CN109614119A - 一种烧录方法、装置、电子设备及介质 - Google Patents

一种烧录方法、装置、电子设备及介质 Download PDF

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Abstract

本发明公开一种烧录方法、装置、电子设备及介质,该方法包括:通过时序配置转换接口按预设规则接收设置的时序数据,并检测芯片的当前可烧录次数;如果所述当前可烧录次数满足要求,则为目标数据分配存储地址,并将所述目标数据转换为烧录格式;将转换格式的目标数据按照所述时序数据,烧录入所述芯片的所述存储地址,并刷新所述芯片的当前可烧录次数;检验所述目标数据是否烧录入所述芯片中。本发明提供的方法、装置、电子设备及介质用以解决现有技术中芯片烧录工作量大的技术问题,实现了节约时间,减少工作量的技术效果。

Description

一种烧录方法、装置、电子设备及介质
技术领域
本发明涉及电子技术领域,尤其涉及一种烧录方法、装置、电子设备及介质。
背景技术
将数据“搬运”到芯片内部存储空间的过程叫烧录。不同的芯片或不同的待烧录数据对应有不同的烧录需求,故需要分别编写不同烧录软件。
以存储器芯片为例,不同的存储器有不同的写入时序要求和不同的烧录格式要求,甚至对同一存储器,需要烧录的数据不同所对应的时序、格式、烧录次数等要求也不相同。当前,对这种差异性的解决方法为,对不同数据或不同芯片的烧录,专门编写对应的烧录软件,然而,过多烧录软件的编写会带来较大的人力和时间消耗。
发明内容
鉴于上述问题,提出了本发明以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的烧录方法、装置、电子设备及介质。
第一方面,提供一种烧录方法,包括:
通过时序配置转换接口按预设规则接收设置的时序数据,并检测芯片的当前可烧录次数;
如果所述当前可烧录次数满足要求,则为目标数据分配存储地址,并将所述目标数据转换为烧录格式;
将转换格式的目标数据按照所述时序数据,烧录入所述芯片的所述存储地址,并刷新所述芯片的当前可烧录次数;
检验所述目标数据是否烧录入所述芯片中。
可选的,所述时序数据包括:通过时序配置转换接口来接收按照预设的关键字表格设置的时序数据;其中,所述时序数据为时序配置文件或输入到交互界面上的数据。
可选的,所述检测芯片的当前可烧录次数,包括:检测所述芯片中预设的标志位,根据所述标志位确定所述当前可烧录次数。
可选的,所述将所述目标数据转换为烧录格式,包括:根据预设的格式配置文件,转换所述目标数据的格式为烧录格式,所述烧录格式为所述格式配置文件中规定的格式。
可选的,所述存储地址包括:烧录区域地址和检测区域地址,所述烧录区域为存储所述目标数据的区域,所述检测区域为读取所述烧录区域中存储是数据用于检测的区域。
可选的,在将转换格式的目标数据烧录入所述芯片的所述存储地址之后,还包括:根据所述目标数据的参数和预设的检验位更新算法,更新所述芯片中预设的检验位;所述检验所述目标数据是否烧录入所述芯片中,包括:检测所述检验位,根据所述检验位确定所述目标数据是否烧录入所述芯片中。
第二方面,提供一种烧录装置,其特征在于,包括:
时序配置转换接口,用于按预设规则接收设置的时序数据;
检测模块,用于检测芯片的当前可烧录次数;
转换模块,用于如果所述当前可烧录次数满足要求,则为目标数据分配存储地址,并将所述目标数据转换为烧录格式;
烧录模块,用于将转换格式的目标数据按照所述时序数据,烧录入所述芯片的所述存储地址,并刷新所述芯片的当前可烧录次数;
检验模块,用于检验所述目标数据是否烧录入所述芯片中。
可选的,所述时序配置转换接口还用于:接收按照预设的关键字表格设置的时序数据;其中,所述时序数据为时序配置文件或输入到交互界面上的数据。
第三方面,提供一种电子设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述程序时实现以下步骤:
通过时序配置转换接口按预设规则接收设置的时序数据,并检测芯片的当前可烧录次数;
如果所述当前可烧录次数满足要求,则为目标数据分配存储地址,并将所述目标数据转换为烧录格式;
将转换格式的目标数据按照所述时序数据,烧录入所述芯片的所述存储地址,并刷新所述芯片的当前可烧录次数;
检验所述目标数据是否烧录入所述芯片中。
第四方面,提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时实现以下步骤:
通过时序配置转换接口按预设规则接收设置的时序数据,并检测芯片的当前可烧录次数;
如果所述当前可烧录次数满足要求,则为目标数据分配存储地址,并将所述目标数据转换为烧录格式;
将转换格式的目标数据按照所述时序数据,烧录入所述芯片的所述存储地址,并刷新所述芯片的当前可烧录次数;
检验所述目标数据是否烧录入所述芯片中。
本发明实施例中提供的技术方案,至少具有如下技术效果或优点:
本发明实施例提供的烧录方法、装置、电子设备及介质,将时序配置文件与需烧录的数据剥离,通过时序配置转换接口来接收时序数据,并自动检测芯片的可烧录次数、进行目标数据格式转换、烧录、更新烧录次数和检验烧录结果,只要按预设规则准备各个需烧录数据对应的时序数据文件,不需要为每次烧录编写对应的烧录代码或软件,极大的减少了工作量,节约时间和人力。
上述说明仅是本发明技术方案的概述,为了能够更清楚了解本发明的技术手段,而可依照说明书的内容予以实施,并且为了让本发明的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂,以下特举本发明的具体实施方式。
附图说明
通过阅读下文优选实施方式的详细描述,各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的,而并不认为是对本发明的限制。而且在整个附图中,用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中:
图1为本发明实施例中烧录方法的流程图;
图2为本发明实施例中装置的结构示意图;
图3为本发明实施例中电子设备的结构示意图;
图4为本发明实施例中存储介质的结构示意图。
具体实施方式
本发明实施例中的技术方案,总体思路如下:
本实施例通过时序配置转换接口按预设规则接收设置的时序数据,自动检测芯片的当前可烧录次数、为目标数据分配存储地址、将目标数据转换为烧录格式,和将转换格式的目标数据烧录入芯片的存储地址,并刷新芯片的当前可烧录次数和检验目标数据是否烧录入芯片中。即通过将时序配置与需烧录的数据剥离,使工作人员只要按预设规则准备各个需烧录数据对应的时序数据,不需要为每次烧录编写对应的烧录代码或软件,极大的减少了工作量,节约时间和人力。
下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例,然而应当理解,可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反,提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开,并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。
实施例一
本实施例提供了一种烧录方法,请参考图1,图1为本发明实施例中烧录方法的流程图,包括:
步骤S101,通过时序配置转换接口按预设规则接收设置的时序数据,并检测芯片的当前可烧录次数;
步骤S102,如果所述当前可烧录次数满足要求,则为目标数据分配存储地址,并将所述目标数据转换为烧录格式;
步骤S103,将转换格式的目标数据按照所述时序数据,烧录入所述芯片的所述存储地址,并刷新所述芯片的当前可烧录次数;
步骤S104,检验所述目标数据是否烧录入所述芯片中。
需要说明的是,本实施例中的芯片可以为传感器,也可以为存储器等设置有存储区域的芯片。烧录的目标数据可以是程序、代码或数字等数据。
还需要说明的是,本实施例提供的方法可以应用于专用的烧录器、台式电脑或产线上集成的烧录设备等,在此不作限制。
下面,结合图1详细介绍本实施例提供的烧录方法的具体实施步骤:
步骤S101,通过时序配置转换接口按预设规则接收设置的时序数据,并检测芯片的当前可烧录次数。
在步骤S101中,包括通过时序配置转换接口按预设规则接收设置的时序数据,和检测芯片的当前可烧录次数这两个子步骤,这两个子步骤的执行先后顺序不作限制。可以是先接收设置的时序数据,再检测当前可烧录次数;也可以是先检测当前可烧录次数,再接收设置的时序数据;还可以是两个子步骤同时进行,在此不作限制。
首先,介绍通过时序配置转换接口按预设规则接收设置的时序数据的步骤。
该步骤中的时序配置转换接口可以有多种实现形式,举例来讲:第一种,时序配置转换接口为识别时序配置文件的接口,即工作人员预先编写好时序配置文件,将该时序配置文件输入烧录装置,烧录装置的时序配置转换接口接收并读取该时序配置文件获得时序数据;第二种,时序配置转换接口为通过交互界面接收数据的接口,即提供一交互界面,工作人员在交互界面上输入时序数据,时序配置转换接口接收该时序数据。当然,在具体实施过程中,时序配置转换接口不限于上述两种,还可以有其他实现形式,在此不作限制,也不再一一列举。
在本申请实施例中,该时序数据可以是按照预设的关键字表格设置的数据,从而使时序数据能适用于各种芯片的时序要求,便于工作人员设置,也便于时序配置转换接口进行接收和转换为烧录时的时序控制数据。
举例来讲,设置关键字表格如下表1,以表1中的关键字设置来编写时序数据,以实现标准化,提高时序数据的编写和识别效率。
表1
具体来讲,由于不同的目标数据和/或不同的芯片在烧录时,有不同的时序要求和格式要求,故现有烧录技术是分别编写烧录程序来满足不同的要求。本申请将时序数据与目标数据分割,采用时序配置转换接口按预设规则接收设置的时序数据,不用对不同烧录分别编写程序,只需要准备对应的时序数据即可,极大减少工作量。进一步还设置关键字来标准化时序数据,提高时序数据配置效率,减少出错,也提高后续根据时序数据来进行烧录的效率。
然后,介绍检测芯片的当前可烧录次数的步骤。
在具体实施过程中,检测当前可烧录次数的方式可以有多种,下面列举两种为例:
第一种,设置标志位。
即在芯片中预先设置有标志位,检测芯片中预设的标志位,根据该标志位确定当前可烧录次数。
具体来讲,在芯片中的指定存储位置预先存储有标志位(例如:Y、1等数据),芯片在被烧录的过程中,会覆盖或删除该标志位。在烧录前只需要检测该标志位是否还存在,即可确定该芯片是否被烧录过,是否还存在可烧录次数。较优的,还可以设置该标志位为可烧录次数,每烧录一次,则烧录次数刷新减少一次,从而可以快速的通过检测该标志位,获取当前可烧录次数。
设置标志位的检测方式,不需要在检测时进行计算,提高了检测效率。
第二种,获取存储空间大小
即检测芯片中的可存储空间大小,根据该可存储空间大小及烧录需要的空间大小来计算出可烧录次数。
当然,除了上述两种检测当前可烧录次数的方案,也可以采用其他检测方式,在此不作限制。
步骤S102,如果当前可烧录次数满足要求,则为目标数据分配存储地址,并将目标数据转换为烧录格式。
在本申请实施例中,当前可烧录次数满足要求,即存在可烧录次数或可烧录次数大于等于该目标数据的要求烧录次数。例如,检测到芯片中的标志位存在时,则认为当前可烧录次数满足要求。
如果当前可烧录次数不满足要求,即不存在可烧录次数或可烧录次数小于该目标数据的要求烧录次数,则不进行烧录,便输出提示信息,以提示工作人员更换芯片或检测芯片。
在确定当前可烧录次数满足要求后,需要给目标数据分配存储地址,该存储地址包括烧录区域地址和检测区域地址,其中,烧录区域为用于存储目标数据的区域,检测区域为读取烧录区域中存储的数据来用于检测的区域。具体来讲,存储地址的分配可以是随机分配,也可以是按照预设的地址分配文件来进行分配的。
在确定当前可烧录次数满足要求后,还需要将目标数据转换为烧录格式。具体可以预先设置格式配置文件,根据预设的格式配置文件,转换目标数据的格式为格式配置文件中规定的格式,以满足烧录要求。还可以提供交互界面,工作人员在交互界面上设置格式配置数据,以根据设置的格式配置数据,从而转换目标数据为烧录格式。
具体来讲,由于不同的目标数据和/或不同的芯片在烧录时,有不同的时序要求和格式要求,故现有烧录技术是分别编写烧录程序来满足不同的要求。本实施例将格式配置数据与目标数据分割,不用对不同烧录分别编写程序,只需要准备对应的格式配置数据或格式配置文件即可,极大减少工作量。
步骤S103,将转换格式的目标数据按照时序数据,烧录入芯片的存储地址,并刷新芯片的当前可烧录次数。
在本申请实施例中,可以采用现有的任意烧录技术将转换为烧录格式的目标数据,按照之前接收的时序数据烧录入芯片中的存储地址。并在烧录过程中,或烧录完成后刷新芯片的当前可烧录次数,其中,如果芯片中预设有表征芯片没有被烧录过的标志位,则采用覆盖标志位或删除标志位的方式来刷新当前可烧录次数;如果芯片中预设有表征芯片可烧录次数的标志位,则采用标志位减一的方式来刷新当前可烧录次数,以便于后续烧录前的可烧录次数检测。
较优的,在通过步骤S103烧录目标数据前,还可以先根据芯片中的可存储空间、转换后的目标数据和时序数据等参数,来模拟烧录目标数据,以在正式烧录前发现可能存在的烧录问题。
步骤S104,检验目标数据是否烧录入芯片中。
在具体实施过程中,检测目标数据是否烧录入芯片的方式可以有多种,下面列举两种为例:
第一种,设置检验位。
即芯片中的指定位置预先存储有检验位,在烧录的过程中,或烧录之后,会根据目标数据的参数和预设的检验位更新算法,更新该检验位。在烧录完成后,通过检测检验位,确定目标数据是否烧录入芯片中。
举例来讲,假设初始的检验位为0,在烧录完成后,将目标数据所占用的存储空间的大小A累加到检验位上,即0+A=A,当检测到检验位为A时,认为烧录成功,当检验位不为A时,认为烧录出错。
再例如,假设初始的检验位为0,在烧录完成后,将目标数据的烧录次数K,累加到检验位后,即0K,当检测到检验位为0K时,认为烧录成功,当检验位不为0K时,认为烧录出错。
具体来讲,设置检验位来检验目标数据是否烧录入芯片中,可以设置不同的检验位更新算法来验证烧录是否完成、烧录次数是否符合要求或烧录的数据是否完整等,能准确发现和定位出烧录问题,且在检验时不需要进行计算,能有效提高检验效率。
第二种,读取芯片数据。
即烧录完成后,读取芯片中当前存储的数据,并与目标数据进行比对来检验烧录是否成功。
当然,在具体实施过程中,不限于上述两种检验烧录是否成功的方式,在此不作限制,也不再一一列举。
本实施例提供的方案,将时序数据、格式配置数据、次数检测及烧录检验等于需要烧录的目标数据剥离,不需要为不同的目标数据、不同的芯片分别编写烧录程序,极大减少工作量。
基于同一发明构思,本发明实施例还提供了实施例一中方法对应的装置,见实施例二。
实施例二
如图2所示,提供一种烧录装置,包括:
时序配置转换接口201,用于按预设规则接收设置的时序数据;
检测模块202,用于检测芯片的当前可烧录次数;
转换模块203,用于如果所述当前可烧录次数满足要求,则为目标数据分配存储地址,并将所述目标数据转换为烧录格式;
烧录模块204,用于将转换格式的目标数据按照所述时序数据,烧录入所述芯片的所述存储地址,并刷新所述芯片的当前可烧录次数;
检验模块205,用于检验所述目标数据是否烧录入所述芯片中。
在本申请实施例中,时序配置转换接口201还用于:
接收按照预设的关键字表格设置的时序数据;其中,所述时序数据为时序配置文件或输入到交互界面上的数据。
由于本发明实施例二所介绍的装置,为实施本发明实施例一的方法所采用的装置,故而基于本发明实施例一所介绍的方法,本领域所属人员能够了解该装置的具体结构及变形,故而在此不再赘述。凡是本发明实施例一的方法所采用的装置都属于本发明所欲保护的范围。
基于同一发明构思,本发明实施例还提供了实施例一中方法对应的电子设备,见实施例三。
实施例三
如图3所示,本实施例提供一种电子设备,包括存储器310、处理器320及存储在存储器310上并可在处理器320上运行的计算机程序311,所述处理器320执行所述计算机程序311时实现以下步骤:
通过时序配置转换接口按预设规则接收设置的时序数据,并检测芯片的当前可烧录次数;
如果所述当前可烧录次数满足要求,则为目标数据分配存储地址,并将所述目标数据转换为烧录格式;
将转换格式的目标数据按照所述时序数据,烧录入所述芯片的所述存储地址,并刷新所述芯片的当前可烧录次数;
检验所述目标数据是否烧录入所述芯片中。
在本发明实施例中,所述处理器320执行所述计算机程序311时可以实现本发明实施例一中任一实施方式。
由于本发明实施例三所介绍的电子设备,为实施本发明实施例一的方法所采用的设备,故而基于本发明实施例一所介绍的方法,本领域所属人员能够了解该设备的具体结构及变形,故而在此不再赘述。凡是本发明实施例一的方法所采用的设备都属于本发明所欲保护的范围。
基于同一发明构思,本发明实施例还提供了实施例一中方法对应的存储介质,见实施例四。
实施例四
本实施例提供一种计算机可读存储介质400,如图4所示,其上存储有计算机程序411,其特征在于,该计算机程序411被处理器执行时实现以下步骤:
通过时序配置转换接口按预设规则接收设置的时序数据,并检测芯片的当前可烧录次数;
如果所述当前可烧录次数满足要求,则为目标数据分配存储地址,并将所述目标数据转换为烧录格式;
将转换格式的目标数据按照所述时序数据,烧录入所述芯片的所述存储地址,并刷新所述芯片的当前可烧录次数;
检验所述目标数据是否烧录入所述芯片中。
在具体实施过程中,该计算机程序411被处理器执行时,可以实现本发明实施例一中任一实施方式。
本发明实施例中提供的技术方案,至少具有如下技术效果或优点:
本发明实施例提供的烧录方法、装置、电子设备及介质,将时序配置与需烧录的数据剥离,通过时序配置转换接口来接收时序数据,并自动检测芯片的可烧录次数、进行目标数据格式转换、烧录、更新烧录次数和检验烧录结果,只要按预设规则准备各个需烧录数据对应的时序数据,不需要为每次烧录编写对应的烧录代码或软件,极大的减少了工作量,节约时间和人力。
在此提供的算法和显示不与任何特定计算机、虚拟系统或者其它设备固有相关。各种通用系统也可以与基于在此的示教一起使用。根据上面的描述,构造这类系统所要求的结构是显而易见的。此外,本发明也不针对任何特定编程语言。应当明白,可以利用各种编程语言实现在此描述的本发明的内容,并且上面对特定语言所做的描述是为了披露本发明的最佳实施方式。
在此处所提供的说明书中,说明了大量具体细节。然而,能够理解,本发明的实施例可以在没有这些具体细节的情况下实践。在一些实例中,并未详细示出公知的方法、结构和技术,以便不模糊对本说明书的理解。
类似地,应当理解,为了精简本公开并帮助理解各个发明方面中的一个或多个,在上面对本发明的示例性实施例的描述中,本发明的各个特征有时被一起分组到单个实施例、图、或者对其的描述中。然而,并不应将该公开的方法解释成反映如下意图:即所要求保护的本发明要求比在每个权利要求中所明确记载的特征更多的特征。更确切地说,如下面的权利要求书所反映的那样,发明方面在于少于前面公开的单个实施例的所有特征。因此,遵循具体实施方式的权利要求书由此明确地并入该具体实施方式,其中每个权利要求本身都作为本发明的单独实施例。
本领域那些技术人员可以理解,可以对实施例中的设备中的模块进行自适应性地改变并且把它们设置在与该实施例不同的一个或多个设备中。可以把实施例中的模块或单元或组件组合成一个模块或单元或组件,以及此外可以把它们分成多个子模块或子单元或子组件。除了这样的特征和/或过程或者单元中的至少一些是相互排斥之外,可以采用任何组合对本说明书(包括伴随的权利要求、摘要和附图)中公开的所有特征以及如此公开的任何方法或者设备的所有过程或单元进行组合。除非另外明确陈述,本说明书(包括伴随的权利要求、摘要和附图)中公开的每个特征可以由提供相同、等同或相似目的的替代特征来代替。
此外,本领域的技术人员能够理解,尽管在此的一些实施例包括其它实施例中所包括的某些特征而不是其它特征,但是不同实施例的特征的组合意味着处于本发明的范围之内并且形成不同的实施例。例如,在下面的权利要求书中,所要求保护的实施例的任意之一都可以以任意的组合方式来使用。
本发明的各个部件实施例可以以硬件实现,或者以在一个或者多个处理器上运行的软件模块实现,或者以它们的组合实现。本领域的技术人员应当理解,可以在实践中使用微处理器或者数字信号处理器(DSP)来实现根据本发明实施例的网关、代理服务器、系统中的一些或者全部部件的一些或者全部功能。本发明还可以实现为用于执行这里所描述的方法的一部分或者全部的设备或者装置程序(例如,计算机程序和计算机程序产品)。这样的实现本发明的程序可以存储在计算机可读介质上,或者可以具有一个或者多个信号的形式。这样的信号可以从因特网网站上下载得到,或者在载体信号上提供,或者以任何其他形式提供。
应该注意的是上述实施例对本发明进行说明而不是对本发明进行限制,并且本领域技术人员在不脱离所附权利要求的范围的情况下可设计出替换实施例。在权利要求中,不应将位于括号之间的任何参考符号构造成对权利要求的限制。单词“包含”不排除存在未列在权利要求中的部件或步骤。位于部件之前的单词“一”或“一个”不排除存在多个这样的部件。本发明可以借助于包括有若干不同部件的硬件以及借助于适当编程的计算机来实现。在列举了若干装置的单元权利要求中,这些装置中的若干个可以是通过同一个硬件项来具体体现。单词第一、第二、以及第三等的使用不表示任何顺序。可将这些单词解释为名称。

Claims (10)

1.一种烧录方法,其特征在于,包括:
通过时序配置转换接口按预设规则接收设置的时序数据,并检测芯片的当前可烧录次数;
如果所述当前可烧录次数满足要求,则为目标数据分配存储地址,并将所述目标数据转换为烧录格式;
将转换格式的目标数据按照所述时序数据,烧录入所述芯片的所述存储地址,并刷新所述芯片的当前可烧录次数;
检验所述目标数据是否烧录入所述芯片中。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述时序数据包括:
通过时序配置转换接口来接收按照预设的关键字表格设置的时序数据;其中,所述时序数据为时序配置文件或输入到交互界面上的数据。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述检测芯片的当前可烧录次数,包括:
检测所述芯片中预设的标志位,根据所述标志位确定所述当前可烧录次数。
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将所述目标数据转换为烧录格式,包括:
根据预设的格式配置文件,转换所述目标数据的格式为烧录格式,所述烧录格式为所述格式配置文件中规定的格式。
5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述存储地址包括:烧录区域地址和检测区域地址,所述烧录区域为存储所述目标数据的区域,所述检测区域为读取所述烧录区域中存储的数据来用于检测的区域。
6.如权利要求1所述的方法,其特征在于,
在将转换格式的目标数据烧录入所述芯片的所述存储地址之后,还包括:根据所述目标数据的参数和预设的检验位更新算法,更新所述芯片中预设的检验位;
所述检验所述目标数据是否烧录入所述芯片中,包括:
检测所述检验位,根据所述检验位确定所述目标数据是否烧录入所述芯片中。
7.一种烧录装置,其特征在于,包括:
时序配置转换接口,用于按预设规则接收设置的时序数据;
检测模块,用于检测芯片的当前可烧录次数;
转换模块,用于如果所述当前可烧录次数满足要求,则为目标数据分配存储地址,并将所述目标数据转换为烧录格式;
烧录模块,用于将转换格式的目标数据按照所述时序数据,烧录入所述芯片的所述存储地址,并刷新所述芯片的当前可烧录次数;
检验模块,用于检验所述目标数据是否烧录入所述芯片中。
8.如权利要求7所述的装置,其特征在于,所述时序配置转换接口还用于:
接收按照预设的关键字表格设置的时序数据;其中,所述时序数据为时序配置文件或输入到交互界面上的数据。
9.一种电子设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述程序时实现以下步骤:
通过时序配置转换接口按预设规则接收设置的时序数据,并检测芯片的当前可烧录次数;
如果所述当前可烧录次数满足要求,则为目标数据分配存储地址,并将所述目标数据转换为烧录格式;
将转换格式的目标数据按照所述时序数据,烧录入所述芯片的所述存储地址,并刷新所述芯片的当前可烧录次数;
检验所述目标数据是否烧录入所述芯片中。
10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行时实现以下步骤:
通过时序配置转换接口按预设规则接收设置的时序数据,并检测芯片的当前可烧录次数;
如果所述当前可烧录次数满足要求,则为目标数据分配存储地址,并将所述目标数据转换为烧录格式;
将转换格式的目标数据按照所述时序数据,烧录入所述芯片的所述存储地址,并刷新所述芯片的当前可烧录次数;
检验所述目标数据是否烧录入所述芯片中。
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