CN109542710A - 一种信号测试治具和信号测试方法 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 85
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 abstract description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 5
- 230000000712 assembly Effects 0.000 description 3
- 238000000429 assembly Methods 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
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Abstract
本发明公开了一种信号测试治具和信号测试方法。涉及硬件测试技术,解决了缺乏不同类型接口测试治具的问题。该信号测试治具包括PCB电路板及所述PCB电路板上设置的标准插槽;所述信号测试治具上还设置有至少一个不同类型的连接器,每个连接器通过所述PCB电路板连接至所述标准插槽,所述连接器在相应类型的待测试接口和所述标准插槽之间建立连接。本发明的技术方案适用于服务器测试,实现了不同类型待测试接口通用的测试方案。
Description
技术领域
本发明涉及硬件测试技术,尤指一种信号测试治具和信号测试方法。
背景技术
开放计算项目(OCP)接口是用于在服务器上连接外设部件互连标准(PCIe)网卡的接口。这种接口pin脚密度高,因此可以把PCIe接口做到更小,在服务器主板有限的空间上,具有节省空间的优势。
但是正是由于OCP接口Pin脚密度高的特点,要测试OCP接口的PCIe信号的难度就会增加。现有技术中,并没有直接来测试这种OCP接口的测试治具,因此每个应用该接口的服务器厂商都会面临测试该接口PCIe信号的困难。
发明内容
为了解决上述技术问题,本发明提供了一种信号测试治具和信号测试方法。通过不同连接器将不同类型的待测试接口连接至标准插槽,以输出标准测试信号,实现了对不同类型的接口的测试,解决了缺乏不同类型接口测试治具的问题。
为了达到本发明目的,本发明提供了一种信号测试治具,包括PCB电路板及所述PCB电路板上设置的标准插槽;
所述信号测试治具上还设置有至少一个不同类型的连接器,每个连接器通过所述PCB电路板连接至所述标准插槽,所述连接器在相应类型的待测试接口和所述标准插槽之间建立连接。
优选的,每个连接器连接至所述标准插槽的部分接口。
优选的,所述标准插槽为PCIe插槽。
优选的,所述标准插槽为PCIe x16插槽。
优选的,所述连接器至少包含如下类型:
OCP A型接口,OCP B型接口。
优选的,所述信号测试治具上设置有两个连接器,一个为OCP A型接口连接器,一个为OCP B型接口连接器;
所述OCP A型接口连接器连接至所述PCIe x16插槽的8个接口,所述OCP B型接口连接器连接至所述PCIe x16插槽的另外8个接口。
本发明的另一方面还提供了一种使用上述信号测试治具的信号测试方法,包括:
不同类型的待测试信号接入所述连接器;
所述连接器将所述待测试信号传入所述标准插槽,通过所述标准插槽输出标准测试信号;
对所述标准测试信号进行测试。
优选的,所述待测试信号至少包含如下信息:
电源、时钟、集成电路总线I2C。
本发明提供了一种信号测试治具和信号测试方法,使用包括PCB电路板及所述PCB电路板上设置的标准插槽的信号测试治具,所述信号测试治具上还设置有至少一个不同类型的连接器,每个连接器通过所述PCB电路板连接至所述标准插槽,所述连接器在相应类型的待测试接口和所述标准插槽之间建立连接。不同类型的待测试信号接入所述连接器,再由所述连接器将所述待测试信号传入所述标准插槽,通过所述标准插槽输出标准测试信号,之后对所述标准测试信号进行测试。实现了不同类型待测试接口通用的测试方案,解决了缺乏不同类型接口测试治具的问题。
本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述,并且,部分地从说明书中变得显而易见,或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
附图用来提供对本发明技术方案的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本申请的实施例一起用于解释本发明的技术方案,并不构成对本发明技术方案的限制。
图1为本发明的一实施例提供的一种信号测试治具的结构示意图;
图2为本发明的一实施例提供的一种信号测试方法的流程示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白,下文中将结合附图对本发明的实施例进行详细说明。需要说明的是,在不冲突的情况下,本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。
在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行。并且,虽然在流程图中示出了逻辑顺序,但是在某些情况下,可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。
目前业界没有成熟的用于测试OCP接口PCIe信号的测试治具。常见的OCP类型包括OCP A(Mezzanine Connector A)接口,OCP B(Mezzanine Connector B)接口。
由于业界没有成熟的用于测试OCP接口PCIe信号的测试治具,因此不能测试OCP接口的PCIe Compliance一致性测试和PCIe Rx Ber误码率的测试。
为了解决上述问题,本发明的实施例提供了一种信号测试治具和信号测试方法,通过治具板把OCP接口转换成PCIe插槽,能够对服务器主板的OCP接口信号进行一致性测试和PCIe Rx Ber误码率的测试,实现了通过PCIe插槽信号测试来完成OCP接口的信号测试,解决了缺乏不同类型接口测试治具的问题。
本发明的一实施例提供了一种信号测试治具,其结构如图1所示,包括PCB电路板及所述PCB电路板上设置的标准插槽;
所述信号测试治具上还设置有至少一个不同类型的连接器,每个连接器通过所述PCB电路板连接至所述标准插槽,所述连接器在相应类型的待测试接口和所述标准插槽之间建立连接。
优选的,每个连接器连接至所述标准插槽的部分接口。
优选的,所述标准插槽为PCIe插槽。
优选的,所述标准插槽为PCIe x16插槽。
优选的,所述连接器至少包含如下类型:
OCP A型接口,OCP B型接口。
优选的,所述信号测试治具上设置有两个连接器,一个为OCP A型接口连接器,一个为OCP B型接口连接器;
本发明实施例提供的信号测试治具利用目前已经正在使用的标准PCIe插槽的治具,通过治具板把OCP接口转换成PCIe插槽,从而通过PCIe插槽信号测试来完成OCP接口的信号测试。
以所述标准插槽为PCIe x16插槽、信号测试治具上设置有两个连接器为例进行说明。两个连接器一个为OCP A型接口连接器,一个为OCP B型接口连接器。所述OCP A型接口连接器连接至所述PCIe x16插槽的8个接口,所述OCP B型接口连接器连接至所述PCIe x16插槽的另外8个接口。
OCP A和OCP B接口连接器用于连接主板上的两种OCP接口,用于引出待测信号至PCB电路板上。
PCB板用于传输PCIe信号至PCIe x16插槽;Pin的定义,根据PCIe x16插槽的标准进行走线,并传输12V电源和3.3V电源。
PCIe x16插槽用于连接标准的PCIe信号测试治具,进行一致性信号测试。
本发明的一实施例提供了一种信号测试方法,使用本发明的实施例提供的信号测试治具完成测试的流程如图2所示,包括:
步骤201、不同类型的待测试信号接入所述连接器。
述待测试信号至少包含如下信息:
电源、时钟、集成电路总线I2C。
步骤202、所述连接器将所述待测试信号传入所述标准插槽,通过所述标准插槽输出标准测试信号。
例如,把OCP A(x8,即8条lane)和OCP B(x8,即8条lane)接口转换成PCIe x16插槽(16条lane)。具体的,把OCP A接口(x8 PCIe信号)通过PCB电路板连接到标准的PCIe x16插槽的前x8接口,可以测试标准的PCIe x16插槽lane0~lane7来测试OCP A接口(x8PCIe信号)把OCP A和B的电源和其他信号如Clock、I2C等控制信号转换转接到标准的PCIe x16插槽进行测试
步骤203、对所述标准测试信号进行测试。
本步骤中,可利用现有的标准测试治具,完成PCIe信号一致性测试。
本发明的实施例提供了一种信号测试治具和信号测试方法,使用包括PCB电路板及所述PCB电路板上设置的标准插槽的信号测试治具,所述信号测试治具上还设置有至少一个不同类型的连接器,每个连接器通过所述PCB电路板连接至所述标准插槽,所述连接器在相应类型的待测试接口和所述标准插槽之间建立连接。不同类型的待测试信号接入所述连接器,再由所述连接器将所述待测试信号传入所述标准插槽,通过所述标准插槽输出标准测试信号,之后对所述标准测试信号进行测试。实现了不同类型待测试接口通用的测试方案,解决了缺乏不同类型接口测试治具的问题。
可以方便的进行OCP接口的PCIe信号测试,提高测试覆盖度,提高了系统的稳定性和抗干扰性,提高了服务器适应复杂恶劣环境的能力,保证服务器产品的质量。
本领域普通技术人员可以理解,上文中所公开方法中的全部或某些步骤、系统、装置中的功能模块/单元可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。在硬件实施方式中,在以上描述中提及的功能模块/单元之间的划分不一定对应于物理组件的划分;例如,一个物理组件可以具有多个功能,或者一个功能或步骤可以由若干物理组件合作执行。某些组件或所有组件可以被实施为由处理器,如数字信号处理器或微处理器执行的软件,或者被实施为硬件,或者被实施为集成电路,如专用集成电路。这样的软件可以分布在计算机可读介质上,计算机可读介质可以包括计算机存储介质(或非暂时性介质)和通信介质(或暂时性介质)。如本领域普通技术人员公知的,术语计算机存储介质包括在用于存储信息(诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据)的任何方法或技术中实施的易失性和非易失性、可移除和不可移除介质。计算机存储介质包括但不限于RAM、ROM、EEPROM、闪存或其他存储器技术、CD-ROM、数字多功能盘(DVD)或其他光盘存储、磁盒、磁带、磁盘存储或其他磁存储装置、或者可以用于存储期望的信息并且可以被计算机访问的任何其他的介质。此外,本领域普通技术人员公知的是,通信介质通常包含计算机可读指令、数据结构、程序模块或者诸如载波或其他传输机制之类的调制数据信号中的其他数据,并且可包括任何信息递送介质。
Claims (8)
1.一种信号测试治具,其特征在于,包括PCB电路板及所述PCB电路板上设置的标准插槽;
所述信号测试治具上还设置有至少一个不同类型的连接器,每个连接器通过所述PCB电路板连接至所述标准插槽,所述连接器在相应类型的待测试接口和所述标准插槽之间建立连接。
2.根据权利要求1所述的信号测试治具,其特征在于,每个连接器连接至所述标准插槽的部分接口。
3.根据权利要求1所述的信号测试治具,其特征在于,所述标准插槽为外设部件互连标准PCIe插槽。
4.根据权利要求3所述的信号测试治具,其特征在于,所述标准插槽为PCIe x16插槽。
5.根据权利要求3或4所述的信号测试治具,其特征在于,所述连接器至少包含如下类型:
开放计算项目OCP A型接口,OCP B型接口。
6.根据权利要求5所述的信号测试治具,其特征在于,所述信号测试治具上设置有两个连接器,一个为OCP A型接口连接器,一个为OCP B型接口连接器;
所述OCP A型接口连接器连接至所述PCIe x16插槽的8个接口,所述OCP B型接口连接器连接至所述PCIe x16插槽的另外8个接口。
7.一种使用如权利要求1-6中任意一项所述的信号测试治具的信号测试方法,其特征在于,包括:
不同类型的待测试信号接入所述连接器;
所述连接器将所述待测试信号传入所述标准插槽,通过所述标准插槽输出标准测试信号;
对所述标准测试信号进行测试。
8.根据权利要求7所述的信号测试方法,其特征在于,所述待测试信号至少包含如下信息:
电源、时钟、集成电路总线I2C。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201811599108.1A CN109542710A (zh) | 2018-12-26 | 2018-12-26 | 一种信号测试治具和信号测试方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201811599108.1A CN109542710A (zh) | 2018-12-26 | 2018-12-26 | 一种信号测试治具和信号测试方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
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Family
ID=65857767
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201811599108.1A Withdrawn CN109542710A (zh) | 2018-12-26 | 2018-12-26 | 一种信号测试治具和信号测试方法 |
Country Status (1)
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---|---|
CN (1) | CN109542710A (zh) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112162187A (zh) * | 2020-09-11 | 2021-01-01 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 一种信号测试系统 |
CN114443404A (zh) * | 2021-12-24 | 2022-05-06 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种ocp接口测试用板卡、测试系统及测试方法 |
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- 2018-12-26 CN CN201811599108.1A patent/CN109542710A/zh not_active Withdrawn
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN114443404B (zh) * | 2021-12-24 | 2024-01-12 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种ocp接口测试用板卡、测试系统及测试方法 |
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