CN102043748A - PCIe测试平台 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种PCIe测试平台，包括：第一主机；第二主机；测试板，所述测试板包括位于所述测试板上的PCIe插座，与PCIe插座相连的PCIe交换单元，与PCIe交换单元相连的PCIe插槽和PCIe连接器，所述测试板上的PCIe插座和第一主机以及第二主机相连。本发明可以连接更多的待检测设备，因此可以实现同时对更多的待检测设备进行检测，提高了测试平台的利用率，并且可以实现远距离的测试。

Description

PCIe测试平台

技术领域

本发明涉及电子设备测试技术领域，特别涉及一种PCIe测试平台。

背景技术

目前，在电路技术领域，通常利用测试平台对电子设备进行测试。图1所示为现有的一种PCIe测试平台，其包括主机10、与主机10相连的PCIe插槽20或者PCIe连接器30。测试时，将待测试设备连接在PCIe插槽20或者PCIe连接器30上，主机10通过PCIe电缆和PCIe插槽20上的待测试设备成功建立PCIe链路后，测试人员便可对待测PCIe设备进行检测操作。例如，向待测试设备发送PCIe数据，然后利用待测试设备向主机返回的PCIe数据来判断待检测设备。

例如在专利申请号为“20052005372.6”的中国专利申请中公开了一种通讯设备单板测试平台。

但是现有的PCIe测试平台通常将主机、PCIe插槽和PCIe接口安装在PCB板上，因此PCIe插槽和PCIe接口的数目受到限制，使得PCIe平台的测试能力受到限制，另外由于主机、PCIe插槽和PCIe接口都集成在PCB板上，因此如果对待测试电子设备进行测试必须将待检测设备搬到PCB板附近，这样为测试平台的应用带来不便。

发明内容

本发明解决的技术问题是提供一种使用更方便的PCIe测试平台。

为了解决上述问题，本发明提供了一种PCIe测试平台，包括：

第一主机；

第二主机；

测试板，所述测试板包括位于在所述测试板上的PCIe插座，与PCIe插座相连的PCIe交换单元，与PCIe交换单元相连的PCIe插槽和PCIe连接器，所述测试板上的PCIe插座和第一主机以及第二主机相连。

与现有技术相比，本发明主要具有以下优点：本发明通过将PCIe插座，与PCIe插座相连的PCIe交换单元，与PCIe交换单元相连的PCIe插槽和PCIe连接器设置于测试板上，并且测试板与第一主机和第二主机分离并且连接，从而使得测试平台测试接口得到扩展，从而使该测试平台可以应用于远距离的测试，并且可以通过扩展测试板或者扩展测试板上的PCIe插槽和PCIe连接器使测试平台的测试能力更强。

附图说明

通过附图中所示的本发明的优选实施例的更具体说明，本发明的上述及其它目的、特征和优势将更加清晰。在全部附图中相同的附图标记指示相同的部分。并未刻意按实际尺寸等比例缩放绘制附图，重点在于示出本发明的主旨。

图1为现有的一种PCIe测试平台的结构示意图；

图2为本发明的PCIe测试平台一实施例的结构示意图；

图3为本发明的PCIe测试平台一优选实施方式的结构示意图。

具体实施方式

由背景技术可知，现有的PCIe测试平台通常将主机10、PCIe插槽20和PCIe连接器30，PCIe插槽20和PCIe连接器30安装在主机10上，因此PCIe插槽20和PCIe连接器30数目受到限制，使得PCIe平台的测试能力受到限制，另外由于主机、PCIe插槽20和PCIe连接器30都集成在主机10上，因此如果对待测试电子设备进行测试必须将待检测设备搬到主机10附近，这样为测试平台的应用带来不便。

本发明的发明人经过大量的实验研究得到了一种PCIe测试平台，包括：第一主机；第二主机；测试板，所述测试板包括位于在所述测试板上的PCIe插座，与PCIe插座相连的PCIe交换单元，与PCIe交换单元相连的PCIe插槽和PCIe连接器，所述测试板上的PCIe插座和第一主机以及第二主机相连。本发明可以连接更多的待检测设备，因此可以实现同时对更多的待检测设备进行检测，提高了测试平台的利用率，并且可以实现远距离的测试。

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似推广，因此本发明不受下面公开的具体实施的限制。

其次，本发明利用示意图进行详细描述，在详述本发明实施例时，为便于说明，表示器件结构的剖面图会不依一般比例作局部放大，而且所述示意图只是实例，其在此不应限制本发明保护的范围。此外，在实际制作中应包含长度、宽度及深度的三维空间尺寸。

图2是本发明的PCIe测试平台一实施例的结构示意图，下面结合图2对本发明PCIe测试平台进行说明。如图2所示，本发明的PCIe测试平台包括：第一主机(host1)110、第二主机(host2)120和测试板130。所述测试板130包括位于所述测试板上的PCIe插座140，与PCIe插座140相连的PCIe交换单元150，与PCIe交换单元150相连的PCIe插槽160和PCIe连接器170，所述测试板上的PCIe插座140和第一主机110以及第二主机120相连。

图3为本发明的PCIe测试平台一优选实施方式的结构示意图，如图3所示，优选的，所述第一主机110包括第一处理器1101、与第一处理器1101相连的第一存储器1102和与第一处理器1101相连的第一根联合体器件1103；第二主机120包括第二处理器1201、与第二处理器1201相连的第二存储器1202和与第二处理器1201相连的第二根联合体器件1203。在检测时，第一主机110或第二主机120通过PCIe电缆和PCB板上的待测试设备及PCIe交换单元成功建立PCIe链路后，测试人员便可对待测PCIe设备进行检测操作。例如，第一主机110和第二主机120用于对向待检测设备发送PCIe数据，并从待检测设备接收PCIe数据，然后来判断待检测设备对数据的处理是否正确。

所述PCIe交换单元150实现了主机与多个待测PCIe设备间的数据交互，并具有在第一主机110和第二主机120之间的故障切换能力。具体的，系统正常运行时，第一主机处于正常工作状态，第二主机则通过PCIe交换单元150监测第一主机110的工作状态和″心跳″，判断第一主机110是否处于正常工作状态，若发现第一主机出现故障时，第二主机自动接替第一主机工作，并隔离故障主机，整个测试系统继续保持稳定运行。所述交换单元150可以利用交换芯片实现，所述交换芯片为本领域技术人员所熟知具有故障切换或失效接管能力的交换单元。

所述测试板130上具有互连线，用于连接位于测试板130上的装置。

所述测试板130上的PCIe插槽160和PCIe连接器170用于插接待检测设备。由于测试板130上可以具有至少两个，也就是多个PCIe插槽160和PCIe连接器170，因此和现有的测试平台相比，本发明的测试平台可以连接更多的待检测设备，因此可以实现同时对更多的待检测设备进行检测，提高了测试平台的利用率。

优选的，在本实施例中，所述PCIe插座140包括第一PCIe插座1401和第二PCIe插座1402，所述第一主机110还包括第一PCIe扩展卡1104，所述第二主机120包括第二PCIe扩展卡1204，所述第一PCIe扩展卡1104用于和第一PCIe插座1401通过PCIe电缆180相连；所述第二PCIe扩展卡1204用于和第二PCIe插座1402通过PCIe电缆相连。

优选的，在本实施例中，所述测试板130还包括位于其上的驱动器190，所述驱动器190连接在所述PCIe插座140和所述PCIe交换单元150之间。因为本发明中可以支持host110和测试板130之间PCIe信号的远距离传输，因此信号可能出现衰减、失真、延迟，所述驱动器190用来补偿和修复传输的PCIe信号，例如驱动器190可以为包括放大器和滤波器，从而可以将PCIe信号放大，并去除干扰。

优选的，在本实施例中，所述测试板130还包括位于其上的电源模块200、维护模块210和维护接口220，所述电源模块200和所述维护模块210相连，所述维护模块220和PCIe交换单元150相连，所述维护接口220和所述维护模块210相连。

其中电源模块200用于为测试板130及其上的设备提供电源。维护模块210用于控制电源的供给，并且维护模块210还用于通过对PCIe交换单元150的监控来监控检测过程，例如通过读取PCIe交换单元150中的PCIe信号来实现。维护接口220和维护模块210相连用于将维护模块监控到的数据传输给外部设备，从而可以便于工作人员监控检测状态。

优选的，在本实施例中，所述PCIe测试平台包括至少两个测试板130，例如3个、6个、10个等等。这样使得PCIe测试平台就可以实现对更多待检测设备的测试，提供PCIe检测平台的工作效率。

本发明实现host的通过PCIe扩展卡以及测试平台的PCIe插座140和测试平台PCIe插槽160、PCIe连接器170等接口互联，提高了PCIe测试平台互连的灵活性，具有较强的设备扩展性。其中，PCIe扩展卡和PCIe电缆提供了一个从host到测试平台的接口。PCIe扩展卡对PCIe链路完全透明，不需要额外软件支持。PCIe插座和驱动器将PCIe信号从PCIe电缆中引入，重新驱动信号后提供给PCIe交换单元。根据不同测试环境，驱动器的驱动参数(加重、均衡等)可通过拨码开关调整设置。PCIe交换单元实现host到测试平台上多个PCIe插槽和PCIe连接器的PCIe链路扩展。PCIe交换单元支持双host连接，当host1失效时，host2可自动接管，并隔离失效的host1，由此提高了测试系统运行的可靠性。无阻塞交换维护逻辑支持测试平台上的监测和维护功能。电源转换提供测试平台上所需各种电源。

PCIe电缆扩展了测试平台的使用的空间范围，不再局限于host内部插槽。测试平台上多个扩展接口的实现，测试接口也不再局限于host上仅有的几个插槽，通过测试平台接口“级联”和远程维护功能配合，可以形成“测试平台网络”，极大地提高了测试效率。

测试平台提供了至多达48路4X PCIe链路的扩展性能，并且其扩展端口带宽可灵活调整，如PCIe 4X、PCIe 8X、PCIe 16X等模式，方便不同用户不同待测设备的测试。

测试平台支持PCIe 2.0规范，同时向下兼容PCIe 1.0a/1.1规范(PCIExpress Base Specification，r2.0(backwards compatible w/PCIe r1.0a/1.1))，为不同规格PCIe设备提供了一个通用测试平台。

以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制。任何熟悉本领域的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围情况下，都可利用上述揭示的方法和技术内容对本发明技术方案作出许多可能的变动和修饰，或修改为等同变化的等效实施例。因此，凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所做的任何简单修改、等同变化及修饰，均仍属于本发明技术方案保护的范围内。

Claims (9)

1.一种PCIe测试平台，其特征在于，包括：

第一主机；

第二主机；

测试板，所述测试板包括位于在所述测试板上的PCIe插座，与PCIe插座相连的PCIe交换单元，与PCIe交换单元相连的PCIe插槽和PCIe连接器，所述测试板上的PCIe插座和第一主机以及第二主机相连。

2.根据权利要求1所述的PCIe测试平台，其特征在于，所述测试板上还包括驱动器，所述驱动器连接在所述PCIe插座和所述PCIe交换单元之间。

3.根据权利要求1所述的PCIe测试平台，其特征在于，所述测试板上还包括电源模块、维护模块和维护接口，所述电源模块和所述维护模块相连，所述维护模块和PCIe交换单元相连，所述维护接口和所述维护模块相连。

4.根据权利要求1所述的PCIe测试平台，其特征在于，所述第一主机包括第一处理器、与第一处理器相连的第一存储器和与第一处理器相连的第一根联合体器件；第二主机包括第二处理器、与第二处理器相连的第二存储器和与第二处理器相连的第二根联合体器件。

5.根据权利要求1所述的PCIe测试平台，其特征在于，所述第一主机包括与第一根联合体器件相连的第一PCIe扩展卡；所述第二主机包括与第二根联合体器件相连的第二PCIe扩展卡。

6.根据权利要求1所述的PCIe测试平台，其特征在于，所述PCIe插座包括第一PCIe插座和第二PCIe插座，所述第一PCIe插座和第一主机的PCIe扩展卡通过PCIe电缆相连；所述第二PCIe插座和第二主机的PCIe扩展卡通过PCIe电缆相连。

7.根据权利要求1所述的PCIe测试平台，其特征在于，包括至少两个所述测试板。

8.根据权利要求1所述的PCIe测试平台，其特征在于，同一测试板包括至少两个所述PCIe插座。

9.根据权利要求1所述的PCIe测试平台，其特征在于，同一测试板包括至少两个所述PCIe连接器。

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