CN218098246U - 一种用于激光器探测光的红光卡装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种用于激光器探测光的红光卡装置,包括底座、红光卡、放大镜和读数标尺。红光卡与放大镜均固定在底座上,并且,红光卡的一侧表面位于放大镜的放大区域,读数标尺横向粘贴在红光卡上,朝向放大镜的一侧,读数标尺上沿的高度位置位于放大镜的中心区域。该装置可以显示激光器光路耦合过程中基准光源的出光位置坐标,以解决操作员在使用过程中无法准确判断基准光源出光点位置是否发生偏移,影响作业过程生产效率和激光器件生产一致性问题。
Description
技术领域
本实用新型涉及半导体激光器技术领域,特别涉及一种用于激光器探测光的红光卡装置。
背景技术
在激光器的接收光器件进行光路耦合过程中,每次作业前都会用样件校准,确保基准光源出光点位于样件光窗中心。然而,在实际生产制造过程中,基准光源一般固定在位移台上,在操作过程中由于操作人员的触碰时常会有微小的偏移,在耦合多支激光器件时,导致器件的接收光孔位置有差异,这样器件即使可以很好的完成光路耦合,但其在生产过程中的一致性仍不能保证,因此需要设计一种可以显示基准光源坐标的红光卡,可以测量基准光源的位置,以完成光路的耦合和光路的检测。
发明内容
为了解决背景技术提出的技术问题,本实用新型提供一种用于激光器探测光的红光卡装置,该装置可以显示激光器光路耦合过程中基准光源的出光位置坐标,以解决操作员在使用过程中无法准确判断基准光源出光点位置是否发生偏移,影响作业过程生产效率和激光器件生产一致性问题。
为了达到上述目的,本实用新型采用以下技术方案实现:
一种用于激光器探测光的红光卡装置,包括底座、红光卡、放大镜和读数标尺。
红光卡与放大镜均固定在底座上,并且,红光卡的一侧表面位于放大镜的放大区域,读数标尺横向粘贴在红光卡上,朝向放大镜的一侧,读数标尺上沿的高度位置位于放大镜的中心区域。
进一步地,所述的底座的高度根据基准光源的高度设计,使基准光源的位置高度与读数标尺上沿的高度契合。
进一步地,所述的红光卡是由红外磷材料涂在玻璃基板上制成。
进一步地,还包括指针,指针的下端固定在底座上,位于放大镜远离红光卡的一侧,指针指向读数标尺的刻度中心位置。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:
1)本实用新型提供一种用于激光器探测光的红光卡装置,红光卡可以将各种不可见近红外波段光束转化为人眼可见的像,能够有效实现对红外光束的探测;
2)该装置可以显示基准光源出光位置坐标,以解决操作员在使用过程中无法准确判断基准光源出光点位置是否发生偏移,影响作业过程生产效率和激光器件生产一致性问题;
3)读数标尺中心还可以设有指针,指针用于将基准光源出光点所处位置坐标指示出来,方便操作员快速查看。
附图说明
图1是本实用新型的一种用于激光器探测光的红光卡装置的立体结构示意图;
图2是本实用新型的一种用于激光器探测光的红光卡装置的前部透视图;
图3为本实用新型的一种用于激光器探测光的红光卡装置的光路图;
其中,1-底座2-红光卡3-放大镜4-读数标尺5-指针6-基准光源7-插轴。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型提供的具体实施方式进行详细说明。
如图1-3所示,一种用于激光器探测光的红光卡装置,包括底座1、红光2卡、放大镜3和读数标尺4。
红光卡2与放大镜3均固定在底座1上,并且,红光卡2的一侧表面位于放大镜3的放大区域,读数标尺4横向粘贴在红光卡2上,朝向放大镜3的一侧,读数标尺4上沿的高度位置位于放大镜3的中心区域。
所述的底座1的高度根据基准光源6的高度设计,使基准光源6的位置高度与读数标尺4上沿的高度契合。
所述的红光卡2是由红外磷材料涂在玻璃基板卡片的表面上制成,涂层在玻璃基板卡片的任意一面均可,红光卡2的原理为:基准光源6发出的光为不可见光,当它入射到红光激发感光区即红外磷材料上时,其储存的能量就可以以光的形式释放出来,在入射的部位发出红光,红光光点透过玻璃基板从放大镜3的一侧可以被观看到。
还包括指针5,指针5的下端固定在底座1上,位于放大镜3远离红光卡的一侧,指针5指向读数标尺4的刻度中心位置。指针5用于将基准光源6出光点所处位置坐标指示出来,方便操作员快速查看。
本实施例中,底座1是倒T型结构,红光卡2是一种长方形结构的卡片,由玻璃基板的一个表面涂上红外磷材料制作而成,可以粘接或通过螺丝直接固定在底座1上,放大镜3和指针5通过插轴7安装在底座1上,指针5固定在插轴7的端部,插轴7穿过放大镜3下端的插孔然后插入底座1顶端的安装孔,插轴7穿出底座1的部分用螺帽锁紧,进而将指针5和放大镜3固接在底座1的顶端。
如图3所示,本实用新型的工作原理为:
基准光源6位于红光卡2的左侧,放大镜3位于红光卡2的右侧,基准光源6通过激光器的管壳光窗后从左侧准直的对准红光卡2的感光区域,穿过红光卡2后变成可见的红光光斑;由于我们在设计时,要求底座1的高度根据基准光源6的高度设计,使基准光源6的位置高度与放大镜3中心的读数标尺4上沿位置契合。因此,可见的红光光斑位于读数标尺4上沿附近,通过放大镜3可以放大红光光斑以及坐标刻度的读数,这样操作员在耦合多支激光器件时就可以明确知道,每次耦合时基准光源6的位置(这里仅指横向位置)是否位于读数标4尺的设定位置,如果不在读数标尺4的设定位置,则表示基准光源6的位置发生了变动,需要重新调整基准光源6的位置,使其保持之前的位置一致,这样操作确保了制程过程的一致性。
以上实施例在以本实用新型技术方案为前提下进行实施,给出了详细的实施方式和具体的操作过程,但本实用新型的保护范围不限于上述的实施例。上述实施例中所用方法如无特别说明均为常规方法。
Claims (4)
1.一种用于激光器探测光的红光卡装置,其特征在于,包括底座、红光卡、放大镜和读数标尺;
红光卡与放大镜均固定在底座上,并且,红光卡的一侧表面位于放大镜的放大区域,读数标尺横向粘贴在红光卡上,朝向放大镜的一侧,读数标尺上沿的高度位置位于放大镜的中心区域。
2.根据权利要求1所述的一种用于激光器探测光的红光卡装置,其特征在于,所述的底座的高度根据基准光源的高度设计,使基准光源的位置高度与读数标尺上沿的高度契合。
3.根据权利要求1所述的一种用于激光器探测光的红光卡装置,其特征在于,所述的红光卡是由红外磷材料涂在玻璃基板上制成。
4.根据权利要求1所述的一种用于激光器探测光的红光卡装置,其特征在于,还包括指针,指针的下端固定在底座上,位于放大镜远离红光卡的一侧,指针指向读数标尺的刻度中心位置。
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