CN109564340B - 获取图像数据的方法和布置 - Google Patents

获取图像数据的方法和布置 Download PDF

Info

Publication number
CN109564340B
CN109564340B CN201780050333.7A CN201780050333A CN109564340B CN 109564340 B CN109564340 B CN 109564340B CN 201780050333 A CN201780050333 A CN 201780050333A CN 109564340 B CN109564340 B CN 109564340B
Authority
CN
China
Prior art keywords
illumination
function
image data
pixel
intensity
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201780050333.7A
Other languages
English (en)
Other versions
CN109564340A (zh
Inventor
M.李德克
J.哈尔斯特里希
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Carl Zeiss Microscopy GmbH
Original Assignee
Carl Zeiss Microscopy GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Carl Zeiss Microscopy GmbH filed Critical Carl Zeiss Microscopy GmbH
Publication of CN109564340A publication Critical patent/CN109564340A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN109564340B publication Critical patent/CN109564340B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00—Microscopes
    • G02B21/16—Microscopes adapted for ultraviolet illumination ; Fluorescence microscopes
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00—Microscopes
    • G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002—Scanning microscopes
    • G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0032—Optical details of illumination, e.g. light-sources, pinholes, beam splitters, slits, fibers
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00—Microscopes
    • G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002—Scanning microscopes
    • G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0052—Optical details of the image generation
    • G02B21/0076—Optical details of the image generation arrangements using fluorescence or luminescence
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00—Microscopes
    • G02B21/36—Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
    • G02B21/365—Control or image processing arrangements for digital or video microscopes
    • G02B21/367—Control or image processing arrangements for digital or video microscopes providing an output produced by processing a plurality of individual source images, e.g. image tiling, montage, composite images, depth sectioning, image comparison
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/70—Circuitry for compensating brightness variation in the scene
    • H04N23/741—Circuitry for compensating brightness variation in the scene by increasing the dynamic range of the image compared to the dynamic range of the electronic image sensors
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N3/00—Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages
    • H04N3/10—Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by means not exclusively optical-mechanical

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Abstract

本发明涉及一种获取图像数据的方法，其中在具有相应选择的强度的照明光(BL)的多个照明事件中照明将要成像的样品(6)的像素区域(PB)，该强度彼此不同，并且随后针对强度中的每一个获取分别来自像素区域(PB)的检测光(DL)作为子像素(SP1至SP4)的图像数据项，并且从子像素(SP1至SP4)的所检测的图像数据的数目获取像素区域(PB)的产生的图像数据项。根据本发明，连续触发照明事件。在照明其他像素区域(PB)之前获取像素区域(PB)的所有子像素(SP1至SP4)的图像数据。本发明还涉及获取图像数据项的布置(1)并且涉及具有这样的布置(1)的显微镜(0)。

Description

获取图像数据的方法和布置
技术领域
本发明涉及获取图像的方法和布置。
背景技术
对于逐个像素获取图像数据，例如使用动态图像记录的方法，其中用不同的照明强度常规地照明样品或样品区域的多个记录、检测自样品发出的检测光并且以这种方法所获取的图像数据相互抵消。
通过具有不同曝光时间的多个单图像记录，可以用良好的信噪比分别测量暗图像区域和亮图像区域二者。然后可以计算所述的图像区域以形成具有增强的动态的整个图像，其中亮区域和暗区域二者以高对比度渲染(称为高动态范围成像；HDRI；A.贝尔等：“高动态范围图像作为在变化的染色强度下检测嗜银核仁组织区域的基础(High DynamicRange Images as a Basis for Detection of Argyrophilic Nucleolar OrganizerRegions Under Varying Stain lntensities)”，图像处理的IEEE国际会议的论文集，ICIP2006，2514-2544)。代替不同的曝光时间，在所激发的荧光作为检测光的情况下可以使用不同激发强度。在顺序的单图像记录或多个单图像记录的情况下，照明间隔(也就是说在像素区域被照明的期间的总时间)由彼此分离的照明事件构成。在像素区域的单独照明事件之间获取其他像素区域的图像数据。
在其他已知的方法中，根据检测光的所检测的信号强度调节曝光强度。当使用所谓的CLEM方法(受控制的光曝光显微术)时，根据检测光的所捕获的信号强度进行消隐。
尽管使用顺序记录的方法使得以良好的信噪比分别测量暗图像区域和亮图像区域二者并且可以计算所述图像区域以形成具有增强动态的整个图像成为可能，但是这些方法是复杂且缓慢的。
作为顺序记录单独图像的替代例，EP 1 761 071 A1例如公开了通过不对称的光束分离同时记录不同对比度范围的单个图像。然而不可避免地，这需要在多个通道和多个光电检测器之上分割光信号，这表示附加的噪声源。通过单独通道中的信号强度进一步降低信噪比(SNR)，信号强度由于分割而减弱。
在WO 2011/038815 A1中描述了其他方法。为了提出复杂且缓慢的顺序记录的替代例、为了产生各种样品区域的整个图像，根据结果信号和/或根据多个平行评估通道中的一个的中间结果信号来选择多个评估方法(SPC1 ADC、2D-PC)中的一个。来自各种信号评估的指定区域选择使得使用具有相关的样品区域的最佳动态范围的相应信号评估成为可能。得到的图像由此获得增强动态范围，起因于单独图像元素的动态范围的合并。
US 2010/0208339 A1公开了操作显微镜的方法，其中将激发光指引到样品的不同点上。在这种情况下，在这些点的每一点中的激发光的强度改变，并且针对每一点量化地检测至少一个光谱范围中的检测光的强度。通过调节系统自动调节激发光的强度和/或激发光的光谱构成。检测光的强度的先前编译的测量数据充当调节的基数据，其中曝光事件的持续时间之上所积分的强度不会超过规定值。在还被称为DIM的该进程中，在曝光周期期间调节曝光强度。
发明内容
本发明基于提出获取图像数据的替代方法的目的，该替代方法还是易于实施的。本发明还基于提出获取图像数据的替代布置的目的。
该目的由通过下文所述的特征的方法来实现。该目的由通过下文所述的特征的布置来实现。本发明的有利的配置公开如下。
本发明公开了一种获取图像数据的方法，其中在具有相应选择的强度的照明光的多个照明事件中照明将要成像的样品的像素区域，该强度彼此不同，并且随后针对所述强度中的每一个获取从相应的像素区域发出的检测光作为子像素的图像数据，并且从所述子像素的所获取的图像数据的数目确定所述像素区域的产生的图像数据，所述方法的特征在于，连续地触发所述照明事件；以及在照明其他像素区域之前获取所述像素区域的所有子像素的图像数据，其中所述将要成像的样品的像素区域是一样品区域，该样品区域以指定的放大率对应于由收集的图像数据得出的图像的正好一个像素。
在一实施例中，以持续递增的强度或者以持续递减的强度产生连续照明事件。
在一实施例中，借助于选择阶梯函数的函数值、基于所述阶梯函数的所选择的函数值产生控制命令并且通过所产生的控制命令致动照明装置，基于所述阶梯函数选择像素区域的连续照明事件的强度。
在一实施例中，借助于选择正弦函数的函数值、基于所述正弦函数的所选择的函数值产生控制命令并且通过所产生的控制命令致动照明装置，基于所述正弦函数选择像素区域的连续照明事件的强度。
在一实施例中，开关元件用于产生所述照明事件，所述开关元件的暂时上升响应能够由阶梯函数或正弦函数来表示。
在一实施例中，AOTF用作开关元件以产生所述照明事件。
本发明还公开了一种获取图像数据的布置，所述布置包括照明装置、检测器和控制单元，所述照明装置以各自不同的强度的照明光反复照明将要成像的样品的像素区域，所述检测器针对每个照明事件检测随后从所述像素区域发出的检测光作为子像素的图像数据，以及所述控制单元致动所述照明装置以便于在照明事件期间以所述照明光的相应强度照明相应的像素区域，其特征在于，所述控制单元配置为使得借助于选择函数的函数值、基于所述函数的所选择的函数值产生控制命令并且提供所产生的控制命令以致动所述照明装置，基于规定的函数选择相应的强度，其中所述将要成像的样品的像素区域是一样品区域，该样品区域以指定的放大率对应于由收集的图像数据得出的图像的正好一个像素。
在一实施例中，出现能够由所述控制单元致动的开关元件，所述开关元件的暂时上升响应能够由阶梯函数或正弦函数来表示。
在一实施例中，所述开关元件是AOTF、AOM、EOM、AOBS或者直接调制的光源。
本发明还公开了一种显微镜，所述显微镜包括上文所述的布置。
在所提出的获取图像数据的方法中，用各自不同强度的照明光反复地(至少两次)照明将要成像的样品的像素区域。因为照明，对于每个照明事件获取从像素区域发出的检测光作为子像素的图像数据。从相关的像素区域的子像素的所获取的图像数据的数目确定像素区域的产生的图像数据。
该方法的特征在于像素区域的照明事件被连续触发的事实，并且在于在照明其他像素区域之前获取像素区域的所有子像素的图像数据。
像素(图像元素)被认为是图像由其构成的最小单元。在本说明书中，将要成像的样品的像素区域旨在是像素(也就是说对应于图像的像素)中以指定的放大率成像的样品的区域。
因为在从相应照明事件期间所获取的图像数据确定(例如计算出)相关的像素区域的以及因此相关像素的产生的图像数据之前反复地照明每个像素区域，而出现与相应强度的每个像素区域关联的图像数据。
以所选择的强度之一的照明光对像素区域的任何照明构成照明事件。以相应选择的强度所照明的像素区域被称为子像素。照明间隔(称为像素驻留时间)分别由至少两个照明事件以及它们相应的时间周期构成。为了简化，子像素随后等同于照明事件。照明间隔因此分别由至少两个子像素以及它们相应的时间周期构成。
用作照明光的是至少成比例地由样品反射且作为检测光的光和/或通过其位于样品中的分子被激发以发射例如荧光的光且作为检测光的光。特别地当以点状的方式(扫描)采样像素区域时，有利地，照明光是激光。
因此检测光可以是荧光和/或照明光的反射的光谱部分。
根据本发明的方法区别于已知的方法在于，在最短可能的时间内完全得到像素区域的图像数据的获取。这有利地防止像素区域被精确地打击，例如在更新的照明的情况下对其顺序记录的情况下和/或在更新的照明和图像数据的获取发生之前基于时间已经改变像素区域的性质的情况下。后者特别是在生物样品中是相关的。有利地，保护了用于检测检测光的检测器并且通过根据本发明的方法显著地降低了样品上的负载。此外，在对样品的准调制的照明的情况下，有利地影响可能出现在样品中和/或样品上的荧光团。
在照明其他像素区域之前获取像素区域的所有子像素的图像数据的陈述是指所用的照明装置或照明束路径。在方法的可能的配置中，如果多个照明装置和/或多个照明束路径例如用于样品的多点采样，则在照明下一个像素区域之前通过每个照明装置或每个照明束路径照明并且获取像素区域的所有子像素。
在方法的可能的配置中，以持续递增的强度或者以持续递减的强度产生连续照明事件。通过方法的这个配置，借助于基于开关元件的已知的暂时上升响应来选择递增或递减强度，可以有利地利用用于执行方法的开关元件的暂时上升响应。
在方法的可能的配置中，借助于选择阶梯函数的函数值，基于阶梯函数选择连续照明事件的强度或像素区域的子像素。在这种情况下，可以针对阶梯函数的阶梯中的每一个有利地选择函数值，因为这些在时间周期内是恒定的。
基于阶梯函数的所选择的函数值产生控制命令，所述控制命令用于致动照明装置。
在此，如果阶梯函数的阶梯在它们的时间顺序和持续时间方面对应于照明事件或子像素，则是非常有利的。特别是当动态地(也就是说周期地或持续地)选择函数值时这是显著的。在这种情况下，如果选择的函数值在容许的公差极限内，则可以周期地或持续地产生控制命令和/或周期地或持续地检查控制命令。
如果照明事件具有非常短的持续时间，即实现短像素驻留时间，则阶梯相应地渐小。在这样的情况下，可以使用正弦函数，其中必须考虑在图像数据的随后评估中在照明事件或子像素期间产生的照明和强度的非线性。
因此，在方法的其他配置中，借助于选择正弦函数的函数值、基于正弦函数的所选择的函数值产生控制命令以及通过产生的控制命令致动照明装置，基于正弦函数，可选择像素区域的连续照明事件的强度。当例如ATOF或AOTF晶体用作调制开关元件时，方法的这个配置使得例如对于1μs(微秒)的照明间隔的调制频率为500kHz成为可能。
如果在该方法的其他配置中选择其他方法，则可以是高于或低于500kHz的其他调制频率也是可能的。其他方法例如采用直接调制光源，特别是激光、声光调制器(AOM)、电光调制器(EOM)或声光分束器(AOBS)。
阶梯函数或正弦函数表示致动曲线或致动函数。控制命令是用合适的机器语言的命令。
为了执行方法，开关元件有利地用于控制照明事件，所述开关元件的暂时上升响应能够由阶梯函数或正弦函数来表示。
这样的开关元件可以例如是AOTF(声光滤波器)、EOM、AOBS或直接调制的激光器。
在获取图像数据的布置方面通过布置实现目的，该布置包括以各自不同的强度的照明光反复照明将要成像的样品的像素区域的照明装置。此外，该布置具有检测器和控制单元：该检测器针对每个照明事件检测随后从像素区域发出的检测光作为子像素的图像数据，并且该控制单元致动照明装置。控制单元用来并且设计为，在照明事件或子像素期间以照明光的相应选择强度来照明相应像素区域。
该布置的特征在于，控制单元配置为使得借助于选择函数的函数值、基于函数的所选择的函数值产生控制命令以及提供所产生的控制命令以致动照明装置，基于规定的函数来选择相应选择且所用的强度。
可以由发生器来产生控制命令，该发生器是控制单元的部件或者以适合于数据交换的方式加入到控制单元。
在布置的其他配置中，控制单元包括开关元件，可以由阶梯函数或由正弦函数来表示该开关元件的暂时上升响应。例如可以图形化或通过数学计算规范来表示函数。开关元件有利地是AOTF。
在激光扫描显微镜中可以有利地出现根据本发明的布置。
附图说明
下面基于示例性实施例和附图更详细地解释本发明。附图中：
图1示出了三个连续照明事件、其子像素以及两个阶梯函数和正弦函数的示例的示意图；以及
图2示出了具有获取图像数据的布置的显微镜的示例性实施例的示意图。
具体实施方式
图1以x轴为时间轴线的曲线图示意性示出了三个连续照明间隔B1至B3。在每个照明间隔B1至B3(还称为像素驻留时间)期间，在相同持续时间之上以具有四个各自不同强度的照明光BL照明像素区域PB(参见图2)，对于第一照明间隔B1表示为第一至第四子像素SP1至SP4。
图1作为示例示出了可以用在根据本发明的方法中的三种可能的函数类型的概览。函数的函数值被绘制在y轴Y的方向上。
第一阶梯函数SF1随着照明间隔B1至B3的持续时间逐步升高，其中关于暂时的位置及其持续时间每一阶梯对应于相关照明间隔B1至B3中的相应的子像素SP1至SP4。在每个照明间隔B1至B3的结束时，第一阶梯函数SF1跳回至起始值。第一阶梯函数SF1因此在每个照明间隔B1至B3期间以离散的阶梯增加。
第二阶梯函数SF2随着第一照明间隔B1的持续时间逐步升高，随着第二照明间隔B2的持续时间逐步降低，再次随着第三照明间隔B3的持续时间逐步升高。
对于每个照明间隔B1至B3，正弦函数Fsin通过半个振荡周期。
图2中示意性示出了图像获取的布置1的示例性实施例。布置1是显微镜0(未更详细示出)的部分并且包括以各自不同的强度的照明光BL反复照明将要成像的样品6的像素区域PB的照明装置2。照明装置2包括激光的光源2.1以及对照明光BL的强度进行受控制的影响的开关元件3。在开关元件3(在这种情况下形式为AOTF)中调制照明光BL的强度。调制的照明光BL入射在形式为半透明反射镜4的分色器上，并且通过半透明反射镜4穿过物镜5在像素区域PB中反射到样品6上。在照明的像素区域PB中，由照明光BL的效应产生检测光DL。例如，样品6的分子被激发以产生荧光辐射作为检测光DL。检测光DL穿过物镜5行进至半透明反射镜4，其对于检测光DL的波长是透射式的。通过检测器7检测透射的检测光DL。
开关元件3和检测器7通过数据通道(示意性示出的)被连接到控制单元8并且由此可以被致动。此外，可以由控制单元8读出检测器7。
为了能够在计算和储存单元9上传输由检测器7读出的数据，将控制单元8连接到计算和储存单元9。
在其他可能的实施例中，以适合于数据和控制命令的传输的方式将控制单元8附加地或替代地连接到光源2.1。
例如通过线缆、导体、无线电和/或光传输路径实现这样的连接或数据通道。
为了实行根据本发明的方法，选择图1所示的函数SF1、SF2和Fsin之一并且使其可用于控制单元8。此外，预先设定以下事实：针对每个照明间隔B1至B3旨在确定相等长度的四个子像素SP1至SP4的图像数据。
作为示例，其他解释参考第一阶梯函数SF1。
控制单元8配置为，使得借助于选择第一阶梯函数SF1的函数值、基于规定的第一阶梯函数SF1选择强度。随着时间(x轴X)绘制的函数值(y轴Y)表示与时间点关联的照明光BL的强度。
在示例性实施例中，动态选择第一阶梯函数SF1的所有函数值，也就是说基于第一阶梯函数SF1随时间持续地确定(例如计算出或读出)函数值。将所选择的函数值中的每一个翻译成命令，该命令适合于致动开关元件3。提供产生的控制命令以致动照明装置2，在示例性实施例中特别地致动开关元件3，并且使用所述控制命令致动照明装置2。
在第一照明间隔B1期间，用第一强度的照明光BL在第一子像素SP1的周期上照明像素区域PB，其中由在时间方面与第一子像素SP1对应的第一阶梯函数SF1的阶梯的函数值给定第一强度。通过物镜5收集像素区域PB中由于具有第一强度的照明光BL所引起的检测光DL并且将该检测光DL偏转到检测器7上，通过该检测器7以至少一个测量值(图像数据)的形式检测该检测光DL并且以与像素区域PB和第一子像素SP1关联的方式储存该检测光。
还如上所述针对子像素SP2至SP4中的每一个执行该方法。在第一照明事件B1的结束时，确定从子像素SP1至SP4的图像数据所产生的像素区域PB的图像数据。
储存子像素SP1至SP4的图像数据还可以被执行在控制单元8中，该控制单元8还可以配置为评估单元。
然后，通过根据本发明的方法，关于作为示例示出的照明间隔B2和B3，针对其他像素区域PB确定产生的图像数据。因此，可以从大量的图像区域PB的产生的图像数据编译样品6的图像文件。还可以通过控制单元8执行这些步骤。
为了使例如传输到计算和储存单元9的图像文件中的数据量最小化，根据本发明的方法尽可能是局部的，特别是通过出于该目的配置且装备的控制单元8。
附图标记
0 显微镜
1 布置
2 照明装置
2.1 光源
3 开关元件
4 半透明反射镜
5 物镜
6 样品
7 检测器
8 控制单元
9 计算和储存单元
SF1 第一函数
SF2 第二函数
Fsin 正弦函数
BL 照明光
DL 检测光
PB 像素区域
SP1 第一子像素
SP2 第二子像素
SP3 第三子像素
SP4 第四子像素
B1至B3 第一至第三照明间隔
X X轴
Y 轴

Claims (10)

1.一种获取图像数据的方法，
其中在具有相应选择的强度的照明光(BL)的多个照明事件中照明将要成像的样品(6)的像素区域(PB)，该强度彼此不同，并且随后针对所述强度中的每一个获取从相应的像素区域(PB)发出的检测光(DL)作为子像素(SP1至SP4)的图像数据，并且从所述子像素(SP1至SP4)的所获取的图像数据的数目确定所述像素区域(PB)的产生的图像数据，
其特征在于
-连续地触发所述照明事件；以及
-在照明其他像素区域(PB)之前获取所述像素区域(PB)的所有子像素(SP1至SP4)的图像数据，
其中所述将要成像的样品的像素区域是一样品区域，该样品区域以指定的放大率对应于由收集的图像数据得出的图像的正好一个像素。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，以持续递增的强度或者以持续递减的强度产生连续照明事件。
3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，借助于选择阶梯函数(SF1、SF2)的函数值、基于所述阶梯函数(SF1、SF2)的所选择的函数值产生控制命令并且通过所产生的控制命令致动照明装置(2)，基于所述阶梯函数(SF1、SF2)选择像素区域(PB)的连续照明事件的强度。
4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，借助于选择正弦函数(Fsin)的函数值、基于所述正弦函数(Fsin)的所选择的函数值产生控制命令并且通过所产生的控制命令致动照明装置(2)，基于所述正弦函数(Fsin)选择像素区域(PB)的连续照明事件的强度。
5.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，开关元件(3)用于产生所述照明事件，所述开关元件的暂时上升响应能够由阶梯函数(SF1、SF2)或正弦函数(Fsin)来表示。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，AOTF用作开关元件(3)以产生所述照明事件。
7.一种获取图像数据的布置(1)，所述布置包括照明装置(2)、检测器(7)和控制单元(8)，所述照明装置(2)以各自不同的强度的照明光(BL)反复照明将要成像的样品(6)的像素区域(PB)，所述检测器(7)针对每个照明事件检测随后从所述像素区域(PB)发出的检测光(DL)作为子像素(SP1、SP2、SP3、SP4)的图像数据，以及所述控制单元(8)致动所述照明装置(2)以便于在照明事件期间以所述照明光(BL)的相应强度照明相应的像素区域(PB)，其特征在于，所述控制单元(8)配置为使得借助于选择函数(SF1、SF2、Fsin)的函数值、基于所述函数(SF1、SF2、Fsin)的所选择的函数值产生控制命令并且提供所产生的控制命令以致动所述照明装置(2)，基于规定的函数(SF1、SF2、Fsin)选择相应的强度，其中所述将要成像的样品的像素区域是一样品区域，该样品区域以指定的放大率对应于由收集的图像数据得出的图像的正好一个像素。
8.根据权利要求7所述的布置(1)，其特征在于，出现能够由所述控制单元(8)致动的开关元件(3)，所述开关元件的暂时上升响应能够由阶梯函数(SF1、SF2)或正弦函数(Fsin)来表示。
9.根据权利要求8所述的布置(1)，其特征在于，所述开关元件(3)是AOTF、AOM、EOM、AOBS或者直接调制的光源(2.1)。
10.一种显微镜(0)，所述显微镜(0)包括权利要求7至9中任一项所述的布置(1)。
CN201780050333.7A 2016-08-15 2017-08-14 获取图像数据的方法和布置 Active CN109564340B (zh)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102016215177.0A DE102016215177A1 (de) 2016-08-15 2016-08-15 Verfahren und Anordnung zur Erfassung von Bilddaten
DE102016215177.0 2016-08-15
PCT/EP2017/070533 WO2018033497A1 (de) 2016-08-15 2017-08-14 Verfahren und anordnung zur erfassung von bilddaten

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN109564340A CN109564340A (zh) 2019-04-02
CN109564340B true CN109564340B (zh) 2021-09-07

Family

ID=59738296

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201780050333.7A Active CN109564340B (zh) 2016-08-15 2017-08-14 获取图像数据的方法和布置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US10841506B2 (zh)
CN (1) CN109564340B (zh)
DE (1) DE102016215177A1 (zh)
WO (1) WO2018033497A1 (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11221476B2 (en) * 2017-10-12 2022-01-11 Howard Hughes Medical Institute High-resolution, real-time imaging with adaptive optics and lattice light sheets

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102939555A (zh) * 2010-06-11 2013-02-20 株式会社尼康 显微镜装置、观察方法
WO2015091634A1 (de) * 2013-12-17 2015-06-25 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren zur scanning-mikroskopie und scanning-mikroskop

Family Cites Families (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5263037A (en) * 1990-08-01 1993-11-16 Hewlett-Packard Company Optical oscillator sweeper
US5216484A (en) * 1991-12-09 1993-06-01 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Real-time imaging spectrometer
US5528368A (en) * 1992-03-06 1996-06-18 The United States Of America As Represented By The Department Of Health And Human Services Spectroscopic imaging device employing imaging quality spectral filters
US5377003A (en) * 1992-03-06 1994-12-27 The United States Of America As Represented By The Department Of Health And Human Services Spectroscopic imaging device employing imaging quality spectral filters
US5379065A (en) * 1992-06-22 1995-01-03 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Programmable hyperspectral image mapper with on-array processing
US5606413A (en) * 1995-01-19 1997-02-25 Northrop Grumman Corporation Real time spectroscopic imaging system and method
US6353673B1 (en) * 2000-04-27 2002-03-05 Physical Optics Corporation Real-time opto-electronic image processor
DE10043992B4 (de) * 2000-09-05 2013-12-24 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren zur Untersuchung einer Probe und konfokales Scan-Mikroskop
DE10043986B4 (de) * 2000-09-05 2020-01-16 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren zur Untersuchung einer Probe und konfokales Scan-Mikroskop
DE10225838B4 (de) * 2002-06-11 2021-10-21 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren zur Scanmikroskopie, Scanmikroskop und Vorrichtung zum Codieren eines Beleuchtungslichtstrahles
GB0224067D0 (en) * 2002-10-16 2002-11-27 Perkinelmer Uk Ltd Improvements in and relating to imaging
US20050209012A1 (en) * 2004-03-19 2005-09-22 Jouppi Norman P Illumination system
US7316904B1 (en) * 2004-06-30 2008-01-08 Chromodynamics, Inc. Automated pap screening using optical detection of HPV with or without multispectral imaging
JP4788187B2 (ja) * 2005-05-02 2011-10-05 パナソニック電工株式会社 空間情報検出装置
EP1761071A1 (de) 2005-08-29 2007-03-07 Stueckler Gerd Verfahren zur Aufnahme eines Bildes und Digitalkamera
DE102005046754A1 (de) * 2005-09-29 2007-04-05 Carl Zeiss Jena Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur tiefenaufgelösten optischen Erfassung einer Probe
US8644911B1 (en) * 2006-06-30 2014-02-04 Hypermed Imaging, Inc. OxyVu-1 hyperspectral tissue oxygenation (HTO) measurement system
JP2008203710A (ja) * 2007-02-22 2008-09-04 Seiko Epson Corp 画像データ処理方法
DE102008034137A1 (de) 2007-09-28 2009-04-02 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Mikroskop und Verfahren zum Betreiben eines Mikroskops
DE102009043746A1 (de) 2009-09-30 2011-03-31 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Verfahren zum Erzeugen von Bildern mit erweitertem Dynamikumfang und optisches Gerät zur Durchführung eines solchen Verfahrens, insbesondere Laser-Scanning-Mikroskop
US10051240B2 (en) * 2010-06-14 2018-08-14 Howard Hughes Medical Institute Structured plane illumination microscopy
CN103502798A (zh) * 2011-04-05 2014-01-08 集成等离子光子学公司 集成等离子激元感测装置和设备
TWI434022B (zh) * 2011-11-29 2014-04-11 Univ Nat Taipei Technology 彩色共焦顯微系統及其訊號處理方法
CN104081250B (zh) * 2012-01-26 2017-10-03 奥林巴斯株式会社 光扫描型观察装置
JP5996287B2 (ja) * 2012-06-12 2016-09-21 オリンパス株式会社 撮像装置、顕微鏡装置、内視鏡装置
US8933401B1 (en) * 2013-10-25 2015-01-13 Lawrence Livermore National Security, Llc System and method for compressive scanning electron microscopy
JP6214341B2 (ja) * 2013-10-30 2017-10-18 オリンパス株式会社 走査型レーザ顕微鏡装置
US9500846B2 (en) * 2014-03-17 2016-11-22 Howard Hughes Medical Institute Rapid adaptive optical microscopy over large multicellular volumes
US10247672B2 (en) * 2014-09-29 2019-04-02 Howard Hughes Medical Institute Non-linear structured illumination microscopy

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102939555A (zh) * 2010-06-11 2013-02-20 株式会社尼康 显微镜装置、观察方法
WO2015091634A1 (de) * 2013-12-17 2015-06-25 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren zur scanning-mikroskopie und scanning-mikroskop

Also Published As

Publication number Publication date
CN109564340A (zh) 2019-04-02
US10841506B2 (en) 2020-11-17
WO2018033497A1 (de) 2018-02-22
US20190208105A1 (en) 2019-07-04
DE102016215177A1 (de) 2018-02-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6300639B1 (en) Process and arrangement for the device configuration of confocal microscopes
JP6810025B2 (ja) 少なくとも２つの波長範囲を区別する高解像度走査型顕微鏡検査法
EP2732326B1 (en) Microscopy with adaptive optics
US9348127B2 (en) Methods and apparatuses for structured illumination microscopy
CN108139578B (zh) 分辨至少两个光谱范围的高分辨率扫描显微术
US6703621B2 (en) Method for the optical acquisition of characteristic sizes of an illuminated sample
JP4747243B2 (ja) 試料の光学的深部分解による光学的把握のための方法および装置
US9927226B2 (en) Method and configuration for depth resolved optical detection of an illuminated specimen
US20110267688A1 (en) Microscopy Method and Microscope With Enhanced Resolution
EP0978009B1 (de) Anordnung zum kalibrieren eines laserscanmikroskops
US9404867B2 (en) Luminescence microscopy
DE102007018048A1 (de) Verfahren und Anordnung zur optischen Abbildung mit Tiefendiskriminierung
DE102019008989B3 (de) Verfahren zur Störungskorrektur und Laserscanningmikroskop mit Störungskorrektur
US20160048014A1 (en) SPIM Arrangement
US7645971B2 (en) Image scanning apparatus and method
DE102004016253B4 (de) Rastermikroskop und Verfahren zur rastermikroskopischen Untersuchung einer Probe
CN111175259A (zh) 具有结构化照明的三维显微术的加速的方法和设备
US20130250088A1 (en) Multi-color confocal microscope and imaging methods
CN109564340B (zh) 获取图像数据的方法和布置
US20210003834A1 (en) Method and apparatus for optical confocal imaging, using a programmable array microscope
EP1947498A1 (en) Cofocal microscope
US20100134511A1 (en) Process for Generating Display Images from Acquired Recorded Images, and Means for Carrying out the Process
US7274506B2 (en) Adjustment of a microscope
DE202018103032U1 (de) Mikroskopiersystem zur Aufnahme eines Konfokalbildes und eines nicht-konfokalen Transmissionsbildes
US20040032651A1 (en) Method for scanning microscopy, and scanning microscope

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant