CN204330718U - 材料测试机构 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供了一种材料测试机构，包括：安装板、伺服电机、曲柄连杆装置、滑块、探针座、探针、探针导向块，伺服电机安装在安装板的第一侧，滑块位于安装板的另一侧，伺服电机通过曲柄连杆装置驱动滑块上下滑动，探针座固定地安装在滑块上，多个探针竖直地安装在探针座上，且多个探针穿过探针导向块。本实用新型在探针导向块的导向作用下，能够保证探针之间的间距，从而使其更好地与待测试材料的引脚进行良性接触，提高测试效果。本实用新型特别适用于极小材料的测试，具有结构简单、成本低、测试稳定的特点。
Description
技术领域
本实用新型涉及机械领域，特别涉及一种材料测试机构。
背景技术
现有技术中的材料测试机构的探针在上下运动过程中，各探针之间的间距难以保证，因而，存在与与待测试材料的引脚接触不可靠的问题，影响了测试的效果和稳定性。
实用新型内容
本实用新型提供了一种结构简单、成本低、测试稳定性好的材料测试机构。
为解决上述问题，作为本实用新型的一个方面，提供了一种材料测试机构，包括：安装板、伺服电机、曲柄连杆装置、滑块、探针座、探针、探针导向块，伺服电机安装在安装板的第一侧，滑块位于安装板的另一侧，伺服电机通过曲柄连杆装置驱动滑块上下滑动，探针座固定地安装在滑块上，多个探针竖直地安装在探针座上，且多个探针穿过探针导向块。
进一步地，曲柄连杆装置包括曲柄和连杆，伺服电机的输出端与曲柄的一端连接，曲柄的另一端与连杆的一端可枢转地连接，连杆的另一端与滑块连接。
进一步地，探针导向块固定地安装在滑块上。
进一步地，安装板上设置有开口，伺服电机的输出端贯穿开口。
本实用新型在探针导向块的导向作用下，能够保证探针之间的间距，从而使其更好地与待测试材料的引脚进行良性接触，提高测试效果。本实用新型特别适用于极小材料的测试，具有结构简单、成本低、测试稳定的特点。
附图说明
图1示意性地示出了本实用新型的结构示意图。
图中附图标记：1、伺服电机；2、探针；3、探针导向块；4、滑块；5、探针座；6、连杆；7、曲柄；8、安装板；9、开口。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型的实施例进行详细说明，但是本实用新型可以由权利要求限定和覆盖的多种不同方式实施。
请参考图1，本实用新型提供了一种材料测试机构，包括：安装板8、伺服电机1、曲柄连杆装置、滑块4、探针座5、探针2、探针导向块3，伺服电机1安装在安装板8的第一侧，滑块4位于安装板8的另一侧，伺服电机1通过曲柄连杆装置驱动滑块4上下滑动，探针座5固定地安装在滑块4上，多个探针2竖直地安装在探针座5上，且多个探针2穿过探针导向块3。
如图1所示，伺服电机1提供动力，使曲柄连杆装置带动滑块4做上下直线运动，从而使探针2也跟着滑块4做上下直线运动。探针座5固定在滑块4上，在探针导向块3的导向作用下，探针2的间距能更好的与待测试材料的引脚进行良性接触，提高测试效果。本实用新型特别适用于极小材料的测试，具有结构简单、成本低、测试稳定的特点。
优选地，曲柄连杆装置包括曲柄7和连杆6，伺服电机1的输出端与曲柄7的一端连接，曲柄7的另一端与连杆6的一端可枢转地连接，连杆6的另一端与滑块4连接。
优选地，探针导向块3固定地安装在滑块4上。
优选地，安装板8上设置有开口9，伺服电机1的输出端贯穿开口9。
以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (4)
1.一种材料测试机构，其特征在于，包括：安装板(8)、伺服电机(1)、曲柄连杆装置、滑块(4)、探针座(5)、探针(2)、探针导向块(3)，所述伺服电机(1)安装在所述安装板(8)的第一侧，所述滑块(4)位于所述安装板(8)的另一侧，所述伺服电机(1)通过所述曲柄连杆装置驱动所述滑块(4)上下滑动，所述探针座(5)固定地安装在所述滑块(4)上，多个所述探针(2)竖直地安装在所述探针座(5)上，且所述多个探针(2)穿过所述探针导向块(3)。
2.根据权利要求1所述的材料测试机构，其特征在于，所述曲柄连杆装置包括曲柄(7)和连杆(6)，所述伺服电机(1)的输出端与所述曲柄(7)的一端连接，所述曲柄(7)的另一端与所述连杆(6)的一端可枢转地连接，所述连杆(6)的另一端与所述滑块(4)连接。
3.根据权利要求1所述的材料测试机构，其特征在于，所述探针导向块(3)固定地安装在所述滑块(4)上。
4.根据权利要求2所述的材料测试机构，其特征在于，所述安装板(8)上设置有开口(9)，所述伺服电机(1)的输出端贯穿所述开口(9)。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201420785244.0U CN204330718U (zh) | 2014-12-11 | 2014-12-11 | 材料测试机构 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| CN201420785244.0U CN204330718U (zh) | 2014-12-11 | 2014-12-11 | 材料测试机构 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN204330718U true CN204330718U (zh) | 2015-05-13 |
Family
ID=53167067
Family Applications (1)
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| CN201420785244.0U Expired - Fee Related CN204330718U (zh) | 2014-12-11 | 2014-12-11 | 材料测试机构 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN204330718U (zh) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106644405A (zh) * | 2016-12-01 | 2017-05-10 | 深圳市标谱半导体科技有限公司 | 微小电子元件测试分光设备 |
| CN110308352A (zh) * | 2019-07-16 | 2019-10-08 | 珠海达明科技有限公司 | 一种智能化探针测试平台及其测试方法 |
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2014
- 2014-12-11 CN CN201420785244.0U patent/CN204330718U/zh not_active Expired - Fee Related
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|---|---|---|---|---|
| CN106644405A (zh) * | 2016-12-01 | 2017-05-10 | 深圳市标谱半导体科技有限公司 | 微小电子元件测试分光设备 |
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Legal Events
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| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| CP03 | Change of name, title or address |
Address after: 518000, Shiyan City, Guangdong, Baoan District province Shilong street community two Industrial Road No. 8, the same as the photoelectric factory building A3, Patentee after: Shenzhen brilliant Technology Co., Ltd. Address before: 518000 eighth Guangdong province Hualian Industrial Zone Baoan District Dalang Street Dalang community Huaning road Shenzhen city building 3-4 layer Patentee before: SHENZHEN XUANSHUO OPTOELECTRONIC SCIENCE AND TECHNOLOGY CO., LTD. |
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| CP03 | Change of name, title or address | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20150513 Termination date: 20191211 |
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