CN109253869A - 一种半导体激光器波长及功率参数的自动检测装置 - Google Patents

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陈乃奇
黄文辉
陈奔驰
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    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
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    • G01M11/0207—Details of measuring devices

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Abstract

本发明公开了一种半导体激光器波长及功率参数的自动检测装置，包括大理石工作平台、安装在大理石工作平台上的用于承接激光器的激光器安装座、垂直于大理石工作平台的导柱，安装于导柱上用于承接CCD的CCD安装座；所述导柱上还安装有积分球，积分球与设置在工作平台侧端的光谱仪通过光纤连接，所述CCD的前端安装有分光镜。本发明设计新颖，通过设置于CCD前端的分光镜将激光分成两路，两路激光分别进入到CCD和积分球内，再通过控制器将采集的数据传输到计算机内分析，得到半导体激光器波长及功率参数，实现半导体激光器波长和功率同时检测，精度高。

Description

一种半导体激光器波长及功率参数的自动检测装置
技术领域
本发明涉及半导体激光器的检测装置，具体是一种半导体激光器波长及功率参数的自动检测装置。
背景技术
半导体激光器又称激光二极管，是用半导体材料作为工作物质的激光器。由于物质结构上的差异，不同种类产生激光的具体过程比较特殊。
半导体激光器是以一定的半导体材料做工作物质而产生激光的器件，它体积小、寿命长、效率高、重量轻且价格低，是最实用最重要的一类激光器。半导体激光器在激光通信、光存储、光陀螺、激光打印、测距以及雷达等方面已经获得了广泛的应用
半导体激光器的波长和功率是两项非常重要的参数，目前一般是分开进行检测的，且检测的手段参差不齐，精度普遍不高，对大批量激光器的一致性也不做过高要求。
发明内容
本发明的目的在于提供一种半导体激光器波长及功率参数的自动检测装置，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：
一种半导体激光器波长及功率参数的自动检测装置，包括大理石工作平台、安装在大理石工作平台上的用于承接激光器的激光器安装座、垂直于大理石工作平台的导柱，安装于导柱上用于承接CCD的CCD安装座；所述导柱上还安装有积分球，积分球与设置在工作平台侧端的光谱仪通过光纤连接，所述CCD的前端安装有分光镜。
作为本发明进一步的方案：所述积分球安装在CCD安装座的下方。
作为本发明再进一步的方案：所述CCD的中心与激光器安装座的圆心始终保持在同一垂直线上。
作为本发明再进一步的方案：所述CCD安装座套设在导柱上且与导柱活动安装。
作为本发明再进一步的方案：所述积分球与导柱活动安装。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：本发明设计新颖，通过设置于CCD前端的分光镜将激光分成两路，两路激光分别进入到CCD和积分球内，再通过控制器将采集的数据传输到计算机内分析，得到半导体激光器波长及功率参数，实现半导体激光器波长和功率同时检测，精度高，其有效解决了半导体激光器的波长和功率是两项非常重要的参数，目前一般是分开进行检测的，且检测的手段参差不齐，精度普遍不高的问题。
附图说明
图1为半导体激光器波长及功率参数的自动检测装置的结构示意图。
图中：1-大理石工作平台、2-激光器安装座、3-激光器、4-分光镜、5-CCD、6-CCD安装座、7-导柱、8-积分球、9-光谱仪。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
实施例一
请参阅图1，本发明实施例中，一种半导体激光器波长及功率参数的自动检测装置，包括大理石工作平台1、安装在大理石工作平台1上的用于承接激光器3的激光器安装座2、垂直于大理石工作平台1的导柱7，安装于导柱7上用于承接CCD5的CCD安装座6；所述导柱7上还安装有积分球8，积分球8与设置在工作平台1侧端的光谱仪9通过光纤连接，所述CCD5的前端安装有分光镜4，分光镜4可有效将激光器3发出的光进行分散，即，激光射到分光镜4上后部分激光透过分光镜进入到CCD5中，实现信号采集，同时部分激光分光到积分球8上，通过光纤导入光谱仪9内，从而再通过控制器采集数据，采集的数据有控制器传回计算机分析，得到半导体激光器波长及功率参数，实现半导体激光器波长和功率同时检测，精度高。
需说明的是，激光器3采用的是Sony405NM蓝紫光激光器，该激光器性能稳定；CCD5采用的是迈德威视MV-US500M CCD，积分球8采用的型号为泰仕TES133，光谱仪9采用的型号为海洋光学Maya2000Pro，优选的，激光器3、CCD5、积分球8和光谱仪9均可采用其他型号，只要满足工作要求即可，本申请对此不作限定。
优选的，所述积分球8安装在CCD安装座6的下方。
具体的，所述CCD5的中心与激光器安装座2的圆心始终保持在同一垂直线上。
实施例二
为了进一步增加检测装置的检测效果，实现不同采集距离的检测，本实施对此进行优化，具体的，所述CCD安装座6套设在导柱7上且与导柱7活动安装，具体的，CCD安装座6与导柱7活动安装方式包括但不限于螺纹连接或卡销与卡槽配合固定，CCD安装座6套设于导柱7上且可上下调节的活动安装方式有多种，且为常见的安装方式即可，本申请对此不作限定。
所述积分球8与导柱7活动安装，安装方式与CCD安装座6和导柱7的安装方式相同，在此不再进行赘述。
需要特别说明的是，本申请中光谱仪、积分球、CCD和激光器为现有技术的应用，通过设置于CCD前端的分光镜将激光分成两路，两路激光分别进入到CCD和积分球内，再通过控制器将采集的数据传输到计算机内分析，得到半导体激光器波长及功率参数，实现半导体激光器波长和功率同时检测，精度高为本申请的创新点，其有效解决了半导体激光器的波长和功率是两项非常重要的参数，目前一般是分开进行检测的，且检测的手段参差不齐，精度普遍不高的问题。
对于本领域技术人员而言，显然本发明不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本发明。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。

Claims (5)

1.一种半导体激光器波长及功率参数的自动检测装置，其特征在于，包括大理石工作平台（1）、安装在大理石工作平台（1）上的用于承接激光器（3）的激光器安装座（2）、垂直于大理石工作平台（1）的导柱（7），安装于导柱（7）上用于承接CCD（5）的CCD安装座（6）；所述导柱（7）上还安装有积分球（8），积分球（8）与设置在工作平台（1）侧端的光谱仪（9）通过光纤连接，所述CCD（5）的前端安装有分光镜（4）。
2.根据权利要求1所述的一种半导体激光器波长及功率参数的自动检测装置，其特征在于，所述积分球（8）安装在CCD安装座（6）的下方。
3.根据权利要求1所述的一种半导体激光器波长及功率参数的自动检测装置，其特征在于，所述CCD（5）的中心与激光器安装座（2）的圆心始终保持在同一垂直线上。
4.根据权利要求1-3任一所述的一种半导体激光器波长及功率参数的自动检测装置，其特征在于，所述CCD安装座（6）套设在导柱（7）上且与导柱（7）活动安装。
5.根据权利要求1-3任一所述的一种半导体激光器波长及功率参数的自动检测装置，其特征在于，所述积分球（8）与导柱（7）活动安装。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110082077A (zh) * 2019-06-19 2019-08-02 无锡奥普特自动化技术有限公司 光纤数值孔径测量仪
CN111006719A (zh) * 2019-12-13 2020-04-14 武汉光安伦光电技术有限公司 一种vcsel测量装置
CN113532637A (zh) * 2020-04-20 2021-10-22 山东华光光电子股份有限公司 一种可监控光斑数值孔径和功率的适配器及其制作使用方法

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2359656Y (zh) * 1998-12-02 2000-01-19 时代集团公司 测粗糙度仪支撑平台
CN101709946A (zh) * 2009-12-17 2010-05-19 宁波鸿达电机模具有限公司 模具导柱垂直度测量仪
CN102062675A (zh) * 2010-12-16 2011-05-18 西安炬光科技有限公司 一种半导体激光器寿命测试装置
CN103076674A (zh) * 2013-01-11 2013-05-01 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种利用光热效应改变激光传输特性的装置
CN103698106A (zh) * 2014-01-07 2014-04-02 工业和信息化部电子第五研究所 用于半导体激光器的检测系统
CN204241319U (zh) * 2014-12-18 2015-04-01 国网四川省电力公司成都供电公司 基于对电线电缆进行测试的推拉负荷试验装置
CN207180992U (zh) * 2017-08-08 2018-04-03 温州泛波激光有限公司 一种激光器的出厂参数检测装置

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2359656Y (zh) * 1998-12-02 2000-01-19 时代集团公司 测粗糙度仪支撑平台
CN101709946A (zh) * 2009-12-17 2010-05-19 宁波鸿达电机模具有限公司 模具导柱垂直度测量仪
CN102062675A (zh) * 2010-12-16 2011-05-18 西安炬光科技有限公司 一种半导体激光器寿命测试装置
CN103076674A (zh) * 2013-01-11 2013-05-01 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种利用光热效应改变激光传输特性的装置
CN103698106A (zh) * 2014-01-07 2014-04-02 工业和信息化部电子第五研究所 用于半导体激光器的检测系统
CN204241319U (zh) * 2014-12-18 2015-04-01 国网四川省电力公司成都供电公司 基于对电线电缆进行测试的推拉负荷试验装置
CN207180992U (zh) * 2017-08-08 2018-04-03 温州泛波激光有限公司 一种激光器的出厂参数检测装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110082077A (zh) * 2019-06-19 2019-08-02 无锡奥普特自动化技术有限公司 光纤数值孔径测量仪
CN111006719A (zh) * 2019-12-13 2020-04-14 武汉光安伦光电技术有限公司 一种vcsel测量装置
CN113532637A (zh) * 2020-04-20 2021-10-22 山东华光光电子股份有限公司 一种可监控光斑数值孔径和功率的适配器及其制作使用方法

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