CN113808655B - 用于进行掉电测试的方法、装置和系统 - Google Patents

Abstract

提供了一种用于进行掉电测试的方法。该方法包括：在电子设备被上电之后执行多个程序，其中，所述多个程序中分别嵌入有标志位；以及将所述多个程序中的在所述电子设备发生掉电的时刻正在执行的相应的一个程序中的标志位的标记状态设置为第一标记状态，其中，所述标记状态包括第一标记状态和第二标记状态，所述第二标记状态与所述第一标记状态不同。通过这样的用于进行掉电测试的方法可以有助于优化整个掉电测试的过程，进而实现电子设备中的多个程序被掉电测试来测试到的频次可以是尽量均等的。

Description

用于进行掉电测试的方法、装置和系统

技术领域

本公开内容总体上涉及用于对设备进行测试的技术，以及更具体地涉及用于对设备进行掉电测试的方法、装置和系统。

背景技术

通常，在对通用闪存存储设备(UFS)设备的测试阶段会对UFS设备进行掉电测试。掉电测试是将处于工作状态的UFS设备的供电切断，然后再恢复对该UFS设备的供电，通过测试该UFS设备在恢复供电之后是处于正常的工作状态还是异常的工作状态，来判断该UFS设备是否通过了本次掉电测试。

然而，目前所采用的掉电测试对UFS设备的供电进行切断的时间点是随机地选择的，而通过随机地选择掉电时间点来进行的掉电测试难以保证UFS设备中的程序被全面地测试到。

发明内容

为了解决现有技术的上述问题，本公开内容的实施例提供用于进行掉电测试的方法、装置和系统。

一方面，本公开内容的实施例提供用于进行掉电测试的方法，包括在电子设备被上电之后执行多个程序，其中，所述多个程序中分别嵌入有标志位；以及将所述多个程序中的在所述电子设备发生掉电的时刻正在执行的相应的一个程序中的标志位的标记状态设置为第一标记状态，其中，所述标记状态包括第一标记状态和第二标记状态，所述第二标记状态与所述第一标记状态不同。

在一个实施例中，所述将所述多个程序中的在所述电子设备发生掉电的时刻正在执行的相应的一个程序中的标志位的标记状态设置为所述第一标记状态包括：基于日志文件，来将所述多个程序中的在所述电子设备发生掉电的时刻正在执行的相应的一个程序中的标志位的标记状态设置为所述第一标记状态。

在一个实施例中，所述方法还包括将所述多个程序中的在所述电子设备发生掉电的时刻未正在执行的一个或多个程序的标志位的标记状态设置为所述第二标记状态。

在一个实施例中，分别嵌入在所述多个程序中的标志位的标记状态用于生成统计数据表，其中，所述统计数据表指示所述电子设备在预定时间段内执行所述多个程序中的各程序时发生掉电的次数。

在一个实施例中，对所述电子设备发生掉电的时刻的选择是基于所述统计数据表来优化的。

在一个实施例中，所述多个程序包括主程序和子程序。

在一个实施例中，所述第一标记状态是通过1来表示的，并且所述第二标记状态是通过0表示的。

在一个实施例中，所述第一标记状态是通过0来表示的，并且所述第二标记状态是通过1表示的。

在一个实施例中，所述电子设备是存储设备。

在一个实施例中，所述方法是在所述存储设备中的固件中执行的。

在一个实施例中，所述存储设备是通用闪存存储设备。

另一方面，本公开内容的实施例提供用于进行掉电测试的装置，包括控制单元，其用于在所述装置被上电之后执行多个程序，其中，所述多个程序中分别嵌入有标志位；以及用于将所述多个程序中的在所述装置发生掉电的时刻正在执行的相应的一个程序中的标志位的标记状态设置为第一标记状态，其中，所述标记状态包括第一标记状态和第二标记状态，所述第二标记状态与所述第一标记状态不同。

在一个实施例中，所述装置还包括：存储单元，其用于存储日志文件；以及所述控制单元还用于基于所述日志文件，来将所述多个程序中的在所述装置发生掉电的时刻正在执行的相应的一个程序中的标志位的标记状态设置为所述第一标记状态。

在一个实施例中，所述控制单元还用于将所述多个程序中的在所述电子设备发生掉电的时刻未正在执行的一个或多个程序的标志位的标记状态设置为所述第二标记状态。

在一个实施例中，分别嵌入在所述多个程序中的标志位的标记状态用于生成统计数据表，其中，所述统计数据表指示所述装置在预定时间段内执行所述多个程序中的各程序时发生掉电的次数。

在一个实施例中，对所述装置发生掉电的时刻的选择是基于所述统计数据表来优化的。

在一个实施例中，所述多个程序包括主程序和子程序。

在一个实施例中，所述第一标记状态是通过1来表示的，并且所述第二标记状态是通过0表示的。

在一个实施例中，所述第一标记状态是通过0来表示的，并且所述第二标记状态是通过1表示的。

在一个实施例中，所述装置是存储设备。

在一个实施例中，所述存储设备是通用闪存存储设备。

另一方面，本公开内容的实施例提供用于进行掉电测试的装置，包括用于在所述装置被上电之后执行多个程序的单元，其中，所述多个程序中分别嵌入有标志位；以及用于将所述多个程序中的在所述装置发生掉电的时刻正在执行的相应的一个程序中的标志位的标记状态设置为第一标记状态的单元，其中，所述标记状态包括第一标记状态和第二标记状态，所述第二标记状态与所述第一标记状态不同。

在一个实施例中，所述用于将所述多个程序中的在所述装置发生掉电的时刻正在执行的相应的一个程序中的标志位的标记状态设置为所述第一标记状态的单元包括：用于基于日志文件，来将所述多个程序中的在所述装置发生掉电的时刻正在执行的相应的一个程序中的标志位的标记状态设置为所述第一标记状态的单元。

在一个实施例中，所述装置还包括用于将所述多个程序中的在所述电子设备发生掉电的时刻未正在执行的一个或多个程序的标志位的标记状态设置为所述第二标记状态的单元。

在一个实施例中，分别嵌入在所述多个程序中的标志位的标记状态用于生成统计数据表，其中，所述统计数据表指示所述装置在预定时间段内执行所述多个程序中的各程序时发生掉电的次数。

在一个实施例中，对所述装置发生掉电的时刻的选择是基于所述统计数据表来优化的。

在一个实施例中，所述多个程序包括主程序和子程序。

在一个实施例中，所述第一标记状态是通过1来表示的，并且所述第二标记状态是通过0表示的。

在一个实施例中，所述第一标记状态是通过0来表示的，并且所述第二标记状态是通过1表示的。

在一个实施例中，所述装置是存储设备。

在一个实施例中，所述存储设备是通用闪存存储设备。

另一方面，本公开内容的实施例提供非暂时性计算机可读介质，其存储用于进行掉电测试的计算机可执行代码，所述代码可由一个或多个处理器执行以进行以下操作：在电子设备被上电之后执行多个程序，其中，所述多个程序中分别嵌入有标志位；以及将所述多个程序中的在所述电子设备发生掉电的时刻正在执行的相应的一个程序中的标志位的标记状态设置为第一标记状态，其中，所述标记状态包括第一标记状态和第二标记状态，所述第二标记状态与所述第一标记状态不同。

另一方面，本公开内容的实施例提供用于进行掉电测试的系统，其执行如上所述的方法，或者包括如上所述的装置，或者包括如上所述的非暂时性计算机可读介质。

附图说明

附图被并入本文并形成说明书的一部分，例示了本公开的实施例并与说明书一起进一步用以解释本公开的原理，并使相关领域的技术人员能够做出和使用本公开。

图1是根据一个实施例的用于进行掉电测试的方法的流程图。

图2是根据一个实施例的用于进行掉电测试的装置的示例性方框图。

图3是根据另一实施例的用于进行掉电测试的装置的示例性方框图。

图4是根据一个实施例的用于进行掉电测试的装置的示例性方框图。

将参考附图描述各实施例。

具体实施方式

现在将参考示例实施方式讨论本文描述的主题。应该理解，讨论这些实施方式只是为了使得本领域技术人员能够更好地理解从而实现本文描述的主题，并非是对权利要求书中所阐述的保护范围、适用性或者示例的限制。可以在不脱离本说明书内容的保护范围的情况下，对所讨论的元素的功能和排列进行改变。各个示例可以根据需要，省略、替代或者添加各种过程或组件。例如，所描述的方法可以按照与所描述的顺序不同的顺序来执行，以及各个步骤可以被添加、省略或者组合。另外，相对一些示例所描述的特征在其它例子中也可以进行组合。

要指出的是，在说明书中提到“一个实施例”、“实施例”、“一些实施例”等表示所述的实施例可包括特定的特征、结构或特性，但未必每个实施例都包括该特定特征、结构或特性。此外，这样的措辞用语未必是指相同的实施例。另外，在结合实施例描述特定的特征、结构或特性时，结合明确或未明确描述的其它实施例实现此类特征、结构或特性应在相关领域技术人员的知识范围之内。

在一些情况下，电子设备在正常工作的过程中可能会出现异常掉电的情况。如果在发生掉电的时刻正在执行的程序已经在先前的测试阶段通过了掉电测试，则该电子设备在被上电之后可以恢复正常工作；但是，如果该程序并未在测试阶段被进行过掉电测试，则该电子设备在被上电之后不一定能够恢复正常工作。因此，为了保证电子设备在发生异常掉电的情况下在被上电之后能够恢复正常工作，在先前的测试阶段中对电子设备中的程序进行掉电测试是很有必要的。

本公开内容以UFS设备作为电子设备的示例来说明用于对电子设备进行掉电测试的方法。可以理解的是，本公开内容中的电子设备可以是任何需要进行掉电测试的电子设备，该电子设备可以是任何存储设备，该存储设备可以是UFS设备，但是并不限于是UFS设备。

举例而言，UFS设备可以包括存储单元和控制单元，其中所述存储单元可以是2DNAND存储器、3D NAND存储器或者本领域中已知的任何其它类型的存储单元，所述控制单元可以包括用于对UFS设备的运行进行控制的一个或多个程序，这些程序可以是以固件的形式存在于UFS设备中的。

当准备对UFS设备进行掉电测试时，将UFS设备与测试器相连接。测试器可以是对移动设备(例如，手机)的功能进行模拟的测试板，测试器与UFS设备连接在一起相当于内置有UFS设备的移动设备。测试器可以使UFS设备上电或者掉电，以及可以向UFS设备发送用于使得该UFS设备进行相应的操作的UFS命令。进一步地，测试器可以经由有线方式(例如，通用串行总线(USB)等)或者无线方式(例如，蓝牙等)与测试计算机相连接，使得测试计算机可以对测试器进行控制。

当对UFS设备进行掉电测试时，测试计算机可以执行测试脚本，经由测试器向UFS设备发送一系列的UFS命令来驱动该UFS设备执行程序。测试器在测试计算机的控制之下随机地选择时间点使UFS设备掉电，随后再对该UFS设备进行上电，对该UFS设备进行初始化，以及向该UFS设备发送其它相关的UFS命令，这样的一系列操作可以是一次对UFS设备的掉电测试。

如果UFS设备在被恢复上电之后能够正常工作，则说明该UFS设备通过了本次掉电测试；反之，如果UFS设备在被恢复上电之后无法正常工作，则说明该UFS设备未通过本次掉电测试，需要对该UFS设备中的程序进行调试。通过反复地对UFS设备进行掉电测试以及进行调试，可以尽可能地保证UFS设备在发生异常掉电的情况下在被上电之后能够恢复正常工作。

但是，在这样的掉电测试过程中尚存在待改进之处。由于UFS设备被掉电的时间点是随机地选择的，所以UFS设备中的哪些程序会被掉电测试来测试到也是随机的。可能出现的情况是，UFS设备中的一些经常执行的程序被进行掉电测试的频次可能较高，而UFS设备中的一些不太频繁地执行的程序被进行掉电测试的频次可能较低或者几乎未被进行过掉电测试。如果内置有这样的UFS设备的装置在实际运行过程中发生了异常掉电，而在发生掉电的时刻该UFS设备正在执行的程序是在先前的测试阶段未被进行过掉电测试的或者未被充分地进行掉电测试的，则对于该UFS设备而言存在着恢复上电之后无法正常工作的可能性。因此，通过上述方式进行的掉电测试可能使得UFS设备在应对异常掉电情况的时候在设备稳定性方面存在隐患。

本公开内容提供改进的用于进行掉电测试的方法、装置和系统。在电子设备中的要执行的多个程序中分别嵌入标志位，对在电子设备发生掉电的时刻正在执行的相应的一个程序的标志位的标记状态进行设置，使得测试装置在电子设备被恢复上电并且初始化之后通过收集该多个程序中的标志位的标记状态，可以明确地获知在发生掉电的时刻正在执行的是具体哪个程序，换言之，可以明确地知道是哪个程序被进行了掉电测试。通过这样的用于进行掉电测试的方法可以有助于优化整个掉电测试的过程，进而实现电子设备中的多个程序被掉电测试来测试到的频次可以是尽量均等的。

图1是根据一个实施例的用于进行掉电测试的方法的流程图。例如，图1所示的方法中的电子设备可以是UFS设备或者任何需要进行掉电测试的电子设备，以及图1所示的用于进行掉电测试的方法可以由电子设备来执行。对电子设备进行掉电测试的装置可以是测试装置，所述测试装置可以是测试器、测试计算机或者能够对电子设备进行掉电测试的任何其它装置。

在步骤102处，在电子设备被上电之后执行多个程序，其中，所述多个程序中分别嵌入有标志位。例如，电子设备可以在被上电之后执行多个程序。

在对电子设备进行掉电测试的阶段，将电子设备与测试装置相连接，测试装置可以使电子设备上电，电子设备被上电之后执行该电子设备中的多个程序。电子设备中可以预置有若干个程序，在这些程序中的多个程序中可以分别嵌入有标志位。

在一个实施例中，多个程序包括主程序和子程序。例如，电子设备的主程序中可以嵌入有标志位，以及电子设备的子程序中也可以嵌入有标志位。具体在哪些程序中嵌入标志位，可以取决于测试需求。标志位的标记状态可以包括第一标记状态和与第一标记状态不同的第二标记状态。

以UFS设备为例进行说明，在UFS设备的控制单元中可以包括前端(FE)、闪存转换层(FTL)和后端(BE)。在FE、FTL和BE中均可以包括一个或多个程序，在这些程序中均可以根据测试需求嵌入标志位。例如，在FTL中的用于更新PTE(页表条目)表的程序中可以嵌入标志位APL_HIT_PTE。

在对电子设备进行掉电测试的过程中，测试装置可以随机地选择时间点使该电子设备掉电，然后可以使该电子设备重新上电。电子设备在重新上电之后，可以进行初始化。在电子设备进行初始化之后，可以继续执行步骤104。

在步骤104处，将多个程序中的在电子设备发生掉电的时刻正在执行的相应的一个程序中的标志位的标记状态设置为第一标记状态，其中标记状态包括第一标记状态和第二标记状态，第二标记状态与第一标记状态不同。例如，电子设备可以将多个程序中的在电子设备发生掉电的时刻正在执行的相应的一个程序中的标志位的标记状态设置为第一标记状态，并且将在电子设备发生掉电的时刻未正在执行的那些程序中的标志位的标记状态保持为第二标记状态。

在一个实施例中，方法100还可以包括将多个程序中的在电子设备发生掉电的时刻未正在执行的一个或多个程序的标志位的标记状态设置为第二标记状态。

电子设备中的多个程序中分别嵌入有标志位，其中各程序的标志位的状态可以是第一标记状态或者第二标记状态。在对电子设备进行掉电测试之前，电子设备将多个程序中的各程序的标志位的状态均设置为第二标记状态。进而测试装置将电子设备进行掉电，在测试装置将电子设备重新上电并且电子设备进行了初始化之后，电子设备将多个程序中的在发生掉电的时刻正在执行的相应的一个程序中的标志位的标记状态设置为第一标记状态，并且使在发生掉电的时刻未正在执行的那些程序中的标志位的标记状态仍然保持处于第二标记状态。

通过这样的方法对各程序中的标志位的标记状态进行设置，可以通过标志位的标记状态来识别出在电子设备发生掉电的时刻正在被执行的是哪个程序，从而明确地获知在本次掉电测试中被测试到的是哪个程序。

在一个实施例中，第一标记状态是通过1来表示的，并且第二标记状态是通过0表示的。换言之，在电子设备被掉电的时刻正在执行的程序中嵌入的标志位的标记状态可以设置为1；在电子设备被掉电的时刻未正在执行的程序中嵌入的标志位的标记状态依然保持为0。

在另一个实施例中，第一标记状态是通过0来表示的，并且第二标记状态是通过1表示的。换言之，在电子设备被掉电的时刻正在执行的程序中嵌入的标志位的标记状态可以设置为0；在电子设备被掉电的时刻未正在执行的程序中嵌入的标志位的标记状态依然保持为1。

在一个实施例中，将多个程序中的在电子设备发生掉电的时刻正在执行的相应的一个程序中的标志位的标记状态设置为第一标记状态包括：基于日志文件，来将多个程序中的在电子设备发生掉电的时刻正在执行的相应的一个程序中的标志位的标记状态设置为第一标记状态。

具体地，电子设备在执行程序的过程中，可以周期性地或者非周期性地保存针对正在执行的程序的日志文件，例如将日志文件保存在该电子设备的存储单元中。例如，电子设备可以以预先设置的周期来定期地保存针对正在执行的程序的日志文件，该周期的时间长短可以根据需要来进行设置；可以在每个程序开始执行的起始点保存针对该程序的日志文件；可以结合上述两种方式，在每个程序开始执行的起始点保存针对该程序的日志文件，并且在执行该程序的过程中根据预先设置的周期来定期地保存针对该程序的日志文件；或者可以根据需要采用任何其它方式来保存针对正在执行的程序的日志文件。

电子设备在被掉电并且被重新上电之后进行初始化，读取其在掉电之前保存的最新的日志文件，根据该日志文件来确定该日志文件是针对哪个程序的日志文件，进而能够确定在电子设备发生掉电的时刻正在执行的是哪个程序。由于电子设备中的多个程序中分别嵌入有标志位，因此电子设备可以将所确定的在电子设备掉电时正在执行的那一个程序的标志位设置为第一标记状态。

在一个实施例中，分别嵌入在多个程序中的标志位的标记状态用于生成统计数据表，其中统计数据表指示电子设备在预定时间段内执行多个程序中的各程序时发生掉电的次数。例如，在经过一次掉电测试，电子设备被重新上电并且进行了初始化之后，测试装置可以向电子设备发送命令来收集在本次掉电测试中分别嵌入在多个程序中的标志位的标记状态。然后，测试装置向电子设备发送命令将分别嵌入在多个程序中的标志位的标记状态恢复设置回第二标记状态；或者电子设备在根据来自测试装置的命令将多个程序中的标志位的标记状态发送给测试装置之后，自行将多个程序中的标志位的标记状态恢复设置回第二标记状态，以供在下一次掉电测试期间实现对标志位的设置。

测试装置会在预定时间段内对电子设备进行多次掉电测试，在每次掉电测试之后均从电子设备收集分别嵌入在多个程序中的标志位的标记状态。预定的掉电测试时间段结束之后，测试装置可以根据所收集的针对各程序的标志位的标记状态来生成统计数据表，通过统计数据表来直观地量化出电子设备在预定时间段内执行多个程序中的各程序时发生掉电的次数。

在一个实施例中，对电子设备发生掉电的时刻的选择是基于统计数据表来优化的。例如，测试装置对电子设备发生掉电的时刻的选择可以是基于统计数据表来优化的。具体地，测试装置可以根据所生成的统计数据表，根据预定的算法来对何时使电子设备掉电的时间点进行优化。由于统计数据表可以反映出在预定时间段内哪些程序被较为频繁地进行了掉电测试，而哪些程序被进行掉电测试的频次较低或者未被进行掉电测试，因此测试装置可以根据这样的统计数据来优化用于使电子设备掉电的脚本，从而使得电子设备中的多个程序被掉电测试来测试到的频次可以是尽量均等的。

通过这样的优化，由于电子设备中的多个程序能够被尽量均等频次地被掉电测试来测试到，所以使得UFS设备在应对异常掉电情况的时候在设备稳定性方面能够得到提升。

在一个实施例中，图1所示的方法可以是在例如UFS设备的存储设备中的固件中执行的。

图2是根据一个实施例的用于进行掉电测试的装置的示例性方框图。例如，装置200包括控制单元202。控制单元202用于在装置200被上电之后执行多个程序，其中，多个程序中分别嵌入有标志位；以及用于将多个程序中的在装置200发生掉电的时刻正在执行的相应的一个程序中的标志位的标记状态设置为第一标记状态，其中，标记状态包括第一标记状态和第二标记状态，第二标记状态与所述第一标记状态不同。

具体地，装置200可以采用如参照图1所示的各实施例中的用于进行掉电测试的方法，此处不再赘述。

图3是根据另一实施例的用于进行掉电测试的装置的示例性方框图。例如，装置300包括控制单元202和存储单元304。装置300中的控制单元202的实现方式可以参照如图2所示的装置200中的控制单元202的实现方式。装置300中的存储单元304用于存储日志文件，相应地控制单元202还用于基于日志文件，来将多个程序中的在装置300发生掉电的时刻正在执行的相应的一个程序中的标志位的标记状态设置为第一标记状态。

具体地，装置300可以采用如参照图1所示的各实施例中的用于进行掉电测试的方法，此处不再赘述。

图4是根据一个实施例的用于进行掉电测试的装置的示例性方框图。例如，装置400包括用于在所述装置被上电之后执行多个程序的单元402，其中，所述多个程序中分别嵌入有标志位；以及用于将所述多个程序中的在所述装置发生掉电的时刻正在执行的相应的一个程序中的标志位的标记状态设置为第一标记状态的单元404，其中，所述标记状态包括第一标记状态和第二标记状态，所述第二标记状态与所述第一标记状态不同。

具体地，装置400可以采用如参照图1所示的各实施例中的用于进行掉电测试的方法，此处不再赘述。

可以理解的是，装置400中的单元402和单元404可以是通过硬件或者软件的方式来实现的。

在一个实施例中，图1所示的方法可以是由一个或多个处理器通过执行存储在非暂时性计算机可读介质上的计算机可执行代码来实现的，所述计算机可执行代码所执行的操作可以参照图1所示的各实施例中的用于进行掉电测试的方法，此处不再赘述。

进一步地，参照图1所示的各实施例中的方法可以在用于进行掉电测试的系统中实现；参照图2-图4所示的各实施例中的装置可以被包括在用于进行掉电测试的系统中，用于实现如图1所示的各实施例中的用于掉电测试的方法；以及用于进行掉电测试的系统中可以包括如上所述的非暂时性计算机可读介质。

可读存储介质的实施例包括软盘、硬盘、磁光盘、光盘(如CD-ROM、CD-R、CD-RW、DVD-ROM、DVD-RAM、DVD-RW、DVD-RW)、磁带、非易失性存储卡和ROM。可选择地，可以由通信网络从服务器计算机上或云上下载程序代码。

需要说明的是，上述各流程和各系统结构图中不是所有的步骤和单元都是必须的，可以根据实际的需要忽略某些步骤或单元。各步骤的执行顺序不是固定的，可以根据需要进行确定。上述各实施例中描述的装置结构可以是物理结构，也可以是逻辑结构，即，有些单元可能由同一物理实体实现，或者，有些单元可能分由多个物理实体实现，或者，可以由多个独立设备中的某些部件共同实现。

已经结合各种装置和方法描述了控制单元。所述控制单元可以使用电子硬件、计算机软件或其任意组合来实施。所述控制单元是实施为硬件还是软件将取决于具体的应用以及施加在系统上的总体设计约束。作为示例，本公开中给出的控制单元、控制单元的任意部分、或者控制单元的任意组合可以实施为微处理器、微控制器、数字信号处理器(DSP)、现场可编程门阵列(FPGA)、可编程逻辑器件(PLD)、状态机、门逻辑、分立硬件电路、以及配置用于执行在本公开中描述的各种功能的其它适合的处理部件。本公开给出的控制单元、控制单元的任意部分、或者控制单元的任意组合的功能可以实施为由微处理器、微控制器、DSP或其它适合的平台所执行的软件。

本公开内容的上述描述被提供来使得本领域任何普通技术人员能够实现或者使用本公开内容。对于本领域普通技术人员来说，对本公开内容进行的各种修改是显而易见的，并且，也可以在不脱离本公开内容的保护范围的情况下，将本文所定义的一般性原理应用于其它变型。因此，本公开内容并不限于本文所描述的示例和设计，而是与符合本文公开的原理和新颖性特征的最广范围相一致。

Claims (13)

1.一种用于进行掉电测试的方法，包括：

在电子设备被上电之后执行多个程序，其中，所述多个程序中分别嵌入有标志位；以及

将所述多个程序中的在所述电子设备发生掉电的时刻正在执行的相应的一个程序中的标志位的标记状态设置为第一标记状态，其中，所述标记状态包括第一标记状态和第二标记状态，所述第二标记状态与所述第一标记状态不同，

其中，分别嵌入在所述多个程序中的标志位的标记状态用于生成统计数据表，其中，所述统计数据表指示所述电子设备在预定时间段内执行所述多个程序中的各程序时发生掉电的次数，并且其中，对所述电子设备发生掉电的时刻的选择是基于所述统计数据表来优化的。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述将所述多个程序中的在所述电子设备发生掉电的时刻正在执行的相应的一个程序中的标志位的标记状态设置为所述第一标记状态包括：

基于日志文件，来将所述多个程序中的在所述电子设备发生掉电的时刻正在执行的相应的一个程序中的标志位的标记状态设置为所述第一标记状态。

3.根据权利要求1所述的方法，还包括：

将所述多个程序中的在所述电子设备发生掉电的时刻未正在执行的一个或多个程序的标志位的标记状态设置为所述第二标记状态。

4.根据权利要求1-3中任一所述的方法，其中，所述多个程序包括主程序和子程序。

5.根据权利要求1-3中任一所述的方法，其中，所述第一标记状态是通过1来表示的，并且所述第二标记状态是通过0表示的。

6.根据权利要求1-3中任一所述的方法，其中，所述第一标记状态是通过0来表示的，并且所述第二标记状态是通过1表示的。

7.根据权利要求1-3中任一所述的方法，其中，所述电子设备是存储设备。

8.根据权利要求7所述的方法，其中，所述方法是在所述存储设备中的固件中执行的。

9.根据权利要求7所述的方法，其中，所述存储设备是通用闪存存储设备。

10.一种用于进行掉电测试的装置，包括：

控制单元，其用于在所述装置被上电之后执行多个程序，其中，所述多个程序中分别嵌入有标志位；以及用于将所述多个程序中的在所述装置发生掉电的时刻正在执行的相应的一个程序中的标志位的标记状态设置为第一标记状态，其中，所述标记状态包括第一标记状态和第二标记状态，所述第二标记状态与所述第一标记状态不同，

其中，分别嵌入在所述多个程序中的标志位的标记状态用于生成统计数据表，其中，所述统计数据表指示所述装置在预定时间段内执行所述多个程序中的各程序时发生掉电的次数，并且其中，对所述装置发生掉电的时刻的选择是基于所述统计数据表来优化的。

11.一种用于进行掉电测试的装置，包括：

用于在所述装置被上电之后执行多个程序的单元，其中，所述多个程序中分别嵌入有标志位；以及

用于将所述多个程序中的在所述装置发生掉电的时刻正在执行的相应的一个程序中的标志位的标记状态设置为第一标记状态的单元，其中，所述标记状态包括第一标记状态和第二标记状态，所述第二标记状态与所述第一标记状态不同，

其中，分别嵌入在所述多个程序中的标志位的标记状态用于生成统计数据表，其中，所述统计数据表指示所述装置在预定时间段内执行所述多个程序中的各程序时发生掉电的次数，并且其中，对所述装置发生掉电的时刻的选择是基于所述统计数据表来优化的。

12.一种非暂时性计算机可读介质，其存储用于进行掉电测试的计算机可执行代码，所述代码可由一个或多个处理器执行以进行以下操作：

在电子设备被上电之后执行多个程序，其中，所述多个程序中分别嵌入有标志位；以及

将所述多个程序中的在所述电子设备发生掉电的时刻正在执行的相应的一个程序中的标志位的标记状态设置为第一标记状态，其中，所述标记状态包括第一标记状态和第二标记状态，所述第二标记状态与所述第一标记状态不同，

其中，分别嵌入在所述多个程序中的标志位的标记状态用于生成统计数据表，其中，所述统计数据表指示所述电子设备在预定时间段内执行所述多个程序中的各程序时发生掉电的次数，并且其中，对所述电子设备发生掉电的时刻的选择是基于所述统计数据表来优化的。

13.一种用于进行掉电测试的系统，其执行如权利要求1-9所述的方法，或者包括如权利要求10或11所述的装置，或者包括如权利要求12所述的非暂时性计算机可读介质。