CN109120352A - 蓝牙测试电路及自动测试方法 - Google Patents

蓝牙测试电路及自动测试方法 Download PDF

Info

Publication number
CN109120352A
CN109120352A CN201810768083.7A CN201810768083A CN109120352A CN 109120352 A CN109120352 A CN 109120352A CN 201810768083 A CN201810768083 A CN 201810768083A CN 109120352 A CN109120352 A CN 109120352A
Authority
CN
China
Prior art keywords
bluetooth
circuit
simulation
memory
digital signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201810768083.7A
Other languages
English (en)
Inventor
梁明亮
李健勋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen Zhongke blue news Technology Co., Ltd.
Original Assignee
Zhuhai Zhongke Blue Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Zhuhai Zhongke Blue Technology Co Ltd filed Critical Zhuhai Zhongke Blue Technology Co Ltd
Priority to CN201810768083.7A priority Critical patent/CN109120352A/zh
Publication of CN109120352A publication Critical patent/CN109120352A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B17/00Monitoring; Testing
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04LTRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
    • H04L43/00Arrangements for monitoring or testing data switching networks
    • H04L43/50Testing arrangements
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04WWIRELESS COMMUNICATION NETWORKS
    • H04W4/00Services specially adapted for wireless communication networks; Facilities therefor
    • H04W4/80Services using short range communication, e.g. near-field communication [NFC], radio-frequency identification [RFID] or low energy communication

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Mobile Radio Communication Systems (AREA)

Abstract

本发明提供的蓝牙测试电路及自动测试方法,属于电子电路技术领域。该蓝牙测试电路包括蓝牙模拟TX电路、蓝牙模拟RX电路、主控电路和存储器;所述主控电路的输出端与所述存储器的第一输入端连接,所述存储器的输出端与所述蓝牙模拟TX电路的输入端连接,所述蓝牙模拟TX电路的输出端与所述蓝牙模拟RX电路的输入端连接,所述蓝牙模拟RX电路的输出端与所述存储器的第二输入端连接。从而使得蓝牙测试电路无需要增加RF测试设备,便能够实现对蓝牙模拟的TX/RX电路的自动测试,使得测试更加简洁便利,进而有效提高了测试速度的同时还有效降低了测试成本。

Description

蓝牙测试电路及自动测试方法
技术领域
本发明涉及电子电路领域,具体而言,涉及蓝牙测试电路及自动测试方法。
背景技术
一般晶圆或者芯片测试,主要包含直流参数测试,可测试设计(DFT,design fortest)测试,目的是要把在制造过程中有缺陷的芯片给筛选出来。
业界进行蓝牙集成电路的测试,一般是两种测试办法,
方法一,基于自动测试设备(ATE)来完成。但是市场上具有射频(RF)测试功能的ATE都属于高端机型,价格昂贵,对一般测试厂要求比较高,而且这也提高了芯片的测试成本。
方法二,芯片原厂公司开发一套RF的测试系统,搭载测试厂的设备,通过这套测试系统和芯片晶圆进行通信连接,这样来完成测试。但是此方法需要原厂开发测试系统,还需要和测试厂的设备进行联合调试,导致测试系统复杂。
然而,无论采用上述何种方法,均需要增加RF测试设备,无法快速便捷得完成测试。
发明内容
本发明实施例提供的蓝牙测试电路及自动测试方法,可以解决现有技术中在测试的时候需要增加RF测试设备并且测试速度慢的技术问题。
为了实现上述目的,本发明实施例采用的技术方案如下:
第一方面,本发明实施例提供的一种蓝牙测试电路,包括:蓝牙模拟TX电路、蓝牙模拟RX电路、主控电路和存储器;所述主控电路的输出端与所述存储器的第一输入端连接,所述存储器的输出端与所述蓝牙模拟TX电路的输入端连接,所述蓝牙模拟TX电路的输出端与所述蓝牙模拟RX电路的输入端连接,所述蓝牙模拟RX电路的输出端与所述存储器的第二输入端连接;所述主控电路用于发送预设数值的测试数据至所述存储器;所述存储器用于将所述测试数据发送至所述蓝牙模拟TX电路;所述蓝牙模拟TX电路用于将所述测试数据转换成蓝牙RF信号,并将所述蓝牙RF信号输入至所述蓝牙模拟RX电路;所述蓝牙模拟RX电路用于将所述蓝牙RF信号转换成预设格式的数字信号,并将所述预设格式的数字信号发送至所述存储器;所述存储器还用于将所述预设格式的数字信号发送至所述主控电路;所述主控电路还用于根据所述预设格式的数字信号确定所述预设格式的数字信号对应的数据特征;以及还用于确定所述数据特征是否与预设数据特征匹配;若匹配,则判断蓝牙整个通路不存在制造缺陷。
结合第一方面,本发明实施例提供了第一方面的第一种可能的实施方式,所述蓝牙模拟TX电路包括:蓝牙模拟TX模块和DAC控制模块,所述蓝牙模拟TX模块的输入端与所述DAC控制模块的输出端连接;所述蓝牙模拟TX模块的输出端与所述蓝牙模拟TX电路连接;所述DAC控制模块的输入端与所述存储器连接。
结合第一方面的第一种可能的实施方式,本发明实施例提供了第一方面的第二种可能的实施方式,所测试数据包括正弦波数据和余弦波数据,所述蓝牙模拟TX模块包括:DACI输入端和DACQ输入端;所述DACI输入端和所述DACQ输入端均与所述DAC控制模块的输出端连接;所述DAC控制模块用于从所述存储器读取所述正弦波数据和所述余弦波数据,并将所述正弦波数据发送至所述DACI输入端,将所述余弦波数据发送至所述DACQ输入端;所述蓝牙模拟TX模块用于将所述正弦波数据和所述余弦波数据转换成蓝牙RF信号,并将所述蓝牙RF信号输入至所述蓝牙模拟TX电路。
结合第一方面,本发明实施例提供了第一方面的第三种可能的实施方式,所述蓝牙测试电路还包括:开关电路,所述开关电路的一端与所述蓝牙模拟TX电路连接,所述开关电路的另一端与所述蓝牙模拟RX电路连接;所述开关电路用于在所述主控电路的控制下闭合,以使所述蓝牙模拟TX电路与所述蓝牙模拟RX电路之间形成通路。
结合第一方面,本发明实施例提供了第一方面的第四种可能的实施方式,所述蓝牙模拟RX电路包括:蓝牙模拟RX模块和ADC控制模块;所述蓝牙模拟RX模块的输入端与所述蓝牙模拟TX电路的输出端连接,所述蓝牙模拟RX模块的输出端与所述ADC控制模块的输入端连接,所述ADC控制模块的输出端与所述存储器的第二输入端连接;所述蓝牙模拟RX模块用于将所述蓝牙RF信号转换成预设格式的数字信号,并将所述预设格式的数字信号发送至所述ADC控制模块;所述ADC控制模块用于将所述预设格式的数字信号发送至所述存储器。
结合第一方面的第四种可能的实施方式,本发明实施例提供了第一方面的第五种可能的实施方式,所测试数据包括正弦波数据和余弦波数据,所述蓝牙模拟RX模块包括:ADCI子模块和ADCQ子模块;所述ADCI子模块和所述ADCQ子模块均与所述ADC控制模块的输入端连接;所述ADCI子模块用于将所述蓝牙RF信号转换成ADCI数字信号,并将所述ADCI数字信号发送至所述ADC控制模块;所述ADCQ子模块用于将所述蓝牙RF信号转换成ADCQ数字信号,并将所述ADCQ数字信号发送至所述ADC控制模块;所述ADC控制模块用于将所述ADCI数字信号和所述ADCQ数字信号发送至所述存储器;所述主控电路还用于从所述存储器读取所述ADCI数字信号和所述ADCQ数字信号;以及还用于确定所述ADCI数字信号和所述ADCQ数字信号对应的数据特征;以及还用于确定所述数据特征是否与预设数据特征匹配;若匹配,则判断蓝牙整个通路不存在制造缺陷。
结合第一方面,本发明实施例提供了第一方面的第六种可能的实施方式,所述主控电路包括:处理器,所述处理器与所述存储器连接。
结合第一方面,本发明实施例提供了第一方面的第七种可能的实施方式,所述蓝牙测试电路还包括:蓝牙PLL电路,所述蓝牙PLL电路分别与所述蓝牙模拟TX电路和所述蓝牙模拟RX电路连接;所述蓝牙PLL电路用于为所述蓝牙模拟TX电路提供TX频点和为所述蓝牙模拟RX电路提供RX频点。
结合第一方面的第四种可能的实施方式,本发明实施例提供了第一方面的第八种可能的实施方式,所述蓝牙PLL电路包括:PLL控制模块和蓝牙PLL模块,所述PLL模块的输出端与所述蓝牙PLL模块连接,所述PLL模块的输入端与所述存储器连接,所述蓝牙PLL模块分别与所述蓝牙模拟TX电路和所述蓝牙模拟RX电路连接。
第二方面,本发明实施例提供的一种自动测试方法,应用于如第一方面任意一项所述的蓝牙测试电路,所述方法包括:主控电路发送预设数值的测试数据至存储器;所述存储器将所述测试数据发送至蓝牙模拟TX电路;所述蓝牙模拟TX电路将所述测试数据转换成蓝牙RF信号,并将所述蓝牙RF信号输入至蓝牙模拟RX电路;所述蓝牙模拟RX电路将所述蓝牙RF信号转换成预设格式的数字信号,并将所述预设格式的数字信号发送至所述存储器,以使所述存储器将所述预设格式的数字信号发送至所述主控电路;所述主控电路根据所述预设格式的数字信号确定所述预设格式的数字信号对应的数据特征;所述主控电路确定所述数据特征是否与预设数据特征匹配;若匹配,所述主控电路则判断蓝牙整个通路不存在制造缺陷。
与现有技术相比,本发明实施例带来了以下有益效果:
本发明实施例提供的蓝牙测试电路及自动测试方法,通过主控电路发送预设数值的测试数据至所述存储器;以通过所述存储器将所述测试数据发送至所述蓝牙模拟TX电路;通过所述蓝牙模拟TX电路将所述测试数据转换成蓝牙RF信号,并将所述蓝牙RF信号输入至所述蓝牙模拟TX电路;通过所述蓝牙模拟TX电路将所述蓝牙RF信号转换成预设格式的数字信号,并将所述预设格式的数字信号发送至所述存储器以使所述主控电路根据所述预设格式的数字信号确定所述预设格式的数字信号对应的数据特征;以及确定所述数据特征是否与预设数据特征匹配;若匹配,则判断蓝牙整个通路不存在制造缺陷。从而使得蓝牙测试电路无需要增加RF测试设备,便能够实现对蓝牙模拟的TX/RX电路的自动测试,使得测试更加简洁便利,进而有效提高了测试速度的同时还有效降低了测试成本。
本公开的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述,或者,部分特征和优点可以从说明书推知或毫无疑义地确定,或者通过实施本公开的上述技术即可得知。
为使本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂,下文特举较佳实施例,并配合所附附图,作详细说明如下。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,应当理解,以下附图仅示出了本发明的某些实施例,因此不应被看作是对范围的限定,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1为本发明第一实施例提供的蓝牙测试电路的结构图;
图2本发明第二实施例提供的自动测试方法的流程图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。因此,以下对在附图中提供的本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围,而是仅仅表示本发明的选定实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
下面结合附图,对本发明的一些实施方式作详细说明。在不冲突的情况下,下述的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
第一实施例
请参阅图1,是本发明实施例提供的蓝牙测试电路的结构图,蓝牙测试电路10包括主控电路110、存储器120、蓝牙模拟TX电路130和蓝牙模拟RX电路140。
在本实施例中,所述主控电路110的输出端与所述存储器120的第一输入端连接。所述主控电路110用于发送预设数值的测试数据至所述存储器120。
可选地,所述预设数值可以是100KB,也可以是110KB。在此,不作具体限定。
在本实施例中,所述测试数据包括正弦波数据和余弦波数据。
需要说明的是,在实际使用时,预设数值的大小可以根据用户需求进行设置。
可选地,所述主控电路110包括处理器,所述处理器与所述存储器120连接。
其中,所述处理器可以是一种集成电路芯片,具有信号的处理能力。上述的处理器可以是通用处理器,包括中央处理器(Central Processing Unit,CPU)、网络处理器(Network Processor,NP)等;还可以是数字信号处理器(Digital Signal Processor,DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit,ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array,FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。可以实现或者执行本发明实施例中的公开的各方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
在本实施例中,所述存储器120的输出端与所述蓝牙模拟TX电路130的输入端连接,所述存储器120的第二输入端与所述蓝牙模拟RX电路140的输出端连接。
在本实施例中,所述存储器120用于存储所述主控电路110发送的所述预设数值的测试数据,以及还用于接收并存储所述蓝牙模拟RX电路140发送的数据。
在本实施例中,所述存储器120可以是,但不限于,随机存取存储器(RandomAccess Memory,RAM),只读存储器(Read Only Memory,ROM),可编程只读存储器(Programmable Read-Only Memory,PROM),可擦除只读存储器(Erasable ProgrammableRead-Only Memory,EPROM),电可擦除只读存储器(Electric Erasable ProgrammableRead-Only Memory,EEPROM)等。
在本实施例中,所述蓝牙模拟TX电路130的输出端与所述蓝牙模拟RX电路140的输入端连接,所述蓝牙模拟TX电路130的输入端与所述存储器的输出端连接。
其中,所述蓝牙模拟TX电路130用于将所述测试数据转换成蓝牙RF信号,并将所述蓝牙RF(Radio Frequency,射频)信号输入至所述蓝牙模拟RX电路140。
作为一种实施方式,所述蓝牙模拟TX电路130包括:蓝牙模拟TX模块131和DAC(Digital to analog converter,数字模拟转换器)控制模块132。
其中,所述蓝牙模拟TX模块131的输入端与所述DAC控制模块132的输出端连接;所述蓝牙模拟TX模块132的输出端与所述蓝牙模拟TX电路140连接;所述DAC控制模块132的输入端与所述存储器120连接。
在本实施例中,所述蓝牙模拟TX模块131用于将所述DAC控制模块132传递的100KB正弦波数据和100KB余弦波数据转换为蓝牙RF信号。
作为一种实施方式,所述蓝牙模拟TX模块131包括:DACI输入端和DACQ输入端;所述DACI输入端和所述DACQ输入端均与所述DAC控制模块132的输出端连接。
所述DAC控制模块132用于从所述存储器120读取所述正弦波数据和所述余弦波数据,并将所述正弦波数据发送至所述DACI输入端,将所述余弦波数据发送至所述DACQ输入端。
所述蓝牙模拟TX模块131还用于将所述正弦波数据和所述余弦波数据转换成蓝牙RF信号,并将所述蓝牙RF信号输入至所述蓝牙模拟TX电路140。
在本实施例中,所述蓝牙模拟RX电路140的输入端与所述蓝牙模拟TX模块131的输出端连接,所述蓝牙模拟RX电路140的输出端与所述存储器120连接。
其中,所述蓝牙模拟RX电路140用于将所述蓝牙RF信号转换成预设格式的数字信号,并将所述预设格式的数字信号发送至所述存储器120,以使所述存储器将所述预设格式的数字信号发送至所述主控电路110;进而使得所述主控电路110根据所述预设格式的数字信号确定所述预设格式的数字信号对应的数据特征;以及确定所述数据特征是否与预设数据特征匹配;若匹配,则判断蓝牙整个通路不存在制造缺陷。若不匹配,则判断蓝牙整个通路存在制造缺陷。
作为一种实施方式,所述蓝牙模拟RX电路140包括:蓝牙模拟RX模块141和ADC(Analog-to-Digital Converter,模数转换器)控制模块142。
其中,所述蓝牙模拟RX模块141的输入端与所述蓝牙模拟TX电路130的输出端连接,所述蓝牙模拟RX模块141的输出端与所述ADC控制模块142的输入端连接,所述ADC控制模块142的输出端与所述存储器120的第二输入端连接。
其中,所述蓝牙模拟RX模块141用于将所述蓝牙RF信号转换成预设格式的数字信号,并将所述预设格式的数字信号发送至所述ADC控制模块142;所述ADC控制模块142用于将所述预设格式的数字信号发送至所述存储器120。
作为一种实施方式,所述蓝牙模拟RX模块141包括:ADCI子模块和ADCQ子模块。
所述ADCI子模块和所述ADCQ子模块均与所述ADC控制模块142的输入端连接;所述ADCI子模块和所述ADCQ子模块均与所述蓝牙模拟TX电路130的蓝牙模拟TX模块131的输出端连接。
所述ADCI子模块用于将所述蓝牙RF信号转换成ADCI数字信号,并将所述ADCI数字信号发送至所述ADC控制模块142。
所述ADCQ子模块用于将所述蓝牙RF信号转换成ADCQ数字信号,并将所述ADCQ数字信号发送至所述ADC控制模块。
所述ADC控制模块142用于将所述ADCI数字信号和所述ADCQ数字信号发送至所述存储器120;以使所述主控电路110从所述存储器120读取所述ADCI数字信号和所述ADCQ数字信号;并确定所述ADCI数字信号和所述ADCQ数字信号对应的数据特征;以及确定所述数据特征是否与预设数据特征匹配;若匹配,则判断蓝牙整个通路不存在制造缺陷。反之,则判断蓝牙整个通路存在制造缺陷。
举例来说,由于DAC控制模块132输入蓝牙模拟TX模块131的是100K的正弦波,则ADC控制模块142采样回来的数据也是100K的正弦波,则预设数据特征就是分析数据中有多少个过零点即可以判断数据通路是否正确。如ADC控制模块142是用26M采样,数据源是100K的正弦波,采样10ms的数据长度,则一共有20个过零点。
作为一种实施方式,本发明实施例提供的蓝牙测试电路10还包括开关电路150,所述开关电路150的一端与所述蓝牙模拟TX电路130连接,所述开关电路150的另一端与所述蓝牙模拟RX电路140连接。
所述开关电路150用于在所述主控电路110的控制下闭合,以使所述蓝牙模拟TX电路130与所述蓝牙模拟RX电路140之间形成通路。
可选地,所述开关电路150包括一个或多个开关S。
需要说明的是,开关S的数量可以根据用户需求进行设置,在此,不作具体限定。
作为一种实施方式,本发明实施例提供的蓝牙测试电路10还包括蓝牙PLL电路160。
所述蓝牙PLL电路160分别与所述蓝牙模拟TX电路130和所述蓝牙模拟RX电路140连接。
所述蓝牙PLL电路160用于所述蓝牙模拟TX电路130提供TX频点和为所述蓝牙模拟RX电路140提供RX频点。
可选地,所述蓝牙PLL电路160包括PLL控制模块162和蓝牙PLL模块161,所述PLL模块162的输出端与所述蓝牙PLL模块161连接,所述PLL模块162的输入端与所述存储器120连接,所述蓝牙PLL模块161分别与所述蓝牙模拟TX电路130和所述蓝牙模拟RX电路140连接。
本发明实施例提供的蓝牙测试电路10,通过主控电路110发送100KB的正弦波数据和100KB余弦波数据至所述存储器120,通过DAC控制模块132从存储器120中读取100KB的正弦波数据和100KB余弦波数据,并将100KB的正弦波数据发送至蓝牙模拟TX模块131的DACI输入端和将100KB余弦波数据发送至蓝牙模拟TX模块131的DACQ输入端,通过蓝牙模拟TX模块131将100KB的正弦波数据和100KB余弦波数据转换为蓝牙RF信号,并通过开关电路150发送至蓝牙模拟RX电路140,通过蓝牙模拟RX模块141中的ADCI子模块将所述蓝牙RF信号转换成ADCI数字信号,并将所述ADCI数字信号发送至所述ADC控制模块142;以及通过所述ADCQ子模块将所述蓝牙RF信号转换成ADCQ数字信号,并将所述ADCQ数字信号发送至所述ADC控制模块142;通过所述ADC控制模块142将所述ADCI数字信号和所述ADCQ数字信号发送至所述存储器120,以使主控电路110从所述存储器120中读取所述ADCI数字信号和所述ADCQ数字信号;并根据ADCI数字信号和ADCQ数字信号确定所述ADCI数字信号和所述ADCQ数字信号对应的数据特征;以及确定所述数据特征是否与预设数据特征匹配;若匹配,则判断蓝牙整个通路不存在制造缺陷。从而使得蓝牙测试电路10无需要增加RF测试设备,便能够实现对蓝牙模拟的TX/RX电路的自动测试,使得测试更加简洁便利,进而有效提高了测试速度的同时还有效降低了测试成本。
第二实施例
对应于第一实施例中的蓝牙测试电路,图2示出了采用第一实施例所示的蓝牙测试电路一一对应的自动测试方法。请参阅图2,是本发明实施例提供的自动测试方法的流程图。下面将对图2所示的具体流程进行详细阐述。
步骤S101,主控电路发送预设数值的测试数据至存储器。
步骤S102,所述存储器将所述测试数据发送至蓝牙模拟TX电路。
步骤S103,所述蓝牙模拟TX电路将所述测试数据转换成蓝牙RF信号,并将所述蓝牙RF信号输入至蓝牙模拟RX电路。
步骤S104,所述蓝牙模拟RX电路将所述蓝牙RF信号转换成预设格式的数字信号,并将所述预设格式的数字信号发送至所述存储器,以使所述存储器将所述预设格式的数字信号发送至所述主控电路。
步骤S105,所述主控电路根据所述预设格式的数字信号确定所述预设格式的数字信号对应的数据特征。
步骤S106,所述主控电路确定所述数据特征是否与预设数据特征匹配。
步骤S107,若匹配,所述主控电路则判断蓝牙整个通路不存在制造缺陷。
步骤S108,若不配,则判断蓝牙整个通路存在制造缺陷。
其中,步骤S101至步骤S108的具体实施方式请参照第一实施例中的具体描述,在此,不再赘述。
以上所述仅为本发明的优选实施例而已,并不用于限制本发明,对于本领域的技术人员来说,本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。应注意到:相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项,因此,一旦某一项在一个附图中被定义,则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

Claims (10)

1.一种蓝牙测试电路,其特征在于,包括:蓝牙模拟TX电路、蓝牙模拟RX电路、主控电路和存储器;所述主控电路的输出端与所述存储器的第一输入端连接,所述存储器的输出端与所述蓝牙模拟TX电路的输入端连接,所述蓝牙模拟TX电路的输出端与所述蓝牙模拟RX电路的输入端连接,所述蓝牙模拟RX电路的输出端与所述存储器的第二输入端连接;
所述主控电路用于发送预设数值的测试数据至所述存储器;
所述存储器用于将所述测试数据发送至所述蓝牙模拟TX电路;
所述蓝牙模拟TX电路用于将所述测试数据转换成蓝牙RF信号,并将所述蓝牙RF信号输入至所述蓝牙模拟RX电路;
所述蓝牙模拟RX电路用于将所述蓝牙RF信号转换成预设格式的数字信号,并将所述预设格式的数字信号发送至所述存储器;
所述存储器还用于将所述预设格式的数字信号发送至所述主控电路;
所述主控电路还用于根据所述预设格式的数字信号确定所述预设格式的数字信号对应的数据特征;
以及还用于确定所述数据特征是否与预设数据特征匹配;
若匹配,则判断蓝牙整个通路不存在制造缺陷。
2.根据权利要求1所述的蓝牙测试电路,其特征在于,所述蓝牙模拟TX电路包括:蓝牙模拟TX模块和DAC控制模块,所述蓝牙模拟TX模块的输入端与所述DAC控制模块的输出端连接;所述蓝牙模拟TX模块的输出端与所述蓝牙模拟TX电路连接;所述DAC控制模块的输入端与所述存储器连接。
3.根据权利要求2所述的蓝牙测试电路,其特征在于,所测试数据包括正弦波数据和余弦波数据,所述蓝牙模拟TX模块包括:DACI输入端和DACQ输入端;所述DACI输入端和所述DACQ输入端均与所述DAC控制模块的输出端连接;
所述DAC控制模块用于从所述存储器读取所述正弦波数据和所述余弦波数据,并将所述正弦波数据发送至所述DACI输入端,将所述余弦波数据发送至所述DACQ输入端;
所述蓝牙模拟TX模块用于将所述正弦波数据和所述余弦波数据转换成蓝牙RF信号,并将所述蓝牙RF信号输入至所述蓝牙模拟TX电路。
4.根据权利要求1所述的蓝牙测试电路,其特征在于,所述蓝牙测试电路还包括:开关电路,所述开关电路的一端与所述蓝牙模拟TX电路连接,所述开关电路的另一端与所述蓝牙模拟RX电路连接;
所述开关电路用于在所述主控电路的控制下闭合,以使所述蓝牙模拟TX电路与所述蓝牙模拟RX电路之间形成通路。
5.根据权利要求1所述的蓝牙测试电路,其特征在于,所述蓝牙模拟RX电路包括:蓝牙模拟RX模块和ADC控制模块;所述蓝牙模拟RX模块的输入端与所述蓝牙模拟TX电路的输出端连接,所述蓝牙模拟RX模块的输出端与所述ADC控制模块的输入端连接,所述ADC控制模块的输出端与所述存储器的第二输入端连接;
所述蓝牙模拟RX模块用于将所述蓝牙RF信号转换成预设格式的数字信号,并将所述预设格式的数字信号发送至所述ADC控制模块;
所述ADC控制模块用于将所述预设格式的数字信号发送至所述存储器。
6.根据权利要求5所述的蓝牙测试电路,其特征在于,所测试数据包括正弦波数据和余弦波数据,所述蓝牙模拟RX模块包括:ADCI子模块和ADCQ子模块;所述ADCI子模块和所述ADCQ子模块均与所述ADC控制模块的输入端连接;
所述ADCI子模块用于将所述蓝牙RF信号转换成ADCI数字信号,并将所述ADCI数字信号发送至所述ADC控制模块;
所述ADCQ子模块用于将所述蓝牙RF信号转换成ADCQ数字信号,并将所述ADCQ数字信号发送至所述ADC控制模块;
所述ADC控制模块用于将所述ADCI数字信号和所述ADCQ数字信号发送至所述存储器;
所述主控电路还用于从所述存储器读取所述ADCI数字信号和所述ADCQ数字信号;
以及还用于确定所述ADCI数字信号和所述ADCQ数字信号对应的数据特征;
以及还用于确定所述数据特征是否与预设数据特征匹配;
若匹配,则判断蓝牙整个通路不存在制造缺陷。
7.根据权利要求1所述的蓝牙测试电路,其特征在于,所述主控电路包括:处理器,所述处理器与所述存储器连接。
8.根据权利要求1所述的蓝牙测试电路,其特征在于,所述蓝牙测试电路还包括:蓝牙PLL电路,所述蓝牙PLL电路分别与所述蓝牙模拟TX电路和所述蓝牙模拟RX电路连接;
所述蓝牙PLL电路用于为所述蓝牙模拟TX电路提供TX频点和为所述蓝牙模拟RX电路提供RX频点。
9.根据权利要求8所述的蓝牙测试电路,其特征在于,所述蓝牙PLL电路包括:PLL控制模块和蓝牙PLL模块,所述PLL模块的输出端与所述蓝牙PLL模块连接,所述PLL模块的输入端与所述存储器连接,所述蓝牙PLL模块分别与所述蓝牙模拟TX电路和所述蓝牙模拟RX电路连接。
10.一种自动测试方法,应用于如权利要求8-9任意一项所述的蓝牙测试电路,其特征在于,所述方法包括:
主控电路发送预设数值的测试数据至存储器;
所述存储器将所述测试数据发送至蓝牙模拟TX电路;
所述蓝牙模拟TX电路将所述测试数据转换成蓝牙RF信号,并将所述蓝牙RF信号输入至蓝牙模拟RX电路;
所述蓝牙模拟RX电路将所述蓝牙RF信号转换成预设格式的数字信号,并将所述预设格式的数字信号发送至所述存储器,以使所述存储器将所述预设格式的数字信号发送至所述主控电路;
所述主控电路根据所述预设格式的数字信号确定所述预设格式的数字信号对应的数据特征;
所述主控电路确定所述数据特征是否与预设数据特征匹配;
若匹配,所述主控电路则判断蓝牙整个通路不存在制造缺陷。
CN201810768083.7A 2018-07-12 2018-07-12 蓝牙测试电路及自动测试方法 Pending CN109120352A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810768083.7A CN109120352A (zh) 2018-07-12 2018-07-12 蓝牙测试电路及自动测试方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810768083.7A CN109120352A (zh) 2018-07-12 2018-07-12 蓝牙测试电路及自动测试方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN109120352A true CN109120352A (zh) 2019-01-01

Family

ID=64862127

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201810768083.7A Pending CN109120352A (zh) 2018-07-12 2018-07-12 蓝牙测试电路及自动测试方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN109120352A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112135287A (zh) * 2020-10-30 2020-12-25 展讯半导体(成都)有限公司 蓝牙数据传输速率测试方法、系统、电子设备及存储介质

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102207535A (zh) * 2010-03-30 2011-10-05 上海摩波彼克半导体有限公司 对含adc和dac的模拟基带芯片自动测试的电路结构及方法
US20120252382A1 (en) * 2007-07-31 2012-10-04 Texas Instruments Incorporated Predistortion calibration and built in self testing of a radio frequency power amplifier using subharmonic mixing
US20140359384A1 (en) * 2013-05-30 2014-12-04 Spreadtrum Communications (Shanghai) Co., Ltd. Communication device, test system and test method thereof
CN204539155U (zh) * 2015-03-31 2015-08-05 上海与德通讯技术有限公司 一种蓝牙射频电路的测试装置
CN106841980A (zh) * 2017-01-10 2017-06-13 芯原微电子(上海)有限公司 一种蓝牙集成电路测试系统和测试方法
CN108039920A (zh) * 2017-11-10 2018-05-15 芯海科技(深圳)股份有限公司 一种ble设备的板级射频性能测试方法
CN108254666A (zh) * 2017-12-25 2018-07-06 建荣半导体(深圳)有限公司 一种针对蓝牙系统级的晶圆测试装置及方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20120252382A1 (en) * 2007-07-31 2012-10-04 Texas Instruments Incorporated Predistortion calibration and built in self testing of a radio frequency power amplifier using subharmonic mixing
CN102207535A (zh) * 2010-03-30 2011-10-05 上海摩波彼克半导体有限公司 对含adc和dac的模拟基带芯片自动测试的电路结构及方法
US20140359384A1 (en) * 2013-05-30 2014-12-04 Spreadtrum Communications (Shanghai) Co., Ltd. Communication device, test system and test method thereof
CN204539155U (zh) * 2015-03-31 2015-08-05 上海与德通讯技术有限公司 一种蓝牙射频电路的测试装置
CN106841980A (zh) * 2017-01-10 2017-06-13 芯原微电子(上海)有限公司 一种蓝牙集成电路测试系统和测试方法
CN108039920A (zh) * 2017-11-10 2018-05-15 芯海科技(深圳)股份有限公司 一种ble设备的板级射频性能测试方法
CN108254666A (zh) * 2017-12-25 2018-07-06 建荣半导体(深圳)有限公司 一种针对蓝牙系统级的晶圆测试装置及方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112135287A (zh) * 2020-10-30 2020-12-25 展讯半导体(成都)有限公司 蓝牙数据传输速率测试方法、系统、电子设备及存储介质
CN112135287B (zh) * 2020-10-30 2023-02-17 展讯半导体(成都)有限公司 蓝牙数据传输速率测试方法、系统、电子设备及存储介质

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN105116317B (zh) 集成电路测试系统与方法
CN101587172B (zh) 一种二次电池测试系统
CN103901388B (zh) 并行检测终端装置及检测方法
CN101174907B (zh) 一种射频单板的测试装置
CN109709474A (zh) 一种射频混合信号集成电路测试系统与测试方法
CN202794491U (zh) 测试设备自动校准仪及校准系统
CN103487695A (zh) 基于模拟量输入合并单元的检测装置
CN104198918A (zh) 一种用于高速高精度adc芯片小批量生产的测试系统
CN102749604A (zh) 测试设备自动校准仪、校准系统及校准方法
CN204216882U (zh) 一种用于高速高精度adc芯片小批量生产的测试系统
CN103777131A (zh) 集成电路测试系统及测试方法
CN101839931A (zh) 一种交流信号测量装置、系统和方法
CN109120264A (zh) 一种吉赫兹模数转换器自动测试系统及方法
CN109120352A (zh) 蓝牙测试电路及自动测试方法
CN103852733B (zh) 一种led电源性能分析装置及方法
CN104614659A (zh) 自动化测试系统和方法
CN105606922A (zh) 一种基于LabVIEW多变频器老化测试方法及系统
WO2012009477A1 (en) Methods and apparatus for providing a built-in self test
CN204405824U (zh) 基于标准罗氏线圈的电子式电流互感器校验系统
CN203433064U (zh) 基于模拟量输入合并单元的检测装置
CN105606984B (zh) 一种半导体晶圆测试的多参数并行测试系统及方法
CN205427070U (zh) 一种基于LabVIEW多变频器老化测试系统
CN105974301A (zh) 芯片测试系统
CN109270440A (zh) 一种滤波器自动测试装置及测试方法
CN114884511A (zh) 一种通用的模数转换器测试装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
TA01 Transfer of patent application right
TA01 Transfer of patent application right

Effective date of registration: 20190514

Address after: 518000 Guangdong Province Nanshan District Xili Street Liuxian Avenue and Pingshan Road Intersection of Yungu Phase II 9 Building 303

Applicant after: Shenzhen Zhongke blue news Technology Co., Ltd.

Address before: Room 105-46393, No. 6 Baohua Road, Hengqin New District, Zhuhai City, Guangdong Province

Applicant before: Zhuhai Zhongke Blue Technology Co., Ltd.

CB02 Change of applicant information
CB02 Change of applicant information

Address after: 518000 2102, building a, wisdom Plaza, Qiaoxiang Road, Gaofa community, Shahe street, Nanshan District, Shenzhen City, Guangdong Province

Applicant after: Shenzhen Zhongke Lanxun Technology Co., Ltd

Address before: 518000 Guangdong Province Nanshan District Xili Street Liuxian Avenue and Pingshan Road Intersection of Yungu Phase II 9 Building 303

Applicant before: Shenzhen Zhongke blue news Technology Co., Ltd.

WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20190101