CN109470964A - 一种石英晶体振荡器测试装置 - Google Patents
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Abstract
一种石英晶体振荡器测试装置，其特征在于，包括：底座、测试平台、支撑板、联轴板、联轴滑轮、轨道滑轮；所述底座上，设置有置放台，所述置放台上设置有千分尺滑轮；所述测试平台上，设置有定位座，所述定位座上设置有晶片槽；所述支撑板上，设置有旋钮；所述轨道滑轮上，设置有测试电路板、探针座、限位螺丝、高频线连接接口。通过采用与待测石英晶体振荡器相匹配的探针座，与传统的直接将探针焊接在测试电路板相比，保证位置更精确，且节约对齐位置的时间。
Description
技术领域
本发明涉及石英晶体振荡器测试领域，尤其涉及一种石英晶体振荡器测试装置。
背景技术
石英晶体振荡器简称为晶振。在石英晶体振荡器的生产过程中，为保证成品的电性能合格，需要对石英晶体振荡器进行在线测试，传统的测试装置是直接将测试探针焊接在测试电路板后进行测试，不能完全保证探针位置的精确性，也会在对齐位置上花费时间。
发明内容
针对所述技术的不足，本发明提供一种石英晶体振荡器测试装置。
为实现上述目的，本发明通过以下方案来实现：
一种石英晶体振荡器测试装置，包括：底座、测试平台、支撑板、联轴板、联轴滑轮、轨道滑轮；
底座上，设置有置放台，置放台上设置有千分尺滑轮；
测试平台上，设置有定位座，定位座上设置有晶片槽；
支撑板上，设置有旋钮；
轨道滑轮上，设置有测试电路板、探针座、限位螺丝、高频线连接接口。
旋钮的一端与联轴滑轮相连。
联轴滑轮的上方，设置有联轴板。
联轴板与轨道滑轮相连。
高频线连接接口接入外部的250B测试系统中。
一种石英晶体振荡器测试方法包括：
S1：选择与待测试的石英晶体振荡器的尺寸相匹配的定位座和探针座，并完成更换；
S2：用夹子将待测试的石英晶体振荡器夹入定位座的晶片槽中；
S3：转动旋钮，以带动旋钮的一端相连的联轴滑轮转动，与联轴滑轮上方的联轴板相连的轨道滑轮向上或向下运动，从而带动固定在轨道滑轮上的测试电路板、探针座及其探针向上或向下运动；
S4：当探针接触到待测试的石英晶体振荡器时，停止转动旋钮；
S5：探针连在测试电路板上，并通过两条高频连接线接入外部的250B的测试系统中，通过探针与待测试的石英晶体振荡器接触，并进行测试。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1是本发明一种石英晶体振荡器测试装置的俯视图
图2是本发明一种石英晶体振荡器测试装置的主视图
图3是本发明一种石英晶体振荡器测试装置的侧视图
图4是本发明一种石英晶体振荡器测试装置的整体图
具体实施方式
一种石英晶体振荡器测试装置，包括：底座、测试平台、支撑板、联轴板、联轴滑轮、轨道滑轮；
底座上，设置有置放台，置放台上设置有千分尺滑轮；
测试平台上，设置有定位座，定位座上设置有晶片槽；
支撑板上，设置有旋钮；
轨道滑轮上，设置有测试电路板、探针座、限位螺丝、高频线连接接口；
底座、置放台、测试平台、支撑板，均为合金材质；
千分尺能够使探针与引脚对位更准；
限位螺丝的向下运动行程有最低位置限制，能够避免测试探针过度下压导致的石英晶体振荡器损伤。
旋钮的一端与联轴滑轮相连；
联轴滑轮为偏心滑轮。
联轴滑轮的上方，设置有联轴板；
旋钮驱动联轴滑轮，联轴滑轮驱动联轴板。
联轴板与轨道滑轮相连；
轨道滑轮，又称为上下滑轮；
联轴板与轨道滑轮之间有连杆，以此驱动轨道滑轮。
高频线连接接口接入外部的250B测试系统中；
250B测试系统可自动测得石英晶体振荡器的RLD2、RR、FL、DLD2及FDLD等电性能。
一种石英晶体振荡器测试方法包括：
S1：选择与待测试的石英晶体振荡器的尺寸相匹配的定位座和探针座，并完成更换；
S2：用夹子将待测试的石英晶体振荡器夹入定位座的晶片槽中；
S3：转动旋钮，以带动旋钮的一端相连的联轴滑轮转动，与联轴滑轮上方的联轴板相连的轨道滑轮向上或向下运动，从而带动固定在轨道滑轮上的测试电路板、探针座及其探针向上或向下运动；
S4：当探针接触到待测试的石英晶体振荡器时，停止转动旋钮；
S5：探针连在测试电路板上，并通过两条高频连接线接入外部的250B的测试系统中，通过探针与待测试的石英晶体振荡器接触，并进行测试。
千分尺滑轮的测量高度范围为0-50mm，左右前后范围±15mm，精度为0.02mm。
探针座与定位座的尺寸不同，譬如待测试的石英晶体振荡器为3225规格时，定位座的晶片槽尺寸为3.2mm*2.5mm，探针座的相应尺寸为1.3mm。
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
需要说明的是，在不冲突的情况下，本发明中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明，但不作为本发明的限定。
实施例1
如图1-4所示，在底座1上固定有千分尺滑轮置放台7，在千分尺滑轮置放台7的上方设置有测试平台2；底座1、千分尺滑轮置放台7、测试平台2之间，通过四个定位长柱固定；测试平台2上固定有定位座8，在定位座8上设置有晶片槽9；支撑板3固定在底座1上；支撑板3上安装有旋钮10和轨道滑轮6；旋钮10的一端与联轴滑轮4相连；联轴滑轮4的上方设置有联轴板5；轨道滑轮6上设置有测试电路板11、探针座12、限位螺丝13、高频线连接接口14；联轴板5与轨道滑轮6通过连杆上下运动。
实施例2
本发明一种石英晶体振荡器测试装置的测试方法：
S1：选择与待测试的石英晶体振荡器的尺寸相匹配的定位座8和探针座12，并完成更换；
S2：用夹子将待测试的石英晶体振荡器夹入定位座8的晶片槽9中；
S3：转动旋钮10，以带动旋钮10的一端相连的联轴滑轮4转动，与联轴滑轮4上方的联轴板5相连的轨道滑轮6向上或向下运动，从而带动固定在轨道滑轮6上的测试电路板11、探针座12及其探针向上或向下运动；
S4：当探针接触到待测试的石英晶体振荡器时，停止转动旋钮；
S5：探针连在测试电路板11上，并通过两条高频连接线接入外部的250B的测试系统中，通过探针与待测试的石英晶体振荡器接触，并进行测试。
以上仅为本发明较佳的实施例，并非因此限制本发明的实施方式及保护范围，对于本领域技术人员而言，应当能够意识到凡运用本发明说明书及图示内容所作出的等同替换和显而易见的变化所得到的方案，均应当包含在本发明的保护范围内。
Claims (6)
1.一种石英晶体振荡器测试装置，其特征在于，包括：底座、测试平台、支撑板、联轴板、联轴滑轮、轨道滑轮；
所述底座上，设置有置放台，所述置放台上设置有千分尺滑轮；
所述测试平台上，设置有定位座，所述定位座上设置有晶片槽；
所述支撑板上，设置有旋钮；
所述轨道滑轮上，设置有测试电路板、探针座、限位螺丝、高频线连接接口。
2.如权利要求1所述一种石英晶体振荡器测试装置，其特征在于，所述旋钮的一端与所述联轴滑轮相连。
3.如权利要求1所述一种石英晶体振荡器测试装置，其特征在于，所述联轴滑轮的上方，设置有所述联轴板。
4.如权利要求1所述一种石英晶体振荡器测试装置，其特征在于，所述联轴板与所述轨道滑轮相连。
5.权利要求1所述一种石英晶体振荡器测试装置，其特征在于，所述高频线连接接口接入外部的250B测试系统中。
6.一种石英晶体振荡器测试方法，其特征在于，应用于如权利要求1-5中任意一项所述的石英晶体振荡器测试装置，所述测试方法包括：
S1：选择与待测试的所述石英晶体振荡器的尺寸相匹配的所述定位座和所述探针座，并完成更换；
S2：用夹子将待测试的石英晶体振荡器夹入所述定位座的所述晶片槽中；
S3：转动所述旋钮，以带动所述旋钮的一端相连的所述联轴滑轮转动，与所述联轴滑轮上方的所述联轴板相连的所述轨道滑轮向上或向下运动，从而带动固定在所述轨道滑轮上的所述测试电路板、所述探针座及其探针向上或向下运动；
S4：当所述探针接触到待测试的石英晶体振荡器时，停止转动所述旋钮；
S5：所述探针连在所述测试电路板上，并通过两条高频连接线接入外部的250B的测试系统中，通过所述探针与待测试的石英晶体振荡器接触，并进行测试。
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