CN109283869B - 一种瓦楞纸板生产控制系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种瓦楞纸板生产控制系统，解决了坑纸进入上胶机进行上胶操作时的温度难以自动化的保持合适的温度范围，进而对于产品的质量也会有一定的影响，操作还不够智能、便捷的弊端，其技术方案要点是包括有设定上胶机的温度的温度设定装置、检测上胶机进料口坑纸温度的温度检测装置、对瓦楞纸质量进行检测的质量检测装置、进行信息储存的总数据库及进行比对判断处理以使得温度设定装置能够自动根据温度检测及质量检测的结果进行调节的处理终端，本发明的一种瓦楞纸板生产控制系统，能够简单并且自动化的进行上胶时的温度的调节及补偿，使得上胶时的温度可控适宜。

Description

一种瓦楞纸板生产控制系统

技术领域

本发明涉及瓦楞纸板生产领域，特别涉及一种瓦楞纸板生产控制系统。

背景技术

瓦楞纸板的生产，通过由原纸架卷放的原纸经过预热处理后进行压制瓦楞、上胶、烘干、冷却后，再进行分切、压痕、横切后进行堆码，完成成品瓦楞纸板。瓦楞纸板在生产的时候，各个工序部分都需要调控好所需的条件，例如温度、湿度、速度等。尤其是在瓦楞纸板的原纸的瓦楞制作至粘合成型的过程，这段过程中的各工序都有对应的温度、湿度以及速度的要求，目前在工厂实际的生产线上，每个工序都设定有对应的程序进行控制，但是每个工序都需对应有人员进行监控，每个工序之间衔接的顺利稳定是提高生产效率的重要因素。

坑纸在进入上胶机之前经过单面机保留有一定的温度，同时还要经过预热缸进行坑纸的预热，进而使得进入上胶机的坑纸的温度可控，在上胶机上也需要设定对应的温度来控制整体上胶时的温度，以使得上胶可靠，对于上胶机处的温度的控制也直接影响着后续的双面机的操作可靠性。

坑纸在进入上胶机之前，由于外界环境的不可控，进入上胶机进行上胶操作时的温度难以自动化的保持合适的温度范围，进而对于产品的质量也会有一定的影响，操作还不够智能、便捷。

发明内容

本发明的目的是提供一种瓦楞纸板生产控制系统，能够简单并且自动化的进行上胶时的温度的调节及补偿，使得上胶时的温度更加的可控适宜。

本发明的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：

一种瓦楞纸板生产控制系统，包括：

温度设定装置，用于设定上胶机的温度并形成对应的设定温度信息；

温度检测装置，设置于上胶机的进料口处以对输送进入上胶机的坑纸进行温度检测，并输出对应的温度检测信息；

质量检测装置，根据外部触发信息以获取质量检测信息；所述质量检测信息与温度检测信息、设定温度信息相互对应；所述质量检测信息包括优质产品信息以及劣质产品信息，

总数据库：用于存储温度设定装置所设定的设定温度信息、温度检测信息以及质量检测信息；

处理终端包括有：

比对模块：将实际所检测的温度检测信息与总数据库中所存储的温度检测信息进行比对；

判断模块：若比对成功，则判断该温度检测信息所对应的质量检测信息是否为优质产品信息，若是，则控制温度设定装置以设置该温度检测信息所对应的设定温度信息；若不是，则控制温度设定装置进行重新设定操作以重新设定上胶机的温度并形成对应的设定温度信息，再次进行质量检测信息的获取及存储；

若比对不成功，则控制温度设定装置进行重新设定操作以重新设定上胶机的温度并形成对应的设定温度信息，再次进行质量检测信息的获取及存储。

采用上述方案,通过温度检测装置的设置能够对进入上胶机的坑纸的温度进行实时的检测，而温度设定装置则能够对上胶机的温度进行调节设定，质量检测装置的设置能够进行质量的判断，处理终端的设置则能够对温度检测信息、设定温度信息及质量检测信息进行比对判断，并且能够配合于温度设定装置对上胶机的温度进行调整处理，使得在相互对应的温度检测信息及设定温度信息的情况下的产品为优质时，则对于下次操作的时候能够给予上胶机的设定优选值，而在出现劣质产品的时候，也能够通过处理终端及温度设定装置的配合设定，重新进行设定以避免上胶机保持原先的温度造成再次检测时再次出现劣质的产品，进而通过检测及设定两者的相互配合，实现对坑纸温度的调整补偿，减少上胶时温度对产品质量的影响，且能够自动的判断后对上胶机进行温度调节，无需人员重复进行处理，操作更加的智能。

作为优选，所述总数据库包括若干记录数据库，所述记录数据库用于存储设定温度信息，当比对不成功或者比对判断出所对应的质量检测信息为劣质产品信息时，所述处理终端控制所述温度设定装置重新设定温度信息，所述重新设定的温度信息为除了对应记录数据库(51)存储之外的任意温度值，且为随机选取的温度值。

采用上述方案，总数据库内的记录数据库能够对各个检测到的检测温度信息对应的设定温度信息进行记录，当比对不成功或者比对判断出的温度设定信息为劣质时，表示检测到的温度对应的记录数据库内的设定温度不合适，则重新进行设定，同时重新设定为随机选取并且排除对应的记录数据库内的温度，进而能够避免重新设定的时候再次设定已设定过的温度，减少在不合适的情况下的重复设定。

作为优选，所述处理终端还包括有对同一温度检测信息所对应的设定温度信息进行统计的统计模块，所述统计模块设定有统计基准个数，若检测到的温度检测信息对应的设定温度信息个数少于统计基准个数时，温度设定装置重新设定上胶机的温度；反之，启动比对模块及判断模块以对检测到的温度检测信息进行比对判断。

采用上述方案，统计模块对同一温度检测信息对应的设定温度信息进行统计，通过设定的统计基准个数对温度设定装置进行控制，使得温度设定装置能够在统计基准个数内重新设定上胶机的温度，能够对同一检测温度信息进行多次的设定统计处理进而方便进行判断，增加数据的可信度，减少外部的其他条件偶然造成对质量检测的影响。

作为优选，所述总数据库还包括有异常子数据库；所述处理终端还包括有对温度检测信息及其对应的产品质量信息进行分析的分析模块，所述分析模块设定有分析基准次数，若同一检测温度信息所对应产品出现劣质产品信息的次数大于分析基准次数时，所述分析模块将对应的温度检测信息存储至异常子数据库。

采用上述方案，分析模块对同一温度进行次数累计，并且进行质量检测，若该温度下的设定温度信息在分析基准次数内调整后输出的产品质量信息均为劣质产品信息时，则表示检测到的温度在对上胶机进行温度设定调整仍难以进行补偿改善产品质量，反应出对应检测到的温度为不合适的，同时也反应出可能在上胶机之前的工序出现问题，且异常子数据库的设置能够对该检测温度信息进行存储，便于后续分析处理。

作为优选，所述分析模块对同一温度检测信息于初次检测到后在所预设的次数之内进行分析。

采用上述方案，分析模块在同一温度初次被检测到时开始进行分析处理，以使得质量检测的分析处理能够及时开始进行，且在预设的次数内进行分析处理，使得对于分析的次数能够做一定范围的限定，在前期容易出现问题的时候进行分析，而避免在后期偶然的异常被统计造成数据的误差。

作为优选，所述处理终端还包括有警示模块，若比对模块进行比对的温度检测信息存在于异常子数据库内，则所述警示模块进行检测异常报警。

采用上述方案，处理终端的警示模块的设置能够在进行比对的时候，对比的检测温度信息存在于异常子数据库内能够及时的进行警示提醒，便于操作人员及时的进行处理，避免后续持续的出现劣质产品的产生。

作为优选，所述警示模块还设定有检测基准次数，若检测连续出现劣质产品信息的次数超过检测基准次数时，所述警示模块进行操作警示提醒。

采用上述方案，警示模块在设定的检测基准次数内对质量检测信息进行判断，且连续为劣质产品时，则表示加工的过程中出现问题，且通过警示模块能够进行操作警示提醒，便于人员的发觉进行处理。

综上所述，本发明具有以下有益效果：

通过温度检测装置的设置能够对进入上胶机的坑纸再次进行检测，并且配合于温度设定装置及处理模块，使得能自动对上胶机的温度进行判断调节，以配合于进入上胶机内的坑纸原始的温度进行相互的补偿，使得上胶时的整体温度更加的合适，减少上胶时温度对产品质量的影响，使用更加的智能、便捷。

附图说明

图1为瓦楞纸生产的主要流程图；

图2为总数据库的系统框图；

图3为处理终端的系统框图；

图4为比对模块及判断模块的流程框图；

图5为统计模块的流程框图；

图6为分析模块的流程框图；

图7为警示模块的流程框图。

图中：1、上胶机；2、温度检测装置；3、温度设定装置；4、质量检测装置；5、总数据库；51、记录数据库；52、异常子数据库；6、处理终端；61、比对模块；62、判断模块；63、统计模块；64、分析模块；65、警示模块。

具体实施方式

以下结合附图对本发明作进一步详细说明。

本实施例公开的一种瓦楞纸板生产控制系统，如图1所示，瓦楞纸的生产过程中，最主要通过单面机、上胶机1及双面机的处理。在瓦楞纸板的生产中，首先将原纸经过预热、输送后在单面机上进行瓦楞的制作，压制出瓦楞的坑纸在经过输送以及热缸的预热处理后，输送至上胶机1进行上胶，并通过后续的双面机对坑纸及面纸进行压合连接，使得瓦楞纸板的原型生产出，之后则通过压线机及横切机进行所需的形状的切割。

在整个过程中多处进行温度的调整控制，温度对于瓦楞纸的成型直接或者间接影响着瓦楞纸板的成型后的质量。上胶机1则处于中心的位置，对于上胶机1处的温度控制则直接影响着后续的面纸和坑纸的粘合质量。目前上胶机1在使用的时候，仅通过上胶机1上自带的加热辊或者预热缸对坑纸进行热能的提供，从单面机输送至上胶机1的过程中由于环境或者设备的温度不等，则会造成进入上胶机1进行上胶处理的坑纸不能保持相同的温度，甚至会存在相当大的温差，若此时上胶机1保持单一的温度控制则会使得瓦楞纸之间的质量会有差异，而人为也难以快速反应进行操作，并且控制精度也不够。

本实施例在上胶机1的进料口处设置有温度检测装置2对进入上胶机1处的坑纸的温度进行实时的检测，温度检测装置2采用辐射型的温度传感器，利用坑纸的热辐射对坑纸的表面温度进行精确的检测，并且输出在检测到温度后对应的输出温度检测信号。

上胶机1具有自带的加热辊或者预热缸，通过调温控制器调节通电的不同对上胶机1的温度进行调节控制，且上胶机1上设置有对上胶机1的工作温度进行设定调节的温度设定装置3，在上胶机1开启进行工作时，能够通过手动或者自动的方式实现对上胶机1的温度调节操作，后续则通过温度设定装置3控制自带的调温控制器进行温度的调节。

双面机直接连接在上胶机1的输出口，对上胶的坑纸及面纸进行粘合处理，实现瓦楞纸的成型，还设置有对瓦楞纸进行质量检测的质量检测装置4，通过对瓦楞纸进行粘合度的检测，并通过触发按钮判断后进行信号的触发，质量检测装置4触发输出质量检测信息，且质量检测信息包括有优质产品信息及劣质产品信息，质量检测装置4通过设置的两个按钮实现各自触发信号的输出。

如图2所示，温度检测装置2进行检测，获取对应的温度检测信息时，上胶机1通过温度设定装置3则设定有一个对应的设定温度信息，对经过上胶机1的坑纸进行质量检测后判断输出对应的质量检测信息，温度检测信息、设定温度信息及质量检测信息相互之间对应，即在对应的温度检测信息及设定温度信息下对应有确定的质量检测信息。

瓦楞纸板生产控制系统还设置有对温度检测信息、设定温度信息以及质量检测信息进行存储的总数据库5。总数据库5还包括有若干对应于同一温度检测信息所设定过的设定温度信息进行存储的记录数据库51、对质量检测信息出现异常的温度检测信息对应进行储存的异常子数据库52。

如图3所示，瓦楞纸板生产控制系统还包括有处理终端6，处理终端6包括有比对模块61、判断模块62、统计模块63、分析模块64以及警示模块65。处理终端6可以是微处理器，处理终端6也可以是任何常规的处理器、控制器、微控制器或状态机。处理终端6还可为计算组件的组合，例如DSP与微处理器的组合、多个微处理器的组合、一个或一个以上微处理器与DSP核心的联合或任何其它这种配置；结合本文所揭示实施例描述的各模块、电路、元件及/或组件均可借助通用处理器、数字信号处理器(DSP)、专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)或其它可编程逻辑组件、离散门或晶体管逻辑、离散硬件组件或经设计以执行本文所描述功能的任何组合来实施或执行。

如图4所示，比对模块61将实际所检测到的温度检测信息与总数据库5中存储的温度检测信息进行比对查找，若在总数据库5中存储有对应的温度检测信息，则调取该温度检测信息对应的质量检测信息通过判断模块62进行判断，若判断出所对应的质量检测信息为优质产品信息，则从总数据库5中调取对应存储的设定温度信息，并将该设定温度信息对应的温度值通过温度设定装置3设定为上胶机1的工作温度，以使得上胶机1能保持在适合的温度进行上胶操作；若所对应的质量检测信息为劣质产品信息时，则处理终端6控制温度设定装置3重新设定上胶机1的温度，并再次进行温度检测及质量检测，同时进行对应的温度及质量信息的存储。

当所检测到的温度检测信息比对不成功或者判断出所对应的质量检测信息为劣质产品信息时，温度设定装置3重新设定上胶机1的温度时，重新设定则随机设定除对应记录数据库51内存储之外的温度值，且选取的温度在上胶机1的正常工作范围之内。当比对成功且对应的质量检测信息存在优质产品信息时，此时从所检测到的温度检测信息对应于优质产品信息的设定温度信息中选取设定，并通过温度设定装置3将选取的设定温度信息对应的温度设定为上胶机1的工作温度。

如图5所示，统计模块63设定有统计基准个数，当检测到的同一温度检测信号所对应设置的设定温度信息的个数少于统计基准个数时，则此时处理终端6直接控制温度设定装置3在下一次检测到该温度并进行上胶的时候重新设定上胶机1的温度，以多次获取该温度检测信息对应的设定温度信息，使得初始的获取设定温度信息能够具有一定的设定温度范围，避免取值过少造成设定的误差。当所检测到的温度检测信息对应的设定温度信息个数超过统计基准个数时，则通过比对模块61及判断模块62开始进行比对判断操作。

如图6所示，分析模块64设定有对同一温度检测信号进行次数累计的分析基准次数，且分析基准次数大于统计基准个数的数值，对于分析模块的分析处理预设有对应的次数范围；若同一检测温度信息在初次检测到且在预设的次数内，对应的产品质量信息超过分析基准次数均为劣质产品信息时，则判断该检测温度信息为异常、通过上胶机1的调节也无法改变对产品质量的改善，则分析模块64将该温度检测信息存储至异常子数据库52。

如图7所示，警示模块65能够进行警示提醒，当进行比对判断时，若检测到的检测温度信息存在于异常子数据库52内时，则表示该检测到的温度为异常会造成产品的质量为劣质，则此时，警示模块65进行检测异常报警操作，并优选通过声光报警的方式操作。

警示模块65还设定有检测基准次数，在进行产品质量检测时对连续出现劣质产品的次数进行统计，若检测连续出现劣质产品信息的次数超过检测基准次数时，则通过警示模块65进行操作警示提醒，表示在检测基准次数这段区间内出现操作或者设备的异常，需要进行检修处理。

操作步骤及工况：

1、刚开启设备进行工作时，温度检测装置2、温度设定装置3、质量检测装置4开始工作，对于检测到的温度检测信息在统计基准个数内时均直接对设定温度信息直接进行重新设定，并对应的将温度检测信息、设定温度信息及质量检测信息进行存储；

2、当再次检测到的温度检测信息对应的个数超过统计基准个数时，则开始通过比对模块61及判断模块62进行比对判断，当温度检测信息对应的存在质量检测信息且为优质产品信息时，则将从优质产品信息对应的设定温度信息进行随机选取后通过温度设定装置3对上胶机1进行设定，若不存在优质产品信息时，则再次对应的重新设定上胶机1工作温度；

3、当对同一温度在预设的次数内超过分析基准次数的质量检测为劣质产品时，则警示模块65进行检测异常警示提醒；同样若是在检测基准次数内的质量检测信息均为劣质产品时，警示模块65进行操作警示提醒。

本具体实施例仅仅是对本发明的解释，其并不是对本发明的限制，本领域技术人员在阅读完本说明书后可以根据需要对本实施例做出没有创造性贡献的修改，但只要在本发明的权利要求范围内都受到专利法的保护。

Claims (5)

1.一种瓦楞纸板生产控制系统，其特征是，包括：

温度设定装置(3)，用于设定上胶机(1)的温度并形成对应的设定温度信息；

温度检测装置(2)，设置于上胶机(1)的进料口处以对输送进入上胶机(1)的坑纸进行温度检测，并输出对应的温度检测信息；

质量检测装置(4)，根据外部触发信息以获取质量检测信息；所述质量检测信息与温度检测信息、设定温度信息相互对应；所述质量检测信息包括优质产品信息以及劣质产品信息；

总数据库(5)：用于存储温度设定装置(3)所设定的设定温度信息、温度检测信息以及质量检测信息；

处理终端(6)，包括有：

比对模块(61)：将实际所检测的温度检测信息与总数据库(5)中所存储的温度检测信息进行比对；

判断模块(62)：若比对成功，则判断该温度检测信息所对应的质量检测信息是否为优质产品信息，若是，则控制温度设定装置(3)以设置该温度检测信息所对应的设定温度信息；若不是，则控制温度设定装置(3)进行重新设定操作以重新设定上胶机(1)的温度并形成对应的设定温度信息，再次进行质量检测信息的获取及存储；

若比对不成功，则控制温度设定装置(3)进行重新设定操作以重新设定上胶机(1)的温度并形成对应的设定温度信息，再次进行质量检测信息的获取及存储；

所述总数据库(5)包括若干记录数据库(51)，所述记录数据库(51)用于存储设定温度信息，当比对不成功或者比对判断出所对应的质量检测信息为劣质产品信息时，所述处理终端(6)控制所述温度设定装置(3)重新设定温度信息，所述重新设定的温度信息为除了对应记录数据库(51)存储之外的任意温度值，且为随机选取的温度值；

所述处理终端(6)还包括有对同一温度检测信息所对应的设定温度信息进行统计的统计模块(63)，所述统计模块(63)设定有统计基准个数，若检测到的温度检测信息对应的设定温度信息个数少于统计基准个数时，温度设定装置(3)重新设定上胶机(1)的温度；反之，启动比对模块(61)及判断模块(62)以对检测到的温度检测信息进行比对判断。

2.根据权利要求1所述的瓦楞纸板生产控制系统，其特征是：所述总数据库(5)还包括有异常子数据库(52)；所述处理终端(6)还包括有对温度检测信息及其对应的产品质量信息进行分析的分析模块(64)，所述分析模块(64)设定有分析基准次数，若同一检测温度信息所对应产品出现劣质产品信息的次数大于分析基准次数时，所述分析模块(64)将对应的温度检测信息存储至异常子数据库(52)。

3.根据权利要求2所述的瓦楞纸板生产控制系统，其特征是：所述分析模块(64)对同一温度检测信息于初次检测到后在所预设的次数之内进行分析。

4.根据权利要求3所述的瓦楞纸板生产控制系统，其特征是：所述处理终端(6)还包括有警示模块(65)，若比对模块(61)进行比对的温度检测信息存在于异常子数据库(52)内，则所述警示模块(65)进行检测异常报警。

5.根据权利要求4所述的瓦楞纸板生产控制系统，其特征是：所述警示模块(65)还设定有检测基准次数，若检测连续出现劣质产品信息的次数超过检测基准次数时，所述警示模块(65)进行操作警示提醒。

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