CN109541340A - 一种片式电子元器件测试装置 - Google Patents

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高洪利
杨永征
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Abstract

本发明公开了一种片式电子元器件测试装置，包括绝缘板，所述绝缘板的顶部固定连接有负电极板，所述负电极板底部的右侧镶嵌有连接器件铜块，所述连接器件铜块的内腔固定连接有绝缘层，所述绝缘层的顶部贯穿设置有测试针，所述测试针的底端贯穿至连接器件铜块的底部，所述负电极板顶部的右侧固定连接有测量支撑绝缘底板，所述测量支撑绝缘底板的顶部开设有滑槽。该片式电子元器件测试装置，通过正负电极的面接触和压簧的力度控制，提高了产品测试精度，对产品的品质因数的测量精度的改善，本测试装置，不仅提高了片式电感的测试精度，而且制造和维护成本低，还使用方便，并且调节简单易上手。

Description

一种片式电子元器件测试装置
技术领域
本发明涉及电子元器件测试技术领域，具体为一种片式电子元器件测试装置。
背景技术
片式元器件（SMC和SMD）是无引线或短引线的新型微小元器件，又称片式元器件，随着电子信息的飞速发展，对片式电子元器件的性能精度要求越来越高。
目前对生产后的片式电子元器件的分选前校准测试及分选后的产品检验，多以滑动弹性片接触式测试方式测试，通过一个固定针式测头和活动针式测头进行点接触式测试，测头磨损严重且容易断裂，手动力度难掌握，影响产品的测试精度，针对这些弊端，设计了一种能够提高产品性能测试精度的平面接触式组合测试装置，主要应用于片式电感电感量、品质因数等参数的测试。
发明内容
本发明的目的在于提供一种片式电子元器件测试装置，具备测试精度高、方便使用的优点，解决了上述背景技术提到的问题。
为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种片式电子元器件测试装置，包括绝缘板，所述绝缘板的顶部固定连接有负电极板，所述负电极板底部的右侧镶嵌有连接器件铜块，所述连接器件铜块的内腔固定连接有绝缘层，所述绝缘层的顶部贯穿设置有测试针，所述测试针的底端贯穿至连接器件铜块的底部，所述负电极板顶部的右侧固定连接有测量支撑绝缘底板，所述测量支撑绝缘底板的顶部开设有滑槽，所述负电极板顶部的右侧开设有与测试针配合使用的开口，所述测试针靠近测量支撑绝缘底板的一端延伸至滑槽的内腔并固定连接有镀金正电极，所述镀金正电极与滑槽滑动连接，所述镀金正电极的左侧固定连接有镀金铜块，所述负电极板的顶部固定连接有位于测量支撑绝缘底板左侧的负电极固定架，所述负电极固定架的右侧贯穿设置有负电极护套，所述负电极护套的左侧延伸至负电极固定架的左侧，所述负电极护套的内腔滑动连接有铜质拉杆，所述铜质拉杆的右端延伸至滑槽的内腔并固定连接有镀金负电极，所述铜质拉杆的表面套设有位于负电极护套和镀金负电极之间的压簧，所述铜质拉杆的左端延伸至负电极护套的左端，所述铜质拉杆表面的左侧固定连接有位于负电极固定架左侧的滑块手柄。
优选的，所述绝缘板的材料为聚氨酯材料和四氟材料其中的一种，所述绝缘板的厚度为8-10mm。
优选的，所述负电极板的材料为不锈钢材料，且其厚度为1-2mm，所述负电极板通过螺丝或胶固定在绝缘板的顶部。
优选的，所述测量支撑绝缘底板、负电极固定架和滑块手柄的材料均为有机玻璃和四氟材料其中的一种。
优选的，所述绝缘板的底部固定连接有支撑柱。
优选的，所述负电极板顶部的右侧固定连接有屏蔽罩，所述屏蔽罩的材料为不锈钢材料。
优选的，所述压簧的弹力为1.96-4.9N。
与现有技术相比，本发明的有益效果如下：
1、该片式电子元器件测试装置，通过正负电极的面接触和压簧的力度控制，提高了产品测试精度，对产品的品质因数的测量精度的改善，本测试装置，不仅提高了片式电感的测试精度，而且制造和维护成本低，还使用方便，并且调节简单易上手。
2、该片式电子元器件测试装置通过支撑柱的设置，对绝缘板进行支撑，使得连接器件铜块与外设的测试仪器在连接时更加稳定，增大了该装置的稳定性。
3、该片式电子元器件测试装置通过屏蔽罩的设置，将测试针完全罩住，同时并不与测试针接触，对测试针起到了屏蔽的作用，避免在测试的过程中因其它因素导致测试结果出现较大误差的现象，使得测试的结果更加精准。
附图说明
图1为本发明结构示意图；
图2为本发明的主视剖面图；
图3为本发明图2中A的局部放大图；
图4为本发明连接器件铜块、绝缘层和测试针结构的仰视剖面图；
图5为本发明的俯视剖面图。
图中：1、绝缘板；2、负电极板；3、连接器件铜块；4、绝缘层；5、测试针；6、测量支撑绝缘底板；7、滑槽；8、镀金正电极；9、镀金铜块；10、负电极固定架；11、负电极护套；12、铜质拉杆；13、镀金负电极；14、压簧；15、滑块手柄；16、支撑柱；17、屏蔽罩。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请参阅图1-5，本发明提供一种技术方案：一种片式电子元器件测试装置，包括绝缘板1，绝缘板1的顶部固定连接有负电极板2，负电极板2底部的右侧镶嵌有连接器件铜块3，连接器件铜块3的顶部通过螺丝与负电极板2固定连接，连接器件铜块3的内腔固定连接有绝缘层4，绝缘层4的顶部贯穿设置有测试针5，测试针5的底端贯穿至连接器件铜块3的底部，负电极板2顶部的右侧固定连接有测量支撑绝缘底板6，测量支撑绝缘底板6的顶部开设有滑槽7，负电极板2顶部的右侧开设有与测试针5配合使用的开口，测试针5靠近测量支撑绝缘底板6的一端延伸至滑槽7的内腔并固定连接有镀金正电极8，镀金正电极8与滑槽7滑动连接，镀金正电极8的左侧固定连接有镀金铜块9，负电极板2的顶部固定连接有位于测量支撑绝缘底板6左侧的负电极固定架10，负电极固定架10的右侧贯穿设置有负电极护套11，负电极固定架10和负电极护套11通过螺栓固定连接，负电极护套11的左侧延伸至负电极固定架10的左侧，负电极护套11的内腔滑动连接有铜质拉杆12，铜质拉杆12的右端延伸至滑槽7的内腔并固定连接有镀金负电极13，铜质拉杆12的表面套设有位于负电极护套11和镀金负电极13之间的压簧14，铜质拉杆12的左端延伸至负电极护套11的左端，铜质拉杆12表面的左侧固定连接有位于负电极固定架10左侧的滑块手柄15，铜质拉杆12和滑块手柄15通过螺栓固定连接。
本发明中：绝缘板1的材料为聚氨酯材料和四氟材料其中的一种，绝缘板1的厚度为8-10mm。
本发明中：负电极板2的材料为不锈钢材料，且其厚度为1-2mm，负电极板2通过螺丝或胶固定在绝缘板1的顶部。
本发明中：测量支撑绝缘底板6、负电极固定架10和滑块手柄15的材料均为有机玻璃和四氟材料其中的一种。
本发明中：绝缘板1的底部固定连接有支撑柱16，通过支撑柱16的设置，对绝缘板1进行支撑，使得连接器件铜块3与外设的测试仪器在连接时更加稳定，增大了该装置的稳定性。
本发明中：负电极板2顶部的右侧通过螺丝固定连接有屏蔽罩17，屏蔽罩17的材料为不锈钢材料，通过屏蔽罩17的设置，将测试针5完全罩住，同时并不与测试针5接触，对测试针5起到了屏蔽的作用，避免在测试的过程中因其它因素导致测试结果出现较大误差的现象，使得测试的结果更加精准。
本发明中：压簧14的弹力为1.96-4.9N。
工作原理：在产品测试时，使用者手持并向左劳动滑块手柄15，使得滑块手柄15带动铜质拉杆12沿着负电极护套11向左移动，铜质拉杆12带动镀金负电极13向左移动，进而使得镀金负电极13与镀金铜块9分开，同时镀金负电极13带动压簧14压缩，然后将待测试的产品放置在测量支撑绝缘底板6上，接着缓慢推送滑块手柄15，使产品与测试装置的镀金负电极13和镀金铜块9接触，同时通过压簧14弹力的作用，使得产品与测试装置正负极的接触更加紧密，进而测试产品性能。
综上所述：该片式电子元器件测试装置，通过正负电极的面接触和压簧的力度控制，提高了产品测试精度，对产品的品质因数的测量精度的改善，本测试装置，不仅提高了片式电感的测试精度，而且制造和维护成本低，还使用方便，并且调节简单易上手。
需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

Claims (7)

1.一种片式电子元器件测试装置，包括绝缘板（1），其特征在于：所述绝缘板（1）的顶部固定连接有负电极板（2），所述负电极板（2）底部的右侧镶嵌有连接器件铜块（3），所述连接器件铜块（3）的内腔固定连接有绝缘层（4），所述绝缘层（4）的顶部贯穿设置有测试针（5），所述测试针（5）的底端贯穿至连接器件铜块（3）的底部，所述负电极板（2）顶部的右侧固定连接有测量支撑绝缘底板（6），所述测量支撑绝缘底板（6）的顶部开设有滑槽（7），所述负电极板（2）顶部的右侧开设有与测试针（5）配合使用的开口，所述测试针（5）靠近测量支撑绝缘底板（6）的一端延伸至滑槽（7）的内腔并固定连接有镀金正电极（8），所述镀金正电极（8）与滑槽（7）滑动连接，所述镀金正电极（8）的左侧固定连接有镀金铜块（9），所述负电极板（2）的顶部固定连接有位于测量支撑绝缘底板（6）左侧的负电极固定架（10），所述负电极固定架（10）的右侧贯穿设置有负电极护套（11），所述负电极护套（11）的左侧延伸至负电极固定架（10）的左侧，所述负电极护套（11）的内腔滑动连接有铜质拉杆（12），所述铜质拉杆（12）的右端延伸至滑槽（7）的内腔并固定连接有镀金负电极（13），所述铜质拉杆（12）的表面套设有位于负电极护套（11）和镀金负电极（13）之间的压簧（14），所述铜质拉杆（12）的左端延伸至负电极护套（11）的左端，所述铜质拉杆（12）表面的左侧固定连接有位于负电极固定架（10）左侧的滑块手柄（15）。
2.根据权利要求1所述的一种片式电子元器件测试装置，其特征在于：所述绝缘板（1）的材料为聚氨酯材料和四氟材料其中的一种，所述绝缘板（1）的厚度为8-10mm。
3.根据权利要求1或2所述的一种片式电子元器件测试装置，其特征在于：所述负电极板（2）的材料为不锈钢材料，且其厚度为1-2mm，所述负电极板（2）通过螺丝或胶固定在绝缘板（1）的顶部。
4.根据权利要求1所述的一种片式电子元器件测试装置，其特征在于：所述测量支撑绝缘底板（6）、负电极固定架（10）和滑块手柄（15）的材料均为有机玻璃和四氟材料其中的一种。
5.根据权利要求1所述的一种片式电子元器件测试装置，其特征在于：所述绝缘板（1）的底部固定连接有支撑柱（16）。
6.根据权利要求1所述的一种片式电子元器件测试装置，其特征在于：所述负电极板（2）顶部的右侧固定连接有屏蔽罩（17），所述屏蔽罩（17）的材料为不锈钢材料。
7.根据权利要求1所述的一种片式电子元器件测试装置，其特征在于：所述压簧（14）的弹力为1.96-4.9N。
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