CN109584820B - 时序控制板、显示装置及测试装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开一种时序控制板、显示装置及测试装置,其中,该时序控制板包括电路基板及设置在电路基板上的电源管理集成电路和存储器;电路基板上设置有与电源管理集成电路连接的第一导电通孔和与存储器连接的第二导电通孔;本发明的时序控制板使得测试装置可以同时对多个时序控制板中的时序控制程序进行更新,操作简单,易于实现,可以缩短批量生产时的时序控制板的更新程序所消耗的时间,提高生产力。本发明解决了时序控制器的程序版本需要更新或者进行修改需要工作人员对时序控制板逐块的进行更新,进而要消耗大量的时间、人力及物力,导致生产力低的问题。
Description
技术领域
本发明涉及电子电路技术领域,特别涉及一种时序控制板、显示装置及测试装置。
背景技术
时序控制板(Timing Controller,时序控制)在制作的过程中,经常会遇到时序控制板上的时序控制器中运行的程序缺失或者程序版本需要更新的问题。而在工业制作进行批量生产时,程序版本更新需要更新或者进行修改需要纯手工作业,并且程序的容量一般在几K bit到几十K bit不等,如此一来将要消耗大量的时间、人力及物力。
发明内容
本发明的主要目的是提出一种时序控制板、显示装置及测试装置,旨在解决时序控制器的程序版本需要更新或者进行修改需要工作人员对时序控制板逐块的进行更新,进而要消耗大量的时间、人力及物力,导致生产力低的问题。
为实现上述目的,本发明提出一种时序控制板,所述时序控制板包括:
电路基板;
电源管理集成电路,设置于所述电路基板上,所述电源管理集成电路配置为给所述时序控制板提供电电源;
存储器,配置为存储所述时序控制板的工作数据;
第一导电通孔,设置于所述电路基板上,与所述电源管理集成电路连接;
第二导电通孔,设置于所述电路基板上,与所述存储器连接
可选地,所述第二导电通孔的数量为三个,且三个所述第二导电通孔分别为时钟信号孔、数据信号孔和写入保护信号孔。
可选地,所述电路基板具有电路布线层,所述电路布线层包括供所述电源管理集成电路和存储器安装的安装位和连接各所述安装位与各自对应的导电通孔的信号线。
可选地,所述时序控制板还包括绑定区,所述第一导电通孔和第二导电通孔均设置于所述绑定区内。
可选地,所述时序控制板还包括用于供所述绑定区连接源极驱动集成电路的柔性电路板,所述柔性电路板数量为两个,且分设于第一导电通孔和第二导电通孔的两侧。
可选地,所述时序控制板还包括时序控制器,所述时序控制设置在所述电路基板上,并与所述电源管理集成电路电连接。
可选地,所述时序控制器还通过I2C串行总线和所述存储器通讯连接。
可选地,所述存储器为电可擦可编程只读存储器。
本发明还提出一种显示装置,所述显示装置包括如上所述的时序控制板;所述时序控制板包括电路基板及设置在所述电路基板上的电源管理集成电路和存储器;所述电路基板上设置有与所述电源管理集成电路连接的第一导电通孔和与所述存储器连接的第二导电通孔。
本发明还提出一种测试装置,用于对多个如上所述的时序控制板进行测试,所述测试装置包括:
供电电源;上位机;以及,
第一导电棒和第二导电棒,所述第一导电棒穿设于多个所述时序控制板的第一导电通孔中,所述第二导电棒穿设于多个所述时序控制板的第二导电通孔中,所述第一导电棒与所述供电电源连接,所述第二导电棒与所述上位机连接。
可选地,所述测试装置还包括:
第一安装支架,所述第一安装支架包括沿第一方向间距设置且供所述时序控制板安装的多个固定位;
第二安装支架,所述第一导电棒和第二导电棒安装于所述第二安装支架上,且并排设置,所述第一导电棒和第二导电棒的位置与所述第一导电通孔和第二导电通孔的位置一一对应。
可选地,第一导电棒和第二导电棒可拆卸安装于所述第二安装支架上。
可选地,第一导电棒和第二导电棒插接固定在所述第二安装支架上。
本发明时序控制板通过设置第一导电通孔和第二导电通孔,并且第一导电通孔与电源管理集成电路电连接,第二导电通孔与所述存储器电连接,在需要对时序控制板中的时序控制器进行程序烧录、修改或者更新时,测试装置中的第一导电棒贯穿多个时序孔板中的第一导电通孔,以通过第一导电棒以及第一导电通孔实现多个时序控制板中的电源管理集成电路与测试装置中的供电电源电气连接,从而将测试装置中的供电电源电压依次通过第一导电棒和第一导电通孔至电源管理集成电路。以及测试装置中的第二导电棒贯穿多个时序控制板中的第二导电通孔,以通过第二导电棒和第二导电通孔实现多个时序控制板中的存储器与测试装置中的上位机电器连接,从而将上位机中需要烧录至存储器中的时序控制程序依次通过第二导电棒和第二导电通孔传输至存储器。如此设置,使得测试装置可以同时对多个时序控制板中的时序控制程序进行更新,操作简单,易于实现,可以缩短批量生产时的时序控制板的更新程序所消耗的时间,提高生产力。本发明解决了时序控制器的程序版本需要更新或者进行修改需要工作人员对时序控制板逐块的进行更新,进而要消耗大量的时间、人力及物力,导致生产力低的问题。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1为本发明时序控制板一实施例的结构示意图;
图2为本发明时序控制板另一实施例的结构示意图;
图3为本发明测试装置用于对多个时序控制板进行测试一实施例的结构示意图。
附图标号说明:
标号 | 名称 | 标号 | 名称 |
100 | 电路基板 | 41 | 时钟信号孔 |
200 | 供电电源 | 42 | 数据信号孔 |
300 | 上位机 | 43 | 写入保护信号孔 |
400 | 第一导电棒 | 50 | 时序控制器 |
500 | 第二导电棒 | 30 | 第一导电通孔 |
10 | 电源管理集成电路 | 40 | 第二导电通孔 |
20 | 存储器 |
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
需要说明,若本发明实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……),则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等,如果该特定姿态发生改变时,则该方向性指示也相应地随之改变。
另外,若本发明实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述,则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外,各个实施例之间的技术方案可以相互结合,但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础,当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在,也不在本发明要求的保护范围之内。
本发明提出一种时序控制板,应用于显示装置中。
本实施例中,该显示装置可以是电脑显示屏、手机、监控器、电视等具有液晶显示屏的显示装置。
显示装置一般包括显示区,以及驱动显示区工作的驱动电路系统,驱动控制系统又包括扫描驱动集成电路,或称为栅驱动集成电路,也即G-COF(Gate-Chip on Film,栅极覆晶薄膜芯片);数据驱动集成电路,或称为源驱动集成电路,也即S-COF(Source-Chip onFilm,源极覆晶薄膜芯片)、电源管理集成电路(Power Management Integrated Circuit,PMIC)及时序控制器。其中,电源管理集成电路和时序控制器一般集成在TCON(TimingController,时序控制)板上。电源管理集成电路用于为伽马gamma电压电路、公共电极电压VCom电路提供输入电源,为栅驱动集成电路产生栅开启电压Vgh/关闭电压Vgl,以及驱动栅驱动集成电路、源驱动集成电路、时序控制器工作的工作电压等,时序控制器将从显示装置的主控板接收到的R/G/B压缩信号、控制信号经数据处理后,输出相应的时序控制信号至源驱动集成电路和栅驱动集成电路,以使源驱动集成电路将电源管理集成电路输出的伽马gamma电压进行处理后,产生源驱动信号;以及使栅驱动集成电路将电源管理集成电路输出的栅开启电压Vgh/关闭电压Vgl进行处理后,产生行扫描信号,从而驱动显示区工作。
在制作的过程中,经常会遇到时序控制板上的时序控制器中运行的程序缺失或者程序版本需要更新的问题。而在工业制作进行批量生产时,程序版本需要更新或者进行修改需要纯手工作业,也即需要工作人员对时序控制板逐块逐块的进行更新,并且程序的容量一般在几K bit到几十K bit不等,如此一来将要消耗大量的时间、人力及物力。
为了解决上述问题,参照图1至图3,在本发明一实施例中,该时序控制板包括:
电路基板100;
电源管理集成电路10,设置于所述电路基板100上,所述电源管理集成电路10配置为给所述时序控制板提供电电源;
存储器20,设置于所述电路基板100上,所述存储器20配置为存储所述时序控制板的工作数据;
第一导电通孔30,设置于所述电路基板100上,与所述电源管理集成电路10连接;
第二导电通孔40,设置于所述电路基板100上,与所述存储器20连接。
本实施例中,时序控制器50把从显示装置的主控板接收到的数据信号、控制信号及时钟信号转换成适合于栅驱动集成电路和源驱动集成电路的数据信号、控制信号和时钟信号,以实现显示区的图像显示。
存储器20优选采用电可擦可编程只读存储器20来实现,时序控制器50运行的时序控制程序大多存储在电可擦可编程只读存储器20中的,时序控制器50在工作时通过I2C串行总线和所述存储器20通讯连接,即可读取电可擦可编程只读存储器20中的数据,以实现对栅驱动集成电路和源驱动集成电路的控制。
需要说明的是,在对时序控制器50的程序进行烧录、修改或者更新时,可以通过测试工具来实现,测试工具中设置有为电源管理集成电路10提供供电电源200电压的供电电源200、与第一导电通孔30适配连接的第一导电棒400、与第二导电通孔40适配连接的第二导电棒500,以实现程序烧录的上位机300。
本实施例中,在对时序控制器50的程序进行烧录、修改或者更新时,第一导电通孔30与测试装置的第一导电棒400适配连接,并将测试装置提供的供电电源200电压输出至电源管理集成电路10,从而使电源管理集成电路10将接入的电源转换为对应的工作电压,以供时序控制器50、存储器20,以及时序控制板上的其他电路模块工作。第二导电通孔40与测试装置中的第二导电棒500适配连接,并将上位机300传输的需要烧录至存储器20中的时序控制程序通过第二导电通孔40传输至存储器20,完成时序控制器50的程序烧录、修改或者更新。
本发明时序控制板通过设置第一导电通孔30和第二导电通孔40,并且第一导电通孔30与电源管理集成电路10电连接,第二导电通孔40与所述存储器20电连接,在需要对时序控制板中的时序控制器50进行程序烧录、修改或者更新时,测试装置中的第一导电棒400贯穿多个时序孔板中的第一导电通孔30,以通过第一导电棒400以及第一导电通孔30实现多个时序控制板中的电源管理集成电路10与测试装置中的供电电源200电气连接,从而将测试装置中的供电电源200电压依次通过第一导电棒400和第一导电通孔30至电源管理集成电路10。以及测试装置中的第二导电棒500贯穿多个时序控制板中的第二导电通孔40,以通过第二导电棒500和第二导电通孔40实现多个时序控制板中的存储器20与测试装置中的上位机300电器连接,从而将上位机300中需要烧录至存储器20中的时序控制程序依次通过第二导电棒500和第二导电通孔40传输至存储器20。如此设置,使得测试装置可以同时对多个时序控制板中的时序控制程序进行更新,操作简单,易于实现,可以缩短批量生产时的时序控制板的更新程序所消耗的时间,提高生产力。本发明解决了程序版本需要更新或者进行修改需要工作人员对时序控制板逐块的进行更新,进而要消耗大量的时间、人力及物力,导致生产力低的问题。
进一步地,上述实施例中,所述第二导电通孔40的数量为三个,且三个所述第二导电通孔40分别为时钟信号孔41、数据信号孔42和写入保护信号孔43。
本实施例中,可以理解的是,测试工具中第二导电棒500的数量对应第二导电通孔40的数量设置,即为三根,且三根的大小与第二导电通孔40适配,存储器20与测试装置中的上位机300进行通讯及数据传输时,测试工具中的三根第二导电棒500分别对应与时序控制板的时钟信号孔41、数据信号孔42和写入保护信号孔43一一适配连接,从而使存储器20分别通过三根导电棒以及时序控制板的时钟信号孔41、数据信号孔42和写入保护信号孔43与上位机300通讯连接,实现时序控制程序的烧录、修改或者更新。
参照图1至图3,上述实施例中,所述电路基板100具有电路布线层(图未示出),所述电路布线层包括供所述电源管理集成电路10和存储器20安装的安装位和连接各所述安装位与各自对应的导电通孔的信号线。
本实施例中,电路布线层根据时序控制板的电路设计,在电路基板100上形成对应的线路以及对应供各电子元件安装的安装位,即焊盘,具体地,将铜箔铺设在电路基板100上,并按照预设的电路设计蚀刻铜箔,从而形成电路布线层。此外,在制作第一导电通孔30和第二导电通孔40时,可以在采用钻孔工具在时序控制板上进行钻孔后,再对孔壁进行铺铜,以形成第一导电通孔30和第二导电通孔40。
在一可选实施例中,所述时序控制板还包括绑定区(图未示出),所述第一导电通孔30和第二导电通孔40均设置于所述绑定区内。
本实施例中,可以理解的是,在显示区的底边还设置有两块X-PCB板,X-PCB板只要用于安装源极驱动集成电路,时序控制板通过两块X-PCB板与源极驱动集成电路连接。时序控制板还设置有绑定区Bonding,绑定区用于实现时序控制器50与源极驱动集成电路电连接,在时序控制板形成电路布线层时,在Bonding区预留有铜箔,因此本实施例可以将第一导电通孔30和第二导电通孔40设置于所述Bonding区,便于连线,且可以减小电路设计成本。
参照图1至图3,在一可选实施例中,所述时序控制板还包括用于供所述绑定区连接源极驱动集成电路的柔性电路板(图未示出),所述柔性电路板数量为两个,且分设于第一导电通孔30和第二导电通孔40的两侧。
本实施例中,安装源极驱动集成电路的X-PCB板与时序控制板之间可以通过柔性电路板来实现电气连接,当然在其他实施例中,也可以通过导线来实现电气连接,柔性电路板分设于第一导电通孔30和第二导电通孔40的两侧。可以理解的是,在其他实施例中,X-PCB板与时序控制板还可以合二为一,集成在一起,当X-PCB板与时序控制板合二为一,集成在一起时,源极驱动集成电路则设置在Bonding区,且分设于第一导电通孔30和第二导电通孔40的两侧。X-PCB板、时序控制板,以及用于安装栅驱动集成芯片的Y-PCB板三者也可以同时集成在时序控制板,此处不做限制。
本发明还提出一种测试装置,用于对多个如上所述的时序控制板进行测试。
参照图1至图3,所述测试装置包括供电电源200、上位机300及第一导电棒400和第二导电棒500,所述第一导电棒400穿设于多个所述时序控制板的第一导电通孔30中,所述第二导电棒500穿设于多个所述时序控制板的第二导电通孔40中,所述第一导电棒400与所述供电电源200连接,所述第二导电棒500与所述上位机300连接。
本实施例中,在对时序控制器50的程序进行烧录、修改或者更新时,可以通过测试工具来实现,测试工具中设置有为电源管理集成电路10提供供电电源200电压的供电电源200、与第一导电通孔30适配连接的第一导电棒400、与第二导电通孔40适配连接的第二导电棒500,以实现程序烧录的上位机300。
本发明测试装置通过设置第一导电棒400和第二导电棒500,并将第一导电棒400贯穿多个时序孔板中的第一导电通孔30,以通过第一导电棒400以及第一导电通孔30实现多个时序控制板中的电源管理集成电路10与测试装置中的供电电源200电气连接,从而将测试装置中的供电电源200电压依次通过第一导电棒400和第一导电通孔30至电源管理集成电路10。以及通过第二导电棒500贯穿多个时序控制板中的第二导电通孔40,以通过第二导电棒500和第二导电通孔40实现多个时序控制板中的存储器20与测试装置中的上位机300电器连接,从而将上位机300中需要烧录至存储器20中的时序控制程序依次通过第二导电棒500和第二导电通孔40传输至存储器20。如此设置,使得测试装置可以同时对多个时序控制板中的时序控制程序进行更新,操作简单,易于实现,可以缩短批量生产时的时序控制板的更新程序所消耗的时间,提高生产力。本发明解决了程序版本需要更新或者进行修改需要工作人员对时序控制板逐块的进行更新,进而要消耗大量的时间、人力及物力,导致生产力低的问题。
进一步地,上述实施例中,所述测试装置还包括:
第一安装支架(图未示出),所述第一安装支架包括沿第一方向间距设置且供所述时序控制板安装的多个固定位
第二安装支架(图未示出),所述第一导电棒400和第二导电棒500安装于所述第二安装支架上,且并排设置,所述第一导电棒400和第二导电棒500的位置与所述第一导电通孔30和第二导电通孔40的位置一一对应。
其中,第一导电棒400和第二导电棒500可拆卸安装于所述第二安装支架上,或者第一导电棒400和第二导电棒500插接固定在所述第二安装支架上。
进一步地,上述实施例中,所述测试装置还包括:
第一安装支架(图未示出),所述第一安装支架包括沿第一方向间距设置且供所述时序控制板安装的多个固定位
第二安装支架(图未示出),所述第一导电棒和第二导电棒安装于所述第二安装支架上,且并排设置,所述第一导电棒和第二导电棒的位置与所述第一导电通孔和第二导电通孔的位置一一对应。
其中,第一导电棒和第二导电棒可拆卸安装于所述第二安装支架上,或者第一导电棒和第二导电棒插接固定在所述第二安装支架上。
本发明还提出一种显示装置,所述显示装置包括如上所述的时序控制板。该时序控制板的详细结构可参照上述实施例,此处不再赘述;可以理解的是,由于在本发明显示装置中使用了上述时序控制板,因此,本发明显示装置的实施例包括上述时序控制板全部实施例的全部技术方案,且所达到的技术效果也完全相同,在此不再赘述。
以上所述仅为本发明的可选实施例,并非因此限制本发明的专利范围,凡是在本发明的发明构思下,利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换,或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (8)
1.一种时序控制板,用于被测试装置烧录程序,其特征在于,所述测试装置包括:供电电源;上位机;以及,第一导电棒和第二导电棒,所述第一导电棒与所述供电电源连接,所述第二导电棒与所述上位机连接;所述时序控制板包括:
电路基板;
电源管理集成电路,设置于所述电路基板上,所述电源管理集成电路配置为给所述时序控制板提供电电源;
存储器,配置为存储所述时序控制板的工作数据;
第一导电通孔,设置于所述电路基板上,与所述电源管理集成电路连接;
第二导电通孔,设置于所述电路基板上,与所述存储器连接;
在所述时序控制板的数量为多个时,每一所述时序控制板的第一导电通孔分别套设于所述测试装置的第一导电棒,以实现所述测试装置中供电电源与每一所述时序控制板上电源管理集成电路的电连接,以将所述测试装置中的供电电源电压输出至每一所述 时序控制板上的电源管理集成电路;
每一所述时序控制板的第二导电通孔分别套设于所述的第二导电棒上;以实现所述测试装置中上位机与每一所述时序控制板上存储器的电连接,以将所述上位机中需要烧录的时序控制程序输出至每一所述时序控制板上的存储器;
所述时序控制板还包括绑定区,所述第一导电通孔和第二导电通孔均设置于所述绑定区内;所述时序控制板还包括用于供所述绑定区连接源极驱动集成电路的柔性电路板,所述柔性电路板数量为两个,且分设于第一导电通孔和第二导电通孔的两侧。
2.如权利要求1所述的时序控制板,其特征在于,所述第二导电通孔的数量为三个,且三个所述第二导电通孔分别为时钟信号孔、数据信号孔和写入保护信号孔。
3.如权利要求2所述的时序控制板,其特征在于,所述电路基板具有电路布线层,所述电路布线层包括供所述电源管理集成电路和存储器安装的安装位和连接各所述安装位与各自对应的导电通孔的信号线。
4.如权利要求1至3任意一项所述的时序控制板,其特征在于,所述时序控制板还包括时序控制器,所述时序控制设置在所述电路基板上,并与所述电源管理集成电路电连接。
5.如权利要求4所述的时序控制板,其特征在于,所述时序控制器还通过I2C串行总线和所述存储器通讯连接。
6.一种显示装置,其特征在于,所述显示装置包括如权利要求1至5任意一项所述的时序控制板。
7.一种测试装置,用于对多个如权利要求1至6任意一项所述的时序控制板进行测试,其特征在于,所述测试装置包括:
供电电源;
上位机;以及,
第一导电棒和第二导电棒,所述第一导电棒穿设于多个所述时序控制板的第一导电通孔中,所述第二导电棒穿设于多个所述时序控制板的第二导电通孔中,所述第一导电棒与所述供电电源连接,所述第二导电棒与所述上位机连接。
8.如权利要求7所述的测试装置,其特征在于,所述测试装置还包括:
第一安装支架,所述第一安装支架包括沿第一方向间距设置且供所述时序控制板安装的多个固定位;以及,
第二安装支架,所述第一导电棒和第二导电棒安装于所述第二安装支架上,且并排设置,所述第一导电棒和第二导电棒的位置与所述第一导电通孔和第二导电通孔的位置一一对应。
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