CN111679944B - 一种pci-e接口功能测试装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种PCI‑E接口功能测试装置，包括：基板；核心板，所述核心板设置在所述基板的表面，所述核心板为基于PCI‑E Switch的核心板；接口板，所述接口板设置在所述基板上，与所述核心板活动连接，所述接口板设置有用于与被测主板上PCI‑E插槽的连接器连接的PCI‑E金手指。通过在基板上设置基于PCI‑E Switch的核心板，并根据Switch的资源可以支持对若干个PCI‑E插槽进行同时测试，不必为每一个插槽安装一块昂贵的PCI‑E显卡或者网卡，这样使得每个插槽分摊的辅助物料成本得以降低，接口板与所述核心板活动连接，可以根据金手指的磨损情况只更换接口板而保留核心板和基板继续使用，很大程度上降低了物料的损耗。

Description

一种PCI-E接口功能测试装置
技术领域
本发明涉及服务器内PCIE转接技术领域，更具体地说，涉及一种PCI-E接口功能测试装置。
背景技术
近年来PCI-E总线广泛地应用于各种计算机系统，除了越来越多的板载功能模块都是通过PCI-E总线与处理器进行数据交换外，服务器以及个人电脑的主板上也都预留了多个PCI-E插槽，以便安装网卡、显卡等板卡，从而对主机功能进行灵活地扩展。
在工厂端对加工完成的计算机主板进行测试时，需要测试PCI-E插槽的电气连通性和功能。目前，普遍采用的方法是在主板的PCI-E插槽安装辅助测试板卡，在系统固件等环境下检测辅助测试板卡是否能被正常识别，接口的Training结果是否正确。用于辅助测试的板卡一般都是现成的PCI-E显卡或者网卡，成本比较高；测试过程中随着频繁的插拔板卡，金手指会有较严重的磨损，导致辅助物料的损耗比较大。
因此，如何实现在计算机系统固件或操作系统的支持下对计算机主板的PCI-E插槽进行测试的通知，尽可能规避普通板卡金手指插拔损耗是本领域技术人员的工作方向之一。
发明内容
本发明提供了一种PCI-E接口功能测试装置，减少显卡或者网卡的使用，降低每个插槽分摊的辅助物料成本。
为解决上述技术问题，本发明提供了一种PCI-E接口功能测试装置，包括：
基板；
核心板，所述核心板设置在所述基板的表面，所述核心板为基于PCI-ESwitch的核心板；
接口板，所述接口板设置在所述基板上，与所述核心板活动连接，所述接口板设置有用于与被测主板上PCI-E插槽的连接器连接的PCI-E金手指。
其中，所述PCI-E金手指宽度为X4、X8或者X16的PCI-E设备端口宽度。
其中，多个所述接口板的PCI-E金手指宽相等。
其中，多个所述接口板平行设置在所述基板。
其中，还包括设置在所述基板表面与所述核心板共面的滑轨，所述接口板设置在所述滑轨与所述滑轨滑动连接。
其中，所述滑轨为单轨滑轨或双轨滑轨。
其中，所述滑轨为固定在所述基板的外挂式滑轨或设置在所述基板的凹槽型滑轨。
其中，所述滑轨的长度方向与所述接口板的长度方向垂直。
其中，还包括设置在所述位置标识。
其中，还包括设置在所述接口板用于与所述滑轨或所述基板进行活动连接的固定连接件。
本发明实施例提供的PCI-E接口功能测试装置，与现有技术相比较具有以下有益效果：
所述服务器内转接PCIE Gen4的装置，通过在基板上设置基于PCI-ESwitch的核心板，并根据Switch的资源可以支持对若干个PCI-E插槽进行同时测试，不必为每一个插槽安装一块昂贵的PCI-E显卡或者网卡，这样使得每个插槽分摊的辅助物料成本得以降低，接口板与所述核心板活动连接，可以根据金手指的磨损情况只更换接口板而保留核心板和基板继续使用，很大程度上降低了物料的损耗。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为本申请提供的PCI-E接口功能测试装置的一个实施例的俯视图结构示意图；
图2为本申请提供的PCI-E接口功能测试装置的一个实施例的左视图结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
如图1-2所示，图1为本申请提供的PCI-E接口功能测试装置的一个实施例的俯视图结构示意图；图2为本申请提供的PCI-E接口功能测试装置的一个实施例的左视图结构示意图。
在一种具体实施方式中，本发明提供了一种PCI-E接口功能测试装置，包括：
基板10；
核心板20，所述核心板20设置在所述基板10的表面，所述核心板20为基于PCI-ESwitch的核心板20；
接口板30，所述接口板30设置在所述基板10上，与所述核心板20活动连接，所述接口板30设置有用于与被测主板上PCI-E插槽的连接器连接的PCI-E金手指31。
通过在基板10上设置基于PCI-E Switch的核心板20，并根据Switch的资源可以支持对若干个PCI-E插槽进行同时测试，不必为每一个插槽安装一块昂贵的PCI-E显卡或者网卡，这样使得每个插槽分摊的辅助物料成本得以降低，接口板30与所述核心板20活动连接，可以根据金手指31的磨损情况只更换接口板30而保留核心板20和基板10继续使用，很大程度上降低了物料的损耗。
需要指出的是，本发明中的PCI-E金手指31与接口板30连接后，也可以是水平延伸，即与接口板30大体在一个平面，也可以在竖直方向，与基板10方向垂直，或者与基板10方向成一个锐角等，这样方便设备的放置，使得其不必放置在确定的高度或位置，提高了测试位置的随意性。
本发明中的核心板20基于PCI-E Switch设计，将Switch的upstream配置成预定的的PCI-E设置端口，与接口板30连接，可连接的接口板30数量由PCI-E Switch的upstream链路数量和配置方式决定。PCI-E Switch通过位于核心板20的EEPROM配置，上电后自动读取配置信息并执行配置操作，核心板20的供电由被测主板通过接口板30提供。由于核心板20基于PCI-ESwitch设计，可以根据Switch的资源支持对若干个PCI-E插槽进行同时测试，不必为每一个插槽安装一块昂贵的PCI-E显卡或者网卡，这样使得每个插槽分摊的辅助物料成本得以降低。PCI-E接口功能测试设备采取模块化设计，可以根据金手指31的磨损情况只更换接口板30而保留核心板20和基板10继续使用，很大程度上降低了物料的损耗。该PCI-E接口功能测试设备与被测板卡PCI-E插槽连接即可工作，无需其它外部连接，且便于与自动化测试载具的集成。
本发明对于PCI-E设备端口型号不作限定，对于相应的PCI-E金手指31型号不作限定，一般金手指31设置在接口板30底部，可根据被测主板上PCI-E插槽的连接器宽度不同可以是X16、X8或者X4的宽度，即所述PCI-E金手指31宽度为X4、X8或者X16的PCI-E设备端口宽度，还可以根据实际需要连接其它型号的金手指31，本发明对此不作限定。
由于一般很少将不同型号的PCI-E插槽在同一设备上测试，这样会降低测试效率，因此一般多个所述接口板30的PCI-E金手指31宽相等。
但是，如果仅仅是实验用或者不是批量进行设备测试时，可以将不同型号的PCI-E金手指31设置在同一基板10上，与同一个核心板20连接，这样就可以它能够给同一个设备测试不同型号的PCI-E插槽的功能，实现了多功能化。
本发明对于PCI-E金手指31的型号以及每种型号的数量和位置不做限定。
由于为了实现同时对多个PCI-E插槽测试的功能，会连接多个连接接口板30，本发明对于接口板30的设置方式不作限定，其可以依据基板10的形状尺寸设计，如基板10为三角形，可以在每条边或每个角设置接口板30，为正方形、正六边形，可以在其每条边设置接口板30，而为了节约空间，提高空间利用效率，降低布线难度，一般多个所述接口板30平行设置在所述基板10。
由于在测试过程中，接口板30可能会被拉扯，而且可能会临时添加新的接口板30，如果现有的接口板30的位置完全被固定，即使与基板10活动连接，也只能在固定位置活动连接，使得在基板10设置的接口板30的数量固定，如果增加新的接口板30，会使得与相邻的接口板30的间距过小，为了解决这一技术问题，在一个实施例中，所述PCI-E接口功能测试装置还包括设置在所述基板10表面与所述核心板20共面的滑轨40，所述接口板30设置在所述滑轨40与所述滑轨40滑动连接。
通过将接口板30安装在基板10的滑轨40之上，可以沿滑轨40调节接口板30之间的距离，适应被测主板上不同间距的PCI-E插槽以实现同时测试。
本发明对于滑轨40的尺寸以及形成方式不作限定，所述滑轨40可以为单轨滑轨40，也可以为双轨滑轨40，还可以为其他形状的滑轨40。
本发明对于滑轨40的形成方式不作限定，所述滑轨40可以为固定在所述基板10的外挂式滑轨40，也可以为设置在所述基板10的凹槽型滑轨40，即可以在基板10上设置类似铁路轨道形成滑轨40，也可以在基板10设置凹槽形成滑轨40，或者采用其他的方式形成滑轨40。
本发明中对于接口板30与滑轨40的设置不作限定，可以为固定性连接，即二者的角度始终不变，也可以为活动连接，可以根据需要改变二者的夹角，但是一般为了保证良好的连接效果，避免随意移动，在一个实施例中，所述滑轨40的长度方向与所述接口板30的长度方向垂直，这样能限定接口板30在一维空间运动，保证其余核心板20的连接可靠性。
由于滑轨40的长度有限，而且接口板30本身也有一定的尺寸，因而能够容纳的接口板30的数量有限，而随意增加的接口板30由于不知道与由于的接口板30之间的间距，可能会带来与核心板20的连接问题，因此在一个实施例中，所述PCI-E接口功能测试装置还包括设置在所述位置标识。
通过位置标识，工作人员可以根据需要调整接口板30的位置，如从两个接口板30到三个接口板30，甚至更多接口板30时，可以按照位置标识调整，使得始终保持相邻接口板30的间距相等，本发明中的位置标识可以是刻度线，也可以是颜色标记符，或者其他类型的位置标识。
由于接口板30与滑轨40活动连接，使得在测试过程中，很容易由于外部的拉力使得其进行随意移动，不仅影响相邻的接口板30的测试，而且对本身的测试过程也将变得不可靠，为了解决这一问题，在一个实施例中，所述PCI-E接口功能测试装置还包括设置在所述接口板30用于与所述滑轨40或所述基板10进行活动连接的固定连接件。
通过固定连接件，将接口到达移动位置之后进行固定，使得其不再所以移动，可以通过夹具实现，如采用夹子之类的夹具在接口板30到达位置之后将其与基板10或滑轨40固定，也可以采用在紧固件，在基板10上设置沿着滑轨40设置通孔，在接口板30到达位置之后，将紧固件插入通孔，实现位置的固定，或者采用方法，本发明对此不作限定。
本发明中对于基板10的材质以及尺寸不作限定，其主要起到承载的作用，工作人员可以在不影响测试效果的情况下选择合适的基板10。
另外，本发明对于接口板30与核心板20的连接方式不作限定，一般通过线缆或者连接器进行连接，但是如果采用滑轨40结构，那么为了移动接口板30的需要，一般采用线缆连接。
综上所述，本发明实施例提供的所述PCI-E接口功能测试装置，通过在基板上设置基于PCI-E Switch的核心板，并根据Switch的资源可以支持对若干个PCI-E插槽进行同时测试，不必为每一个插槽安装一块昂贵的PCI-E显卡或者网卡，这样使得每个插槽分摊的辅助物料成本得以降低，接口板与所述核心板活动连接，可以根据金手指的磨损情况只更换接口板而保留核心板和基板继续使用，很大程度上降低了物料的损耗。
本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。
对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (6)

1.一种PCI-E接口功能测试装置，其特征在于，包括：
基板；
核心板，所述核心板设置在所述基板的表面，所述核心板为基于PCI-E Switch的核心板，可根据Switch的资源支持对多个PCI-E插槽进行同时测试；
接口板，所述接口板设置在所述基板上，与所述核心板活动连接，所述接口板设置有用于与被测主板上PCI-E插槽的连接器连接的PCI-E金手指，所述PCI-E金手指宽度为X4、X8或者X16的PCI-E 设备端口宽度，多个所述接口板的PCI-E金手指宽相等，多个所述接口板平行设置在所述基板，所述PCI-E接口功能测试装置还包括设置在所述基板表面与所述核心板共面的滑轨，所述接口板设置在所述滑轨与所述滑轨滑动连接，沿所述滑轨调节所述接口板之间的距离，适应所述被测主板上不同间距的PCI-E插槽以实现同时测试。
2.如权利要求1所述PCI-E接口功能测试装置，其特征在于，所述滑轨为单轨滑轨或双轨滑轨。
3.如权利要求2所述PCI-E接口功能测试装置，其特征在于，所述滑轨为固定在所述基板的外挂式滑轨或设置在所述基板的凹槽型滑轨。
4.如权利要求3所述PCI-E接口功能测试装置，其特征在于，所述滑轨的长度方向与所述接口板的长度方向垂直。
5.如权利要求4所述PCI-E接口功能测试装置，其特征在于，还包括设置在所述滑轨的位置标识。
6.如权利要求5所述PCI-E接口功能测试装置，其特征在于，还包括设置在所述接口板用于与所述滑轨或所述基板进行活动连接的固定连接件。
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