CN109188298A - 一种锂离子电池负极嵌锂状态的评价方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种锂离子电池负极嵌锂状态的评价方法。本发明方法首先对嵌锂状态石墨负极进行预保护,防止外部环境(水分、氧气等)造成的结构影响;对石墨负极进行非原位XRD测试并计算石墨层间距,根据层间距的大小判断石墨负极的嵌锂状态。通过上述方法对石墨负极嵌锂状态进行评价,使石墨负极嵌锂状态可量化,从微观结构角度更加准确的判断石墨负极的嵌锂状态。可以直观的了解不同石墨负极材料的原料、加工工艺、形貌、结构、粒度等对石墨负极嵌锂性能的影响,进而指导石墨负极材料的制备及改性。
Description
技术领域
本发明属于锂离子电池技术领域,更具体的说,是涉及一种锂离子电池负极嵌锂状态的评价方法。
背景技术
石墨是目前商品锂离子电池的主要负极材料,石墨材料导电性好,结晶度高,具有良好的层状结构。石墨作为锂离子电池负极工作时,锂离子可以反复地嵌入、脱出。反应方程式为xLi+6C f LixC6。锂离子嵌入石墨层后,形成LixC6化合物,理论容量可达372mAh/g。
锂离子在石墨层间扩散的动力学特征影响电池的倍率性能。石墨负极的动力学特征受多方面因素如石墨材料的原料、加工工艺、形貌、结构、粒度等的影响。石墨负极的动力学特征影响电池的倍率性能,具体表现为石墨负极的嵌锂状态的高低。
根据以上所述,评价锂离子电池中石墨负极的嵌锂状态,可从石墨微观结构上考量电池的倍率性能,反映出石墨负极的动力学特征的优劣。所以,建立判断石墨负极嵌锂状态的评价方法意义重大。目前迫切需要开发出一种技术,可以避免外部环境中水分、氧气等的影响,对嵌锂状态石墨负极进行准确测试及判断。
发明内容
本发明的目的是为了克服现有技术中存在的不足,而提供一种锂离子电池负极嵌锂状态的评价方法。
本发明一种锂离子电池负极嵌锂状态的评价方法,步骤如下:
(1)电池拆解及负极的封装:
在手套箱中,对电芯进行拆解,取出负极片,使用碳酸二甲酯(DMC)进行冲洗,并晾干,使用石蜡封口膜封装负极片,使用封口机封边,(保证石蜡封口膜密封性,以阻隔负极进行XRD测试时接触空气)进行XRD测试样品制备;
(2)负极片XRD测试:
首先,以内标法,单晶硅作内标对未充电的石墨进行XRD测量,XRD测试时扫描范围为:25度≤2θ≤29度,扫描速度为1度/分钟;X射线衍射仪记录石墨和硅的衍射线图形,由内标法求得经过校正后的石墨的衍射角,标定石墨的峰位置;
然后,对未充电石墨极片进行XRD测试,XRD测试时扫描范围为:5度≤2θ≤90度,扫描速度为0.2度/秒,以石墨的标定峰位置为标准,标定Cu箔的特征峰位置;
最后,对石蜡封口膜封口的负极片进行XRD测试,XRD测试时扫描范围为:5度≤2θ≤90度,扫描速度为0.2度/秒;
(3)嵌锂石墨层间距的计算。
对XRD数据进行处理,根据公式2dsinθ=λ,其中,d为晶面间距,θ为入射X射线与相应晶面的夹角,λ为X射线的波长;
(4)负极嵌锂状态的评价。
通过比较嵌锂状态石墨的层间距,比较石墨嵌锂状态的深浅,相同倍率充电情况下,层间距越高,表明嵌锂越多。
其中,第一步中,手套箱中氧气含量控制在0.1ppm-10ppm,水分含量控制在0.1ppm-10ppm。确认封口效果时,保证封口处石蜡膜呈透明状,无气泡残留。
其中,第二步中,XRD测试时参数设定同常规石墨的XRD测试,X射线衍射仪测试的工作条件如下:铜靶KαX射线 40kV管压,电流为40mA。
其中,第三步中,对XRD数据进行处理时,首先,以内标法单晶硅作内标对未充电的石墨极片进行XRD测量,标定石墨的峰位置,以石墨的标定峰位置为标准,标定Cu箔的特征峰。需要说明的是,在进行嵌锂状态XRD数据处理时,都以Cu箔的特征峰为标准对XRD数据进行校准。
本发明具有如下有益效果:
本方法是通过嵌锂石墨微观结构的表征,考量石墨负极的动力学特征的优劣。首先对嵌锂状态石墨负极进行预保护,防止外部环境(水分、氧气等)造成的结构影响;对石墨负极进行非原位XRD测试并计算石墨层间距,根据层间距的大小判断石墨负极的嵌锂状态。通过上述方法对石墨负极嵌锂状态进行评价,使石墨负极嵌锂状态可量化,从微观结构角度更加准确的判断石墨负极的嵌锂状态,可以直观的了解不同石墨负极材料的原料、加工工艺、形貌、结构、粒度等对石墨负极嵌锂性能的影响,指导石墨负极材料的制备及改性。
附图说明
图1为实施例1中以单晶硅内标法测试的未充电的石墨XRD图谱;
图2为实施例1中未充电石墨极片的XRD图谱;
图3为实施例1中石墨封口膜封口的充电石墨极片的XRD图谱。
具体实施方式
以下给出的实施例将结合附图对本发明作进一步说明。
实施例1
一种锂离子电池负极嵌锂状态的评价方法,步骤如下:
(1)电池拆解及负极的封装。
取化成后电芯置入手套箱内,手套箱中氧气含量控制在1ppm以下,水分含量控制在1ppm以下,在手套箱中,对电芯进行拆解,取出负极片,使用碳酸二甲酯DMC进行冲洗,并晾干,使用石蜡封口膜封装负极片,使用封口机封边,(保证石蜡封口膜密封性,以阻隔负极进行XRD测试时接触空气)进行XRD测试样品制备。确认封口效果时,保证封口处石蜡膜呈透明状,无气泡残留。
(2)负极片XRD测试。
X射线衍射仪测试的工作条件如下:铜靶KαX射线 40kV管压,电流为40mA。
首先,以内标法,单晶硅作内标对未充电的石墨进行XRD测量,XRD测试时扫描范围为:25度≤2θ≤29度,扫描速度为1度/分钟。X射线衍射仪记录石墨和硅的衍射线图形(如图1),石墨峰位置为26.52度,单晶硅峰位置为28.43度,由内标法求得经过校正后的石墨的衍射角,标定石墨的峰位置为26.49度。
然后,对未充电石墨极片进行XRD测试(结果见图2),XRD测试时扫描范围为:5度≤2θ≤90度,扫描速度为0.2度/秒。由XRD图谱确定石墨峰位置为26.55度,Cu特征峰位置为43.35度,以石墨的标定峰位置为标准,标定Cu箔的特征峰位置为43.29度。
最后,对石蜡封口膜封口的负极片进行XRD测试(结果见图3)。XRD测试时扫描范围为:5度≤2θ≤90度,扫描速度为0.2度/秒。由XRD图谱确定石墨峰位置为26.05度,Cu特征峰位置为43.3度,以Cu箔特征峰位置43.29度为标准,标定嵌锂石墨的峰位置为26.04度。
(3)嵌锂石墨层间距的计算。
再根据Bragg公式计算石墨负极材料的层面间距d002。
对XRD数据进行处理,根据公式2dsinθ=λ,其中,d为晶面间距,θ为入射X射线与相应晶面的夹角,λ为X射线的波长 由步骤二所得2θ=26.04度,带入Bragg公式,计算得,嵌锂石墨的层面间距d002=0.3419纳米。
(4)未充电石墨层间距的计算。
再根据Bragg公式计算石墨负极材料的层面间距d002。
对XRD数据进行处理,根据公式2dsinθ=λ,其中,d为晶面间距,θ为入射X射线与相应晶面的夹角,λ为X射线的波长 由步骤二所得2θ=26.49度,带入Bragg公式,计算得,嵌锂石墨的层面间距d002=0.3362纳米。
(5)负极嵌锂状态的评价。
通过比较未充电石墨及嵌锂状态石墨的层间距,嵌锂石墨层间距大于未充电石墨层间距,层间距越高,表明嵌锂越多(石墨微观结构是层状结构,嵌锂反应发生时,锂会进入石墨层间,使的石墨的层间距扩大,嵌锂越多,层间锂越多,层间距越大)。
实施例2
一种锂离子电池负极嵌锂状态的评价方法,步骤如下:
(1)电池拆解及负极的封装。
取另外4支不同化成后电芯,置入手套箱内,手套箱中氧气含量控制在1ppm以下,水分含量控制在1ppm以下,在手套箱中,对电芯进行拆解,取出负极片,使用碳酸二甲酯DMC进行冲洗,并晾干,使用石蜡封口膜封装负极片,使用封口机封边,(保证石蜡封口膜密封性,以阻隔负极进行XRD测试时接触空气)进行XRD测试样品制备。确认封口效果时,保证封口处石蜡膜呈透明状,无气泡残留。
(2)负极片XRD测试。
X射线衍射仪测试的工作条件如下:铜靶KαX射线 40kV管压,电流为40mA。其余步骤同实施例1步骤2。
(3)嵌锂石墨层间距的计算。步骤同实施例1步骤3。
(4)不同嵌锂态负极层间距比较见表1。
结论:通过不同电芯的嵌锂负极的层间距比较,样品1、2、3、4的层间距逐渐增加,说明样品1、2、3、4的嵌锂量也是逐渐增加的。
表1、实施例中不同电芯的嵌锂负极的层间距比较:
Claims (2)
1.一种锂离子电池负极嵌锂状态的评价方法,其特征在于,步骤如下:
第一步,电池拆解及负极的封装:
在手套箱中,对电芯进行拆解,取出负极片,使用碳酸二甲酯进行冲洗,并晾干,使用石蜡封口膜封装负极片,使用封口机封边,制备完成了进行X-射线衍射光谱的测试样品;
第二步,负极片XRD测试:
首先,以内标法,单晶硅作内标对未充电的石墨进行XRD测量,XRD测试时扫描范围为:25度≤2θ≤29度,扫描速度为1度/分钟;X射线衍射仪记录石墨和硅的衍射线图形,由内标法求得经过校正后的石墨的衍射角,标定石墨的峰位置;
然后,对未充电石墨极片进行XRD测试,XRD测试时扫描范围为:5度≤2θ≤90度,扫描速度为0.2度/秒,以石墨的标定峰位置为标准,标定Cu箔的特征峰位置;
最后,对石蜡封口膜封口的负极片进行XRD测试,XRD测试时扫描范围为:5度≤2θ≤90度,扫描速度为0.2度/秒;XRD测试时参数设定同常规石墨的XRD测试,X射线衍射仪测试的工作条件如下:铜靶KαX射线,40kV管压,电流为40mA;
第三步,嵌锂石墨层间距的计算:
对XRD数据进行处理,首先,以内标法单晶硅作内标对未充电的石墨极片进行XRD测量,标定石墨的峰位置,以石墨的标定峰位置为标准,标定Cu箔的特征峰,在进行嵌锂状态XRD数据处理时,都以Cu箔的特征峰为标准对XRD数据进行校准;然后根据公式2dsinθ=λ计算间距,其中,d为晶面间距,θ为入射X射线与相应晶面的夹角,λ为X射线的波长;
第四步,负极嵌锂状态的评价:
通过比较嵌锂状态石墨的层间距,比较石墨嵌锂状态的深浅,相同倍率充电情况下,层间距越高,表明嵌锂越多。
2.如权利要求1所述锂离子电池负极嵌锂状态的评价方法,其特征是,步骤一中,手套箱中氧气含量控制在0.1ppm-10ppm,水分含量控制在0.1ppm-10ppm;确认封口效果时,保证封口处石蜡膜呈透明状,无气泡残留。
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