CN109444161A - 一种磁瓦外观缺陷检测设备及检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种磁瓦外观缺陷检测设备及检测方法，属于自动化检测技术领域，包括用于传送磁瓦的检测传送机构、用于推送磁瓦的推送机构和用于检测磁瓦外观的视觉检测机构，还包括用于翻转磁瓦的翻转机构，检测传送机构包括两节以上独立的检测传送带，相邻检测传送带之间相互垂直排放且设有过渡导板，推送机构设置在检测传送带的一侧且与过渡导板在检测传送带的位置正相对，其中至少有两个相邻检测传送带之间安装有翻转机构，检测传送带的两侧分别设有视觉检测机构；本发明中的磁瓦外观缺陷检测设备具有对磁瓦外观检测效率高的优点。
Description
技术领域
本发明属于自动化检测技术领域，具体涉及一种磁瓦外观缺陷检测设备及检测方法。
背景技术
磁瓦由于缺陷复杂、检测面多、型号规格多等原因，目前还没有完全能满足使用要求的磁瓦外观缺陷检测设备。在当前磁瓦生产过程中，外观检测完全依靠人工检测，对生产效率与生产成本产生了严重影响。
发明内容
本发明的目的是针对上述存在的问题提供一种磁瓦外观缺陷检测设备及检测方法，该磁瓦外观缺陷检测设备具有对磁瓦外观检测效率高的优点。
上述的目的通过以下的技术方案实现：一种磁瓦外观缺陷检测设备，包括用于传送磁瓦的检测传送机构、用于推送磁瓦的推送机构和用于检测磁瓦外观的视觉检测机构，还包括用于翻转磁瓦的翻转机构，检测传送机构包括两节以上独立的检测传送带，相邻检测传送带之间相互垂直排放且设有过渡导板，推送机构设置在检测传送带的一侧且与过渡导板在检测传送带的位置正相对，其中至少有两个相邻检测传送带之间安装有翻转机构，检测传送带的两侧分别设有视觉检测机构。
进一步地，所述检测传送机构包括第一检测传送带、第二检测传送带、第三检测传送带和第四检测传送带。
进一步地，所述第二检测传送带和所述第三检测传送带之间安装有所述翻转机构，所述翻转机构可以将所述第二检测传送带上的磁瓦翻转180°置于所述第二检测传送带和所述第三检测传送带之间的过渡导板上。
进一步地，所述视觉检测机构包括外弧面正面检测机构、内弧面正面检测机构、外弧面左侧面检测机构、外弧面右侧面检测机构、外弧面左倒角面检测机构、外弧面右倒角面检测机构、左长度面检测机构、右长度面检测机构、左拱高面检测机构、右拱高面检测机构、内弧面左倒角面检测机构和内弧面右倒角面检测机构，所述外弧面左侧面检测机构、所述外弧面右侧面检测机构、所述外弧面正面检测机构分别设置在所述第一检测传送带的两侧，所述外弧面左倒角面检测机构、所述外弧面右倒角面检测机构分别设置在所述第二检测传送带的两侧，所述左长度面检测机构、所述右长度面检测机构、所述内弧面正面检测机构、所述左拱高面检测机构、所述右拱高面检测机构分别设置在所述第三检测传送带的两侧，所述内弧面左倒角面检测机构、所述内弧面右倒角面检测机构分别设置在所述第四检测传送带的两侧。
进一步地，所述外弧面左侧面检测机构、所述外弧面右侧面检测机构、所述外弧面左倒角面检测机构、所述外弧面右倒角面检测机构、所述左长度面检测机构、所述右长度面检测机构、所述左拱高面检测机构、所述右拱高面检测机构、所述内弧面左倒角面检测机构和所述内弧面右倒角面检测机构均包括第一相机光源组合装置、第一光源组合装置和第一到位检测传感器，所述第一相机光源组合装置安装在相对应的所述检测传送带的侧面，所述第一光源组合装置安装在相对应的所述检测传送带的上方，所述第一相机光源组合装置包括第一线性位移台、第二线性位移台、旋转位移台、第一条形LED光源、第一舵机和第一相机，所述第一线性位移台水平放置，所述第二线性位移台竖直放置，所述第一线性位移台与所述第二线性位移台相连接，所述旋转位移台与所述第二线性位移台相连接，所述第一相机与所述旋转位移台相连接，所述第一条形LED光源与所述第一舵机相连接，所述第一条形LED光源安装在所述第一相机下方，所述第一光源组合装置包括第三线性位移台和第一环形LED光源，所述第一环形LED光源与所述第三线性位移台相连接，所述第一到位检测传感器安装在相对应的所述检测传送带的侧面且位于所述第一相机的前方。
进一步地，所述外弧面正面检测机构和所述内弧面正面检测机构均包括第二相机光源组合装置、第二光源组合装置和第二到位检测传感器，所述第二相机光源组合装置包括第四线性位移台、第二环形LED光源、第二相机，所述第四线性位移台安装在相对应的所述检测传送带的侧面，所述第二相机与所述第四线性位移台相连接且位于相对应的所述检测传送带的上方，所述第二环形LED光源与所述第四线性位移台相连接且位于所述第二相机的下方，所述第二光源组合装置包括第五线性位移台、框架、第二条形LED光源和第二舵机，所述第五线性位移台安装在相对应的所述检测传送带的侧面，所述框架与所述第五线性位移台相连接且位于相对应的所述检测传送带和所述第二环线LED光源之间；所述第二条形LED光源与所述第二舵机相连接，所述第二条形LED光源与所述第二舵机分别在安装在所述框架四周内侧，所述第二到位检测传感器安装在相对应的所述检测传送带的侧面且位于所述第二相机的前方。
进一步地，所述框架为方形框架，所述第二条形LED光源和所述第二舵机的数量均为四个。
进一步地，所述磁瓦外观缺陷检测设备还包括堆叠机构，所述堆叠机构包括正品堆叠机构与废品堆叠机构，所述正品堆叠机构、所述废品堆叠机构分别设置在所述第四检测传送带的两侧且与所述第四检测传送带相垂直排放，所述推送机构还设置在所述第四检测传送带的一侧且与所述正品堆叠机构、所述废品堆叠机构位置正相对。
进一步地，所述磁瓦外观缺陷检测设备还包括进料机构，所述进料机构包括进料传送带、导轨条和过渡导板；所述导轨条安装在所述进料传送带的前端，所述过渡导板的一端安装在所述进料传送带的末端，所述过渡导板的另一端安装在所述检测传送机构的入口处，所述堆叠机构还包括疑似废品堆叠机构，所述推送机构还设置在所述第四检测传送带的一侧且与所述疑似废品堆叠机构位置正相对。
一种磁瓦外观缺陷检测方法，包括以下步骤：
步骤一：在人机交互界面选择磁瓦型号，控制系统根据磁瓦信息控制第一线性位移台、第二线性位移台、第三线性位移台、第四线性位移台、第五线性位移台、旋转位移台、第一舵机和第二舵机位置，启动所有检测传送带，整机系统进入检测模式；
步骤二：磁瓦经过进料机构进入第一检测传送带，在第一检测传送带上依次通过外弧面左侧面检测机构、外弧面右侧面检测机构、外弧面正面检测机构，再由推送机构垂直推入第二检测传送带；
步骤三：进入第二检测传送带依次通过外弧面左倒角面检测机构、外弧面右倒角面检测机构，再通过推送机构和翻转机构垂直进入第三传送带；
步骤四：进入第三检测传送带依次通过左长度面检测机构、右长度面检测机构、内弧面正面检测机构、左拱高面检测机构、右拱高面检测机构，再由推送机构垂直推入第四检测传送带；
步骤五：进入第四检测传送带依次通过内弧面左倒角面检测机构、内弧面右倒角面检测机构，随后计算系统将磁瓦所有面检测信息发送给控制系统，控制系统根据检测结果将磁瓦推送至对应位置，若磁瓦无缺陷，则控制系统会在磁瓦通过推送机构时将其推入正品堆叠机构，若磁瓦有缺陷，则控制系统会在磁瓦通过推送机构时将其推入废品堆叠机构，若磁瓦疑似有缺陷，则控制系统会在磁瓦通过推送机构时将其推入疑似废品堆叠机构。
与现有技术相比，本发明的有益效果：采用12个及以上视觉检测机构实现磁瓦全部面的检测，完全省去人工复检，提高了对磁瓦外观的检测效率；采用位移台和舵机自动控制相机与光源位置，磁瓦产品换线简单迅速；采用四节检测传送带布局，检测相机全部分布于检测传送带侧面或者正面，使得整体布局更加紧凑，采集图像质量更加稳定可靠。
附图说明
图1为本发明的结构示意图；
图2为第一检测传送带与外弧面左侧面检测机构、外弧面右侧面检测机构以及外弧面正面检测机构的连接示意图；
图3为第二检测传送带与外弧面左倒角面检测机构以及外弧面右倒角面检测机构的连接示意图；
图4为第三检测传送带与左长度面检测机构、右长度面检测机构、内弧面正面检测机构、左拱高面检测机构以及右拱高面检测机构的连接示意图；
图5为第四检测传送带与内弧面左倒角面检测机构以及内弧面右倒角面检测机构的连接示意图；
图6为外弧面左侧面检测机构的结构示意图；
图7为外弧面正面检测机构的结构示意图；
附图标记：1、进料机构；2、第一检测传送带；3、外弧面右侧面检测机构；301、外弧面右侧面相机光源组合装置；302、外弧面右侧面光源组合装置；4、外弧面正面检测机构；401、外弧面正面相机光源组合装置；402、外弧面正面光源组合装置；5、第一推送机构；6、第四检测传送带；7、废品堆叠机构；8、第五推送机构；9、正品堆叠机构；10、内弧面左倒角面检测机构；1001、内弧面左倒角面相机光源组合装置；1002、内弧面左倒角面光源组合装置；11、第四推送机构；12、内弧面右倒角面检测机构；1201、内弧面右倒角面相机光源组合装置；1202、内弧面右倒角面光源组合装置；13、第三推送机构；14、右拱高面检测机构；1401、右拱高面相机光源组合装置；1402、右拱高面光源组合装置；15、左拱高面检测机构；1501、左拱高面相机光源组合装置；1502、左拱高面光源组合装置；16、内弧面正面检测机构；1601、内弧面正面相机光源组合装置；1602、内弧面正面光源组合装置；17、左长度面检测机构；1701、左长度面相机光源组合装置；1702、左长度面光源组合装置；18、第三检测传送带；19、右长度面检测机构；1901、右长度面相机光源组合装置；1902、右长度面光源组合装置；20、翻转机构；21、第二推送机构；22、外弧面右倒角面检测机构；2201、外弧面右倒角面相机光源组合装置；2202、外弧面右倒角面光源组合装置；23、外弧面左倒角面检测机构；2301、外弧面左倒角面相机光源组合装置；2302、外弧面左倒角面光源组合装置；24、第二检测传送带；25、外弧面左侧面检测机构；2501、外弧面左侧面相机光源组合装置；2502、外弧面左侧面光源组合装置；30、第三线性位移台；31、第一环形LED光源；32、第二线性位移台；33、旋转位移台；34、第一线性位移台；35、第一相机；36、第一舵机；37、第一条形LED光源；38、第一到位检测传感器；40、第五线性位移台；41、框架；42、第二到位检测传感器；43、第二舵机；44、第二条形LED光源；45、第二环线LED光源；46、第四线性位移台；47、第二相机。
具体实施方式
如图1-7所示，一种磁瓦外观缺陷检测设备，包括用于传送磁瓦的检测传送机构、用于推送磁瓦的推送机构和用于检测磁瓦外观的视觉检测机构，还包括用于翻转磁瓦的翻转机构20，检测传送机构包括两节以上独立的检测传送带，相邻检测传送带之间相互垂直排放且设有过渡导板，推送机构设置在检测传送带的一侧且与过渡导板在检测传送带的位置正相对，其中至少有两个相邻检测传送带之间安装有翻转机构20，检测传送带的两侧分别设有视觉检测机构，实现了磁瓦全部面的检测，完全省去人工复检。
检测传送机构包括第一检测传送带2、第二检测传送带24、第三检测传送带18和第四检测传送带6，采用四节检测传送带布局，提高了磁瓦全部面的检测力度。
推送机构主要作用是将到达预定位置的磁瓦从当前检测传送带推送到另外一个检测传送带。
这里，推送机构包括第一推送机构5、第二推送机构21和第三推送机构13，其中第一推送机构5设置在第一检测传送带2的一侧且与过渡导板在第一检测传送带2的位置正相对，第二推送机构21设置在第二检测传送带24的一侧且与过渡导板在第二检测传送带24的位置正相对，第三推送机构13设置在第三检测传送带18的一侧且与过渡导板在第三检测传送带18的位置正相对。
第二检测传送带24和第三检测传送带18之间安装有翻转机构20，翻转机构20可以将第二检测传送带24上的磁瓦翻转180°置于第二检测传送带24和第三检测传送带18之间的过渡导板上，在从第二检测传送带24送往第三检测传送带18的过程中实现了磁瓦的翻转，进而对磁瓦的反面进行外观检测，进一步地提高了磁瓦全部面的检测力度。
视觉检测机构包括外弧面正面检测机构4、内弧面正面检测机构16、外弧面左侧面检测机构25、外弧面右侧面检测机构3、外弧面左倒角面检测机构23、外弧面右倒角面检测机构22、左长度面检测机构17、右长度面检测机构19、左拱高面检测机构15、右拱高面检测机构14、内弧面左倒角面检测机构10和内弧面右倒角面检测机构12，外弧面左侧面检测机构25、外弧面右侧面检测机构3、外弧面正面检测机构4分别设置在第一检测传送带2的两侧，外弧面左倒角面检测机构23、外弧面右倒角面检测机构22分别设置在第二检测传送带24的两侧，左长度面检测机构17、右长度面检测机构19、内弧面正面检测机构16、左拱高面检测机构15、右拱高面检测机构14分别设置在第三检测传送带18的两侧，内弧面左倒角面检测机构10、内弧面右倒角面检测机构12分别设置在第四检测传送带6的两侧，采用12个视觉检测机构实现了磁瓦外观缺陷的检测，显著地提高了磁瓦全部面的检测力度。
外弧面左侧面检测机构25、外弧面右侧面检测机构3、外弧面左倒角面检测机构23、外弧面右倒角面检测机构22、左长度面检测机构17、右长度面检测机构19、左拱高面检测机构15、右拱高面检测机构14、内弧面左倒角面检测机构10和内弧面右倒角面检测机构12均包括第一相机光源组合装置、第一光源组合装置和第一到位检测传感器38，第一相机光源组合装置安装在相对应的检测传送带的侧面，第一光源组合装置安装在相对应的检测传送带的上方，第一相机光源组合装置包括第一线性位移台34、第二线性位移台32、旋转位移台33、第一条形LED光源37、第一舵机36和第一相机35，第一线性位移台34水平放置，第二线性位移台32竖直放置，第一线性位移台34与第二线性位移台32相连接，旋转位移台33与第二线性位移台32相连接，第一相机35与旋转位移台33相连接，第一相机35可实现前后、上下位置平行移动与上下角度旋转；第一条形LED光源37与第一舵机36相连接，第一条形LED光源37安装在第一相机35下方，第一条形LED光源37可实现上下角度旋转；第一光源组合装置包括第三线性位移台30和第一环形LED光源31，第一环形LED光源31与第三线性位移台30相连接，第一环形LED光源31可实现上下位置移动；采用第一线性位移台34、第二线性位移台32、第三线性位移台30、旋转位移台33和第一舵机36自动控制第一相机35与光源位置，磁瓦产品换线简单迅速，检测的第一相机35全部分布于检测传送带侧面，使得整体布局更加紧凑，采集图像质量更加稳定可靠，第一到位检测传感器38安装在相对应的检测传送带的侧面且位于第一相机35的前方。
这里，外弧面左侧面检测机构25中的外弧面左侧面相机光源组合装置2501作为其第一相机光源组合装置而外弧面左侧面光源组合装置2502作为其第一光源组合装置。
外弧面右侧面检测机构3中的外弧面右侧面相机光源组合装置301作为其第一相机光源组合装置而外弧面右侧面光源组合装置302作为其第一光源组合装置。
外弧面左倒角面检测机构23中的外弧面左倒角面相机光源组合装置2301作为其第一相机光源组合装置而外弧面左倒角面光源组合装置2302作为其第一光源组合装置。
外弧面右倒角面检测机构22中的外弧面右倒角面相机光源组合装置2201作为其第一相机光源组合装置而外弧面右倒角面光源组合装置2202作为其第一光源组合装置。
左长度面检测机构17中的左长度面相机光源组合装置1701作为其第一相机光源组合装置而左长度面光源组合装置1702作为其第一光源组合装置。
右长度面检测机构19中的右长度面相机光源组合装置1901作为其第一相机光源组合装置而右长度面光源组合装置1902作为其第一光源组合装置。
左拱高面检测机构15中的左拱高面相机光源组合装置1501作为其第一相机光源组合装置而左拱高面光源组合装置1502作为其第一光源组合装置。
右拱高面检测机构14中的右拱高面相机光源组合装置1401作为其第一相机光源组合装置而右拱高面光源组合装置1402作为其第一光源组合装置。
内弧面左倒角面检测机构10中的内弧面左倒角面相机光源组合装置1001作为其第一相机光源组合装置而内弧面左倒角面光源组合装置1002作为其第一光源组合装置。
内弧面右倒角面检测机构12中的内弧面右倒角面相机光源组合装置1201作为其第一相机光源组合装置而内弧面右倒角面光源组合装置1202作为其第一光源组合装置。
外弧面正面检测机构4和内弧面正面检测机构16均包括第二相机光源组合装置、第二光源组合装置和第二到位检测传感器42，第二相机光源组合装置包括第四线性位移台46、第二环形LED光源45、第二相机47，第四线性位移台46安装在相对应的检测传送带的侧面，第二相机47与第四线性位移台46相连接且位于相对应的检测传送带的上方，第二环形LED光源45与第四线性位移台46相连接且位于第二相机47的下方，第二相机47与第二环形LED光源45均可实现上下位置移动；第二光源组合装置包括第五线性位移台40、框架41、第二条形LED光源44和第二舵机43，第五线性位移台40安装在相对应的检测传送带的侧面，框架41与第五线性位移台40相连接且位于相对应的检测传送带和第二环线LED光源45之间；第二条形LED光源44与第二舵机43相连接，第二条形LED光源44与第二舵机43分别在安装在框架41四周内侧，第二条形LED光源均可实现上下位置移动与上下角度旋转；采用第四线性位移台46、第五线性位移台40和第二舵机43自动控制第二相机47与光源位置，磁瓦产品换线简单迅速，检测的第二相机47全部分布于检测传送带侧面，使得整体布局更加紧凑，采集图像质量更加稳定可靠，第二到位检测传感器42安装在相对应的检测传送带的侧面且位于第二相机47的前方。
这里，外弧面正面检测机构4中的外弧面正面相机光源组合装置401作为其第二相机光源组合装置而外弧面正面光源组合装置402作为其第二光源组合装置。
内弧面正面检测机构16中的内弧面正面相机光源组合装置1601作为其第二相机光源组合装置而内弧面正面光源组合装置1602作为其第二光源组合装置。
框架41为方形框架，第二条形LED光源44和第二舵机43的数量均为四个，光源布局科学合理，使得光源的覆盖面广，使得采集图像质量更加稳定可靠。
磁瓦外观缺陷检测设备还包括堆叠机构，堆叠机构包括正品堆叠机构9与废品堆叠机构7，正品堆叠机构9、废品堆叠机构7分别设置在第四检测传送带6的两侧且与第四检测传送带6相垂直排放，推送机构还设置在第四检测传送带6的一侧且与正品堆叠机构9、废品堆叠机构7位置正相对，实现了正品磁瓦和废品磁瓦的自动分离、收集。
这里，推送机构还包括第四推送机构11和第五推送机构8，第四推送机构11设置在第四检测传送带6的一侧且与正品堆叠机构9位置正相对，第五推送机构8设置在第四检测传送带6的一侧且与废品堆叠机构7位置正相对。
磁瓦外观缺陷检测设备还包括进料机构1，进料机构1包括进料传送带、导轨条和过渡导板；导轨条安装在进料传送带的前端，过渡导板的一端安装在进料传送带的末端，过渡导板的另一端安装在检测传送机构的入口处，提高了磁瓦进料的效率。
堆叠机构还包括疑似废品堆叠机构，推送机构还设置在第四检测传送带6的一侧且与疑似废品堆叠机构位置正相对，推送机构可以将疑似缺陷的磁瓦推入疑似废品堆叠机构中。
一种磁瓦外观缺陷检测方法，包括以下步骤：
步骤一：在人机交互界面选择磁瓦型号，控制系统根据磁瓦信息控制第一线性位移台34、第二线性位移台32、第三线性位移台30、第四线性位移台46、第五线性位移台40、旋转位移台33、第一舵机36和第二舵机43位置，启动所有检测传送带，整机系统进入检测模式；
步骤二：磁瓦经过进料机构1进入第一检测传送带2，在第一检测传送带2上依次通过外弧面左侧面检测机构25、外弧面右侧面检测机构3、外弧面正面检测机构4，再由推送机构垂直推入第二检测传送带24；
步骤三：进入第二检测传送带24依次通过外弧面左倒角面检测机构23、外弧面右倒角面检测机构22，再通过推送机构和翻转机构垂直进入第三传送带18；
步骤四：进入第三检测传送带18依次通过左长度面检测机构17、右长度面检测机构19、内弧面正面检测机构16、左拱高面检测机构15、右拱高面检测机构14，再由推送机构垂直推入第四检测传送带6；
步骤五：进入第四检测传送带6依次通过内弧面左倒角面检测机构10、内弧面右倒角面检测机构12，随后计算系统将磁瓦所有面检测信息发送给控制系统，控制系统根据检测结果将磁瓦推送至对应位置，若磁瓦无缺陷，则控制系统会在磁瓦通过推送机构时将其推入正品堆叠机构9，若磁瓦有缺陷，则控制系统会在磁瓦通过推送机构时将其推入废品堆叠机构7，若磁瓦疑似有缺陷，则控制系统会在磁瓦通过推送机构时将其推入疑似废品堆叠机构。
该磁瓦外观缺陷检测方法涉及的设备包括人机交互界面、计算系统与控制系统；人机交互界面用于控制设备启停、选择检测磁瓦型号、显示当前检测信息等功能；计算系统用于处理磁瓦所有面的采集图像，判断磁瓦是否有外观缺陷并向控制系统发送检测信息；控制系统包括电机控制系统、位移台控制系统、舵机控制系统和推送装置控制系统，其中电机控制系统可以控制检测传送机构中的电机；位移台控制系统可以控制第一线性位移台34、第二线性位移台32、第三线性位移台30、第四线性位移台46、第五线性位移台40和旋转位移台33；舵机控制系统可以控制第一舵机36和第二舵机43；推送装置控制系统可以控制推送机构，如第一推送机构5、第二推送机构21和第三推送机构13、第四推送机构11和第五推送机构8。
本发明方案所公开的技术手段不仅限于上述技术手段所公开的技术手段，还包括由以上技术特征等同替换所组成的技术方案。本发明的未尽事宜，属于本领域技术人员的公知常识。
Claims (10)
1.一种磁瓦外观缺陷检测设备，包括用于传送磁瓦的检测传送机构、用于推送磁瓦的推送机构和用于检测磁瓦外观的视觉检测机构，其特征在于：还包括用于翻转磁瓦的翻转机构(20)，检测传送机构包括两节以上独立的检测传送带，相邻检测传送带之间相互垂直排放且设有过渡导板，推送机构设置在检测传送带的一侧且与过渡导板在检测传送带的位置正相对，其中至少有两个相邻检测传送带之间安装有翻转机构(20)，检测传送带的两侧分别设有视觉检测机构。
2.根据权利要求1所述的磁瓦外观缺陷检测设备，其特征在于：所述检测传送机构包括第一检测传送带(2)、第二检测传送带(24)、第三检测传送带(18)和第四检测传送带(6)。
3.根据权利要求2所述的磁瓦外观缺陷检测设备，其特征在于：所述第二检测传送带(24)和所述第三检测传送带(18)之间安装有所述翻转机构(20)，所述翻转机构(20)可以将所述第二检测传送带(24)上的磁瓦翻转180°置于所述第二检测传送带(24)和所述第三检测传送带(18)之间的过渡导板上。
4.根据权利要求3所述的磁瓦外观缺陷检测设备，其特征在于：所述视觉检测机构包括外弧面正面检测机构(4)、内弧面正面检测机构(16)、外弧面左侧面检测机构(25)、外弧面右侧面检测机构(3)、外弧面左倒角面检测机构(23)、外弧面右倒角面检测机构(22)、左长度面检测机构(17)、右长度面检测机构(19)、左拱高面检测机构(15)、右拱高面检测机构(14)、内弧面左倒角面检测机构(10)和内弧面右倒角面检测机构(12)，所述外弧面左侧面检测机构(25)、所述外弧面右侧面检测机构(3)、所述外弧面正面检测机构(4)分别设置在所述第一检测传送带(2)的两侧，所述外弧面左倒角面检测机构(23)、所述外弧面右倒角面检测机构(22)分别设置在所述第二检测传送带(24)的两侧，所述左长度面检测机构(17)、所述右长度面检测机构(19)、所述内弧面正面检测机构(16)、所述左拱高面检测机构(15)、所述右拱高面检测机构(14)分别设置在所述第三检测传送带(18)的两侧，所述内弧面左倒角面检测机构(10)、所述内弧面右倒角面检测机构(12)分别设置在所述第四检测传送带(6)的两侧。
5.根据权利要求4所述的磁瓦外观缺陷检测设备，其特征在于：所述外弧面左侧面检测机构(25)、所述外弧面右侧面检测机构(3)、所述外弧面左倒角面检测机构(23)、所述外弧面右倒角面检测机构(22)、所述左长度面检测机构(17)、所述右长度面检测机构(19)、所述左拱高面检测机构(15)、所述右拱高面检测机构(14)、所述内弧面左倒角面检测机构(10)和所述内弧面右倒角面检测机构(12)均包括第一相机光源组合装置、第一光源组合装置和第一到位检测传感器(38)，所述第一相机光源组合装置安装在相对应的所述检测传送带的侧面，所述第一光源组合装置安装在相对应的所述检测传送带的上方，所述第一相机光源组合装置包括第一线性位移台(34)、第二线性位移台(32)、旋转位移台(33)、第一条形LED光源(37)、第一舵机(36)和第一相机(35)，所述第一线性位移台(34)水平放置，所述第二线性位移台(32)竖直放置，所述第一线性位移台(34)与所述第二线性位移台(32)相连接，所述旋转位移台(33)与所述第二线性位移台(32)相连接，所述第一相机(35)与所述旋转位移台(33)相连接，所述第一条形LED光源(37)与所述第一舵机(36)相连接，所述第一条形LED光源(37)安装在所述第一相机(35)下方，所述第一光源组合装置包括第三线性位移台(30)和第一环形LED光源(31)，所述第一环形LED光源(31)与所述第三线性位移台(30)相连接，所述第一到位检测传感器(38)安装在相对应的所述检测传送带的侧面且位于所述第一相机(35)的前方。
6.根据权利要求4所述的磁瓦外观缺陷检测设备，其特征在于：所述外弧面正面检测机构(4)和所述内弧面正面检测机构(16)均包括第二相机光源组合装置、第二光源组合装置和第二到位检测传感器(42)，所述第二相机光源组合装置包括第四线性位移台(46)、第二环形LED光源(45)、第二相机(47)，所述第四线性位移台(46)安装在相对应的所述检测传送带的侧面，所述第二相机(47)与所述第四线性位移台(46)相连接且位于相对应的所述检测传送带的上方，所述第二环形LED光源(45)与所述第四线性位移台(46)相连接且位于所述第二相机(47)的下方，所述第二光源组合装置包括第五线性位移台(40)、框架(41)、第二条形LED光源(44)和第二舵机(43)，所述第五线性位移台(40)安装在相对应的所述检测传送带的侧面，所述框架(41)与所述第五线性位移台(40)相连接且位于相对应的所述检测传送带和所述第二环线LED光源(45)之间；所述第二条形LED光源(44)与所述第二舵机(43)相连接，所述第二条形LED光源(44)与所述第二舵机(43)分别在安装在所述框架(41)四周内侧，所述第二到位检测传感器(42)安装在相对应的所述检测传送带的侧面且位于所述第二相机(47)的前方。
7.根据权利要求6所述的磁瓦外观缺陷检测设备，其特征在于：所述框架(41)为方形框架，所述第二条形LED光源(44)和所述第二舵机(43)的数量均为四个。
8.根据权利要求1-7中任意一项所述的磁瓦外观缺陷检测设备，其特征在于：所述磁瓦外观缺陷检测设备还包括堆叠机构，所述堆叠机构包括正品堆叠机构(9)与废品堆叠机构(7)，所述正品堆叠机构(9)、所述废品堆叠机构(7)分别设置在所述第四检测传送带(6)的两侧且与所述第四检测传送带(6)相垂直排放，所述推送机构还设置在所述第四检测传送带(6)的一侧且与所述正品堆叠机构(9)、所述废品堆叠机构(7)位置正相对。
9.根据权利要求8所述的磁瓦外观缺陷检测设备，其特征在于：所述磁瓦外观缺陷检测设备还包括进料机构(1)，所述进料机构(1)包括进料传送带、导轨条和过渡导板；所述导轨条安装在所述进料传送带的前端，所述过渡导板的一端安装在所述进料传送带的末端，所述过渡导板的另一端安装在所述检测传送机构的入口处，所述堆叠机构还包括疑似废品堆叠机构，所述推送机构还设置在所述第四检测传送带(6)的一侧且与所述疑似废品堆叠机构位置正相对。
10.一种磁瓦外观缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤一：在人机交互界面选择磁瓦型号，控制系统根据磁瓦信息控制第一线性位移台(34)、第二线性位移台(32)、第三线性位移台(30)、第四线性位移台(46)、第五线性位移台(40)、旋转位移台(33)、第一舵机(36)和第二舵机(43)位置，启动所有检测传送带，整机系统进入检测模式；
步骤二：磁瓦经过进料机构(1)进入第一检测传送带(2)，在第一检测传送带(2)上依次通过外弧面左侧面检测机构(25)、外弧面右侧面检测机构(3)、外弧面正面检测机构(4)，再由推送机构垂直推入第二检测传送带(24)；
步骤三：进入第二检测传送带(24)依次通过外弧面左倒角面检测机构(23)、外弧面右倒角面检测机构(22)，再通过推送机构和翻转机构垂直进入第三传送带(18)；
步骤四：进入第三检测传送带(18)依次通过左长度面检测机构(17)、右长度面检测机构(19)、内弧面正面检测机构(16)、左拱高面检测机构(15)、右拱高面检测机构(14)，再由推送机构垂直推入第四检测传送带(6)；
步骤五：进入第四检测传送带(6)依次通过内弧面左倒角面检测机构(10)、内弧面右倒角面检测机构(12)，随后计算系统将磁瓦所有面检测信息发送给控制系统，控制系统根据检测结果将磁瓦推送至对应位置，若磁瓦无缺陷，则控制系统会在磁瓦通过推送机构时将其推入正品堆叠机构(9)，若磁瓦有缺陷，则控制系统会在磁瓦通过推送机构时将其推入废品堆叠机构(7)，若磁瓦疑似有缺陷，则控制系统会在磁瓦通过推送机构时将其推入疑似废品堆叠机构。
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