CN108346404A - 一种时序控制器及屏驱动电路的参数调试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明属于液晶显示领域，涉及一种时序控制器及屏驱动电路的参数调试方法，其中时序控制器包括第一数据通道、处理单元、第二数据通道、第三数据通道及转换单元。第一数据通道用于接收调试信息，并将调试信息传输至处理单元。处理单元与第一数据通道、第二数据通道均相连，用于根据调试信息，对使用第一通信协议的器件和/或使用第二通信协议的器件进行相应的参数调试。转换单元与第三数据通道相连，用于在处理单元通过第三数据通道对使用第二通信协议的器件进行相应的参数调试时，转换时序控制器与使用第二通信协议的器件之间的通信协议。从而能够提供简便、快捷的烧录方式对屏驱动电路中的各芯片或各器件进行统一参数烧录或更新。
Description
技术领域
本发明属于液晶显示领域，尤其涉及一种时序控制器及屏驱动电路的参数调试方法。
背景技术
目前，由于液晶显示产品的功能越来越复杂，因此现有的逻辑板需要外接MCU(Microcontroller Unit，微控制单元)，而屏驱动电路(或逻辑板)包括时序控制器(TCON)、GAMMA控制器、电源管理器等，所以在对屏驱动电路进行参数烧录或参数更新的时候会涉及到MCU、时序控制器、GAMMA控制器、电源管理器等的参数烧录或参数更新。传统屏驱动电路的参数烧录，需要对应屏驱动电路中的各芯片或各器件的类型做专用的芯片或器件的烧录治具和程序，并且MCU使用的通信协议与屏驱动电路的其他器件不同，所以也需要单独的进行参数烧录。当屏驱动电路中的各芯片或各器件的参数需要更新时，只能通过电路板(PCB)上预留的测试点上扎孔烧录进行更新。因此对屏驱动电路中的各器件进行参数烧录或更新的步骤繁琐，所以目前对屏驱动电路中的各芯片或各器件的参数烧录通常是委托相关厂商进行参数烧录。
另外，由于传统的屏驱动电路中的各器件的数据传输协议与外接的MCU使用的数据传输协议不同，无法对外接有MCU的屏驱动电路中的各芯片或各器件及MCU进行统一的参数烧录或更新，因此对外接有MCU的屏驱动电路中的各芯片或各器件及MCU的参数烧录或更新只能分别通过扎针烧录或更新，对于已经组装成整机的产品是无法进行扎孔烧录更新的，只能将组成整机的产品进行拆机，再进行扎孔烧录或更新，会浪费大量的时间和成本。因此提供一种简便、快捷的烧录方式对屏驱动电路中的各芯片或各器件进行统一的参数烧录或更新是我们应该考虑的。
发明内容
本发明提供一种时序控制器及屏驱动电路的参数调试方法，所要解决的技术问题在于，提供简便、快捷的烧录方式对屏驱动电路中的各芯片或各器件进行统一的参数烧录或更新。
本发明是这样实现的：
本发明提供了一种时序控制器，时序控制器包括第一数据通道、处理单元、第二数据通道、第三数据通道及转换单元。第一数据通道用于接收调试信息，并将调试信息传输至处理单元。处理单元与第一数据通道、第二数据通道均相连，用于根据调试信息，对使用第一通信协议的器件和/或使用第二通信协议的器件进行相应的参数调试。转换单元与第三数据通道相连，用于在处理单元通过第三数据通道对使用第二通信协议的器件进行相应的参数调试时，转换时序控制器与使用第二通信协议的器件之间的通信协议。
进一步地，使用第一通信协议的器件包括电源管理器、GAMMA控制器。使用第二通信协议的器件包括MCU。
进一步地，第一通信协议为I2C协议，第二通信协议为JTAG协议。
进一步地，调试信息为烧录信息或检测信息。其中，烧录信息包括时序控制器、使用第一通信协议的器件和/或使用第二通信协议的器件的烧录信息。其中，检测信息包括时序控制器、使用第一通信协议的器件和/或使用第二通信协议的器件的检测信息。
进一步地，各个器件的调试信息中还包括各个器件的标识信息。
进一步地，时序控制器的第一数据通道与操作终端相连，用于接收操作终端发送的调试信息。
本发明还提供了一种屏驱动电路的参数调试方法，屏驱动电路包括时序控制器、使用第一通信协议的器件以及使用第二通信协议的器件，方法包括以下步骤：时序控制器的第一数据通道接收调试信息，并将调试信息传输至时序控制器的处理单元。时序控制器的处理单元根据调试信息，对使用第一通信协议的器件和/或使用第二通信协议的器件进行相应的参数调试。时序控制器的转换单元，在时序控制器的处理单元对使用第二通信协议的器件进行相应的参数调试时，转换时序控制器与使用第二通信协议的器件之间的通信协议。
进一步地，使用第一通信协议的器件包括GAMMA控制器及电源管理控制器。使用第二通信协议的器件包括MCU。
进一步地，调试信息为烧录信息或检测信息。调试信息包括时序控制器、GAMMA控制器、电源管理器和/或MCU的调试信息及标识信息。
进一步地，在时序控制器的第一数据通道接收调试信息的步骤之前，还包括：操作终端设置得到调试信息，并将调试信息发送至时序控制器的第一数据通道。
本发明提供的时序控制器及屏驱动电路的参数调试方法，其中时序控制器包括第一数据通道、处理单元、第二数据通道、第三数据通道及转换单元。第一数据通道用于接收调试信息，并将调试信息传输至处理单元。处理单元与第一数据通道、第二数据通道均相连，用于根据调试信息，对使用第一通信协议的器件和/或使用第二通信协议的器件进行相应的参数调试。转换单元与第三数据通道相连，用于在处理单元通过第三数据通道对使用第二通信协议的器件进行相应的参数调试时，转换时序控制器与使用第二通信协议的器件之间的通信协议。从而使用本发明提供的时序控制器的屏驱动电路通过该时序控制器的第一数据通道接收调试信息后，就能够对屏驱动电路中的时序控制器、使用第一通信协议的器件和/或使用第二通信协议的器件统一的进行相应的参数调试，即无需对应屏驱动电路中的各个器件分别提供烧录治具进行参数烧录，提供了一种统一的参数烧录方式，并且在使用该屏驱动电路的装置组成整机产品后，也无需对该整机产品进行拆机而对该整机产品包括的屏驱动电路中的各器件进行参数烧录或参数更新，进而提供了简便、快捷的烧录方式对屏驱动电路中的各芯片或各器件进行统一参数烧录或参数更新。
附图说明
图1是本发明实施例一提供的时序控制器的结构示意图；
图2是本发明实施例一提供的时序控制器的线路结构示意图；
图3是本发明实施例二提供的时序控制器的连接结构示意图；
图4是本发明实施例二提供的时序控制器的连接结构示意图；
图5是本发明实施例三提供的屏驱动电路的参数调试方法的流程示意图；
图6是本发明实施例四提供的屏驱动电路的参数调试方法的流程示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
尽管本发明使用第一、第二、第三等术语来描述不同的通道、协议等，但是这些通道、协议等并不受这些术语的限制。这些术语仅是用来将一个通道、协议与另一个通道、协议区分开来。除非另有定义，否则本发明所使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)具有与本发明所属领域的普通技术人员所通常理解的意思。
下面结合附图对本发明实施例做进一步详述。
实施例一：
图1是本发明实施例一提供的时序控制器的结构示意图，图2是本发明实施例一提供的时序控制器的线路结构示意图。为了清楚地描述本实施例提供的时序控制器1，请同时参见图1和图2。
本发明中的“使用第一通信协议的器件”和“使用第二通信协议的器件”均为该类器件的总称，不仅仅限定为一个器件，且为了便于描述，在本发明实施例中将“使用第一通信协议的器件”简称为“第一器件”，将“使用第二通信协议的器件”简称为“第二器件”。
参见图1，本发明实施例一提供的时序控制器1，包括第一数据通道、处理单元101、第二数据通道、第三数据通道及转换单元102。
具体地，时序控制器1的第一数据通道用于接收调试信息，并将调试信息传输至处理单元101。
参见图2，在一实施方式中，调试信息为烧录信息，该烧录信息具体为各个需要参数烧录的器件(包括时序控制器1本身)的烧录信息的集合，其中各个器件的烧录信息例如，时序控制器1的烧录信息、第一器件2的烧录信息(例如GAMMA控制器的烧录信息、电源管理器的烧录信息、存储器的烧录信息等等)、第二器件3的烧录信息(例如微控制器301的烧录信息)等等。其中，烧录信息是为了使得器件(例如芯片、单片机等)可以实现一些功能，而需要复制到器件上的数据或参数。
在其他实施方式中，调试信息还可以为检测信息，该检测信息具体为各个需要参数检测的器件(包括时序控制器1本身)的检测信息的集合，各个器件的检测信息例如，时序控制器1的检测信息、第一器件2的检测信息(例如GAMMA控制器的检测信息、电源管理器的检测信息、存储器的检测信息等等)、第二器件3的检测信息(例如MCU 301检测信息)等等。其中，检测信息是为了获取器件上的参数或数据的校验和(checksum)，而发送的用于检测的数据或信息。其中，校验和(checksum)，在数据处理和数据通信领域中，是用于校验目的地一组数据项的和，它通常是以十六进制为数制表示的形式。在烧录技术领域中，检测器件的参数校验和的目的是为了检测烧录的参数的完整性和准确性。
在一实施方式中，各个器件的调试信息中需要包括各个器件的标识信息，且各个器件的标识信息中包括每个器件的器件地址信息。因为每个器件都有自己的器件地址(Slave Address)，从而通过标识信息中的器件地址信息，将各个器件的调试信息映射到对应的器件。进一步地说，各个器件的调试信息中包括各器件的标识信息是为了将一个器件的调试信息与另一个器件的调试信息区别开来，并将各个器件的调试信息准确地分配至对应的器件进行相应的参数调试。例如：时序控制器1的调试信息中包括时序控制器1的标识信息，从而可以在后续的操作中，将时序控制器1的调试信息准确的分配至时序控制器1，进而对时序控制器1进行参数调试(参数烧录和/或参数检测)。
参考图2，在一实施方式中，时序控制器1的第一数据通道可以为AUX通道(辅助通道)，是时序控制器1额外设计的数据传输通道，即除传统的输入或输出通道以外增加的辅助通道。当该时序控制器1组成整机产品，可以在该整机产品上设置接口与第一数据通道连，以便于将调试信息通过该接口输入至整机产品内的时序控制器1，实现相应的参数调试。
参考图1，具体地，时序控制器1的处理单元101与第一数据通道、第二数据通道和第三数据通道均相连，用于根据调试信息，对使用第一通信协议的器件(第一器件2)和/或使用第二通信协议的器件(第二器件3)进行相应的参数调试。
在一实施方式中，时序控制器1的处理单元101，还用于根据调试信息，对时序控制器1本身进行相应的参数调试。
在一实施方式中，时序控制器1的处理单元101接收第一数据通道传输的调试信息，根据调试信息中的时序控制器1的调试信息对时序控制器1本身进行相应的参数调试，并通过第二数据通道传输第一器件2的调试信息对第一器件2进行相应的参数调试，通过第三数据通道传输第二器件3的调试信息对第二器件3进行相应的参数调试。
在一实施方式中，当调试信息是烧录信息时，时序控制器1的处理单元101，用于根据烧录信息，对时序控制器1、第一器件2和/或第二器件3进行参数烧录。
在其他实施方式中，当调试信息为检测信息时，时序控制器1的处理单元101，用于根据检测信息，发送时序控制器1、第一器件2和/或第二器件3的检测信息至时序控制器1、第一器件2和/或第二器件3中，以获取时序控制器1、第一器件2和/或第二器件3的参数校验和，进而进行相应的处理，以确认各器件中的参数是否烧录正确。
参考图1，具体地，时序控制器1的转换单元102与时序控制器1的第三数据通道相连，并且时序控制器1的第三数据通道通过时序控制器1的转换单元102与时序控制器1的处理单元101相连。时序控制器1的转换单元102用于在处理单元101通过第三数据通道对第二器件3进行相应的参数调试时，转换时序控制器1与第二器件3之间的通信协议。
在一实施方式中，第一通信协议可以为I2C(Inter-Integrated Circuit)协议。I2C协议是应用在I2C总线上的协议，I2C总线是一种同步两线式串行数据总线，其中，一根是双向的数据线SDA，另一根是时钟线SCL。所有接到I2C总线设备上的串行数据SDA都接到总线的SDA上，各设备的时钟线SCL接到总线的SCL上，一般在对芯片进行扩展或参数烧录时使用。在其他实施方式中，通用的输入输出接口也可以作为I2C总线接口，因为I2C是一种同步串行半双工总线，硬件映射为一个两个接口电路，对于没有I2C总线接口的，可以使用通用输入输出接口来实现I2C的功能与其他设备进行通信。
第二通信协议可以为JTAG(Joint Test Action Group)协议，JTAG协议是应用在JTAG接口上的协议，JTAG接口常用作在线仿真、在线调试、在系统编程、以及边界扫描(BSL)测试系统等等。JTAG协议是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测试，且标准的JTAG接口是4线(或5线)。使用JTAG协议的器件的基本原理是在器件内部定义一个TAP(TestAccess Port；测试访问口)，通过专用的JTAG测试工具对内部节点进行测试。使用JTAG协议的数据传输通道通常包括测试时钟线路TCK及测试数据输入输出线路TDIO(包括测试数据输入线路TDI和测试数据输出线路TDO)。
在一实施方式中，第一器件2(使用第一通信协议的器件)例如为存储器201(EEPROM)、时序控制器1(TCON IC)、GAMMA控制器203(或GAMMA IC)、电源管理器202(或POWER IC)等等。第二器件3(使用第二通信协议的器件)例如为微控制器301(MCU)等。
参见图2，在一实施方式中，在处理单元101通过第三数据通道传输使用JTAG协议的器件(例如MCU)的烧录信息至使用JTAG协议的器件，以对该使用JTAG协议的器件进行参数烧录时，时序控制器1的转换单元102用于将时序控制器1使用的I2C协议转换为JTAG协议，以使得使用I2C协议的时序控制器能够与使用JTAG协议的器件之间能够通信，从而通过第三数据通道传输该器件的烧录信息对使用JTAG协议的器件(例如，MCU)进行参数烧录。
参考图2，在其他实施方式中，当处理单元101通过第三数据通道传输使用JTAG协议的器件的检测信息至使用JTAG协议的器件时，时序控制器1的转换单元102先将时序控制器1的I2C协议转换为JTAG协议，以使得使用I2C协议的时序控制器1能够与使用JTAG协议的器件之间能够通信，因此能够将检测信息通过第三数据通道发送至使用JTAG协议的器件，以检测使用JTAG协议的器件的参数校验和，且在时序控制器1的处理单元101获取使用JTAG协议的器件的参数校验和时(或使用JTAG协议的器件反馈使用JTAG协议的器件的参数校验和至时序控制器1的处理单元101时)，时序控制器1的转换单元102，将JTAG协议转换为I2C协议，以使得使用JTAG协议的器件能够与使用I2C协议的时序控制器1之间进行通信，因此时序控制器1的处理单元101能够获取使用JTAG协议的器件的参数校验和，从而可以将各器件的参数校验和经时序控制器1的第一数据通道反馈至分析设备，完成对各器件中烧录的参数检验和的分析，确认烧录的参数是否正确。
参见图2，在一实施方式中，时序控制器1可以通过第二数据通道分别与电源管理模块、GAMMA控制器等相连，并且通过第三数据通道与微控制器301(MCU)相连，从而组成一种具有MCU的屏驱动电路。因此，可以通过时序控制器1的第一数据通道接收烧录信息，对使用本发明提供的时序控制器1组成的屏驱动电路中的各个组成器件进行统一的参数烧录。进一步地，当参数烧录完成该屏驱动电路组装成整机产品时，在可以在该整机产品上设置接口，以接通时序控制器1的第一数据通道，从而在后续需要对该屏驱动电路中的时序控制器1、GAMMA控制器、电源管理器和/或MCU 301进行参数更新时，可以直接在该整机产品设置的接口中输入更新的烧录信息，以实现不需要对该整机产品拆机，而直接对该屏驱动电路中的任意器件进行参数更新烧录。
参见图2，在其他实施方式中，还可以通过时序控制器1的第一数据通道接收检测信息，发送该检测信息中包括的各器件的检测信息至使用本发明提供的时序控制器1组成的屏驱动电路中的各个组成器件(例如，MCU 301、时序控制器1、电源管理模块和/或GAMMA控制器)中，以获取各器件的参数校验和，并通过第一数据通道输出检测到的各器件的参数的校验和，通过其他装置分析各器件的参数校验和，以确认烧录是否正确，因此可以防止不良的屏驱动电路组成整机产品流入市场。
本发明实施例提供的时序控制器1，第一数据通道接收调试信息后，处理单元101能够对时序控制器1进行参数调试，还能够通过第二数据通道将第一器件2的调试信息分配至第一器件2中，实现对第一器件2进行参数调试，并且处理单元101能够通过转换单元102转换时序控制器1与第二器件3之间的通信协议，通过第三数据通道将第二器件3的调试信息分配至第二器件3中，实现对第二器件3的参数调试，其中参数调试信息可以为烧录信息和/或检测信息，从而使用本发明实施例提供的时序控制器1可以统一的对时序控制器1及与其相连的各器件进行参数烧录和/或参数检测，因此，本发明实施例提供的时序控制器1能够实现提供一种简便、快捷的参数烧录方式和参数检测方式，对与之相连的各芯片或器件进行统一的参数烧录和/或参数检测。
实施例二：
图3是本发明实施例二提供的时序控制器的连接结构示意图，图4是本发明实施例二提供的时序控制器的连接结构示意图。为了清楚地描述本实施例提供的时序控制器1，请同时参考图1、图2、图3及图4。
本发明中的“使用第一通信协议的器件”和“使用第二通信协议的器件”均为该类器件的总称，不仅仅限定为一个器件，且为了便于描述，在本发明实施例中将“使用第一通信协议的器件”简称为“第一器件”，将“使用第二通信协议的器件”简称为“第二器件”。
参见图3，本发明实施例一提供的时序控制器1，包括第一数据通道、处理单元101、第二数据通道、第三数据通道及转换单元102，且时序控制器1的第一数据通道与操作终端4相连，用于接收操作终端4发送的调试信息。
参见图2、图3和图4，具体地，本发明实施例与本发明实施例一的区别仅仅在于时序控制器1的第一数据通道与操作终端4相连，因此时序控制器1包括的处理单元101、第二数据通道、第三数据通道、转换单元102及调试信息的具体实施方式和有益效果参考本发明实施例一，在此将不再赘述。
参考图3，在一实施方式中，时序控制器1的第一数据通道与操作终端4相连，用于接收操作终端4发送的调试信息，其中的操作终端4可以为电脑(例如，Notebook)，且操作人员通过电脑中的软件，设置时序控制器1、与时序控制器1相连的第一器件2和/或与时序控制器1相连的第二器件3的烧录信息进行设置，并通过时序控制器1的第一数据通道将烧录信息传输至处理单元101实现对与时序控制器1、与时序控制器1相连的第一器件2和/或与时序控制器1相连的第二器件3进行统一的参数烧录。
进一步地，将本实施例提供的时序控制器、与时序控制器1相连的第一器件2和/或与时序控制器1相连的第二器件3组装到整机的产品中时，可以在整机产品上设置连通第一数据通道的接口，从而在后续需要对时序控制器1、与时序控制器1相连的第一器件2和/或与时序控制器1相连的第二器件3进行参数更新时，可以直接通过电脑连接整机产品上的接口，实现在不拆机情况下，直接对该整机产品内部中的时序控制器1、与时序控制器1相连的第一器件2和/或与时序控制器1相连的第二器件3的参数烧录更新，因此能够方便快捷的实现对整机产品中的时序控制1、与时序控制器1相连的第一器件2和/或与时序控制器1相连的第二器件3的参数烧录更新。
参考图4，在其他实施方式中，时序控制器1的第一数据通道连接的操作终端4可以为治具，操作人员通过治具将烧录信息传输至时序控制器1的处理单元，实现对时序控制器1、与时序控制器1相连的第一器件2和/或与时序控制器1相连的第二器件3进行参数烧录。从而可以用治具的方式实现参数烧录，并且使用本实施例提供的时序控制器1，可以实现仅使用一个治具就能够对时序控制器1、与时序控制器1相连的第一器件2和/或与时序控制器1相连的第二器件3的参数烧录，从而避免了在使用传统的治具烧录方式中，需要针对需要烧录的器件分别设置烧录的治具，例如，烧录时序控制器时，需要使用专用的时序控制器烧录治具，烧录其他器件时，需要另外增加其他器件专用的时序烧录治具，因此使用本实施例提供的时序控制器1能够简便快捷的对时序控制器1、与时序控制器1相连的第一器件2和/或与时序控制器1相连的第二器件3实现参数烧录。
进一步地，可以用治具的方式对时序控制、与时序控制器1相连的第一器件2和/或与时序控制器1相连的第二器件3进行统一参数烧录检测。操作人员通过治具将检测信息传输至时序控制器1的处理单元101，以使得处理单元101根据检测信息中的时序控制器1、与时序控制器1相连的第一器件2和/或与时序控制器1相连的第二器件3的检测信息，以获取时序控制器1、与时序控制器1相连的第一器件2和/或与时序控制器1相连的第二器件3的检测信息相对应的器件的参数校验和，并通过第一数据通道反馈至该治具，以使得治具分析接收到的各器件的参数校验和，进而确认各器件中烧录的参数是否正确。
在一实施方式中，通过在U盘拷贝好程序和/或参数，将U盘插入治具中，可以实现治具离线对时序控制器1、与时序控制器1相连的第一器件2和/或与时序控制器1相连的第二器件3进行烧录或检测。
在一实施方式中，当时时序控制器1、与时序控制器1相连的第一器件2和/或与时序控制器1相连的第二器件3已组装到整机产品内时，可以在整机产品上设置与第一数据通道连接的接口，从而可以通过电脑或者治具连接整机产品上的接口实现对时序控制器1、与时序控制器1相连的第一器件2和/或与时序控制器1相连的第二器件3的参数烧录更新和/或参数烧录检测，因此不需要对整机产品进行拆机，就能够对时序控制器1、与时序控制器1相连的第一器件2和/或与时序控制器1相连的第二器件3进行参数烧录更新和/或参数烧录检测，从而能够节约时间和成本。
本发明实施例提供的时序控制器1，第一数据通道与操作终端4相连，接收操作终端4发送的调试信息后，处理单元101能够对时序控制器1本身进行参数调试，还能够通过第二数据通道将第一器件2的调试信息分配至第一器件2中，实现对第一器件2进行参数调试，并且处理单元101能够通过转换单元102转换时序控制器1与第二器件3之间的通信协议，通过第三数据通道将第二器件3的调试信息分配至第二器件3中，实现对第二器件3的参数调试，其中参数调试信息可以为烧录信息和/或检测信息，因此使用本发明实施例提供的时序控制器1可以统一的对时序控制器1及与其相连的各器件进行参数烧录和/或参数烧录检测，因此，本发明实施例提供的时序控制器1能够实现提供一种简便、快捷的参数烧录方式和参数检测方式，对与之相连的各芯片或器件进行统一的参数烧录和/或参数检测。
实施例三：
图5是本发明实施例三提供的屏驱动电路的参数调试方法的流程示意图。为了清楚的描述本实施例提供的屏驱动电路的参数调试方法，请参考图5。
本发明实施例提供的屏驱动电路的参数调试方法，其中屏驱动电路包括时序控制器、使用第一通信协议的器件以及使用第二通信协议的器件，该方法包括一下步骤：
S301:操作终端设置得到调试信息，并将调试信息发送至时序控制器的第一数据通道，其中调试信息为烧录信息。
在一实施方式中，烧录信息中包括时序控制器、使用第一通信协议的器件和/或使用第二通信协议的器件的烧录信息，即烧录信息是各个器件的烧录信息的集合。
在一实施方式中，各器件的烧录信息中还包括时序控制器、使用第一通信协议的器件(例如GAMMA控制器、电源管理器、存储器等等)和/或使用第二通信协议的器件(例如MCU)的标识信息，即各器件的烧录信息中包括各器件的标识信息。具体地，时序控制器、使用第一通信协议的器件和/或使用第二通信协议的器件的标识信息中包括时序控制器的器件地址信息、使用第一通信协议的器件的器件地址信息和/或使用第二通信协议的器件的器件地址信息。因此在后续的步骤中，可以将各器件的烧录信息准确地分配至对应的器件，进行相应的参数烧录。
在一实施方式中，时序控制器的第一数据通道可以为AUX通道。
S302:时序控制器的第一数据通道接收调试信息，并将调试信息传输至时序控制器的处理单元。
S303:时序控制器的处理单元根据调试信息，对使用第一通信协议的器件和/或使用第二通信协议的器件进行相应的参数调试。
具体地，时序控制器中包括转换单元，且转换单元在时序控制器的处理单元对使用第二通信协议的器件进行相应的参数调试时，转换时序控制器与使用第二通信协议的器件之间的通信协议。
在一实施方式中，第一通信协议为I2C(Inter-Integrated Circuit)协议，第二通信协议为JTAG(Joint Test Action Group)协议。由于时序控制器内部的数据传输也使用第一通信协议(I2C协议)，因此时序控制器的转换单元，在时序控制器的处理单元对使用JTAG协议的器件(例如MCU)参数烧录时，转换时序控制器与使用JTAG协议的器件(例如MCU)之间的通信协议，以使得使用I2C协议的时序控制器能够与使用JTAG协议的器件之间能够通信，从而通过第三数据通道传输烧录信息对使用JTAG协议的器件(例如MCU)进行参数烧录。
具体地，时序控制器的处理单元通过时序控制器的第二数据通道传输使用第一通信协议的器件的烧录信息对使用第一通信协议的器件进行参数烧录，和/或通过第三数据通道传输使用第二通信协议的器件的烧录信息对使用第二通信协议的器件进行参数烧录。在一实施方式中，时序控制器的处理单元还可以对时序控制器进行参数烧录。
在一实施方式中，使用第一通信协议的器件包括GAMMA控制器、电源管理器、存储器等，并且时序控制器内部的数据传输也使用第一通信协议。使用第二通信协议的器件包括MCU。因此时序控制器通过第二数据通路与GAMMA控制器、电源管理器、存储器均相连，并且时序控制器的第三数据通路与MCU相连，从而组成具有MCU的一种屏驱动电路。
本发明实施例提供的屏驱动电路的参数调试方法，其中屏驱动电路包括时序控制器、使用第一通信协议的器件以及使用第二通信协议的器件，且通过时序控制器的第一数据通道接收烧录信息后，时序控制器的处理单元就能够对时序控制器本身和/或使用第一通信协议的器件直接进行参数烧录，且还通过时序控制器的转换单元转换时序控制器与使用第二通信协议的器件之间的通信协议，以使得时序控制器的处理单元还能够对使用第二通信协议的器件进行参数烧录，因此本发明实施例提供的屏驱动电路的参数调试方法，提供了一种简便、快捷的烧录方式对屏驱动电路中的各器件进行统一的参数烧录。
实施例四：
图6是本发明实施例四提供的屏驱动电路的参数调试方法的流程示意图。为了清楚的描述本实施例提供的屏驱动电路的参数调试方法，请参考图6。
本发明实施例提供的屏驱动电路的参数调试方法，其中屏驱动电路包括时序控制器、使用第一通信协议的器件以及使用第二通信协议的器件，该方法包括一下步骤：
S401:操作终端设置得到调试信息，并将调试信息发送至时序控制器的第一数据通道，其中的调试信息为烧录信息和/或检测信息。
在一实施方式中，调试信息为检测信息。其中检测信息包括时序控制器、使用第一通信协议的器件和/或使用第二通信协议的器件的检测信息，即检测信息是各个器件的检测信息的集合。
在一实施方式中，各器件的检测信息中还包括时序控制器、使用第一通信协议的器件(例如GAMMA控制器、电源管理器、存储器等等)和/或使用第二通信协议的器件(例如MCU)的标识信息，即各器件的检测信息中包括各器件的标识信息。因此在后续的步骤中，可以将各器件的检测信息准确地分配至对应的器件，以获取该器件的参数校验和。
S402:时序控制器的第一数据通道接收调试信息，并将调试信息传输至时序控制器的处理单元。
S403:时序控制器的处理单元根据调试信息，对使用第一通信协议的器件和/或使用第二通信协议的器件进行相应的参数调试，以获取使用第一通信协议的器件和/或使用第二通信协议的器件的参数校验和。
具体地，对使用第一通信协议的器件和/或使用第二通信协议的器件进行相应的参数调试，具体为将检测信息发送至使用通信协议的器件和/或使用第二通信协议的器件，检测得到使用通信协议的器件和/或使用第二通信协议的器件的参数校验和，并使得使用通信协议的器件和/或使用第二通信协议的器件将检测到的使用通信协议的器件和/或使用第二通信协议的器件的参数校验和反馈至时序控制器。
具体地，时序控制器的转换单元，在时序控制器的处理单元对使用第二通信协议的器件进行相应的参数调试时，转换时序控制器与使用第二通信协议的器件之间的通信协议。
在一实施方式中，第一通信协议为I2C协议，第二通信协议为JTAG协议。当时序控制器的处理单元通过第三数据通道传输使用JTAG协议的器件的检测信息对使用JTAG协议的器件进行检测时，时序控制器的转换单元用于将I2C协议转换为JTAG协议，以使得使用I2C协议的时序控制器能够与使用JTAG协议的器件之间能够通信，从而通过第三数据通道传输检测信息对使用JTAG协议的器件(例如MCU)进行参数校验和检测。
当使用JTAG协议的器件反馈使用JTAG协议的器件的参数检验和至时序控制器时，时序控制器的转换单元用于将JTAG协议转换为I2C协议，从而使得时序控制器通过第三数据通道接收使用JTAG协议的器件反馈的参数校验和。
S404：时序控制器的处理单元将获取的使用第一通信协议的器件和/或使用第二通信协议的器件的参数校验和通过时序控制器的第一数据通道反馈至操作终端，以使得操作终端确认使用第一通信协议的器件中和/或使用第二通信协议的器件中的参数是否烧录正确。
在一实施方式中，时序控制器的处理单元还能够获取时序控制器本身的参数校验和并通过时序控制器的第一数据通道反馈至操作终端，以使得操作终端确认时序控制器中的参数是否烧录正确。
在一实施方式中，使用第一通信协议的器件包括GAMMA控制器、电源管理器、存储器等，并且时序控制器内部的数据传输也使用第一通信协议。使用第二通信协议的器件包括MCU。具体地，时序控制器通过第二数据通路与GAMMA控制器、电源管理器、存储器均相连，并且时序控制器的第三数据通路与MCU相连，从而组成具有MCU的一种屏驱动电路。
本发明实施例提供的屏驱动电路的参数调试方法，其中屏驱动电路包括时序控制器、使用第一通信协议的器件以及使用第二通信协议的器件，且通过时序控制器的第一数据通道接收检测信息后，时序控制器的处理单元就能够分配检测信息至时序控制器本身和/或使用第一通信协议的器件，以获取时序控制器和/或使用第一通信协议的器件的参数校验和，且还通过时序控制器的转换单元转换时序控制器与使用第二通信协议的器件之间的通信协议，以使得时序控制器的处理单元分配检测信息至使用第二通信协议的器件，从而使得时序控制器的处理单元获取使用第二通信协议的器件的参数检验和，且时序控制器的处理单元将时序控制器、使用第一通信协议的器件和/或使用第二通信协议的器件的参数校验和通过时序控制器的第一数据通道反馈至操作终端，以使得操作终端确认时序控制器、使用第一通信协议的器件和/或使用第二通信协议的器件的参数是否烧录正确。因此本发明实施例提供的屏驱动电路的参数调试方法，提供了一种简便、快捷的检测方式对屏驱动电路中的各器件进行统一的参数检测。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换或改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种时序控制器，其特征在于，所述时序控制器包括第一数据通道、处理单元、第二数据通道、第三数据通道及转换单元；
所述第一数据通道用于接收调试信息，并将所述调试信息传输至所述处理单元；
所述处理单元与所述第一数据通道、所述第二数据通道均相连，用于根据所述调试信息，对使用第一通信协议的器件和/或使用第二通信协议的器件进行相应的参数调试；
所述转换单元与所述第三数据通道相连，用于在所述处理单元通过所述第三数据通道对使用所述第二通信协议的器件进行相应的参数调试时，转换所述时序控制器与使用所述第二通信协议的器件之间的通信协议。
2.如权利要求1所述的时序控制器，其特征在于，使用所述第一通信协议的器件包括电源管理器、GAMMA控制器；
使用所述第二通信协议的器件包括MCU。
3.如权利要求1所述的时序控制器，其特征在于，所述第一通信协议为I2C协议，所述第二通信协议为JTAG协议。
4.如权利要求1所述的时序控制器，其特征在于，所述调试信息为烧录信息或检测信息；
其中，所述烧录信息包括所述时序控制器、使用所述第一通信协议的器件和/或使用所述第二通信协议的器件的烧录信息；
其中，所述检测信息包括所述时序控制器、使用所述第一通信协议的器件和/或使用所述第二通信协议的器件的检测信息。
5.如权利要求4所述的时序控制器，其特征在于，各个器件的调试信息中还包括各个器件的标识信息。
6.如权利要求1所述的时序控制器，其特征在于，所述时序控制器的第一数据通道与操作终端相连，用于接收所述操作终端发送的所述调试信息。
7.一种屏驱动电路的参数调试方法，其特征在于，所述屏驱动电路包括时序控制器、使用第一通信协议的器件以及使用第二通信协议的器件，所述方法包括以下步骤：
所述时序控制器的第一数据通道接收调试信息，并将所述调试信息传输至所述时序控制器的处理单元；
所述时序控制器的处理单元根据所述调试信息，对使用第一通信协议的器件和/或使用第二通信协议的器件进行相应的参数调试；
所述时序控制器的转换单元，在所述时序控制器的处理单元对使用所述第二通信协议的器件进行相应的参数调试时，转换所述时序控制器与使用所述第二通信协议的器件之间的通信协议。
8.如权利要求7所述屏驱动电路的参数调试方法，其特征在于，使用所述第一通信协议的器件包括GAMMA控制器及电源管理控制器；
使用所述第二通信协议的器件包括MCU。
9.如权利要求8所述的屏驱动电路的参数调试方法，其特征在于，所述调试信息为烧录信息或检测信息；
所述调试信息包括所述时序控制器、所述GAMMA控制器、所述电源管理器和/或所述MCU的调试信息及标识信息。
10.如权利要求9所述的屏驱动电路的参数调试方法，其特征在于，在所述时序控制器的第一数据通道接收所述调试信息的步骤之前，还包括：
操作终端设置得到所述调试信息，并将所述调试信息发送至所述时序控制器的第一数据通道。
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