CN206095153U - 双面图形位置相对偏差的测量设备 - Google Patents

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CN206095153U CN201621080572.6U CN201621080572U CN206095153U CN 206095153 U CN206095153 U CN 206095153U CN 201621080572 U CN201621080572 U CN 201621080572U CN 206095153 U CN206095153 U CN 206095153U
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胡茂尚
徐登峰
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KUNSHAN COSUN ELECTRON TECHNOLOGY Co Ltd
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Abstract

本实用新型公开了双面图形位置相对偏差的测量设备,包括台面,台面为大理石量具专用台面,其上设置有放置双面图形产品的工作台,工作台的正上方和正下方分别设置有相配合的上CCD摄像机和下CCD摄像机,上CCD摄像机和下CCD摄像机实时采集预先设计在双面图形产品上、下两面图形的基准点,台面的一侧设置有用于获取上CCD摄像机和下CCD摄像机所采集的图像的微型电脑,微型电脑内设置有运算图形位置偏差公式的软件。本实用新型简易、快速、直接地对双面图形位置进行测量,提高测量准确性。

Description

双面图形位置相对偏差的测量设备
技术领域
本实用新型涉及测量设备应用领域,尤其涉及一种双面图形位置相对偏差的测量设备。
背景技术
目前,对于双面图形位置的测量大多采用X-RAY光透射设备进行测量或3D量测仪器进行测量,X-RAY设备因为X射线存在安全健康隐患,不利于长时间使用,并且背光量测技术的误差也比较大;而3D量测仪器成本比较高,且测量时通常只能单面测量,需对产品的不同面分别测量后再进行偏差计算,最终得出偏移量结果,操作比较繁琐。
实用新型内容
为克服上述缺点,本实用新型的目的在于提供一种双面图形位置相对偏差的测量设备,已达到简易、快速、直接地对双面图形位置进行测量,提高测量准确性的目的。
为了解决上述技术问题,本实用新型提供双面图形位置相对偏差的测量设备,包括台面,所述台面为大理石量具专用台面,其上设置有放置双面图形产品的工作台,所述工作台的正上方和正下方分别设置有相配合的上CCD摄像机和下CCD摄像机,所述上CCD摄像机和下CCD摄像机实时采集预先设计在双面图形产品上、下两面图形的基准点,所述台面的一侧设置有用于获取所述上CCD摄像机和下CCD摄像机所采集的图像的微型电脑,所述微型电脑内设置有运算图形位置偏差公式的软件。通过两个相配合的CCD摄像机同时对双面图形位置的两面进行测量,再将测量所得图像和数据通过微型电脑内的软件进行位置偏差的计算,得出偏差结果,本设备可简易、快速、直接地对双面图形位置进行测量,提高测量准确性和精准度,降低成本。
进一步地,所述台面为大理石000级量具专用台面。使其工作台面保持平整,便于产品的放置。
进一步地,所述上CCD摄像机通过固定在台面顶端的上支架固定。便于对上CCD摄像机的固定。
进一步地,所述下CCD摄像机通过固定在台面底端的下支架固定。便于对下CCD摄像机的固定。
进一步地,所述上CCD摄像机和下CCD摄像机均为CCD高清平面摄像机。使其拍摄更加清楚。
附图说明
图1为本实施例的结构示意图;
图中:1-台面;2-工作台;3-上CCD摄像机;4-下CCD摄像机;5-上支架;6-下支架。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型的较佳实施例进行详细阐述,以使本实用新型的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解,从而对本实用新型的保护范围做出更为清楚明确的界定。
参见附图1所示,双面图形位置相对偏差的测量设备,包括台面1,台面1为大理石000级量具专用台面,其上设置有放置双面图形产品的工作台2,工作台2的正上方和正下方分别设置有相配合的同步的上CCD摄像机3和下CCD摄像机4,上CCD摄像机3通过固定在台面1顶端的上支架5固定,下CCD摄像机4通过固定在台面1底端的下支架6固定,上CCD摄像机3和下CCD摄像机4均为CCD高清平面摄像机,上CCD摄像机3和下CCD摄像机4实时采集预先设计在双面图形产品上、下两面图形的基准点,台面1的一侧设置有用于获取上CCD摄像机2和下CCD摄像机3所采集的图像的微型电脑,微型电脑内设置有运算图形位置偏差公式的软件。
同步通过软件进行图像临界值的计算,获取双面图案的边缘,再进行图案中心的计算,然后按照预设的运算公式,即时显示双面图形位置的偏差结果。
业界一般要求偏差在4mi l(100um)以内,本设备测量值可精确到10um以下,并且重复性达到5um以内。
以上实施方式只为说明本实用新型的技术构思及特点,其目的在于让熟悉此项技术的人了解本实用新型的内容并加以实施,并不能以此限制本实用新型的保护范围,凡根据本实用新型精神实质所做的等效变化或修饰,都应涵盖在本实用新型的保护范围内。

Claims (5)

1.双面图形位置相对偏差的测量设备,包括台面,其特征在于:所述台面为大理石量具专用台面,其上设置有放置双面图形产品的工作台,所述工作台的正上方和正下方分别设置有相配合的上CCD摄像机和下CCD摄像机,所述上CCD摄像机和下CCD摄像机实时采集预先设计在双面图形产品上、下两面图形的基准点,所述台面的一侧设置有用于获取所述上CCD摄像机和下CCD摄像机所采集的图像的微型电脑,所述微型电脑内设置有运算图形位置偏差公式的软件。
2.根据权利要求1所述的双面图形位置相对偏差的测量设备,其特性在于,所述台面为大理石000级量具专用台面。
3.根据权利要求1所述的双面图形位置相对偏差的测量设备,其特性在于,所述上CCD摄像机通过固定在台面顶端的上支架固定。
4.根据权利要求1所述的双面图形位置相对偏差的测量设备,其特性在于,所述下CCD摄像机通过固定在台面底端的下支架固定。
5.根据权利要求1所述的双面图形位置相对偏差的测量设备,其特性在于,所述上CCD摄像机和下CCD摄像机均为CCD高清平面摄像机。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN106370105A (zh) * 2016-09-26 2017-02-01 昆山昆尚电子科技有限公司 双面图形位置相对偏差的测量设备

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CN106370105A (zh) * 2016-09-26 2017-02-01 昆山昆尚电子科技有限公司 双面图形位置相对偏差的测量设备

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