对位置在标准靶纸上确定定位点组;所述多组定位点组的每一组均与所述PICC板上的定位点相匹配;
将确定的定位点组与PICC板上的定位点相重合,完成定位。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定EMV检测的待测物的天线中心点的方式包括:根据待测物说明书确定天线中心点;所述天线中心点包括待测物的几何中心点。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定EMV检测的待测物的天线中心点的方式包括:
使待测物通电运行;
测量待测物的场强,并确定场强中心;
所述场强中心即为所述天线中心点。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:所述标准靶纸为方形,标准靶纸的边缘均设有刻度,所述标准靶纸的中心为可穿透的孔洞;
通过所述孔洞与所述天线中心点进行对位,并根据各边缘的刻度对所述待测物进行角度调整。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:所述标准靶纸的一面为可撕除的粘性贴纸,用于粘贴在待测物上,以保证所述待测物的天线中心点与标准靶纸的中心点贴合固定。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:所述PICC板包括四个呈中心对称的定位点;所述四个定位点的中心即为PICC板中心;所述任意定位点距PICC板中心的距离为a;
在所述标准靶纸上以标准靶纸中心点为圆心、a为半径的圆上,设置有一组定位点组;所述定位点组的相对位置与PICC板的四个定位点相同。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于:根据检测项目要求的PICC板中心与所述天线中心点的相对位置,在所述标准靶纸上设置多组定位点组;
所述多组定位点组对应的圆的圆心与标准靶纸中心点的距离与检测项目要求的PICC板中心与天线中心点的相对距离相同;
所述多组定位点组对应的圆的圆心与标准靶纸中心点的相对方向与检测项目要求的以PICC板中心为原点天线中心点的偏离方向相同;所述方向包括上侧、下侧、左侧以及右侧。
8.根据权利要求6所述的方法,其特征在于:所述PICC板上的定位点为凹陷的定位孔时,所述标准靶纸上的各个定位点组为与所述凹陷的定位孔向匹配的凸起,用于与所述凹陷的定位孔相匹配;所述PICC板上的定位点为突起的定位点时,所述标准靶纸上的各个定位点组为与所述突起的定位点向匹配的孔或凹陷,用于与所述突起的定位点相匹配。
9.一种用于EMV手动检测定位的标准靶纸,所述标准靶纸包括:
中心点,所述中心点用于与待测物的天线中心点重合定位;
定位点组,所述定位点组用于与所述PICC板上的定位点相匹配;所述定位点组包括中心定位点组以及多个其他定位点组,所述中心定位点组在以所述中心点为圆心,PICC板上任意定位点距PICC板中心的距离为半径的圆上;
所述多个其他定位点组根据检测项目要求确定PICC板中心与所述天线中心点的相对位置确定其余所述中心定位点组的相对位置。
10.根据权利要求9所述的标准靶纸,其特征在于:所述标准靶纸为方形,标准靶纸的边缘均设有刻度,所述标准靶纸的中心为可穿透的孔洞;
通过所述孔洞与所述天线中心点进行对位,并根据各边缘的刻度对所述待测物进行角度调整。
11.根据权利要求9所述的标准靶纸,其特征在于:所述标准靶纸的一面为可撕除的粘性贴纸,用于粘贴在待测物上,以保证所述待测物的天线中心点与标准靶纸的中心点贴合固定。
12.根据权利要求9所述的标准靶纸,其特征在于:所述PICC板上的定位点为凹陷的定位孔时,所述标准靶纸上的各个定位点组为与所述凹陷的定位孔向匹配的凸起,用于与所述凹陷的定位孔相匹配;所述PICC板上的定位点为突起的定位点时,所述标准靶纸上的各个定位点组为与所述突起的定位点向匹配的孔或凹陷,用于与所述突起的定位点相匹配。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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GR01 | Patent grant | ||
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