CN109346114B - 图像形成装置和耗材芯片掉电处理方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种图像形成装置和耗材芯片掉电处理方法。该图像形成装置，包括：电源电路、主控芯片、耗材芯片以及掉电检测电路。其中，电源电路分别与主控芯片和耗材芯片连接，用于向主控芯片和耗材芯片供电，向掉电检测电路提供目标电压。主控芯片还与耗材芯片连接，掉电检测电路还与所述主控芯片连接。掉电检测电路检测目标电压是否掉电，向主控芯片发送检测结果，主控芯片在向耗材芯片发送数据之前，在检测结果指示目标电压不掉电时，在第一预设时长内开始向耗材芯片发送数据；在检测结果指示目标电压掉电时，停止向耗材芯片发送数据。本发明实现了对耗材芯片的掉电状态的检测，并根据耗材芯片的掉电状态，确定是否向耗材芯片写入数据。

Description

图像形成装置和耗材芯片掉电处理方法

技术领域

本发明涉及图像形成装置技术领域，尤其涉及一种图像形成装置和耗材芯片掉电处理方法。

背景技术

为了便于管理成像盒的使用，通常在成像盒上设置耗材芯片，该耗材芯片存储有成像盒的信息，例如生产日期、着色剂类型/颜色、制造厂商、认证信息、着色剂剩余量/消耗量等，主要功能是便于身份识别和记录使用状态。

通常，耗材芯片的存储区域包括非易失性存储区域及易失性存储区域，非易失性存储区域通常采用带电可擦可编程只读存储器(Electrically Erasable Programmableread only memory，EEPROM)，其存储有与耗材相关的信息，包括可变信息与不变信息，可变信息是随打印操作会不断变化的信息，如碳粉余量、打印时长、与耗材兼容性相关的密码等信息，不变信息是不会随打印操作变化的信息，如耗材序列号、适用的打印机型号、碳粉颜色等。易失性存储区域通常采用静态随机存取存储器(Static Random-Access Memory，SRAM)，其读写速度较快，用于临时存储打印机向耗材芯片写入的数据。且耗材芯片掉电后，其非易失性存储区中存储的数据仍会保存，其易失性存储区中存储的数据将会丢失。

目前，图像形成装置向耗材芯片发送数据时，会先发送到耗材芯片的易失性存储区域中，耗材芯片再将数据从易失性存储区域写入到非易失性存储区域中。一旦耗材芯片掉电，耗材芯片无法将数据从易失性存储区域写入到非易失性存储区域中，导致耗材芯片从图像形成装置中接收到的数据损坏，无法保证数据的完整性。一方面，当图像形成装置从耗材芯片中调用该数据时，图像形成装置读取校验时无法识别该数据。另一方面，在图像形成装置和耗材芯片之间通过电容或电池等起到延迟作用的元器件完成耗材芯片将数据从易失性存储区域到非易失性存储区域的写入，增加了硬件电路的复杂程度，且对电容或电池等元器件的要求规格非常高，导致成本较高。

发明内容

本发明提供一种图像形成装置和耗材芯片掉电处理方法，以解决耗材芯片掉电时数据更新失败而导致图像形成装置无法调用该数据的问题。

第一方面，本发明提供一种图像形成装置，包括：

电源电路、主控芯片、耗材芯片以及掉电检测电路；

其中，所述电源电路分别与所述主控芯片、所述耗材芯片以及所述掉电检测电路连接，用于向所述主控芯片和所述耗材芯片供电，向所述掉电检测电路提供目标电压；

所述掉电检测电路还与所述主控芯片连接，用于检测所述目标电压是否掉电，向所述主控芯片发送检测结果；

所述主控芯片还与所述耗材芯片连接，用于在向所述耗材芯片发送数据之前，当所述检测结果指示所述目标电压不掉电时，在第一预设时长内开始向所述耗材芯片发送所述数据；当所述检测结果指示所述目标电压掉电时，停止向所述耗材芯片发送所述数据。

可选地，所述电源电路包括：整流器、滤波电容、电压变换器以及直流-直流变换单元，所述直流-直流变换单元包括N个串联连接的直流-直流变换器，N为正整数；

其中，所述整流器的输入端用于连接交流电源，所述整流器的正向输出端分别与所述滤波电容的第一端和所述电压变换器的第一输入端连接，所述整流器的负向输出端分别与所述滤波电容的第二端以及所述电压变换器的第二输入端连接，所述电压变换器的第一输出端和第二输出端分别与所述直流-直流变换单元的第一输入端和第二输入端连接，所述直流-直流变换单元的输出端分别与所述主控芯片和所述耗材芯片连接。

可选地，所述掉电检测电路包括：比较器；

其中，所述比较器的第一输入端连接在所述电压变换器和与所述电压变换器连接的直流-直流变换器之间，用于获取所述目标电压；所述比较器的第二输入端连接有参考电压，所述比较器的输出端与所述主控芯片连接；

所述比较器，用于在所述目标电压不掉电时，向所述主控芯片发送第一信号；在所述目标电压掉电时，向所述主控芯片发送第二信号；

所述主控芯片，用于在接收到所述第一信号时，确定所述检测结果指示所述目标电压不掉电；在接收到所述第二信号时，确定所述检测结果指示所述目标电压掉电。

可选地，所述掉电检测电路包括：三极管和电容；

其中，所述电容的第一端连接在所述电压变换器和与所述电压变换器连接的直流-直流变换器之间，用于获取所述目标电压；所述电容的第二端与所述三极管的基极连接，所述三极管的发射极连接有电源电压，所述三极管的集电极和所述主控芯片连接；

所述三极管，用于在所述目标电压不掉电时，向所述主控芯片发送第三信号；在所述目标电压掉电时，向所述主控芯片发送第四信号；

所述主控芯片，用于在接收到所述第三信号时，确定所述检测结果指示所述目标电压不掉电；在接收到所述第四信号时，确定所述检测结果指示所述目标电压掉电。

可选地，所述掉电检测电路包括：第一光电耦合器；

其中，所述第一光电耦合器并联连接在所述滤波电容的第一端和第二端，用于获取所述目标电压；所述第一光电耦合器的输出端与所述主控芯片连接；

所述第一光电耦合器，用于在所述目标电压不掉电时，向所述主控芯片发送第五信号；在所述目标电压掉电时，向所述主控芯片发送第六信号；

所述主控芯片，用于在接收到所述第五信号时，确定所述检测结果指示所述目标电压不掉电；在接收到所述第六信号时，确定所述检测结果指示所述目标电压掉电。

可选地，所述掉电检测电路包括：第二光电耦合器；

其中，所述第二光电耦合器并联连接在所述整流器的输入端侧，用于获取所述目标电压；所述第二光电耦合器的输出端与所述主控芯片连接；

所述第二光电耦合器，用于在所述目标电压不掉电时，每隔所述交流电源的半个周期向所述主控芯片发送第八信号；在所述目标电压掉电时，持续向所述主控芯片发送第八信号；

所述主控芯片，用于在第二预设时长内接收到所述第七信号时，确定所述检测结果指示所述目标电压不掉电；在所述第二预设时长内未接收到所述第七信号时，确定所述检测结果指示所述目标电压掉电，其中所述第二预设时长大于所述交流电源的半个周期。

可选地，所述第一预设时长小于或等于第一时长与第二时长的差值，所述第一时长为从所述掉电检测电路检测到所述目标电压掉电的时刻到所述耗材芯片无法正常工作的时刻之间的时长，所述第二时长为所述主控芯片向所述耗材芯片发送所述数据的时长与所述耗材芯片对所述数据进行内部写入的时长之和。

可选地，所述数据包括：所述耗材芯片的序列号信息、碳粉参数信息、打印时长信息、所述主控芯片生成的与所述耗材芯片兼容对应的密码信息中的至少一种。

第二方面，本发明提供一种耗材芯片掉电处理方法，包括：

在向所述耗材芯片发送数据之前，从掉电检测电路获取检测结果，所述检测结果用于表明电源电路提供的目标电压是否掉电；

在所述检测结果指示所述目标电压不掉电时，在第一预设时长内开始向所述耗材芯片发送所述数据；

在所述检测结果指示所述目标电压掉电时，停止向所述耗材芯片发送所述数据。

可选地，所述第一预设时长小于或等于第一时长与第二时长的差值，所述第一时长为从所述掉电检测电路检测到所述目标电压掉电的时刻到所述耗材芯片无法正常工作的时刻之间的时长，所述第二时长为所述主控芯片向所述耗材芯片发送所述数据的时长与所述耗材芯片对所述数据进行内部写入的时长之和。

可选地，所述数据包括：所述耗材芯片的序列号信息、碳粉参数信息、打印时长信息、所述主控芯片生成的与所述耗材芯片兼容对应的密码信息中的至少一种。

第三方面，本发明提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现第二方面所述的耗材芯片掉电处理方法。

第四方面，本发明提供一种电子设备，包括：

处理器；以及

存储器，用于存储所述处理器的可执行指令；

其中，所述处理器配置为经由执行所述可执行指令来执行第二方面所述的耗材芯片掉电处理方法。

本发明提供的图像形成装置和耗材芯片掉电处理方法，通过掉电检测电路从电源电路获取目标电压，并检测目标电压的掉电状态。在主控芯片向耗材芯片发送数据之前，主控芯片根据掉电检测电路发送的检测结果来确定耗材芯片是否发生掉电。当检测结果指示目标电压不掉电时，主控芯片在第一预设时长内开始向耗材芯片发送所述数据。在检测结果指示目标电压掉电时，主控芯片停止向耗材芯片发送数据。本发明中，主控芯片会在向耗材芯片发送数据之前，先通过掉电检测电路的检测结果来获取耗材芯片的掉电状态，再根据耗材芯片的掉电状态判断是否向耗材芯片发送数据，在出现主控芯片确定检测结果指示目标电压未掉电开始向耗材芯片发送数据后、掉电检测电路检测到目标电压掉电的情况时，第一预设时长的设置可以保证主控芯片向耗材芯片写入数据的完整性和正确性，还避免了耗材芯片掉电时所引起的数据更新失败，有效防止了电源电路的非正常断电所导致的耗材芯片故障，不仅硬件结构简单，成本较低，还解决了现有技术中由于耗材芯片掉电时数据更新失败而导致图像形成装置无法调用该数据的问题。

附图说明

为了清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明实施例的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明提供的图像形成装置的结构示意图；

图2为本发明提供的图像形成装置的控制时序示意图；

图3为本发明提供的图像形成装置的电路示意图；

图4为本发明提供的掉电检测电路的电路示意图；

图5为本发明提供的掉电检测电路的电路示意图；

图6为本发明提供的掉电检测电路的电路示意图；

图7为本发明提供的掉电检测电路的电路示意图；

图8为本发明提供的耗材芯片掉电处理方法的流程图；

图9为本发明提供的电子设备的硬件结构示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明实施例一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明实施例中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明实施例保护的范围。

图1为本发明提供的图像形成装置的结构示意图。本实施例的图像形成装置10可以包括热转印成像设备、喷墨成像设备和电子照相成像设备，例如激光打印机、喷墨打印机和多功能一体机等。如图1所示，本实施例的图像形成装置10可以包括：电源电路11、主控芯片12、耗材芯片13以及掉电检测电路14。

其中，电源电路11分别与主控芯片12、耗材芯片13以及掉电检测电路14连接，用于向主控芯片12和耗材芯片13供电，向掉电检测电路14提供目标电压。

掉电检测电路14还与主控芯片12连接，用于检测目标电压是否掉电，向主控芯片12发送检测结果。

主控芯片12还与耗材芯片13连接，用于在向耗材芯片13发送数据之前在检测结果指示目标电压不掉电时，在第一预设时长内开始向耗材芯片13发送数据；在检测结果指示目标电压掉电时，停止向耗材芯片13发送数据。

具体地，电源电路11通常可以将交流电源(如市电电源)转换直流电源，以便实现对主控芯片12和耗材芯片13的供电。进而，由于电源电路11作为耗材芯片13的供电来源，因此，掉电检测电路14可以先检测电源电路11提供的目标电压是否掉电，得到检测结果，且掉电检测电路14可以向主控芯片12实时发送该检测结果，也可以在接收到主控芯片12发送的指令时向主控芯片12发送该检测结果，本实施例对此不做限定。且该检测结果用于指示该目标电压的掉电状态，使得主控芯片12在向耗材芯片13发送数据之前，可以根据该检测结果推断出耗材芯片13是否掉电。

其中，本实施例对主控芯片12向耗材芯片13发送的数据也不做限定。可选地，数据包括耗材芯片13的序列号信息、碳粉参数信息、打印时长信息、主控芯片12生成的与耗材芯片13兼容对应的密码信息中的至少一种。且本实施例对检测结果的具体形式不做限定。例如，检测结果可以为高低电平、代码或标识等。

进一步地，当检测结果指示目标电压不掉电时，主控芯片12可以确定耗材芯片13没有掉电。在出现主控芯片12确定检测结果指示目标电压未掉电开始向耗材芯片13发送数据后、掉电检测电路14检测到目标电压掉电的情况时，主控芯片12在第一预设时长内开始向耗材芯片13发送数据，保证了数据发送的及时性，使得耗材芯片13可以将数据从易失性存储区域写入到非易失性存储区域中，确保从图像形成装置10中所接收到的数据的完整性和正确性。当检测结果指示目标电压掉电时，主控芯片12可以确定耗材芯片13发生掉电，从而主控芯片12停止向耗材芯片13发送数据，避免图像形成装置10读取校验时无法识别该数据的问题。

其中，本实施例对第一预设时长的具体值不做限定。可选地，第一预设时长小于或等于第一时长与第二时长的差值，第一时长为从掉电检测电路14检测到目标电压掉电的时刻到耗材芯片13无法正常工作的时刻之间的时长，第一时长与电源电路11中的储能元件(例如电容)存储电能容量和负载的耗电功率相关。第二时长为主控芯片12向耗材芯片13发送数据的时长与耗材芯片13对数据进行内部写入的时长之和。

具体地，第一时长的起始时刻为掉电检测电路14检测到目标电压掉电的时刻，第一时长的终止时刻为耗材芯片13无法正常工作的时刻，即耗材芯片13的电源电压不足以支持耗材芯片13正常工作的时刻。

进一步地，当第一预设时长小于等于第一时长和第二时长的差值时，可以顺利完成使得主控芯片12向耗材芯片13发送数据的过程和耗材芯片13将数据从其易失性存储区域写入到其非易失性存储区域中的过程，保证数据的完整性。即使出现主控芯片12确定检测结果指示目标电压未掉电开始向耗材芯片13发送数据后、掉电检测电路14检测到目标电压掉电的情况时，主控芯片12依旧可以向耗材芯片13写入数据且耗材芯片13可以顺序将数据从其易失性存储区域写入到其非易失性存储区域中，第一预设时长的设置对上述过程起到了保障的作用。为了便于说明，本实施例以图2进行示意。

图2为本发明提供的图像形成装置的控制时序示意图，如图2所示，时长T为主控芯片12向耗材芯片13写入数据的一个完整的写操作的周期。从掉电检测电路14检测到目标电压掉电的时刻到耗材芯片13无法正常工作的时刻之间的时长为第一时长t4，主控芯片12向耗材发送数据的时长为t2(一般为5毫秒(ms))，耗材芯片13对数据进行内部写入(从其易失性存储区域写入到其非易失性存储区域中)的时长为t3(一般为15ms)，因此，在掉电检测电路14检测完目标电压是否掉电后，留给主控芯片12的反应时长为t4-t2-t3，因此，可以设定第一预设时长t1≤t4-t2-t3，使得主控芯片12在第一预设时长内开始向耗材芯片13发送数据，避免下一时刻目标电压会发生掉电而导致数据无法完整写入的现象。

本实施例提供的图像形成装置，通过掉电检测电路从电源电路获取目标电压，并检测目标电压的掉电状态。在主控芯片向耗材芯片发送数据之前，主控芯片根据掉电检测电路的检测结果来确定耗材芯片是否发生掉电。当检测结果指示目标电压不掉电时，主控芯片在第一预设时长内开始向耗材芯片发送数据。在检测结果指示目标电压掉电时，主控芯片停止向耗材芯片发送数据。本实施例中，主控芯片会在向耗材芯片发送数据之前，先通过掉电检测电路的检测结果来获取耗材芯片的掉电状态，再根据耗材芯片的掉电状态判断是否向耗材芯片发送数据，在出现主控芯片确定检测结果指示目标电压未掉电开始向耗材芯片发送数据后、掉电检测电路检测到目标电压掉电的情况时，第一预设时长的设置可以保证主控芯片向耗材芯片写入数据的完整性和正确性，还避免了耗材芯片掉电时所引起的数据更新失败，有效防止了电源电路的非正常断电所导致的耗材芯片故障，不仅硬件结构简单，成本较低，还解决了现有技术中由于耗材芯片掉电时数据更新失败而导致图像形成装置无法调用该数据的问题。

在上述实施例的基础上，结合图3，对本实施例图像形成装置10中电源电路11的具体结构进行详细说明。

图3为本发明提供的图像形成装置的电路示意图，如图3所示，可选地，电源电路11包括：整流器D1、滤波电容EC1、电压变换器以及直流-直流变换单元，直流-直流变换单元包括N个直流-直流变换器DC to DC，N为正整数。

其中，整流器D1的输入端用于连接交流电源，整流器D1的正向输出端分别与滤波电容EC1的第一端和电压变换器的第一输入端连接，整流器D1的负向输出端分别与滤波电容EC1的第二端以及电压变换器的第二输入端连接，电压变换器的第一输出端和第二输出端分别与直流-直流变换单元的第一输入端和第二输入端连接，直流-直流变换单元的输出端分别与主控芯片12和耗材芯片13连接。

具体地，电源电路11通常可以将交流电源转换成直流电压，以便向图像形成装置10提供其所需的各种电压值，其中，这些电压值可以包括主控芯片12和耗材芯片13供电所需的电压值，如3.3伏特(V)、5V等，也可以包括其他元器件所需的电压值，本实施例对此不做限定。

进一步地，通常交流电源依次通过整流器D1、滤波电容EC1和电压变换器，整流器D1、滤波电容EC1和电压变换器一起构成了交流-直流变换器AC to DC，可以将交流电源的交流电压转换成如位置1的直流电压24V，其中，整流器D1和滤波电容EC1用于对交流电源的交流电压进行整流滤波处理将其变成直流电压，电压变换器用于将经过整流滤波作用变成的直流电压变换成直流电压24V，该24V为本领域技术人员通常采用的标准电压。进而，该24V再通过N个直流-直流变换器DC to DC可以转换成各种电压值，如主控芯片12和耗材芯片13供电所需的电压值等，又如位置4处的电压值5V或位置5处的电压值3.3V。其中，本实施例可以根据图像形成装置10的实际需求来选定直流-直流变换器DC to DC的个数N。

需要说明的是：图像形成装置10除了可以包括上述部件，还可以包括其他模块，其他模块包括但不限于曝光模块、显影模块、转印模块、显示器面板、各种传感器、激光器等。

进一步地，电源电路11除了可以向主控芯片12和耗材芯片13供电以外，还可以向掉电检测电路14提供目标电压。掉电检测电路14可以通过与电源电路11连接，可以获取到目标电压。接着，掉电检测电路14对目标电压的掉电状态进行检测，向主控芯片12输出检测结果。

其中，掉电检测电路14可以从电源电路11的不同位置获取目标电压，其获取检测的位置可以包括如图3中的位置1、位置2和位置3，一般不采用位置4和位置5处的电压。由于当采用位置4和位置5处的电压时，若位置4处的电压或位置5处的电压发生掉电时，从位置4处的电压或位置5处的电压降低到耗材芯片13无法正常工作时的电压所需的时长小于第二时长(即主控芯片12向耗材芯片13发送数据的时长与耗材芯片13对数据进行内部写入的时长之和)，使得耗材芯片13无法顺利将数据从易失性存储区域写入到非易失性存储区域中，从而无法保障数据的完整性。

下面，在上述实施例图3的基础上，分别从位置1、位置2和位置3处获取到目标电压，结合图4-图7对本实施例的掉电检测电路14的具体结构进行详细说明。

图4为本发明提供的掉电检测电路的电路示意图，如图4所示，可选地，掉电检测电路14包括：比较器U1。

其中，比较器U1的第一输入端连接在电压变换器和与电压变换器连接的直流-直流变换器DC to DC之间，用于获取目标电压；比较器U1的第二输入端连接有参考电压，比较器U1的输出端与主控芯片12连接。

比较器U1，用于在目标电压不掉电时，向主控芯片12发送第一信号；在目标电压掉电时，向主控芯片12发送第二信号。

主控芯片12，用于在接收到第一信号时，确定检测结果指示目标电压不掉电；在接收到第二信号时，确定检测结果指示目标电压掉电。

为了便于说明，如图4所示，以一个具体的例子示意掉电检测电路14为比较器U1的实现方式。具体地，比较器U1的反向输入端连接有一参考电压。比较器U1的正向输入端连接在电压变换器和与电压变换器连接的直流-直流变换器DC to DC之间的位置(即位置1)来获取目标电压，此位置的电压通常为24V。通过合理设置参考电压的大小，比较器U1对目标电压与参考电压进行比较，可以输出不同的信号(第一信号和第二信号)。通常，本实施例会在比较器U1的输出端设置有上拉电阻R6和电源电压(如3.3V)，进而在上拉电阻R6和电源电压的作用下，当目标电压不掉电时，比较器U1的输出端呈高电平，会向主控芯片12发送第一信号，第一信号为高电平信号。当目标电压掉电时，比较器U1的输出端呈低电平，会向主控芯片12发送第二信号，第二信号为低电平信号，使得主控芯片12可以根据信号的不同来确定检测结果。

进一步地，本实施例可以在比较器U1的正向输入端和负向输入端分别设置有分压电路，分压电路可以分别对目标电压和提供参考电压的电源电压进行分压，使得提供参考电压的电源电压的选择更为灵活。其中，分压电路可以采用电阻等能够起到分压作用的元器件。如图4中分压电路可以采用电阻R1-R2和电阻R3-R4，通过合理设置电阻R1-R4的阻值，电阻R1-R2可以用于从目标电压分出合适的电压输入到比较器U1中，电阻R3-R4可以用于从提供参考电压的电源电压分出合适的电压输入到比较器U1中，比较器U1再对目标电压和参考电压各自分出来的电压进行比较。其中，提供参考电压的电源电压可以选择如图4中所示的3.3V，也可以选择其他值，例如5V。

进一步地，如图4所示，本实施例可以在比较器U1的两个输入端分别设置有电容C1、C2，电容C1的一端接地，电容C1的另一端与比较器U1的正向输入端连接，电容C2的一端接地，电容C2的另一端与比较器U1的负向输入端连接，电容C1、C2的设置可以减小比较器U1的正向输入端和负向输入端上电压的波动，起到滤波的作用。其中，图4中的地皆为数字地。

进一步地，如图4所示，本实施例还可以在比较器U1的输出端设置有电阻R5和电容C4，电阻R5的一端与比较器U1的输出端连接，电阻R5的另一端分别与电容C4的一端、上拉电阻R6的一端以及主控芯片12连接，电容C4的另一端接地，电阻R5和电容C4的设置可以减小比较器U1输出端上电压的波动，起到滤波的作用。且比较器U1的电源端也可以连接有电容C3，用于对比较器U1的电源的滤波。

在一个具体的实施例中，当目标电压为24V，提供参考电压的电源电压为3.3V时，掉电检测电路14中采用电阻R1-R2对目标电压进行分压，得到24V分压点ICT1的电压。采用电阻R3-R4对提供参考电压的电源电压进行分压，得到3.3V分压点ICT2的电压。

1、当24V未掉电时，24V分压点ICT1的电压高于3.3V分压点ICT2的电压，比较器U1的输出端为高阻态，呈高电平，掉电信号24V_power_down为第一信号，即高电平信号。

2、当24V掉电时，在24V电压跌落的过程中，24V分压点ICT1的电压会随24V的跌落而降低，当ICT1的电压低于ICT2的电压时，比较器U1的输出端呈低电平，掉电信号24V_power_down从第一信号拉到第二信号，即从高电平信号拉到低电平信号。

3、主控芯片12接收到的24V_power_down为高电平信号时，可以确定检测结果指示目标电压不掉电。主控芯片12接收到的24V_power_down为低电平信号时，可以确定检测结果指示目标电压掉电。

图5为本发明提供的掉电检测电路的电路示意图，如图5所示，可选地，掉电检测电路14包括：三极管Q1和电容EC2。

其中，电容EC2的第一端连接在电压变换器和与电压变换器连接的直流-直流变换器DC to DC之间，用于获取目标电压；电容EC2的第二端与三极管Q1的基极连接，三极管Q1的发射极连接有电源电压，三极管Q1的集电极和主控芯片12连接。

三极管Q1，用于在目标电压不掉电时，向主控芯片12发送第三信号；在目标电压掉电时，向主控芯片12发送第四信号。

主控芯片12，用于在接收到第三信号时，确定检测结果指示目标电压不掉电；在接收到第四信号时，确定检测结果指示目标电压掉电。

为了便于说明，如图5所示，以一个具体的例子示意掉电检测电路14为三极管Q1和电容EC2的实现方式。具体地，电容EC2的一输端连接在电压变换器和与电压变换器连接的直流-直流变换器DC to DC之间的位置(即位置1)来获取目标电压，此位置的电压通常为24V。三极管Q1的发射极接入电源电压。其中，电源电压可以为任一电压值，本实施例对此不做限定，如图5中的3.3V。

进一步地，电源电压是不变的，随着目标电压的变化，三极管Q1的开关状态会随之发生改变，使得三极管Q1的集电极输出不同的信号(第三信号或第四信号)，进而可以将三极管Q1的集电极作为三极管Q1的输出端(如图5中的掉电信号24V_power_down)来与主控芯片12连接，使得主控芯片12可以根据不同信号来确定检测结果。即当目标电压不掉电时，三极管Q1截止，三极管Q1的输出端呈低电平，会向主控芯片12发送第三信号，第三信号为低电平信号。当目标电压掉电时，三极管Q1导通，三极管Q1的输出端呈高电平，会向主控芯片12发送第四信号，第四信号为高电平信号。

进一步地，如图5所示，本实施例还可以设置有电阻R12，电阻R12的一端连接电容EC2的负极，电阻R12的另一端连接三极管Q1的基极，电容EC2与电阻R12可以保障目标电压掉电后第四信号能够持续一段时间。

进一步地，如图5所示，为了设置三极管Q1的静态工作点，本实施例还可以设置有电阻R9以及电阻R10。电阻R10的一端和电阻R9的一端接连接在电阻R12与三极管Q1的基极之间，电阻R9的另一端接地，电阻R10的另一端连接三极管Q1的发射极。电阻R9、R10的设置可以在目标电压不掉电的情况下为三极管Q1提供合适的基极电压。其中，图4中的地皆为数字地。

进一步地，如图5所示，三极管Q1的集电极和发射极之间设置有二极管D2。二极管D2的负极连接三极管Q1的发射极，二极管D2的正极连接三极管Q1的基极。二极管D2的设置可以防止目标电压和电源电压之间的电势差将Q1击穿，起到保护三极管Q1的作用。

进一步地，如图5所示，三极管Q1的集电极设置有电阻R11和电容C5。电阻R11的一端连接三极管Q1的集电极，电阻R11的另一端连接电容C5的一端，电容C5的另一端接地。电阻R11和电容C5的设置可以减小三极管Q1的集电极上电压的波动，起到滤波的作用。

进一步地，如图5所示，设置了下拉电阻R13。下拉电阻R13与电容C5并联。在目标电压不掉电时，下拉电阻R13把第三信号下拉到地，起到使第三信号呈稳定的低电平的作用。

在一个具体的实施例中，当目标电压为24V，电源电压为3.3V时，掉电检测电路14工作的具体过程为：

1、当24V未掉电时，24V和3.3V皆保持稳定，三极管Q1截止，掉电信号24V_power_down为第三信号，即低电平信号。

2、当24V掉电时，电容EC2放电，三极管Q1导通，掉电信号24V_power_down为第四信号，即高电平信号。

3、主控芯片12接收到的24V_power_down为低电平信号时，可以确定检测结果指示目标电压不掉电。主控芯片12接收到的24V_power_down为高电平信号时，可以确定检测结果指示目标电压掉电。

图6为本发明提供的掉电检测电路的电路示意图，如图6所示，可选地，掉电检测电路14包括：第一光电耦合器U2。

其中，第一光电耦合器U2并联连接在滤波电容EC1的第一端和第二端，用于获取目标电压，第一光电耦合器U2的输出端与主控芯片12连接。

第一光电耦合器U2，用于在目标电压不掉电时，向主控芯片12发送第五信号；在目标电压掉电时，向主控芯片12发送第六信号。

主控芯片12，用于在接收到第五信号时，确定检测结果指示目标电压不掉电；在接收到第六信号时，确定检测结果指示目标电压掉电。

为了便于说明，如图6所示，以一个具体的例子示意掉电检测电路14为第一光电耦合器U2的实现方式。具体地，第一光电耦合器U2与滤波电容EC1并联连接，可以将滤波电容EC1两端(即位置2)的电压作为目标电压，使得第一光电耦合器U2的导通状态受到目标电压的掉电状态的影响。为了保护第一光电耦合器U2，可以在第一光电耦合器U2的一输入端连接有电阻R7，起到对目标电压的分压保护作用，且通常会在第一光电耦合器U2的输出端上设置有上拉电阻R8和电源电压(如3.3V)，进而在上拉电阻R8和电源电压的作用下，可以向主控芯片12输出不同的信号(第五信号或第六信号，即图6中的掉电信号power_down)，使得主控芯片12可以根据不同信号来确定检测结果。

进一步地，当目标电压不掉电时，电容EC1两端的电压足够高，第一光电耦合器U2中的发光二极管发光，使得第一光电耦合器U2中的光敏三极管导通，第一光电耦合器U2的输出端呈低电平，向主控芯片12输出第五信号为低电平信号。当目标电压掉电时，电容EC1两端的电压下降到一定值，使得第一光电耦合器U2的发光二极管发光强度减弱到临界值，导致第一光电耦合器U2中的光敏三极管截止，第一光电耦合器U2的输出端呈高电平，向主控芯片12输出第六信号为高电平信号。

进一步地，主控芯片12接收到的掉电信号power_down为低电平信号时，可以确定检测结果指示目标电压不掉电。主控芯片12接收到的掉电信号power_down为高电平信号时，可以确定检测结果指示目标电压掉电。

图7为本发明提供的掉电检测电路的电路示意图，如图7所示，可选地，掉电检测电路14包括：第二光电耦合器U3。

其中，第二光电耦合器U3并联连接在整流器D1的输入端侧，用于获取目标电压；第二光电耦合器U3的输出端与主控芯片12连接。

第二光电耦合器U3，用于在目标电压不掉电时，每隔交流电源的半个周期向主控芯片12发送第八信号；在目标电压掉电时，持续向主控芯片12发送第八信号。

主控芯片12，用于在第二预设时长内接收到第七信号时，确定检测结果指示目标电压不掉电；在第二预设时长内未接收到第七信号时，确定检测结果指示目标电压掉电，其中第二预设时长大于交流电源的半个周期。

为了便于说明，如图7所示，以一个具体的例子示意掉电检测电路14为第二光电耦合器U3的实现方式。具体地，第二光电耦合器U3与整流器D1的输入端侧并联连接，可以将交流电源(即位置3)作为目标电压。由于目标电压为交流电，因此，每个周期内目标电压会有2次过零，即半个周期会过零1次。如，以50Hz交流电为例，其周期是20ms，每个周期内交流电会2次过零，即半周期会过零1次，即10ms会过零1次。

进一步地，当交流电源过零时，第二光电耦合器U3中的发光二极管停止发光，第二光电耦合器U3中的光敏三极管截止。为了保护第二光电耦合器U3，可以在第二光电耦合器U3的一输入端上连接有电阻R14，起到对目标电压的分压保护作用，且通常会在第二光电耦合器U3的输出端上设置有上拉电阻R15和电源电压(如3.3V)，进而在上拉电阻R15和电源电压的作用下，第二光电耦合器U3的输出端呈高电平，向主控芯片12输出第八信号(即图6中的掉电信号power_down)为高电平信号。当交流电源不在过零点时，第二光电耦合器U3中的发光二极管发光，第二光电耦合器U3中的光敏三极管导通，在上拉电阻R15和电源电压的作用下，第二光电耦合器U3的输出端呈低电平，向主控芯片12输出第七信号(即图6中的掉电信号power_down)为低电平信号。可见，当目标电压不掉电时，每隔交流电源的半个周期，第二光电耦合器U3的输出端呈高电平。当目标电压掉电时，第二光电耦合器U3的输出端会持续呈高电平。

具体地，第二光电耦合器U3每隔交流电源的半个周期是否可以向主控芯片12输出低电平信号(即第七信号)受到目标电压的掉电状态的影响，使得主控芯片12可以根据在第二预设时长内检测不到低电平信号来确定检测结果。

进一步地，主控芯片12第二预设时长内接收到的掉电信号power_down不全为高电平信号时，可以确定检测结果指示目标电压不掉电。主控芯片12在第二预设时长内接收到的掉电信号power_down一直为高电平信号时，可以确定检测结果指示目标电压掉电。

进一步地，掉电检测电路14可以采用如上述图4-图7所示，电路结构简单、易行，功耗较低，抗干扰能力强，检测灵敏度高，减少了电路成本。除了上述实现方式以外，掉电检测电路14还可以包括其他实现方式，本实施例对此不做限定，只需满足掉电检测电路14可以检测到目标电压的掉电状态即可。且目标电压可以根据电源电路11中元器件的不同以及连接关系的改变进行选择，其中，目标电压的获取位置可以包括但不限于上述图4-图7所示中检测位置，本实施例对此不做限定。

图8为本发明提供的耗材芯片掉电处理方法的流程图。结合图1，本实施例的图像形成装置10包括：电源电路11、主控芯片12、耗材芯片13以及掉电检测电路14。其中，电源电路11分别与主控芯片12、耗材芯片13以及掉电检测电路14连接，掉电检测电路14还与主控芯片12连接，主控芯片12还与耗材芯片13连接。如图8所示，本实施例的耗材芯片掉电处理方法以图像形成装置10中主控芯片12为执行主体，该方法可以包括：

S801、在向耗材芯片发送数据之前，从掉电检测电路获取检测结果，检测结果用于表明电源电路提供的目标电压是否掉电。

S802、在检测结果指示目标电压不掉电时，在第一预设时长内开始向耗材芯片发送数据。

S803、在检测结果指示目标电压掉电时，停止向耗材芯片发送数据。

可选地，第一预设时长小于或等于第一时长与第二时长的差值，第一时长为从掉电检测电路14检测到目标电压掉电的时刻到耗材芯片13无法正常工作的时刻之间的时长，第二时长为主控芯片12向耗材芯片13发送数据的时长与耗材芯片13对数据进行内部写入的时长之和。

可选地，数据包括：耗材芯片13的序列号信息、碳粉参数信息、打印时长信息、主控芯片12生成的与耗材芯片13兼容对应的密码信息中的至少一种。

本实施例提供的耗材芯片掉电处理方法，可执行上述图像形成装置中主控芯片的实施例，其具体实现原理和技术效果，可参见上述图1-7所示实施例的技术方案，此处不再赘述。

图9为本发明提供的电子设备的硬件结构示意图。如图8所示，该电子设备90包括：存储器91和处理器22；

存储器91，用于存储计算机程序；

处理器92，用于执行存储器存储的计算机程序，以实现上述实施例中的耗材芯片掉电处理方法。具体可以参见前述方法实施例中的相关描述。

可选地，存储器91既可以是独立的，也可以跟处理器92集成在一起。

当所述存储器91是独立于处理器92之外的器件时，所述电子设备90还可以包括：

总线93，用于连接所述存储器91和处理器92。

本实施例提供的电子设备可用于执行上述的耗材芯片掉电处理方法，其实现方式和技术效果类似，本实施例此处不再赘述。

本发明还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质包括计算机程序，所述计算机程序用于实现如上实施例中的耗材芯片掉电处理方法。

在本发明所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的设备和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的设备实施例仅仅是示意性的，例如，所述模块的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个模块可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或模块的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

所述作为分离部件说明的模块可以是或者也可以不是物理上分开的，作为模块显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各个实施例中的各功能模块可以集成在一个处理单元中，也可以是各个模块单独物理存在，也可以两个或两个以上模块集成在一个单元中。上述模块成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。

上述以软件功能模块的形式实现的集成的模块，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。上述软件功能模块存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)或处理器(英文：processor)执行本申请各个实施例所述方法的部分步骤。

应理解，上述处理器可以是中央处理单元(英文：Central Processing Unit，简称：CPU)，还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(英文：Digital Signal Processor，简称：DSP)、专用集成电路(英文：Application Specific Integrated Circuit，简称：ASIC)等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。结合发明所公开的方法的步骤可以直接体现为硬件处理器执行完成，或者用处理器中的硬件及软件模块组合执行完成。

存储器可能包含高速RAM存储器，也可能还包括非易失性存储NVM，例如至少一个磁盘存储器，还可以为U盘、移动硬盘、只读存储器、磁盘或光盘等。

总线可以是工业标准体系结构(Industry Standard Architecture，ISA)总线、外部设备互连(Peripheral Component，PCI)总线或扩展工业标准体系结构(ExtendedIndustry Standard Architecture，EISA)总线等。总线可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示，本申请附图中的总线并不限定仅有一根总线或一种类型的总线。

上述计算机可读存储介质可以是由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现，如静态随机存取存储器(SRAM)，电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)，可擦除可编程只读存储器(EPROM)，可编程只读存储器(PROM)，只读存储器(ROM)，磁存储器，快闪存储器，磁盘或光盘。存储介质可以是通用或专用计算机能够存取的任何可用介质。

本领域普通技术人员可以理解：实现上述各方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成。前述的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中。该程序在执行时，执行包括上述各方法实施例的步骤；而前述的存储介质包括：ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。

Claims (12)

1.一种图像形成装置，其特征在于，包括：

电源电路、主控芯片、耗材芯片以及掉电检测电路；

其中，所述电源电路分别与所述主控芯片、所述耗材芯片以及所述掉电检测电路连接，用于向所述主控芯片和所述耗材芯片供电，向所述掉电检测电路提供目标电压；

所述掉电检测电路还与所述主控芯片连接，用于检测所述目标电压是否掉电，向所述主控芯片发送检测结果；

所述主控芯片还与所述耗材芯片连接，用于在向所述耗材芯片发送数据之前，在所述检测结果指示所述目标电压不掉电时，在第一预设时长内开始向所述耗材芯片发送所述数据，所述第一预设时长小于或等于第一时长与第二时长的差值，所述第一时长为从所述掉电检测电路检测到所述目标电压掉电时刻到所述耗材芯片无法正常工作的时刻之间的时长，所述第二时长为所述主控芯片向所述耗材芯片发送所述数据的时长与所述耗材芯片对所述数据进行内部写入的时长之和；

在所述检测结果指示所述目标电压掉电时，停止向所述耗材芯片发送所述数据。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述电源电路包括：整流器、滤波电容、电压变换器以及直流-直流变换单元，所述直流-直流变换单元包括N个串联连接的直流-直流变换器，N为正整数；

其中，所述整流器的输入端用于连接交流电源，所述整流器的正向输出端分别与所述滤波电容的第一端和所述电压变换器的第一输入端连接，所述整流器的负向输出端分别与所述滤波电容的第二端以及所述电压变换器的第二输入端连接，所述电压变换器的第一输出端和第二输出端分别与所述直流-直流变换单元的第一输入端和第二输入端连接，所述直流-直流变换单元的输出端分别与所述主控芯片和所述耗材芯片连接。

3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述掉电检测电路包括：比较器；

其中，所述比较器的第一输入端连接在所述电压变换器和与所述电压变换器连接的直流-直流变换器之间，用于获取所述目标电压；所述比较器的第二输入端连接有参考电压，所述比较器的输出端与所述主控芯片连接；

所述比较器，用于在所述目标电压不掉电时，向所述主控芯片发送第一信号；在所述目标电压掉电时，向所述主控芯片发送第二信号；

所述主控芯片，用于在接收到所述第一信号时，确定所述检测结果指示所述目标电压不掉电；在接收到所述第二信号时，确定所述检测结果指示所述目标电压掉电。

4.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述掉电检测电路包括：三极管和电容；

其中，所述电容的第一端连接在所述电压变换器和与所述电压变换器连接的直流-直流变换器之间，用于获取所述目标电压；所述电容的第二端与所述三极管的基极连接，所述三极管的发射极连接有电源电压，所述三极管的集电极和所述主控芯片连接；

所述三极管，用于在所述目标电压不掉电时，向所述主控芯片发送第三信号；在所述目标电压掉电时，向所述主控芯片发送第四信号；

所述主控芯片，用于在接收到所述第三信号时，确定所述检测结果指示所述目标电压不掉电；在接收到所述第四信号时，确定所述检测结果指示所述目标电压掉电。

5.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述掉电检测电路包括：第一光电耦合器；

其中，所述第一光电耦合器并联连接在所述滤波电容的第一端和第二端，用于获取所述目标电压；所述第一光电耦合器的输出端与所述主控芯片连接；

所述第一光电耦合器，用于在所述目标电压不掉电时，向所述主控芯片发送第五信号；在所述目标电压掉电时，向所述主控芯片发送第六信号；

所述主控芯片，用于在接收到所述第五信号时，确定所述检测结果指示所述目标电压不掉电；在接收到所述第六信号时，确定所述检测结果指示所述目标电压掉电。

6.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述掉电检测电路包括：第二光电耦合器；

其中，所述第二光电耦合器并联连接在所述整流器的输入端侧，用于获取所述目标电压；所述第二光电耦合器的输出端与所述主控芯片连接；

所述第二光电耦合器，用于在所述目标电压不掉电时，每隔所述交流电源的半个周期向所述主控芯片发送第八信号；在所述目标电压掉电时，持续向所述主控芯片发送第八信号；

所述主控芯片，用于在第二预设时长内接收到第七信号时，确定所述检测结果指示所述目标电压不掉电；在所述第二预设时长内未接收到所述第七信号时，确定所述检测结果指示所述目标电压掉电，其中所述第二预设时长大于所述交流电源的半个周期。

7.根据权利要求1-6任一项所述的装置，其特征在于，所述第一预设时长小于或等于第一时长与第二时长的差值，所述第一时长为从所述掉电检测电路检测到所述目标电压掉电的时刻到所述耗材芯片无法正常工作的时刻之间的时长，所述第二时长为所述主控芯片向所述耗材芯片发送所述数据的时长与所述耗材芯片对所述数据进行内部写入的时长之和。

8.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述数据包括：所述耗材芯片的序列号信息、碳粉参数信息、打印时长信息、所述主控芯片生成的与所述耗材芯片兼容对应的密码信息中的至少一种。

9.一种耗材芯片掉电处理方法，其特征在于，包括：

在向所述耗材芯片发送数据之前，从掉电检测电路获取检测结果，所述检测结果用于表明电源电路提供的目标电压是否掉电；

在所述检测结果指示所述目标电压不掉电时，在第一预设时长内开始向所述耗材芯片发送所述数据；所述第一预设时长小于或等于第一时长与第二时长的差值，所述第一时长为从所述掉电检测电路检测到所述目标电压掉电时刻到所述耗材芯片无法正常工作的时刻之间的时长，所述第二时长为主控芯片向所述耗材芯片发送所述数据的时长与所述耗材芯片对所述数据进行内部写入的时长之和；

在所述检测结果指示所述目标电压掉电时，停止向所述耗材芯片发送所述数据。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述数据包括：所述耗材芯片的序列号信息、碳粉参数信息、打印时长信息、所述主控芯片生成的与所述耗材芯片兼容对应的密码信息中的至少一种。

11.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求9-10任一项所述的耗材芯片掉电处理方法。

12.一种电子设备，其特征在于，包括：

处理器；以及

存储器，用于存储所述处理器的可执行指令；

其中，所述处理器配置为经由执行所述可执行指令来执行权利要求9-10任一项所述的耗材芯片掉电处理方法。

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