CN110851312A - 快速模拟掉电保护的测试方法、装置和计算机设备 - Google Patents

快速模拟掉电保护的测试方法、装置和计算机设备 Download PDF

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Abstract

本申请涉及一种快速模拟掉电保护的测试方法、装置、计算机设备和存储介质，其中该方法包括：获取快速模拟掉电保护的测试请求；根据所述快速模拟掉电保护的测试请求，读取硬盘掉电保护完成和未完成次数初始数值；通过目标平台运行不同测试场景，并同时在不同测试场景中通过控制平台运行继电器控制程序；持续运行所述继电器控制程序直至达到规定次数；读取硬盘掉电保护次数，并确认在所述继电器控制程序运行过程中硬盘掉电保护次数是否和控制平台触发次数一致。本发明实现了模拟掉电保护功能在各个场景下是否能正常使用。

Description

快速模拟掉电保护的测试方法、装置和计算机设备
技术领域
本发明涉及固态硬盘测试技术领域，特别是涉及一种快速模拟掉电保护的测试方法、装置、计算机设备和存储介质。
背景技术
目前，SSD(Solid State Disk，固态硬盘)已经被广泛应用于各种场合，目前在PC市场，已经逐步替代传统的HDD(Hard Disk Drive，机械硬盘)，从可靠性和性能方面为用户提供较好的体验。
掉电保护功能为笔记本的一种掉电保护功能，该功能在任意使用场景触发后需要保证固态硬盘能够正常使用。然而，在传统技术中，并没有一种能够模拟掉电保护功能在各个场景下是否能正常使用的测试方法，这样就导致无法保证固态硬盘在突发掉电情况下的可靠性。
发明内容
基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够模拟掉电保护功能在各个场景下是否能正常使用的快速模拟掉电保护的测试方法、装置、计算机设备和存储介质。
一种快速模拟掉电保护的测试方法，所述方法包括：
获取快速模拟掉电保护的测试请求；
根据所述快速模拟掉电保护的测试请求，读取硬盘掉电保护完成和未完成次数初始数值；
通过目标平台运行不同测试场景，并同时在不同测试场景中通过控制平台运行继电器控制程序；
持续运行所述继电器控制程序直至达到规定次数；
读取硬盘掉电保护次数，并确认在所述继电器控制程序运行过程中硬盘掉电保护次数是否和控制平台触发次数一致。
在其中一个实施例中，所述在不同测试场景中通过控制平台运行继电器控制程序的步骤还包括：
通过控制平台控制继电器让PLN信号在规定时间内对地短路并保持一定时间来触发掉电保护功能；
循环控制掉电信号时间控制在要求范围之内。
在其中一个实施例中，在所述获取快速模拟掉电保护的测试请求的步骤之前还包括：
将待测的硬盘安装至目标平台；
在所述硬盘中安装对应的操作系统。
在其中一个实施例中，在所述并确认在所述继电器控制程序运行过程中硬盘掉电保护次数是否和控制平台触发次数一致的步骤之后还包括：
若硬盘掉电保护次数和控制平台触发次数一致，则切换目标平台的测试场景再次进行测试；
若硬盘掉电保护次数和控制平台触发次数不一致，则表示在当前测试场景下所述硬盘的掉电保护功能异常。
一种快速模拟掉电保护的测试装置，所述装置包括：
获取模块，所述获取模块用于获取快速模拟掉电保护的测试请求；
读取模块，所述读取模块用于根据所述快速模拟掉电保护的测试请求，读取硬盘掉电保护完成和未完成次数初始数值；
控制模块，所述控制模块用于通过目标平台运行不同测试场景，并同时在不同测试场景中通过控制平台运行继电器控制程序；
运行模块，所述运行模块用于持续运行所述继电器控制程序直至达到规定次数；
确认模块，所述确认模块用于读取硬盘掉电保护次数，并确认在所述继电器控制程序运行过程中硬盘掉电保护次数是否和控制平台触发次数一致。
在其中一个实施例中，所述控制模块还用于：
通过控制平台控制继电器让PLN信号在规定时间内对地短路并保持一定时间来触发掉电保护功能；
循环控制掉电信号时间控制在要求范围之内。
在其中一个实施例中，所述装置还包括安装模块，所述安装模块用于：
将待测的硬盘安装至目标平台；
在所述硬盘中安装对应的操作系统。
在其中一个实施例中，所述装置还包括：
切换模块，所述切换模块用于若硬盘掉电保护次数和控制平台触发次数一致，则切换目标平台的测试场景再次进行测试；
异常模块，所述异常模块用于若硬盘掉电保护次数和控制平台触发次数不一致，则表示在当前测试场景下所述硬盘的掉电保护功能异常。
一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任意一项方法的步骤。
一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任意一项方法的步骤。
上述快速模拟掉电保护的测试方法、装置、计算机设备和存储介质，通过获取快速模拟掉电保护的测试请求；根据所述快速模拟掉电保护的测试请求，读取硬盘掉电保护完成和未完成次数初始数值；通过目标平台运行不同测试场景，并同时在不同测试场景中通过控制平台运行继电器控制程序；持续运行所述继电器控制程序直至达到规定次数；读取硬盘掉电保护次数，并确认在所述继电器控制程序运行过程中硬盘掉电保护次数是否和控制平台触发次数一致。本发明通过目标平台运行不同测试场景，并同时在不同测试场景中通过控制平台运行继电器控制程序以触发掉电保护功能，通过判断掉电保护次数与继电器触发次数是否一致，实现了模拟掉电保护功能在各个场景下是否能正常使用。
附图说明
图1为一个实施例中快速模拟掉电保护的测试方法的应用环境图；
图2为一个实施例中快速模拟掉电保护的测试方法的流程示意图；
图3为另一个实施例中快速模拟掉电保护的测试方法的流程示意图；
图4为再一个实施例中快速模拟掉电保护的测试方法的流程示意图；
图5为又一个实施例中快速模拟掉电保护的测试方法的流程示意图；
图6为一个实施例中快速模拟掉电保护的测试装置的结构框图；
图7为另一个实施例中快速模拟掉电保护的测试装置的结构框图；
图8为再一个实施例中快速模拟掉电保护的测试装置的结构框图；
图9为一个实施例中计算机设备的内部结构图。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
本发明根据笔记本电脑在实际的使用过程中可能会触发掉电保护的场景，使用一种外围设备来快速模拟触发掉电保护，验证在各种实际使用场景下掉电保护功能是否能够正常使用。具体地，该测试方法可以应用于如图1所示的测试环境中。该测试环境中，硬盘安装至目标平台，例如图1中所示的笔记本中，并在硬盘中安装操作系统。继电器与目标平台通过PLN端以及GND端电连接，控制器中存储有继电器控制程序，用于控制继电器让PLN信号在规定时间内对地短路并保持一定时间来触发掉电保护功能。
在一个实施例中，如图2所示，提供了一种快速模拟掉电保护的测试方法，该方法应用于如图1所示的测试环境中包括：
步骤202，获取快速模拟掉电保护的测试请求；
步骤204，根据快速模拟掉电保护的测试请求，读取硬盘掉电保护完成和未完成次数初始数值；
步骤206，通过目标平台运行不同测试场景，并同时在不同测试场景中通过控制平台运行继电器控制程序；
步骤208，持续运行继电器控制程序直至达到规定次数；
步骤210，读取硬盘掉电保护次数，并确认在继电器控制程序运行过程中硬盘掉电保护次数是否和控制平台触发次数一致。
具体地，首先，安装系统至目标平台，可如图1中所示的应用环境。然后，目标平台获取快速模拟掉电保护的测试请求，并根据快速模拟掉电保护的测试请求，使用工具读取硬盘掉电保护完成和未完成次数初始数值。接着，目标平台运行各种测试场景，这里的测试场景可以根据不同的测试需求进行选择。在运行各种不同的测试场景的同时，在继电器控制平台运行继电器控制程序，循环控制掉电信号时间控制在要求范围之内，并持续运行要求次数。最后，当运行达到规定次数，读取掉电保护次数，确认掉电保护次数是否和控制器触发次数相同。若相同则表示在当前测试场景中硬盘的掉电保护功能正常，并可以切换目标平台使用场景，重复进行上述的测试步骤，直至所要求的测试场景全部测试完毕。
在本实施例中，通过获取快速模拟掉电保护的测试请求；根据快速模拟掉电保护的测试请求，读取硬盘掉电保护完成和未完成次数初始数值；通过目标平台运行不同测试场景，并同时在不同测试场景中通过控制平台运行继电器控制程序；持续运行继电器控制程序直至达到规定次数；读取硬盘掉电保护次数，并确认在继电器控制程序运行过程中硬盘掉电保护次数是否和控制平台触发次数一致。本实施例通过目标平台运行不同测试场景，并同时在不同测试场景中通过控制平台运行继电器控制程序以触发掉电保护功能，通过判断掉电保护次数与继电器触发次数是否一致，实现了模拟掉电保护功能在各个场景下是否能正常使用。
在一个实施例中，如图3所示，提供了一种快速模拟掉电保护的测试方法，该方法在不同测试场景中通过控制平台运行继电器控制程序的步骤还包括：
步骤302，通过控制平台控制继电器让PLN信号在规定时间内对地短路并保持一定时间来触发掉电保护功能；
步骤304，循环控制掉电信号时间控制在要求范围之内。
在一个实施例中，如图4所示，提供了一种快速模拟掉电保护的测试方法，该方法在获取快速模拟掉电保护的测试请求的步骤之前还包括：
步骤402，将待测的硬盘安装至目标平台；
步骤404，在硬盘中安装对应的操作系统。
在一个实施例中，如图5所示，提供了一种快速模拟掉电保护的测试方法，该方法在并确认在继电器控制程序运行过程中硬盘掉电保护次数是否和控制平台触发次数一致的步骤之后还包括：
步骤502，若硬盘掉电保护次数和控制平台触发次数一致，则切换目标平台的测试场景再次进行测试；
步骤504，若硬盘掉电保护次数和控制平台触发次数不一致，则表示在当前测试场景下硬盘的掉电保护功能异常。
在上述实施例中，在各个测试过程中，通过控制台控制继电器让PLN信号在规定时间内对地短路并保持一定时间来触发掉电保护功能，具体地，完整的测试过程包括以下步骤：
1、硬盘安装至目标平台；
2、在硬盘中安装操作系统；
3、使用工具读取硬盘掉电保护完成和未完成次数初始数值；
4、目标平台运行各种测试场景；
5、在继电器控制平台运行继电器控制程序，循环控制掉电信号时间控制在要求范围之内；
6、持续运行要求次数；
7、确认硬盘掉电保护次数和继电器触发次数一致；
8、切换目标平台使用场景；
9、循环运行步骤3到7。
在上述实施例中，可以通过在目标平台模拟各种不同的测试场景，同时，在不同的测试场景中，通过控制台控制继电器让PLN信号在规定时间内对地短路并保持一定时间来触发掉电保护功能。最后，根据在测试过程中硬盘掉电保护次数和继电器触发次数是否一致可以确定在该测试场景中掉电保护功能的使用情况。
应该理解的是，虽然图2-5的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，图2-5中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
在一个实施例中，如图6所示，提供了一种快速模拟掉电保护的测试装置600，该装置包括：
获取模块601，用于获取快速模拟掉电保护的测试请求；
读取模块602，用于根据快速模拟掉电保护的测试请求，读取硬盘掉电保护完成和未完成次数初始数值；
控制模块603，用于通过目标平台运行不同测试场景，并同时在不同测试场景中通过控制平台运行继电器控制程序；
运行模块604，用于持续运行继电器控制程序直至达到规定次数；
确认模块605，用于读取硬盘掉电保护次数，并确认在继电器控制程序运行过程中硬盘掉电保护次数是否和控制平台触发次数一致。
在一个实施例中，控制模块603还用于：
通过控制平台控制继电器让PLN信号在规定时间内对地短路并保持一定时间来触发掉电保护功能；
循环控制掉电信号时间控制在要求范围之内。
在一个实施例中，如图7所示，提供了一种快速模拟掉电保护的测试装置600，该装置还包括安装模块606，用于：
将待测的硬盘安装至目标平台；
在所述硬盘中安装对应的操作系统。
在一个实施例中，如图8所示，提供了一种快速模拟掉电保护的测试装置600，该装置还包括：
切换模块607，用于若硬盘掉电保护次数和控制平台触发次数一致，则切换目标平台的测试场景再次进行测试；
异常模块608，用于若硬盘掉电保护次数和控制平台触发次数不一致，则表示在当前测试场景下硬盘的掉电保护功能异常。
关于快速模拟掉电保护的测试装置的具体限定可以参见上文中对于快速模拟掉电保护的测试方法的限定，在此不再赘述。
在一个实施例中，提供了一种计算机设备，其内部结构图可以如图9所示。该计算机设备包括通过装置总线连接的处理器、存储器以及网络接口。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作装置、计算机程序和数据库。该内存储器为非易失性存储介质中的操作装置和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种快速模拟掉电保护的测试方法。
本领域技术人员可以理解，图9中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
在一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现以上各个方法实施例中的步骤。
在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以上各个方法实施例中的步骤。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种快速模拟掉电保护的测试方法，其特征在于，所述方法包括：
获取快速模拟掉电保护的测试请求；
根据所述快速模拟掉电保护的测试请求，读取硬盘掉电保护完成和未完成次数初始数值；
通过目标平台运行不同测试场景，并同时在不同测试场景中通过控制平台运行继电器控制程序；
持续运行所述继电器控制程序直至达到规定次数；
读取硬盘掉电保护次数，并确认在所述继电器控制程序运行过程中硬盘掉电保护次数是否和控制平台触发次数一致。
2.根据权利要求1所述的快速模拟掉电保护的测试方法，其特征在于，所述在不同测试场景中通过控制平台运行继电器控制程序的步骤还包括：
通过控制平台控制继电器让PLN信号在规定时间内对地短路并保持一定时间来触发掉电保护功能；
循环控制掉电信号时间控制在要求范围之内。
3.根据权利要求2所述的快速模拟掉电保护的测试方法，其特征在于，在所述获取快速模拟掉电保护的测试请求的步骤之前还包括：
将待测的硬盘安装至目标平台；
在所述硬盘中安装对应的操作系统。
4.根据权利要求1-3任一项所述的快速模拟掉电保护的测试方法，其特征在于，在所述并确认在所述继电器控制程序运行过程中硬盘掉电保护次数是否和控制平台触发次数一致的步骤之后还包括：
若硬盘掉电保护次数和控制平台触发次数一致，则切换目标平台的测试场景再次进行测试；
若硬盘掉电保护次数和控制平台触发次数不一致，则表示在当前测试场景下所述硬盘的掉电保护功能异常。
5.一种快速模拟掉电保护的测试装置，其特征在于，所述装置包括：
获取模块，所述获取模块用于获取快速模拟掉电保护的测试请求；
读取模块，所述读取模块用于根据所述快速模拟掉电保护的测试请求，读取硬盘掉电保护完成和未完成次数初始数值；
控制模块，所述控制模块用于通过目标平台运行不同测试场景，并同时在不同测试场景中通过控制平台运行继电器控制程序；
运行模块，所述运行模块用于持续运行所述继电器控制程序直至达到规定次数；
确认模块，所述确认模块用于读取硬盘掉电保护次数，并确认在所述继电器控制程序运行过程中硬盘掉电保护次数是否和控制平台触发次数一致。
6.根据权利要求5所述的快速模拟掉电保护的测试装置，其特征在于，所述控制模块还用于：
通过控制平台控制继电器让PLN信号在规定时间内对地短路并保持一定时间来触发掉电保护功能；
循环控制掉电信号时间控制在要求范围之内。
7.根据权利要求6所述的快速模拟掉电保护的测试装置，其特征在于，所述装置还包括安装模块，所述安装模块用于：
将待测的硬盘安装至目标平台；
在所述硬盘中安装对应的操作系统。
8.根据权利要求5-7任一项所述的快速模拟掉电保护的测试装置，其特征在于，所述装置还包括：
切换模块，所述切换模块用于若硬盘掉电保护次数和控制平台触发次数一致，则切换目标平台的测试场景再次进行测试；
异常模块，所述异常模块用于若硬盘掉电保护次数和控制平台触发次数不一致，则表示在当前测试场景下所述硬盘的掉电保护功能异常。
9.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至4中任一项所述方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至4中任一项所述的方法的步骤。
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