CN109489557A - 一种用于微距测量的方法及装置 - Google Patents

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袁帆
朱鹏惠
刘波
李耀军
韩仲亮
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    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
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Abstract

本发明公开了一种用于微距测量的方法,其包括:获取待测量物体的照片,以及所述待测量物体实物的尺寸数据L0;确定所述待测量物体的照片上两个点之间的距离L1,所述两个点与所述尺寸数据L0在被量取时所选择的两个端点相对应;结合所述两个点之间的距离L1与所述尺寸数据L0进行运算,得出比值A;选择所述待测量物体实物上要测量的尺寸数据L3在被量取时所选择的两个端点,并在所述待测量物体的照片上找到相对应的两个点;确定所述相对应的两个点之间的距离L2;结合所述值A与所述两个点之间的距离L2,计算出所述待测量物体实物上要测量的尺寸数据L3

Description

一种用于微距测量的方法及装置
技术领域
本发明属于测量工具领域,尤其涉及到一种用于微距测量的方法及装置。
背景技术
在进行对测量精度要求较高工作过程中,对三维立体的结构,一般可以使用游标卡尺或其它工具或方法测得精度较高的尺寸数据,但是对于平面图形或图案的测量,尤其是微小平面图形或图案的测量,由于没有实物固定点或面,使用游标卡尺等工具,难以进行准确测量,而使用传统的尺子进行测量时,需要寻找点或线作为测量时的基准,完全靠视觉判断,精确度较低,容易出现较大误差,甚至出现错误,十分不便。
发明内容
本发明要解决的技术问题在于,针对现有技术方案的上述缺陷,提供一种用于微距测量的方法及装置。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:一种用于微距测量的方法,包括:
获取待测量物体的照片,以及所述待测量物体实物的尺寸数据L0
确定所述待测量物体的照片上两个点之间的距离L1,所述两个点与所述尺寸数据L0在被量取时所选择的两个端点相对应;
结合所述两个点之间的距离L1与所述尺寸数据L0进行运算,得出两者的比值A;
选择所述待测量物体实物上要测量的尺寸数据L3在被量取时所选择的的两个端点,并在所述待测量物体的照片上找到相对应的两个点;
确定所述相对应的两个点之间的距离L2
结合所述值A与所述两个点之间的距离L2,计算出所述待测量物体实物上要测量的尺寸数据L3
其中,所述一种用于微距测量的方法还包括放大所述待测量物体的照片。
其中,所述放大所述待测量物体的照片所采用的放大倍数固定。
其中,所述待测量物体实物的尺寸数据L0为所述待测量物体实物的最大直线尺寸数据。
其中,所述结合所述两个点之间的距离L1与所述尺寸数据L0进行运算,得出比值A所采用的运算方式的最简运算公式为:
其中,所述结合所述值A与所述两个点之间的距离L2,计算出所述待测量物体实物上要测量的尺寸数据L3所采用的运算方式的最简运算公式为:
或L2×A=L3
其中,确定所述待测量物体的照片上两个点之间的距离的方法包括:通过获取所述两个点之间的最少像素个数的方式确定所述两个点之间的距离,以所述像素个数来表达所述两个点之间的距离。
其中,确定所述待测量物体的照片上两个点之间的距离的方法包括:通过用尺子直接量取所述两个点之间的距离的方式确定所述两个点之间的距离。
一种用于微距测量的装置,包括:装置本体、摄像装置、可触控显示装置、电源装置、微处理器;所述摄像装置、可触控显示装置、电源装置分别与所述微处理器电连接;所述摄像装置、可触控显示装置、电源装置、微处理器均设于所述装置本体上;
所述微处理器被配置为:
获取待测量物体的照片,以及所述待测量物体实物的尺寸数据L0
确定所述待测量物体的照片上两个点之间的距离L1,所述两个点与所述尺寸数据L0在被量取时所选择的两个端点相对应;
结合所述两个点之间的距离L1与所述尺寸数据L0进行运算,得出两者的比值A;
选择所述待测量物体实物上要测量的尺寸数据L3在被量取时所选择的的两个端点,并在所述待测量物体的照片上找到相对应的两个点;
确定所述相对应的两个点之间的距离L2
结合所述值A与所述两个点之间的距离L2,计算出所述待测量物体实物上要测量的尺寸数据L3
其中,所述装置本体的边缘至少有一处为直边,所述直边上设有标准的尺子刻度。
本发明的有益效果为:本发明在使用时,用户通过摄像装置拍摄待测量物体的照片,照片经过微处理器最终传输到可触控显示装置,并显示;用户在待测量物体实物上量取某一个尺寸并获得尺寸数据L0,然后通过可触控显示装置,在照片上选取,与尺寸数据L0在被量取时所选择的两个端点,相对应的两个点;在完成两个点的选取后,微处理器会计算出两个点之间的最少像素个数,或者直接用尺子直接量取两个点之间的距离,以确定两个点之间的距离L1;在确定两个点之间的距离后L1,微处理器会计算出比值A;接下来,选择待测量物体实物上要测量彼此之间距离的两个点,用户通过可触控显示装置在照片上选取相对应的两个点,确定两个点之间的距离L2,并最终由微处理器计算出待测量物体实物上要测量的尺寸数据L3;尺寸数据L3通过可触控显示装置显示出来,告知用户。与传统的测量方法相比,本发明在用于测量微小平面图形或图案的尺寸时,能获得精度更高的数据,避免较大误差,且使用方便。
附图说明
图1为本发明的一种用于微距测量的方法的流程图;
图2为本发明的一种用于微距测量的方法的另一种流程图;
图3为本发明的一种用于微距测量的装置的主视图;
图4为本发明的一种用于微距测量的装置的俯视图。
附图标记说明如下:1——装置本体;11——摄像装置;12——电源装置;13——微处理器;14——可触控显示装置。
具体实施方式
下面结合具体的实施方式对本发明作进一步说明。
如图1所示,一种用于微距测量的方法,包括:
获取待测量物体的照片,以及待测量物体实物的尺寸数据L0
确定待测量物体的照片上两个点之间的距离L1,两个点与尺寸数据L0在被量取时所选择的两个端点相对应;
结合两个点之间的距离L1与尺寸数据L0进行运算,得出两者的比值A;
选择待测量物体实物上要测量的尺寸数据L3在被量取时所选择的的两个端点,并在待测量物体的照片上找到相对应的两个点;
确定相对应的两个点之间的距离L2
结合值A与两个点之间的距离L2,计算出待测量物体实物上要测量的尺寸数据L3
结合两个点之间的距离L1与尺寸数据L0进行运算得出值A所采用的运算方式的最简运算公式为:
结合值A与相对应的两个点之间的距离L2,计算出待测量物体实物上要测量的尺寸数据L3所采用的运算方式的最简运算公式为:
或L2×A=L3
优选地,一种用于微距测量的方法还包括放大待测量物体的照片。
如图2所示,在其它实施方式中,实施一种用于微距测量的方法的步骤为:
步骤S01:获取待测量物体的照片,以及待测量物体实物的尺寸数据L0
步骤S02:放大待测量物体的照片;
步骤S03:确定待测量物体的照片上两个点之间的距离L1,两个点与尺寸数据L0在被量取时所选择的两个端点相对应;
步骤S04:结合两个点之间的距离L1与尺寸数据L0进行运算,得出两者的比值A;
步骤S05:选择待测量物体实物上要测量的尺寸数据L3在被量取时所选择的的两个端点,并在待测量物体的照片上找到相对应的两个点;
步骤S06:确定相对应的两个点之间的距离L2
步骤S07:结合值A与两个点之间的距离L2,计算出待测量物体实物上要测量的尺寸数据L3
优选地,放大待测量物体的照片所采用的放大倍数固定。
通过将放大倍数固定,使测量两个点之间的距离L1和相对应的两个点之间的距离L2;时所采用的比例尺一致,从而使结合值A与相对应的两个点之间的距离L2,计算出待测量物体实物上要测量的尺寸数据L3时,可以直接计算出尺寸数据L3,不需要考虑待测量物体的照片上不同两个点之间的距离与待测量物体实物的尺寸数据之间的比例不同。
优选地,待测量物体实物的尺寸数据L0为待测量物体实物的最大直线尺寸数据。
所选择的用于参考的尺寸数据L0越大,则产生的误差越小,测量的精度越高。
优选地,确定待测量物体的照片上两个点之间的距离的方法包括:通过获取两个点之间的最少像素个数的方式确定两个点之间的距离,以像素个数来表达两个点之间的距离。
无论待测量物体的照片放大还是不放大,照片上两个点之间的最少像素个数始终保持不变,通过确定两个点之间的像素个数,即可确定两个点之间的相对距离;待测量物体的照片上两个点之间的最少像素个数,与待测量物体的照片上另外两个点之间的最少像素个数的比值,即为待测量物体实物上与上述四个点相对应的点两两之间的距离的比值。
优选地,确定待测量物体的照片上两个点之间的距离的方法包括:通过用尺子直接量取两个点之间的距离的方式确定两个点之间的距离。
直接在待测量物体的照片上使用尺子量取两个点之间的距离,或者为了使测量的精确度更高,可以将待测量物体的照片放大,然后使用尺子量取两个点之间的距离,但在测量时,为了操作和计算的简便性,使放大的倍数在整个测量过程中固定。
如图3、4所示,一种用于微距测量的装置,包括:装置本体1、摄像装置11、可触控显示装置14、电源装置12、微处理器13;摄像装置11、可触控显示装置14、电源装置12分别与微处理器13电连接;摄像装置11、可触控显示装置14、电源装置12、微处理器13均设于装置本体1上;
微处理器13被配置为:
获取待测量物体的照片,以及待测量物体实物的尺寸数据L0
确定待测量物体的照片上两个点之间的距离L1,两个点与尺寸数据L0在被量取时所选择的两个端点相对应;
结合两个点之间的距离L1与尺寸数据L0进行运算,得出两者的比值A;
选择待测量物体实物上要测量的尺寸数据L3在被量取时所选择的的两个端点,并在待测量物体的照片上找到相对应的两个点;
确定相对应的两个点之间的距离L2
结合值A与两个点之间的距离L2,计算出待测量物体实物上要测量的尺寸数据L3
装置本体1呈方形,可触控显示装置14设于装置本体1的上表面。
用户通过摄像装置11拍摄待测量物体的照片,照片经过微处理器13最终传输到可触控显示装置14,并显示;用户在待测量物体实物上量取某一个尺寸并获得尺寸数据L0,然后通过可触控显示装置14,在照片上选取,与尺寸数据L0在被量取时所选择的两个端点,相对应的两个点;在完成两个点的选取后,微处理器13会计算出两个点之间的最少像素个数,或者直接用尺子直接量取两个点之间的距离,以确定两个点之间的距离L1;在确定两个点之间的距离后L1,微处理器13会计算出比值A;接下来,选择待测量物体实物上要测量彼此之间距离的两个点,用户通过可触控显示装置14在照片上选取相对应的两个点,确定两个点之间的距离L2,并最终由微处理器13计算出待测量物体实物上要测量的尺寸数据L3;尺寸数据L3通过可触控显示装置14显示出来,告知用户。
其中,直接用尺子直接量取的数据可以通过可触控显示装置14输入,并传输到微处理器13进行处理。
优选地,装置本体1的边缘至少有一处为直边,直边上设有标准的尺子刻度。
以上内容仅为本发明的较佳实施例,对于本领域的普通技术人员,依据本发明的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (8)

1.一种用于微距测量的方法,其特征在于,包括:
获取待测量物体的照片,以及所述待测量物体实物的尺寸数据L0
确定所述待测量物体的照片上两个点之间的距离L1,所述两个点与所述尺寸数据L0在被量取时所选择的两个端点相对应;
结合所述两个点之间的距离L1与所述尺寸数据L0进行运算,得出两者的比值A;
选择所述待测量物体实物上要测量的尺寸数据L3在被量取时所选择的的两个端点,并在所述待测量物体的照片上找到相对应的两个点;
确定所述相对应的两个点之间的距离L2
结合所述值A与所述两个点之间的距离L2,计算出所述待测量物体实物上要测量的尺寸数据L3
2.根据权利要求1所述的一种用于微距测量的方法,其特征在于,所述一种用于微距测量的方法还包括放大所述待测量物体的照片。
3.根据权利要求2所述的一种用于微距测量的方法,其特征在于,所述放大所述待测量物体的照片所采用的放大倍数固定。
4.根据权利要求1或2所述的一种用于微距测量的方法,其特征在于,所述待测量物体实物的尺寸数据L0为所述待测量物体实物的最大直线尺寸数据。
5.根据权利要求1或2所述的一种用于微距测量的方法,其特征在于,确定所述待测量物体的照片上两个点之间的距离的方法包括:通过获取所述两个点之间的最少像素个数的方式确定所述两个点之间的距离,以所述像素个数来表达所述两个点之间的距离。
6.根据权利要求1或2所述的一种用于微距测量的方法,其特征在于,确定所述待测量物体的照片上两个点之间的距离的方法包括:通过用尺子直接量取所述两个点之间的距离的方式确定所述两个点之间的距离。
7.一种用于微距测量的装置,其特征在于,包括:装置本体、摄像装置、可触控显示装置、电源装置、微处理器;所述摄像装置、可触控显示装置、电源装置分别与所述微处理器电连接;所述摄像装置、可触控显示装置、电源装置、微处理器均设于所述装置本体上;
所述微处理器被配置为:
获取待测量物体的照片,以及所述待测量物体实物的尺寸数据L0
确定所述待测量物体的照片上两个点之间的距离L1,所述两个点与所述尺寸数据L0在被量取时所选择的两个端点相对应;
结合所述两个点之间的距离L1与所述尺寸数据L0进行运算,得出两者的比值A;
选择所述待测量物体实物上要测量的尺寸数据L3在被量取时所选择的的两个端点,并在所述待测量物体的照片上找到相对应的两个点;
确定所述相对应的两个点之间的距离L2
结合所述值A与所述两个点之间的距离L2,计算出所述待测量物体实物上要测量的尺寸数据L3
8.根据权利要求7所述的一种用于微距测量的装置,其特征在于,所述装置本体的边缘至少有一处为直边,所述直边上设有标准的尺子刻度。
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