CN109524049B

CN109524049B - Ssd异常掉电测试方法、装置、计算机设备和存储介质

Info

Publication number: CN109524049B
Application number: CN201811415667.2A
Authority: CN
Inventors: 刘坚; 冯元元; 冷志源
Original assignee: Shenzhen Union Memory Information System Co Ltd
Current assignee: Shenzhen Union Memory Information System Co Ltd
Priority date: 2018-11-26
Filing date: 2018-11-26
Publication date: 2021-04-20
Anticipated expiration: 2038-11-26
Also published as: CN109524049A

Abstract

本申请涉及一种SSD异常掉电测试方法、装置、计算机设备和存储介质，其中该方法包括：获取SSD异常掉电测试请求；根据所述SSD异常掉电测试请求配置测试设定参数，所述测试设定参数中包括需要掉电的SSD测试机标识；将所述测试设定参数发送至控制发送器；所述控制发送器向所述需要掉电的SSD测试机标识对应的电源控制器发送无线信号，以使所述电源控制器根据所述测试设定参数控制SSD测试机进行SSD异常掉电测试。本发明使用一个控制发送器将多个测试设备通过无线的方式连接起来，通过配置好的参数对SSD进行异常掉电。节约资源提高效率，同时掉电时间的覆盖面广泛，测试更充分。

Description

SSD异常掉电测试方法、装置、计算机设备和存储介质

技术领域

本发明涉及掉电测试技术领域，特别是涉及一种SSD异常掉电测试方法、装置、计算机设备和存储介质。

背景技术

目前，SSD异常掉电的测试方法主要使用手动的方式对SSD进行掉电。如图1所示，SSD与电源控制器相连，电源控制器再与PC控制器相连。PC控制机能够控制电源控制器对SSD进行异常掉电。

这种通过手动控制电源控制器去控制SSD掉电的方式具有如下缺点：首先，设备单对单，浪费资源；其次，测试设备通过有线的方式，很不方便；最后，设备的掉电时间人为控制，具有不确定性，且覆盖面不广。这种依靠手动的方式来对SSD进行掉电测试，浪费人力，效率低且测试不够充分。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种可以实现提高SSD异常掉电测试效率的SSD异常掉电测试方法、装置、计算机设备和存储介质。

一种SSD异常掉电测试方法，所述方法包括：

获取SSD异常掉电测试请求；

根据所述SSD异常掉电测试请求配置测试设定参数，所述测试设定参数中包括需要掉电的SSD测试机标识；

将所述测试设定参数发送至控制发送器；

所述控制发送器向多个所述需要掉电的SSD测试机标识对应的电源控制器发送无线信号，以使所述电源控制器根据所述测试设定参数控制SSD测试机进行SSD异常掉电测试。

在其中一个实施例中，所述测试设定参数中还包括：

需要掉电的SSD测试机标识对应的掉电方式，所述掉电方式包括：随机时间掉电方式、固定时间掉电方式以及时间渐变掉电方式。

在其中一个实施例中，所述电源控制器根据所述测试设定参数控制SSD测试机进行SSD异常掉电测试的步骤还包括：

所述电源控制器获取所述测试设定参数；

根据所述测试设定参数中的掉电方式判断是否采用随机时间掉电；

若所述测试设定参数中的掉电方式是随机时间掉电方式，则设置随机掉电的时间范围，以控制SSD测试机进行SSD异常掉电测试。

在其中一个实施例中，在所述根据所述测试设定参数中的掉电方式判断是否采用随机时间掉电的步骤之后还包括：

若所述测试设定参数中的掉电方式不是随机时间掉电方式，则设置固定掉电的时间与间隔，以控制SSD测试机进行SSD异常掉电测试。

一种SSD异常掉电测试装置，所述SSD异常掉电测试装置包括：

获取模块，所述获取模块用于获取SSD异常掉电测试请求；

配置模块，所述配置模块用于根据所述SSD异常掉电测试请求配置测试设定参数，所述测试设定参数中包括需要掉电的SSD测试机标识；

发送模块，所述发送模块用于将所述测试设定参数发送至控制发送器；

控制模块，所述控制模块用于所述控制发送器向多个所述需要掉电的SSD测试机标识对应的电源控制器发送无线信号，以使所述电源控制器根据所述测试设定参数控制SSD测试机进行SSD异常掉电测试。

在其中一个实施例中，所述测试设定参数中还包括：

在其中一个实施例中，所述控制模块还用于：

所述电源控制器获取所述测试设定参数；

在其中一个实施例中，所述控制模块还用于：

一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任意一项方法的步骤。

一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任意一项方法的步骤。

上述SSD异常掉电测试方法、装置、计算机设备和存储介质，首先获取SSD异常掉电测试请求；根据所述SSD异常掉电测试请求配置测试设定参数，所述测试设定参数中包括需要掉电的SSD测试机标识；将所述测试设定参数发送至控制发送器；所述控制发送器向所述需要掉电的SSD测试机标识对应的电源控制器发送无线信号，以使所述电源控制器根据所述测试设定参数控制SSD测试机进行SSD异常掉电测试。本发明使用一个控制发送器将多个测试设备通过无线的方式连接起来，通过配置好的参数对SSD进行异常掉电。节约资源提高效率，同时掉电时间的覆盖面广泛，测试更充分。

附图说明

图1为传统技术中SSD异常掉电测试的应用环境图；

图2为一个实施例中SSD异常掉电测试方法的应用环境图；

图3为一个实施例中SSD异常掉电测试方法的流程示意图；

图4为一个实施例中电源控制器根据测试设定参数控制SSD测试机进行SSD异常掉电测试的步骤的流程示意图；

图5为一个实施例中SSD异常掉电的测试流程图；

图6为一个实施例中SSD异常掉电测试装置的结构框图；

图7为一个实施例中计算机设备的内部结构图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

如图2所示，本专利提出的异常掉电测试的应用环境图。具体包括：PC控制机，控制发送器，电源接收控制器和SSD。其中，PC控制机直接与控制发送器相连，控制发送器与电源控制接收器以无线的方式交互，采用单对多的控制方式。电源控制接收器直接与SSD相连。

在一个实施例中，如图3所示，提供了一种SSD异常掉电测试方法应用于图2中的测试环境中，该方法包括：

步骤302，获取SSD异常掉电测试请求；

步骤304，根据SSD异常掉电测试请求配置测试设定参数，测试设定参数中包括需要掉电的SSD测试机标识；

步骤306，将测试设定参数发送至控制发送器；

步骤308，控制发送器向多个需要掉电的SSD测试机标识对应的电源控制器发送无线信号，以使电源控制器根据测试设定参数控制SSD测试机进行SSD异常掉电测试。

在其中一个具体的实施例中，测试设定参数中还包括：需要掉电的SSD测试机标识对应的掉电方式，掉电方式包括：随机时间掉电方式、固定时间掉电方式以及时间渐变掉电方式。

具体地，PC控制机连接控制发送器，并设定以下内容，包括掉电的方式：随机时间掉电、固定的时间掉电或者时间渐变的掉电；需要掉电的电源控制接收器编号。当设定好参数后，启动控制发送器，则控制发送器自动发送无线信号给电源控制器去控制SSD异常掉电。

在本实施例中，首先获取SSD异常掉电测试请求；根据SSD异常掉电测试请求配置测试设定参数，测试设定参数中包括需要掉电的SSD测试机标识；将测试设定参数发送至控制发送器；控制发送器向需要掉电的SSD测试机标识对应的电源控制器发送无线信号，以使电源控制器根据测试设定参数控制SSD测试机进行SSD异常掉电测试。本实施例使用一个控制发送器将多个测试设备通过无线的方式连接起来，通过配置好的参数对SSD进行异常掉电。节约资源提高效率，同时掉电时间的覆盖面广泛，测试更充分。

在其中一个具体的实施例中，参考图4，提供了一种SSD异常掉电测试方法，其中电源控制器根据测试设定参数控制SSD测试机进行SSD异常掉电测试的步骤还包括：

步骤402，电源控制器获取测试设定参数；

步骤404，根据测试设定参数中的掉电方式判断是否采用随机时间掉电；若测试设定参数中的掉电方式是随机时间掉电方式，则执行步骤406；若测试设定参数中的掉电方式不是随机时间掉电方式，则执行步骤408；

步骤406，设置随机掉电的时间范围，以控制SSD测试机进行SSD异常掉电测试；

步骤408，设置固定掉电的时间与间隔，以控制SSD测试机进行SSD异常掉电测试。

具体地，参考图5，图5为一个完整的SSD异常掉电测试流程图，包括：测试系统需要一台PC控制机，一台控制发送器和N台电源控制器与N台SSD测试机；电源控制器与SSD测试机相连；将PC控制机与控制发送器相连，PC控制机对控制发送器设定参数，包括需要异常掉电的SSD测试机设备号；随机时间掉电、固定的时间掉电或者时间渐变的掉电；运行控制发送器，开始掉电测试。

在本实施例中，通过无线通信的方式将一个电源控制发送器与多个电源控制器接收器连接起来，通过一台PC控制机对多个电源控制发送器进行设定，采用随机时间或者固定时间的方式对SSD进行异常掉电，使得测试效率更高范围更广泛。

应该理解的是，虽然图3-5的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，图3-5中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

在一个实施例中，如图6所示，提供了一种SSD异常掉电测试装置600，该装置包括：

获取模块601，用于获取SSD异常掉电测试请求；

配置模块602，用于根据SSD异常掉电测试请求配置测试设定参数，测试设定参数中包括需要掉电的SSD测试机标识；

发送模块603，用于将测试设定参数发送至控制发送器；

控制模块604，用于控制发送器向多个需要掉电的SSD测试机标识对应的电源控制器发送无线信号，以使电源控制器根据测试设定参数控制SSD测试机进行SSD异常掉电测试。

在其中一个实施例中，测试设定参数中还包括：

需要掉电的SSD测试机标识对应的掉电方式，掉电方式包括：随机时间掉电方式、固定时间掉电方式以及时间渐变掉电方式。

在其中一个实施例中，控制模块604还用于：

电源控制器获取所述测试设定参数；

根据测试设定参数中的掉电方式判断是否采用随机时间掉电；

若测试设定参数中的掉电方式是随机时间掉电方式，则设置随机掉电的时间范围，以控制SSD测试机进行SSD异常掉电测试。

在其中一个实施例中，控制模块604还用于：

若测试设定参数中的掉电方式不是随机时间掉电方式，则设置固定掉电的时间与间隔，以控制SSD测试机进行SSD异常掉电测试。

关于SSD异常掉电测试装置600的具体限定可以参见上文中对于SSD异常掉电测试方法的限定，在此不再赘述。

在一个实施例中，提供了一种计算机设备，其内部结构图可以如图7所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器以及网络接口。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统、计算机程序和数据库。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种SSD异常掉电测试方法。

本领域技术人员可以理解，图7中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。

在一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现以上各个方法实施例中的步骤。

在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以上各个方法实施例中的步骤。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims

1.一种SSD异常掉电测试方法，所述方法包括：

获取SSD异常掉电测试请求；

根据所述SSD异常掉电测试请求配置测试设定参数，所述测试设定参数中包括需要掉电的SSD测试机标识；所述测试设定参数中还包括需要掉电的SSD测试机标识对应的掉电方式，所述掉电方式包括随机时间掉电方式、固定时间掉电方式以及时间渐变掉电方式；

将所述测试设定参数发送至控制发送器；

所述控制发送器向多个所述需要掉电的SSD测试机标识对应的电源控制器发送无线信号，以使所述电源控制器根据所述测试设定参数控制SSD测试机进行SSD异常掉电测试；

所述电源控制器根据所述测试设定参数控制SSD测试机进行SSD异常掉电测试的步骤还包括所述电源控制器获取所述测试设定参数；根据所述测试设定参数中的掉电方式判断是否采用随机时间掉电；若所述测试设定参数中的掉电方式是随机时间掉电方式，则设置随机掉电的时间范围，以控制SSD测试机进行SSD异常掉电测试；若所述测试设定参数中的掉电方式不是随机时间掉电方式，则设置固定掉电的时间与间隔，以控制SSD测试机进行SSD异常掉电测试。

2.一种SSD异常掉电测试装置，其特征在于，所述SSD异常掉电测试装置包括：

获取模块，所述获取模块用于获取SSD异常掉电测试请求；

配置模块，所述配置模块用于根据所述SSD异常掉电测试请求配置测试设定参数，所述测试设定参数中包括需要掉电的SSD测试机标识，所述测试设定参数中还包括需要掉电的SSD测试机标识对应的掉电方式，所述掉电方式包括随机时间掉电方式、固定时间掉电方式以及时间渐变掉电方式；

控制模块，所述控制模块用于所述控制发送器向多个所述需要掉电的SSD测试机标识对应的电源控制器发送无线信号，以使所述电源控制器根据所述测试设定参数控制SSD测试机进行SSD异常掉电测试；

所述控制模块还用于所述电源控制器获取所述测试设定参数；根据所述测试设定参数中的掉电方式判断是否采用随机时间掉电；若所述测试设定参数中的掉电方式是随机时间掉电方式，则设置随机掉电的时间范围，以控制SSD测试机进行SSD异常掉电测试；若所述测试设定参数中的掉电方式不是随机时间掉电方式，则设置固定掉电的时间与间隔，以控制SSD测试机进行SSD异常掉电测试。

3.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1所述方法的步骤。

4.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1所述的方法的步骤。