CN109239477A - 电气件的检测方法及检测系统 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种电气件的检测方法及检测系统。该检测方法包括：对所述电气件的工作参数按时间顺序进行间断检测，以获得多次检测数据；任意相邻的两次检测之间的持续时长定义为间隔时长，其中，至少有两个间隔时长不相等。本发明提供的电气件的检测方法中，多次检测的间隔时长中，至少有两个间隔时长不相等，由于各次检测之间的间隔时长存在变化，因此不会采集到在相同的纹波影响情况下的检测数据，使得采集的检测数据更加完整，从而提高检测的精确度，尤其适用于对触摸按键的检测过程中。

Description

电气件的检测方法及检测系统
技术领域
本发明涉及检测技术领域，特别是一种电气件的检测方法及检测系统。
背景技术
电气件例如触摸按键的检测通常是采用CTC/CVD等检测方法，这种检测方法非常容易受纹波干扰，尤其当负载动作时收到的纹波干扰非常大，极易造成按键的误触发或者造成检测不灵敏。传统的按键检测方案为每间隔固定的时间对按键进行一次采样，对多次采样得到的数据进行算法处理或者进行加权处理最终得到最终的采样值，这种采样方式得到的采样值不准确，从而影响检测的精确度。
发明内容
有鉴于此，本发明的目的之一在于提供一种检测精度高的电气件的检测方法及检测系统。
为达到上述目的，一方面，本发明采用如下技术方案：
一种电气件的检测方法，所述检测方法包括：
对所述电气件的工作参数按时间顺序进行间断检测，以获得多次检测数据；
任意相邻的两次检测之间的持续时长定义为间隔时长，其中，至少有两个间隔时长不相等。
优选地，所述电气件与控制模块相连并由所述控制模块进行控制，所述间隔时长根据所述控制模块处于工作状态时的纹波周期T确定。
优选地，所述纹波周期T为所述控制模块在重载状态下的纹波周期，所述重载状态为所述控制模块的负载均处于最大功率时的状态。
优选地，设定对所述电气件的检测次数为N，在N次检测中，各个间隔时长分别为T1、T2、。。。、TN-1，其中，T1＝T/N、T2＝T/N-1、。。。、TN-1＝T/2。
优选地，间隔时长T1、T2、。。。、TN-1依次分别为第1次检测与第2次检测之间的间隔时长、第2次检测与第3次检测之间的间隔时长、。。。、第N-1次检测与第N次检测之间的间隔时长；或者，
间隔时长T1、T2、。。。、TN-1依次分别为第N-1次检测与第N次检测之间的间隔时长、第N-2次检测与第N-3次检测之间的间隔时长、。。。、第1次检测与第2次检测之间的间隔时长。
优选地，对所述电气件的检测次数大于或等于10次。
优选地，所述检测方法还包括：
根据所述多次检测数据获得有效数据；
获得有效数据的方法为，去掉所述多次检测数据中的最大值和最小值，并将剩余的检测数据求取平均值，将所述平均值作为所述有效数据。
优选地，所述电气件包括触摸按键，所述控制模块为主板。
优选地，所述检测数据为对所述触摸按键进行AD采样所得到的采样值。
另一方面，本发明采用如下技术方案：
一种电气件的检测系统，所述检测系统包括检测模块，用于对电气件的工作参数按时间顺序进行间断检测，以获得多次检测数据，任意相邻的两次检测之间的持续时长定义为间隔时长，其中，至少有两个间隔时长不相等。
优选地，所述电气件与控制模块相连并由所述控制模块进行控制，所述检测系统还包括间隔时长计算单元，所述间隔时长计算单元用于根据所述控制模块处于工作状态时的纹波周期T计算得到各个所述间隔时长。
优选地，所述检测系统还包括纹波周期测试模块，用于测试所述控制模块处于工作状态时的纹波周期。
有益效果：
本发明提供的电气件的检测方法中，多次检测的间隔时长中，至少有两个间隔时长不相等，由于各次检测之间的间隔时长存在变化，因此不会采集到在相同的纹波影响情况下的检测数据，使得采集的检测数据更加完整，从而提高检测的精确度，尤其适用于对触摸按键的检测过程中。
附图说明
通过以下参照附图对本发明实施例的描述，本发明的上述以及其它目的、特征和优点将更为清楚，在附图中：
图1示出本发明具体实施方式提供的检测方法的流程图；
图2示出本发明具体实施方式提供的检测系统的结构示意图。
其中，100、检测模块；200、间隔时长计算单元；300、纹波周期测试模块。
具体实施方式
以下基于实施例对本发明进行描述，但是本发明并不仅仅限于这些实施例。为了避免混淆本发明的实质，公知的方法、过程、流程、元件并没有详细叙述。
此外，本领域普通技术人员应当理解，在此提供的附图都是为了说明的目的，并且附图不一定是按比例绘制的。
除非上下文明确要求，否则整个说明书和权利要求书中的“包括”、“包含”等类似词语应当解释为包含的含义而不是排他或穷举的含义；也就是说，是“包括但不限于”的含义。
在本发明的描述中，需要理解的是，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
针对现有电气件例如触摸按键的检测精度低的问题，申请人发现，由于现有的检测方法中，每次采样的时间间隔都是固定的，导致每次采样很有可能均落在纹波的同一位置，由于纹波是在不断变化的，在纹波的不同位置的采样数据是不相同的，因此，若采用这种固定时间间隔的方式进行数据采样则会导致采样数据不完整，进而影响对电气件的检测精度。
基于此，本申请提供了一种电气件的检测方法，用于对电气件进行检测，尤其适用于处在纹波干扰情况下的电气件检测，例如安装在主板上的触摸按键，下面主要以对触摸按键的检测为例做具体的说明，当然，可以理解的是，该检测方法也同样适用于其他存在上述问题的电气件的检测。
该检测方法包括：
对触摸按键的工作参数按时间顺序进行间断检测，即每隔一段时间进行一次检测，以获得多次检测数据；
任意相邻的两次检测之间的持续时长定义为间隔时长，其中，至少有两个间隔时长不相等。可以理解的是，由于至少存在两个间隔时长，因此，本申请中所述的多次检测为大于等于三次检测。另外，检测次数越多，以及使得持续时长不相等的间隔时长越多，则检测结果就会更加精确，优选地，各个间隔时长均不相等，这样能够达到最优的检测精确度。
由于各次检测之间的间隔时长存在变化，因此不会采集到在相同的纹波影响情况下的检测数据，使得采集的检测数据更加完整，从而提高检测的精确度。
其中，对触摸按键的检测例如为对触摸按键进行A/D采样，检测数据例如为对触摸按键进行AD采样所得到的采样值F。
由于触摸按键安装在主板上，其是在主板的纹波干扰的情况下进行的检测，其采样周期会受到纹波周期的影响，基于此，间隔时长优选根据主板处于工作状态时的纹波周期T确定，该纹波周期T可以为经验值，也可是经过测试得到的测试值。
由于主板在不同的工作状态下其纹波周期是不同的，其对触摸按键的检测的影响程度也是不同的，当主板在轻载状态下的纹波对触摸按键的检测的影响程度较低，而当主板在重载状态下的纹波对触摸按键的检测的程度影响较高，基于此，为了进一步提高对触摸按键的检测精确度，优选地，纹波周期T为主板在重载状态下的纹波周期，其中的重载状态定义为主板的负载均处于最大功率时的状态，其中，主板的负载例如包括设置在主板上的显示模块、蜂鸣器等其他电气元件。
优选地，根据纹波周期T确定时长的方法为，设定对触摸按键的检测次数为N，在N次检测中，各个间隔时长分别为T1、T2、。。。、TN-1，其中，T1＝T/N、T2＝T/N-1、。。。、TN-1＝T/2，如此，能够在纹波的各个位置(包括纹波的波峰、波谷等位置)进行触摸按键的检测，以保证检测数据的完整性。其中的N优选大于或等于10。
进一步优选地，间隔时长T1、T2、。。。、TN-1依次分别为第1次检测与第2次检测之间的间隔时长、第2次检测与第3次检测之间的间隔时长、。。。、第N-1次检测与第N次检测之间的间隔时长；或者，间隔时长T1、T2、。。。、TN-1依次分别为第N-1次检测与第n次检测之间的间隔时长、第N-2次检测与第N-3次检测之间的间隔时长、。。。、第1次检测与第2次检测之间的间隔时长，如此，能够进一步保证采集数据的完整性。
进一步地，检测方法进一步包括：
根据多次检测数据获得有效数据。
优选地，获得有效数据的方法为，去掉多次检测数据中的最大值和最小值，并将剩余的检测数据求取平均值，将平均值作为有效数据。
当然，可以理解的是，获得有效数据的方法也可以是通过加权处理等其他的方法。
下面给出一个具体的检测方法流程图，如图1所示，该检测方法包括如下步骤：
测试主板重载状态下的纹波周期T；
进行第1次按键检测，得到电压值F1；
第1次检测后间隔T1＝T/N进行第2次按键检测，得到电压值F2；
。。。
第N-1次检测后间隔TN-1＝T/2进行第N-1次按键检测，得到电压值FN-1；
去掉F1-FN-1中的最大值和最小值，并将剩余的值求平均得到本次按键检测值。
本申请还提供了一种检测系统，如图2所示，其包括检测模块100和间隔时长计算单元200，其中，检测模块100用于对电气件例如触摸按键的工作参数按时间顺序进行间断检测，以获得多次检测数据，任意相邻的两次检测之间的持续时长定义为间隔时长，其中，至少有两个间隔时长不相等，间隔时长计算单元200与检测模块100相连，用于根据控制模块例如主板处于工作状态时的纹波周期T计算得到各个间隔时长，并将计算结果发送给检测模块100，以便于检测模块100每间隔不同的时长对电气件例如触摸按键进行一次检测。
进一步地，检测系统还包括纹波周期测试模块300，纹波周期测试模块300与间隔时长计算单元200相连，用于测试控制模块处于工作状态时的纹波周期，并将纹波周期发送给间隔时长计算单元200以进行间隔时长的计算，当然，可以理解的是，也可以不设置纹波周期测试模块300，通过人工设定或者预存的方式将纹波周期存储在间隔时长计算单元200中。
本发明提供的电气件的检测方法中，多次检测的间隔时长中，至少有两个间隔时长不相等，由于各次检测之间的间隔时长存在变化，因此不会采集到在相同的纹波影响情况下的检测数据，使得采集的检测数据更加完整，从而提高检测的精确度，尤其适用于对触摸按键的检测过程中。
本领域的技术人员容易理解的是，在不冲突的前提下，上述各优选方案可以自由地组合、叠加。
应当理解，上述的实施方式仅是示例性的，而非限制性的，在不偏离本发明的基本原理的情况下，本领域的技术人员可以针对上述细节做出的各种明显的或等同的修改或替换，都将包含于本发明的权利要求范围内。

Claims (12)

1.一种电气件的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：
对所述电气件的工作参数按时间顺序进行间断检测，以获得多次检测数据；
任意相邻的两次检测之间的持续时长定义为间隔时长，其中，至少有两个间隔时长不相等。
2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述电气件与控制模块相连并由所述控制模块进行控制，所述间隔时长根据所述控制模块处于工作状态时的纹波周期T确定。
3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述纹波周期T为所述控制模块在重载状态下的纹波周期，所述重载状态为所述控制模块的负载均处于最大功率时的状态。
4.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，设定对所述电气件的检测次数为N，在N次检测中，各个间隔时长分别为T1、T2、。。。、TN-1，其中，T1＝T/N、T2＝T/N-1、。。。、TN-1＝T/2。
5.根据权利要求4所述的检测方法，其特征在于，间隔时长T1、T2、。。。、TN-1依次分别为第1次检测与第2次检测之间的间隔时长、第2次检测与第3次检测之间的间隔时长、。。。、第N-1次检测与第N次检测之间的间隔时长；或者，
间隔时长T1、T2、。。。、TN-1依次分别为第N-1次检测与第N次检测之间的间隔时长、第N-2次检测与第N-3次检测之间的间隔时长、。。。、第1次检测与第2次检测之间的间隔时长。
6.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，对所述电气件的检测次数大于或等于10次。
7.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述检测方法还包括：
根据所述多次检测数据获得有效数据；
获得有效数据的方法为，去掉所述多次检测数据中的最大值和最小值，并将剩余的检测数据求取平均值，将所述平均值作为所述有效数据。
8.根据权利要求2至7之一所述的检测方法，其特征在于，所述电气件包括触摸按键，所述控制模块为主板。
9.根据权利要求8所述的检测方法，其特征在于，所述检测数据为对所述触摸按键进行AD采样所得到的采样值。
10.一种电气件的检测系统，其特征在于，所述检测系统包括检测模块，用于对电气件的工作参数按时间顺序进行间断检测，以获得多次检测数据，任意相邻的两次检测之间的持续时长定义为间隔时长，其中，至少有两个间隔时长不相等。
11.根据权利要求10所述的电气件的检测系统，其特征在于，所述电气件与控制模块相连并由所述控制模块进行控制，所述检测系统还包括间隔时长计算单元，所述间隔时长计算单元用于根据所述控制模块处于工作状态时的纹波周期T计算得到各个所述间隔时长。
12.根据权利要求11所述的电气件的检测系统，其特征在于，所述检测系统还包括纹波周期测试模块，用于测试所述控制模块处于工作状态时的纹波周期。
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