CN105866579B - 一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置 - Google Patents

一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置 Download PDF

Info

Publication number
CN105866579B
CN105866579B CN201610207744.XA CN201610207744A CN105866579B CN 105866579 B CN105866579 B CN 105866579B CN 201610207744 A CN201610207744 A CN 201610207744A CN 105866579 B CN105866579 B CN 105866579B
Authority
CN
China
Prior art keywords
golden finger
support
plug
connector
contact resistance
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201610207744.XA
Other languages
English (en)
Other versions
CN105866579A (zh
Inventor
张智畅
陈蓓
胡梦海
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Guangzhou Xingsen Electronic Co Ltd
Shenzhen Fastprint Circuit Tech Co Ltd
Original Assignee
Guangzhou Xingsen Electronic Co Ltd
Shenzhen Fastprint Circuit Tech Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Guangzhou Xingsen Electronic Co Ltd, Shenzhen Fastprint Circuit Tech Co Ltd filed Critical Guangzhou Xingsen Electronic Co Ltd
Priority to CN201610207744.XA priority Critical patent/CN105866579B/zh
Publication of CN105866579A publication Critical patent/CN105866579A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN105866579B publication Critical patent/CN105866579B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/08—Measuring resistance by measuring both voltage and current

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

本发明公开了一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置，包括基座、第一支架、第二支架、直线驱动装置、处理器以及一个以上的与外部金手指插拔配合的连接器，第一支架和第二支架分设于基座一侧，连接器设于第一支架上，第二支架用于固定外部金手指，基座上开有第一接口和第二接口，连接器的一端通过第一接口与处理器电连接，连接器的另一端用于与外部金手指插拔配合，外部金手指通过第二接口与处理器电连接，直线驱动装置的输出端与第二支架驱动连接，用于驱使第二支架在远离和靠近第一支架的方向上运动。本发明可以对金手指的插拔老化和接触电阻进行测试。

Description

一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置
技术领域
本发明涉及测试装置，尤其涉及一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置。
背景技术
金手指是由许多金黄色的导电触片组成，表面镀金且触片排列如手指状的连接口，它通常是与内存处理单元的连接器进行插拔配合来传送信号的。而随着金手指与连接器的频繁插拔操作，金手指的导电触片表面由于长期摩擦，导致金手指的表面接触电阻增大，从而使金手指与连接器的电气连接性能下降，出现金手指的插拔老化现象。因此为了合理使用金手指，需要对金手指的接触电阻及插拔老化进行测试。
发明内容
针对现有技术的不足，本发明的目的旨在于提供一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置，通过该测试装置可以对金手指的接触电阻和插拔老化进行测试。
为实现上述目的，本发明采用如下技术方案：
一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置，包括基座、第一支架、第二支架、直线驱动装置、处理器以及一个以上的与外部金手指插拔配合的连接器，第一支架和第二支架分设于基座一侧，连接器设于第一支架上，第二支架用于固定外部金手指，基座上开有第一接口和第二接口，连接器的一端通过穿过第一接口的电线与处理器电连接，连 接器的另一端用于与外部金手指插拔配合，外部金手指通过穿过第二接口的电线与处理器电连接，第二支架与基座滑动配合，直线驱动装置的输出端与第二支架驱动连接，用于驱使第二支架在远离和靠近第一支架的方向上运动。
优选的，上述的一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置还包括第一固定夹板，该第一固定夹板与第一支架可拆卸连接，连接器与固定夹板可拆卸连接。
优选的，上述的一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置还包括第二固定夹板，该第二固定夹板与第二支架可拆卸连接，该第二固定夹板用于与外部金手指可拆卸连接。
优选的，上述的一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置还包括固定于基座上的一个以上的导轨，该导轨与第二支架滑动配合。
优选的，上述的一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置还包括设于导轨上的一个以上的限位开关。
优选的，上述的一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置的限位开关包括限位座、定位杆和表面设有标尺的连接件，限位座设于基座上，连接件由第二支架的一侧伸出并罩于限位座上，限位座上开有限位槽，连接件上开有与限位槽对应的通腔，定位杆贯穿通腔并与限位槽抵接配合。
优选的，上述的一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置的处理器为一微电阻计。
优选的，上述的一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置还包括 控制器，该控制器与直线驱动装置电连接。
优选的，上述的一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置的连接器的数量为两个以上，第一固定夹板和第二固定夹板的数量与连接器的数量一致。
相比现有技术，本发明的有益效果在于：
本发明通过第一支架将连接器固定，直线驱动装置的输出端驱动第二支架在远离和靠近第一支架的方向运动，从而带动外部金手指与设于第二支架上的连接器之间进行插拔操作，从而实现对外部金手指的接触电阻和插拔老化测试。
附图说明
图1为本发明的整体结构图；
图中：1、基座；2、第一支架；21、第一固定夹板；3、第二支架；31、第二固定夹板；4、连接器；5、第一接口；6、第二接口；7、外部金手指；8、导轨；9、限位开关；91、连接件；92、定位杆；93、通腔。
具体实施方式
下面，结合附图以及具体实施方式，对本发明做进一步描述：
请参见图1，一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置，包括基座1、第一支架2、第二支架3、直线驱动装置、处理器以及一个以上的与外部金手指7插拔配合的连接器4，第一支架2和第二支架3分设于基座1一侧，连接器4设于第一支架2上，第二支架3用于固定外部金手指7，基座1上开有第一接口5和第二接口6，连接器4 的一端通过穿过第一接口5的电线与处理器电连接，连接器4的另一端与用于与外部金手指7插拔配合，外部金手指7通过穿过第二接口6的电线与处理器电连接，第二支架3与基座1滑动配合，直线驱动装置的输出端与第二支架3驱动连接，用于驱使第二支架3在远离和靠近第一支架2的方向上运动。
使用时，通过直线驱动装置的输出端带动第二支架3朝靠近第一支架2的方向运动，直至固定于第二支架3上的外部金手指7插入固定于第一支架2上的连接器4内，并和连接器4电接触，如此，处理器与第一接口5、连接器4、外部金手指7、以及第二接口6依次导通，而处理器内置的现有简单程序可通过外部金手指7表面的电压值和电流值计算出金手指表面的平均接触电阻值，之后直线驱动装置的输出端驱动第二支架3远离第一支架2，外部金手指7离开连接器4，完成一次测试。在进行外部金手指7的插拔老化测试时，只需重复上述测试动作，直至处理器计算出的接触电阻值与第一次测试获得接触电阻值存在一定差异时，完成插拔老化测试。本实施例中设定的差异为当电阻变化率≤10％时，金手指插拔老化测试完毕，其中电阻变化率＝(第一次测得的接触电阻值-最后一次测得的接触电阻值)/第一次测得的接触电阻值×100％。上述的差异不限于本实施例中规定的，还可以根据连接器4与外部金手指7的不同电气性能设定。
为了方便更换第一支架2上的连接器4，作为一种优选方案，本实施例中还增设了第一固定夹板21，通过使第一固定夹板21与第一支架2可拆卸连接，可方便第一固定夹板21与第一支架2的拆卸， 而通过使第一固定夹板21与连接器4可拆卸连接，不仅便于连接器4与第一固定夹板21的拆卸，也便于更换第一支架2上的连接器4。进一步的，还可以增设第二固定夹板31，并使第二固定夹板31与第二支架3可拆卸连接，外部金手指7以可拆卸方式固定于第二固定夹板31上，如此也便于更滑第二支架3上的外部金手指7。
为了限制第二支架3的运动，作为一种优选方案，本实施例中在基座1上固定有一个以上的导轨8，并使该导轨8与第二支架3滑动配合。
为了使外部金手指7与连接器4电接触时，外部金手指7给连接器4表面的压力一定，作为一种优选方案，本实施例中在导轨8上设置了一个以上的限位开关9，该限位开关9不仅可以起到限位保护作用，而且可以使外部金手指7作用在连接器4表面的压力一定，提高测试准度。本实施例中的限位开关9包括限位座、定位杆92和表面设有标尺的连接件91，限位座设于基座1上，连接件91由第二支架3的一侧伸出并罩于限位座上，限位座上开有限位槽，连接件91上开有与限位槽对应的通腔93，定位杆92贯穿通腔93并与限位槽抵接配合，如此，根据标尺调节定位杆92位置，即可方便设定保护距离。当然也可以采用其他结构的限位开关9。
为了提高测试精度，可以使处理器为一微电阻计，但也可以是其他设备。
为了实现自动化，提高测试效率和准度，还可以增设控制器，并使控制器与直线驱动装置电连接，如此，控制器内的现有简单程序即 可控制直线驱动装置的输出端按照设定好的按压速度、按压频率、按压深度等试验参数来带动外部金手指7运动，无需人手动操作，即可简单高效完成测试。
为了提高测试效率，还可以使连接器4的数量为两个以上，第一固定夹板21和第二固定夹板31的数量与连接器4的数量一致，如此就可以同时进行多块外部金手指7的测试。
对本领域的技术人员来说，可根据以上描述的技术方案以及构思，做出其它各种相应的改变以及形变，而所有的这些改变以及形变都应该属于本发明权利要求的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置，其特征在于，包括基座、第一支架、第二支架、直线驱动装置、处理器以及一个以上的与外部金手指插拔配合的连接器，第一支架和第二支架分设于基座一侧，连接器设于第一支架上，第二支架用于固定外部金手指，基座上开有第一接口和第二接口，连接器的一端通过穿过第一接口的电线与处理器电连接，连接器的另一端用于与外部金手指插拔配合，外部金手指通过穿过第二接口的电线与处理器电连接，第二支架与基座滑动配合，直线驱动装置的输出端与第二支架驱动连接，用于驱使第二支架在远离和靠近第一支架的方向上运动；
所述金手指接触电阻及插拔老化测试装置还包括控制器，所述控制器与直线驱动装置电连接，以控制器内的现有简单程序可控制直线驱动装置的输出端按照设定好的按压速度、按压频率和按压深度试验参数来带动外部金手指运动。
2.根据权利要求1所述的一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置，其特征在于，还包括第一固定夹板，该第一固定夹板与第一支架可拆卸连接，连接器与固定夹板可拆卸连接。
3.根据权利要求2所述的一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置，其特征在于，还包括第二固定夹板，该第二固定夹板与第二支架可拆卸连接，该第二固定夹板用于与外部金手指可拆卸连接。
4.根据权利要求3所述的一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置，其特征在于，还包括固定于基座上的一个以上的导轨，该导轨与第二支架滑动配合。
5.根据权利要求4所述的一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置，其特征在于，还包括设于导轨上的一个以上的限位开关。
6.根据权利要求5所述的一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置，其特征在于，限位开关包括限位座、定位杆和表面设有标尺的连接件，限位座设于基座上，连接件由第二支架的一侧伸出并罩于限位座上，限位座上开有限位槽，连接件上开有与限位槽对应的通腔，定位杆贯穿通腔并与限位槽抵接配合。
7.根据权利要求1所述的一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置，其特征在于，处理器为一微电阻计。
8.根据权利要求1-7任意一项所述的一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置，其特征在于，还包括控制器，该控制器与直线驱动装置电连接。
9.根据权利要求3-6任意一项所述的一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置，其特征在于，连接器的数量为两个以上，第一固定夹板和第二固定夹板的数量与连接器的数量一致。
CN201610207744.XA 2016-04-01 2016-04-01 一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置 Active CN105866579B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610207744.XA CN105866579B (zh) 2016-04-01 2016-04-01 一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610207744.XA CN105866579B (zh) 2016-04-01 2016-04-01 一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN105866579A CN105866579A (zh) 2016-08-17
CN105866579B true CN105866579B (zh) 2019-02-26

Family

ID=56628209

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201610207744.XA Active CN105866579B (zh) 2016-04-01 2016-04-01 一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN105866579B (zh)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107144759A (zh) * 2017-05-12 2017-09-08 郑州云海信息技术有限公司 一种测量内存条金手指接触度的方法
CN113539349B (zh) * 2021-07-23 2024-05-28 曙光信息产业股份有限公司 一种测试基板、llcr测量方法及测试基板测试方法
CN114167123A (zh) * 2021-10-31 2022-03-11 浪潮(北京)电子信息产业有限公司 一种电压检测电路、服务器、服务器电源及其服务器系统

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2890925Y (zh) * 2006-01-05 2007-04-18 英业达股份有限公司 测试装置
CN1991399A (zh) * 2005-12-26 2007-07-04 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 连接器测试装置
CN201045619Y (zh) * 2007-05-17 2008-04-09 纬创资通股份有限公司 测试用治具

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010021297A (ja) * 2008-07-10 2010-01-28 Compeq Manufacturing Co Ltd 剥離可能な保護層を有するリジッドフレックス回路基板及びその製造方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1991399A (zh) * 2005-12-26 2007-07-04 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 连接器测试装置
CN2890925Y (zh) * 2006-01-05 2007-04-18 英业达股份有限公司 测试装置
CN201045619Y (zh) * 2007-05-17 2008-04-09 纬创资通股份有限公司 测试用治具

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
低导通电阻MOSFET测试中的自动校验技术;顾汉玉等;《微型机与应用》;20131231;第32卷(第5期);第88-90页

Also Published As

Publication number Publication date
CN105866579A (zh) 2016-08-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN105866579B (zh) 一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置
CN107843820B (zh) 一种绝缘子放电报警装置
CN213754902U (zh) 一种头戴耳机滑动臂拉力测试治具
CN205656249U (zh) 一种焊盘接触电阻及点接触老化测试装置
CN204439777U (zh) Lightning插头测试装置
CN202563064U (zh) 变频器驱动板测试工装
CN109116063A (zh) 一种移动电源质量检测机构
CN209372964U (zh) 一种速动开关接触电阻的检测设备
CN206161782U (zh) 一种耐高压绝缘测试机
CN103308219B (zh) 电器簧片弹力值测量装置及其测量方法
CN204330718U (zh) 材料测试机构
CN207571212U (zh) 一种轴向引脚电容检测平台
CN103149105A (zh) 一种测试弹性带材抗应力松驰的装置与方法
CN208968799U (zh) 一种综合插拔试验机
CN208568897U (zh) 一种直流电压互感器
CN202837335U (zh) 一种小功率脉冲变压器的测试夹具
CN207571215U (zh) 一种电容检测装置
CN209542664U (zh) 一种避雷器工作状态测试辅助装置
CN204214896U (zh) 一种接线盒电阻测量装置
CN203811377U (zh) 一种避雷器机械疲劳测试机
CN204515018U (zh) 自动转换开关回路电阻测试仪
CN205374173U (zh) 拉力测试机
CN205175325U (zh) 一种便携式导轨精度测量装置
CN104697694B (zh) 一种断路器短路保护检测装置及应用所述装置的检测方法
CN205229407U (zh) 一种高密度积层板导电油墨线路测试装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant