CN107480017A - Pcie外插卡的批量测试装置及方法 - Google Patents

Pcie外插卡的批量测试装置及方法 Download PDF

Info

Publication number
CN107480017A
CN107480017A CN201710652224.4A CN201710652224A CN107480017A CN 107480017 A CN107480017 A CN 107480017A CN 201710652224 A CN201710652224 A CN 201710652224A CN 107480017 A CN107480017 A CN 107480017A
Authority
CN
China
Prior art keywords
test
pcie
card
module
batch
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201710652224.4A
Other languages
English (en)
Inventor
穆德学
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Zhengzhou Yunhai Information Technology Co Ltd
Original Assignee
Zhengzhou Yunhai Information Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Zhengzhou Yunhai Information Technology Co Ltd filed Critical Zhengzhou Yunhai Information Technology Co Ltd
Priority to CN201710652224.4A priority Critical patent/CN107480017A/zh
Publication of CN107480017A publication Critical patent/CN107480017A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2247—Verification or detection of system hardware configuration
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2205—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
    • G06F11/221—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test buses, lines or interfaces, e.g. stuck-at or open line faults

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Data Exchanges In Wide-Area Networks (AREA)

Abstract

本发明公开了PCIE外插卡的批量测试装置及方法，测试装置包括依次连接的处理模块、数据传输模块和测试模块，处理模块包括多个通过QPI互联的CPU，每个CPU上设置多个PCIE测试槽；所述处理模块用于对测试数据进行处理；所述数据传输模块用于测试模块与处理模块之间的数据传输，所述测试模块包括分别与数据传输模块连接的网卡测试单元和存储测试单元；所述网卡测试单元用于对网卡的测试，存储测试单元用于对存储卡的测试。测试方法的步骤为将测试卡插入主板上对应的PCIE测试槽；根据测试卡的类型进行相应测试；显示并记录测试结果。与现有技术相比，本发明能够同时进行多数量、多种类的PCIE卡的批量测试，提高测试效率，节省成本。

Description

PCIE外插卡的批量测试装置及方法
技术领域
本发明涉及PCIE外插卡测试技术领域,具体地说是PCIE外插卡的批量测试装置及方法。
背景技术
PCI-Express(peripheral component interconnect express)是一种高速串行计算机扩展总线标准，可以简写为PCIE、PCI-E或PCIe，由英特尔在2001年提出的。它的主要优势就是数据传输速率高，目前最高的16X 2.0版本可达到10GB/s，而且还有相当大的发展潜力。
PCIE因其高速可靠的传输效率、热插拔以及服务质量(QOS)等功能，使其在服务器外插卡中得到了极大的应用，常用的PCIE扩展卡包括网卡、主机配适器HBA卡、主机通道配适器HCA卡等。
由于PCIe扩展卡没有供电和主数据处理器，测试时需要依靠主板和外插电源支持才能完成，又由于PCIe扩展卡种类繁多且数量巨大，现有的测试平台只能测试单一种类和数量极少的PCIe扩展卡，使测试效率低且测试成本增加。
发明内容
本发明的目的在于提供一种PCIE外插卡的批量测试装置及方法，用于解决现有PCIE外插卡测试效率低、成本高的问题。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种PCIE外插卡的批量测试装置，包括依次连接的处理模块、数据传输模块和测试模块，处理模块包括多个通过QPI互联的CPU，每个CPU上设置多个PCIE测试槽；所述处理模块用于对测试数据进行处理；所述数据传输模块用于测试模块与处理模块之间的数据传输，所述测试模块包括分别与数据传输模块连接的网卡测试单元和存储测试单元；所述网卡测试单元用于对网卡的测试，存储测试单元用于对存储卡的测试。
进一步地，所述每个CPU上设置两个PCIE×16测试槽和一个PCIE×8测试槽。
进一步地，所述PCIE×16测试槽还连接PCIE转接板，所述PCIE转接板用于将一个PCIE×16测试槽转化为两个PCIE×8测试槽。
进一步地，所述网卡测试单元包括电连接的网络通信芯片和网口，所述存储卡测试单元包括电连接的存储池模块和光纤接口。
进一步地，所述测试装置还包括存储模块和显示模块，所述显示模块连接处理模块，显示模块包括指示灯，用于显示测试结果；所述存储模块连接数据传输模块，用于存储测试结果。。
PCIE外插卡的批量测试方法，包括以下步骤：
将测试卡插入主板上对应的PCIE测试槽；
根据测试卡的类型进行相应测试；
显示并记录测试结果。
进一步地，所述测试卡包括网卡，对网卡进行相应测试的具体步骤为：
通过网络发送、接收数据；
查看数据传输的时间并判断改时间是否符合要求。
进一步地，所述测试卡包括存储卡，对存储卡进行测试的步骤为：
向存储卡读取或写入数据；
计算读取或写入的速度并判断该速度是否符合要求。
进一步地，所述显示并记录测试结果包括通过指示灯的颜色显示测试卡是否通过测试和通过log文件存储并记录测试结果。
发明内容中提供的效果仅仅是实施例的效果，而不是发明所有的全部效果，上述技术方案中的一个技术方案具有如下优点或有益效果：
1、测试装置通过在主板上集成多个处理器，增加PCIE测试槽的数量，并集成网卡测试单元和存储卡测试单元，实现多种类、多数量PCIE外插卡的批量测试，提高测试效率，节省测试成本。
2、在测试装置的主板上集成显示模块，显示模块通过变换指示灯的颜色，直观的显示PCIE外插卡是否通过测试，对每个测试卡的测试过程和结果进行记录并保存，方便后续的查看和分析。
附图说明
图1是本发明测试装置的结构示意图。
图2是本发明方法的流程图。
具体实施方式
为能清楚说明本方案的技术特点，下面通过具体实施方式，并结合其附图，对本发明进行详细阐述。下文的公开提供了许多不同的实施例或例子用来实现本发明的不同结构。为了简化本发明的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。此外，本发明可以在不同例子中重复参考数字和/或字母。这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施例和/或设置之间的关系。应当注意，在附图中所图示的部件不一定按比例绘制。本发明省略了对公知组件和处理技术及工艺的描述以避免不必要地限制本发明。
如图1所示，本发明提供的PCIE外插卡的批量测试装置，包括处理模块1、数据传输模块2、测试模块6、显示模块3和存储模块4，处理模块1分别连接存储模块4和数据传输模块2，数据传输模块2还分别连接测试模块6和显示模块3；处理模块1包括多个通过QPI互联的CPU，每个CPU上设置多个PCIE测试槽，测试模块6包括分别与数据传输模块2连接的网卡测试单元61和存储测试单元62。
处理模块1用于对测试数据的处理，数据传输模块2用于处理模块和测试模块间数据的传输，测试模块6用于对待测卡进行测试，其中网卡测试单元61用于对网卡的测试，存储卡测试单元62用于对存储卡的测试。
本发明的一种实施例：处理模块1包括4个互联的CPU，每个CPU上设置两个PCIE×16测试槽和一个PCIE×8测试槽。其中可通过PCIE转接板将一个PCIE×16测试槽转换为两个PCIE×8测试槽，适用于多数量、不同PCIE外插卡的批量测试，提高测试效率，多卡同时测试，节省测试资源。
网卡测试单元61包括电连接的网络通信芯片和网口，测试时，网口与网线连接，向网络存储芯片传输LAN信号，网络通信芯片连接数据传输模块2，将信号通过数据传输模块2发送个处理模块1。数据连接模块2包括南桥芯片。
存储卡测试单元62包括电连接的存储池模块和光纤插口，测试时，光纤插口与光纤线连接，向存储池模块发送光纤信号，通过数据传输模块2将光线信号发送给处理模块1。
显示模块3包括控制器和指示灯，数据传输模块2将测试结果发送给控制器，根据测试结果，控制器控制指示灯发出不同颜色的指示信号，如测试通过显示绿色，测试未通过显示红色。
存储模块4包括存储器，处理模块1将测试结果和测试过程的数据均发送给存储模块4，存储模块将每个测试卡的测试信息生成一个log文件，便于后续测查看和分析。
如图2所示，本发明提供了一种利用上述测试装置进行PCIE外插卡批量测试的方法，包括以下步骤：
S1，将测试卡插入主板上对应的PCIE测试槽；
S2，根据测试卡的类型进行相应测试；
S3，显示并记录测试结果。
测试卡包括网卡和存储卡。
对网卡进行测试具体为：将网线连接网口，启动网络测试软件；通过网络发送、接收数据；查看数据传输的时间并判断该数据传输时间是否符合要求。
对存储卡进行测试具体为：将光纤线连接光纤口，启动存储测试软件，通过存储池模块向硬盘读取或写入数据，计算读取或写入数据的速度并判断该速度是否符合要求。
步骤S3中显示并记录测试结果包括通过指示灯的颜色显示测试卡是否通过测试和通过log文件存储并记录测试结果。
以上所述只是本发明的优选实施方式，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也被视为本发明的保护范围。

Claims (9)

1.PCIE外插卡的批量测试装置，其特征是：包括依次连接的处理模块、数据传输模块和测试模块，处理模块包括多个通过QPI互联的CPU，每个CPU上设置多个PCIE测试槽；所述处理模块用于对测试数据进行处理；所述数据传输模块用于测试模块与处理模块之间的数据传输，所述测试模块包括分别与数据传输模块连接的网卡测试单元和存储测试单元；所述网卡测试单元用于对网卡的测试，存储测试单元用于对存储卡的测试。
2.根据权利要求1所述的PCIE外插卡的批量测试装置，其特征是：所述每个CPU上设置两个PCIE×16测试槽和一个PCIE×8测试槽。
3.根据权利要求2所述的PCIE外插卡的批量测试装置，其特征是：所述PCIE×16测试槽还连接PCIE转接板，所述PCIE转接板用于将一个PCIE×16测试槽转化为两个PCIE×8测试槽。
4.根据权利要求3所述的PCIE外插卡的批量测试装置，其特征是：所述网卡测试单元包括电连接的网络通信芯片和网口，所述存储卡测试单元包括电连接的存储池模块和光纤接口。
5.根据权利要求4所述的PCIE外插卡的批量测试装置，其特征是：所述批量测试装置还包括存储模块和显示模块，所述显示模块连接处理模块，显示模块包括指示灯，用于显示测试结果；所述存储模块连接数据传输模块，用于存储测试结果。
6.利用权利要求1-5任一项所述的测试装置进行PCIE外插卡批量测试的方法，其特征是：包括以下步骤：
将测试卡插入主板上对应的PCIE测试槽；
根据测试卡的类型进行相应测试；
显示并记录测试结果。
7.根据权利要求6所述的进行PCIE外插卡批量测试的方法，其特征是：所述测试卡包括网卡，对网卡进行相应测试的具体步骤为：
通过网络发送、接收数据；
查看数据传输的时间并判断改时间是否符合要求。
8.根据权利要求6所述的进行PCIE外插卡批量测试的方法，其特征是：所述测试卡包括存储卡，对存储卡进行测试的步骤为：
向存储卡读取或写入数据；
计算读取或写入的速度并判断该速度是否符合要求。
9.根据权利要求6所述的进行PCIE外插卡批量测试的方法，其特征是：所述显示并记录测试结果包括通过指示灯的颜色显示测试卡是否通过测试和通过log文件存储并记录测试结果。
CN201710652224.4A 2017-08-02 2017-08-02 Pcie外插卡的批量测试装置及方法 Pending CN107480017A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710652224.4A CN107480017A (zh) 2017-08-02 2017-08-02 Pcie外插卡的批量测试装置及方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710652224.4A CN107480017A (zh) 2017-08-02 2017-08-02 Pcie外插卡的批量测试装置及方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN107480017A true CN107480017A (zh) 2017-12-15

Family

ID=60598212

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201710652224.4A Pending CN107480017A (zh) 2017-08-02 2017-08-02 Pcie外插卡的批量测试装置及方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN107480017A (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109495353A (zh) * 2018-12-29 2019-03-19 广西程天电子科技有限公司 一种物联网卡批量检测装置及方法
CN110837445A (zh) * 2018-08-16 2020-02-25 佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司 PCIe卡测试装置及其方法
CN111400238A (zh) * 2019-01-02 2020-07-10 中国移动通信有限公司研究院 一种数据处理方法及装置

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004252695A (ja) * 2003-02-20 2004-09-09 Oki Joho Systems:Kk コンピュータの拡張機能検査装置およびそれを用いて設定したアドインボード
CN1928834A (zh) * 2005-09-06 2007-03-14 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 外部设备扩展接口测试装置和方法
CN101030159A (zh) * 2006-02-28 2007-09-05 环达电脑(上海)有限公司 用于测试主板插槽的设备及系统
CN101882099A (zh) * 2009-05-06 2010-11-10 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 网卡测试系统及方法
CN102043748A (zh) * 2009-10-13 2011-05-04 无锡江南计算技术研究所 PCIe测试平台
CN204044706U (zh) * 2014-07-18 2014-12-24 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种新型四路服务器信号背板
CN104331061A (zh) * 2014-08-28 2015-02-04 航天科工深圳（集团）有限公司 配网终端装置核心板的测试方法及其测试装置
CN104809043A (zh) * 2015-04-28 2015-07-29 英业达科技有限公司 基于边界扫描的主板cpu插槽的连接测试方法和装置
CN104850480A (zh) * 2015-05-18 2015-08-19 曙光信息产业(北京)有限公司 高密度存储服务器硬盘性能测试的方法及装置
CN106681878A (zh) * 2017-01-05 2017-05-17 郑州云海信息技术有限公司 一种pcie通道带宽的测试方法
CN106789409A (zh) * 2016-12-06 2017-05-31 曙光信息产业(北京)有限公司 一种服务器插槽的检测方法和装置

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004252695A (ja) * 2003-02-20 2004-09-09 Oki Joho Systems:Kk コンピュータの拡張機能検査装置およびそれを用いて設定したアドインボード
CN1928834A (zh) * 2005-09-06 2007-03-14 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 外部设备扩展接口测试装置和方法
CN101030159A (zh) * 2006-02-28 2007-09-05 环达电脑(上海)有限公司 用于测试主板插槽的设备及系统
CN101882099A (zh) * 2009-05-06 2010-11-10 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 网卡测试系统及方法
CN102043748A (zh) * 2009-10-13 2011-05-04 无锡江南计算技术研究所 PCIe测试平台
CN204044706U (zh) * 2014-07-18 2014-12-24 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种新型四路服务器信号背板
CN104331061A (zh) * 2014-08-28 2015-02-04 航天科工深圳（集团）有限公司 配网终端装置核心板的测试方法及其测试装置
CN104809043A (zh) * 2015-04-28 2015-07-29 英业达科技有限公司 基于边界扫描的主板cpu插槽的连接测试方法和装置
CN104850480A (zh) * 2015-05-18 2015-08-19 曙光信息产业(北京)有限公司 高密度存储服务器硬盘性能测试的方法及装置
CN106789409A (zh) * 2016-12-06 2017-05-31 曙光信息产业(北京)有限公司 一种服务器插槽的检测方法和装置
CN106681878A (zh) * 2017-01-05 2017-05-17 郑州云海信息技术有限公司 一种pcie通道带宽的测试方法

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
王贵水: "《你一定要懂的计算机知识》", 28 February 2015, 北京：北京工业大学出版社 *
赵霜: "《数据安全存储与数据恢复》", 31 July 2013, 西安：西北工业大学出版社 *

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110837445A (zh) * 2018-08-16 2020-02-25 佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司 PCIe卡测试装置及其方法
CN109495353A (zh) * 2018-12-29 2019-03-19 广西程天电子科技有限公司 一种物联网卡批量检测装置及方法
CN111400238A (zh) * 2019-01-02 2020-07-10 中国移动通信有限公司研究院 一种数据处理方法及装置
CN111400238B (zh) * 2019-01-02 2023-03-28 中国移动通信有限公司研究院 一种数据处理方法及装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN107423169A (zh) 用于测试高速外围设备互连设备的方法和系统
CN107480017A (zh) Pcie外插卡的批量测试装置及方法
CN107491148A (zh) 一种服务器硬盘连接结构
CN107330026B (zh) 一种兼容异构区块链平台的方法
US8996928B2 (en) Devices for indicating a physical layer error
CN109633419A (zh) 一种基于ate的芯片测试方法
CN105741879B (zh) 一种模拟智能电能表存储器测试板系统及其测试方法
US8407522B2 (en) Test apparatus and recording medium
CN104572386A (zh) 一种Linux下自动测试HBA卡带宽的方法
CN101442448B (zh) 刀片服务器测试系统及方法
CN106161132B (zh) 用于对存储网络进行测试的装置和方法
CN107331421A (zh) 一种基于fpga的sd卡测试系统及方法
CN102247142A (zh) 便携式usb心电图仪系统和方法
CN211505789U (zh) 一种pcie板卡测试装置
TW457475B (en) Status detecting method for hard disk drivers
CN108052428A (zh) 一种测试pcie卡热插拔功能的测试方法
CN113204456A (zh) 一种服务器vpp接口的测试方法、治具、装置及设备
TW201327158A (zh) 量測一資訊設備之效能的方法與裝置
CN100504723C (zh) 电源的usb数据采集装置
CN211374965U (zh) 一种基于树莓派的pcba通用测试平台
CN108153623A (zh) 一种测试sata接口硬盘能效比的方法和装置
CN109542710A (zh) 一种信号测试治具和信号测试方法
CN112486877B (zh) 一种通用化fc转换接口模块的外场保障与测试平台
CN116148629A (zh) 一种芯片测试方法、装置和系统
CN107704417A (zh) 与被测设备通信的方法及其通信系统

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20171215