CN109120265A - 一种信号的校正方法、装置、芯片和存储介质 - Google Patents

一种信号的校正方法、装置、芯片和存储介质 Download PDF

Info

Publication number
CN109120265A
CN109120265A CN201810885146.7A CN201810885146A CN109120265A CN 109120265 A CN109120265 A CN 109120265A CN 201810885146 A CN201810885146 A CN 201810885146A CN 109120265 A CN109120265 A CN 109120265A
Authority
CN
China
Prior art keywords
matrix
signal
adjusting
default
adjusted
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201810885146.7A
Other languages
English (en)
Other versions
CN109120265B (zh
Inventor
夏冰
陆鹏
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Zhangjiagang Kangdexin Optronics Material Co Ltd
Original Assignee
SHANGHAI WEI ZHOU MICROELECTRONICS TECHNOLOGY Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by SHANGHAI WEI ZHOU MICROELECTRONICS TECHNOLOGY Co Ltd filed Critical SHANGHAI WEI ZHOU MICROELECTRONICS TECHNOLOGY Co Ltd
Priority to CN201810885146.7A priority Critical patent/CN109120265B/zh
Priority to PCT/CN2018/117412 priority patent/WO2020029478A1/zh
Publication of CN109120265A publication Critical patent/CN109120265A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN109120265B publication Critical patent/CN109120265B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/10Calibration or testing
    • H03M1/1009Calibration

Abstract

本发明实施例公开了一种信号的校正方法、装置、芯片和存储介质。该方法包括:基于预设失调矩阵、调节矩阵和标准正交测试信号构建失配模型;在对预设正交测试信号进行调制后,以镜像信号的信号强度减小的方向作为调节方向,对目标电路的参数进行调节;基于逐次逼近法和所述预设失调矩阵的逆矩阵确定最佳调节矩阵,将与所述最佳调节矩阵对应的所述目标电路的当前参数作为目标参数。通过采用上述技术方案,当目标参数配置完成后,可一直保持该参数的配置,实现了在芯片初始化时一次运行校正来确定配置并保持,在后续使用过程中,避免了I/Q不匹配的影响。

Description

一种信号的校正方法、装置、芯片和存储介质
技术领域
本发明实施例涉及射频技术领域,尤其涉及一种信号的校正方法、装置、芯片和存储介质。
背景技术
社会及科技发展至今,便携式设备要求无线收发芯片具有高集成,低成本,和高的鲁棒性。一方面,先进的CMOS(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor,互补金属氧化物半导体)工艺使得大规模集成成为可能,但是模拟电路器件失配和模拟版图的日趋复杂性导致的I/Q(In-phase/Quadrature,同相正交)失配及载波泄露越来越严重;另一方面,模拟电路有限空间的高密度集成,对发射机的发射频谱模板要求更为严格,要求发射具有良好的低失真和抗干扰性能。
目前,数字辅助校正技术通过强有力的数字处理器对模拟电路的失配等非理想因素进行补偿,证明是非常有效的校正方法。但是这种校正技术一般都需要手动对芯片进行校正。当芯片需要大规模量产时,如果采用对所有芯片依次手动进行数字校正的方式将浪费大量的人力物力资源,费时费力。
发明内容
本发明实施例提供一种信号的校正方法、装置、芯片和存储介质,以实现对高频镜像信号进行抑制。
第一方面,本发明实施例提供了信号的校正,该方法包括:
基于预设失调矩阵、调节矩阵和标准正交测试信号构建失配模型;
在对预设正交测试信号进行调制后,以镜像信号的信号强度减小的方向作为调节方向,对目标电路的参数进行调节;
基于逐次逼近法和所述预设失调矩阵的逆矩阵确定最佳调节矩阵,将与所述最佳调节矩阵对应的所述目标电路的当前参数作为目标参数。
第二方面,本发明实施例还提供了一种信号的校正装置,该装置包括:
失配模型构建模块,用于基于预设失调矩阵、调节矩阵和标准正交测试信号构建失配模型;
参数调节模块,用于在对预设正交测试信号进行调制后,以镜像信号的信号强度减小的方向作为调节方向,对目标电路的参数进行调节;
目标参数确定模块,用于基于逐次逼近法和所述预设失调矩阵的逆矩阵确定最佳调节矩阵,将与所述最佳调节矩阵对应的所述目标电路的当前参数作为目标参数。
第三方面,本发明实施例还提供了一种芯片,该芯片包括:
一个或多个处理器;
存储装置,用于存储一个或多个程序,
当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行,使得所述一个或多个处理器实现本发明任意实施例所提供的信号的校正方法。
第四方面,本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时实现本发明任意实施例所提供的信号的校正方法。
本发明实施例的方案,通过基于预设失调矩阵、调节矩阵和标准正交测试信号构建失配模型,并在对预设正交测试信号进行调制后,以镜像信号的信号强度减小的方向作为调节方向,对目标电路的参数进行调节;基于逐次逼近法和预设失调矩阵的逆矩阵确定最佳调节矩阵,将与最佳调节矩阵对应的目标电路的当前参数作为目标参数。通过采用上述技术方案,当目标参数配置完成后,可一直保持该参数的配置,实现了在芯片初始化时一次运行校正来确定电路的配置参数并对该参数进行保持,从而在芯片后续使用的过程中,避免I/Q信号不匹配所造成的影响。
附图说明
图1a为本发明实施例提供的一种混合校准回路的结构框图;
图1b为本发明实施例提供的一种包络检测器的电路示意图;
图1c为本发明实施例提供的一种校正缓冲器示意图;
图1d为本发明实施例提供的一种检测器的电路示意图;
图2为本发明实施例一提供的一种信号的校正方法的流程图;
图3为本发明实施例一提供的一种本振泄露消除调制器的电路示意图;
图4为本发明实施例二提供的一种信号的校正装置的结构框图;
图5为本发明实施例三提供的一种芯片的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是,此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明,而非对本发明的限定。另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。
为了清楚、明白的描述本发明各实施例,首先将本发明的实现原理进行简单介绍。
在直接变频发射机中,两路I/Q(In-phase/Quadrature,同相正交)模拟基带信号(fIF)的幅值相同、相位差为90°。无论模拟基带信号还是本振路径存在失配时,对I/Q信号进行调制后,在有用信号(fLO+fIF)中会出现不期望的镜像信号(fLO-fIF)。为了消除镜像信号的影响,本发明实施例提供的技术方案首先构建了初始失配模型,通过该模型建立了理想I/Q信号与失配I/Q信号的关系,通过该关系可确定后续进行信号校正的策略。其中,初始失配模型的表达式为失配矩阵MCM与理想信号的乘积,公式如下:
其中,失配矩阵MCM为在该矩阵中假设幅度失配值和相位失配值分别为a和那么,抑制较高频率镜像信号的过程便是尽量消除α和的过程。为了消除α和的影响,本发明实施例提供的技术方案主要是通过构建调节矩阵PCM,通过调节目标电路的各个参数,使得PCM逐次逼近于MCM的逆矩阵,即当MCM与PCM的乘积为单位矩阵时,则消除了预设失配矩阵中的α和的影响,抑制了高频镜像信号。
本发明实施例的技术方案中,I/Q校正可分为两个校正阶段,依次为粗调阶段和精调阶段。下面先对粗调阶段进行简单介绍。
图1a为本发明实施例提供的一种混合校准回路的结构框图。如图1a所示,粗调校正在模拟域Analog内实现,数字基带产生正交测试I/Q信号,通过与本地振荡器(LOCALOSCILLATOR,LO)相乘调制到射频(Radio Frequency,RF)信号。这个信号并不送到功率放大器,而是经过一个包络检测器(EnvDet)110后回送到接收机的模拟基带部分,即接收机滤波器120的输入端。其中,对信号进行包络检波处理可通过图1b提供的包络检测器来实现。通过该包络检波器用于在粗调阶段获取RF信号的平方,包络检测器的输入VinLO包括有用信号(频率为fLO+fIF)和镜像信号(频率为fLO-fIF)。
其中,VRF=VSsin2Π(fLO+fIF)t+Vimgsin2Π(fLO-fIF)t,其输出摆幅与镜像信号的幅度成正比:
具体的,连续不断产生的频率为fIF的预设正交测试信号,该预设正交测试信号被调制到频率fRF±fIF。包络检测器110变换镜像分量fRF-fIF到2fIF并反馈到接收机的模拟基带(ABB)。之后,镜像信号幅度被模数转换器数字化并用于引导模拟校正缓冲器(analogcalibration buffer)的调试,通过调节校正缓冲器的参数,直至镜像信号的强度到最小值。此时,校正缓冲器130的配置参数则为粗调模块所能达到的目标参数,在后续调节过程中,校正缓冲器130的配置参数保持不变。图1c为本发明实施例提供的一种校正缓冲器示意图,如图1c所示,I路与Q路都采用源级跟随器的结构,此外,I路还集成了一个4-bit(比特)可调电流源用于相位调节。
下面对精调阶段进行简单介绍:
在精调阶段,正交信号先在数字基带(DBB)中进行预失真处理,然后传输到发射机路径。为了精确地消除信号路径中的I/Q失配,先通过自校正算法推得一个最佳调节矩阵(PCM)。在这个阶段,利用了与粗调相同的反馈回路,除了把图1a中的包络检测器(EnvDet)110切换到峰值检测器(PekDet)140之外,校正缓冲器130则仍然保持粗调阶段生成的配置。下面实施例的内容主要对粗调阶段进行详细介绍。其中,对信号进行峰值检测可通过图1d所示的峰值检测器来实现,以对输入信号的峰值进行提取,产生输出Vout为输入信号Vin+和Vin-的峰值。
实施例一
图2为本发明实施例一提供的一种信号的校正方法的流程图,该方法可以由信号的校正装置来执行,该装置可以通过软件和/或硬件的方式实现,该装置可集成于一个ISM频段收发机中,该收发机包含一个直接变频发射机和一个低中频接收机。最大程度地利用收发机模块,通过芯片出厂初始化时的一次性校正可完成对I/Q失配进行校正。如图2所示,该方法包括:
S110、基于预设失调矩阵、调节矩阵和标准正交测试信号构建失配模型。
其中,标准正交测试信号的频率可以为1.536MHz,数模转换器(DAC)工作频率为122.88MHz,因此测试信号每个周期有80个采样点。测试信号便是由这80个离散的输出采样点连接构成的一个连续正弦波,其幅值被预先定义在一个查找表(LUT)中。其中,Iorg=cosωt,Qorg=sinωt。
其中,预设失调矩阵为MCM,调节矩阵为PCM,标准正交测试信号所构建的失配模型为:其中,为校验矩阵,用于计算校正方向。
本实施例中,基于上述失配模型可知,在理想状态下如果PCM为MCM的逆矩阵,则可消除I/Q不匹配。据此,为了消除I/Q不匹配,本实施例通过调节目标电路的参数,可使得PCM不断刷新,以逐次逼近MCM的逆矩阵。
具体的,本实施例中对PCM不断刷新的过程主要是对PCM中的失配参数α和进行不断更新的过程。其中,PCM与失配参数和调节次数的映射关系如下:
失配参数α和每次刷新后,可对预设失配模型中的预设失调矩阵MCM进行更新,在后续迭代的过程中,可将上一次更新后的预设失调矩阵作为本次新的预设失调矩阵,根据新的预设失调矩阵、调节矩阵对应的各个初始值和标准正交测试信号,计算各个初始值对应的校验矩阵。
其中,调节矩阵对应的各个初始值是在迭代开始预设的4对测试信号,分别为将MCM与上述每个初始值计算乘积后,将每次计算出的乘积与标准正交测试信号相乘,可得到4对校验信号。
S120、在对预设正交测试信号进行调制后,以镜像信号的信号强度减小的方向作为调节方向,对目标电路的参数进行调节。
S130、基于逐次逼近法和预设失调矩阵的逆矩阵确定最佳调节矩阵,将与最佳调节矩阵对应的目标电路的当前参数作为目标参数。
其中,逐次逼近法的目的是通过对调节矩阵进行迭代处理,使调节矩阵逐步逼近预设失调矩阵的逆矩阵。示例性的,步骤S130具体可包括:
将上一次更新后的预设失调矩阵作为本次新的预设失调矩阵,根据新的预设失调矩阵、调节矩阵对应的各个初始值和标准正交测试信号,计算各个初始值对应的校验矩阵;计算各个校验矩阵对应的信号强度、根据各信号强度对调节矩阵中的失配参数进行调节;其中,校验矩阵对应的信号强度为两个正交校正向量振幅的平方之和。
其中,由于调节矩阵存在4对初始值,则校验矩阵包括与调节矩阵的第一初始值对应的第一校验矩阵,与调节矩阵的第二初始值对应的第二校验矩阵,与调节矩阵的第三初始值对应的第三校验矩阵,与调节矩阵的第四初始值对应的第四校验矩阵。
相应的,计算各个校验矩阵对应的信号强度,根据各信号强度对调节矩阵中的失配参数进行调节,包括:
分别计算第一校验矩阵、第二校验矩阵、第三校验矩阵和第四校验矩阵对应的第一信号强度,第二信号强度、第三信号强度和第四信号强度,
具体的,4对校验信号及对应的信号强度值Power(Ical 2+Qcal 2)如下表所示:
在各校验信号对应的信号强度确定后,可计算第一信号强度与第二信号强度的第一差值,以及第三信号强度与第四信号强度的第二差值;
具体的,基于上述表格,可计算出据此可知,P1与P2之间第一差值的符号仅与失配幅度(α)相关,而P4与P3之间的第二差值的符号仅与失配相位相关(α>0)。
进一步的,可以第一差值和第二差值为参数,调用符号函数,并根据上次调节得到的幅值和相位,确定本次调节的幅值和相位;
其中,当调节次数为1时,上次调节的幅值和相位分别为预设初始幅值和预设初始相位,示例性的,初始幅值可以为a(0)=101/20,初始相位可以为
具体的,可通过如下迭代公式,确定本次调节的幅值和相位:
其中,a(n-1)为上次调节得到的幅值;为上次调节得到的相位;a(n)为本次调节得到的幅值;为本次调节得到的相位;(P1-P2)为第一差值;(P3-P4)为第二差值;K1和K2均为步进系数。
示例性的,对于K1和K2的值可在开始迭代阶段设置较大的数值,随着逼近收敛而逐渐变小,例如每经过8次迭代之后缩变为上次迭代时的1/4,而整个流程会重复这样的缩变3次。
示例性的,基于构建的失配模型,可当迭代后的校验矩阵与输入的标准正交测试信号的偏差达到设定条件时,则停止迭代,并将得到校验信号所对应的调节矩阵作为最佳调节矩阵。
示例性的,也可通过设置迭代次数来作为迭代停止的条件,即当迭代次数达到设定阈值时,该阈值为经验值,例如8次,可将得到的调节矩阵作为最佳调节矩阵。
在最佳调节矩阵确定后,可将与该最佳调节矩阵对应的目标电路的当前参数作为目标参数。
此外,除I/Q不匹配之外,本振泄漏也是传输通道中不期望出现的信号频带,发生在混频器本振频率fLO附近。本振泄露主要由两方面因素产生,一方面是上变频混频器输入端的直流偏移(VCM,off),另一方面是调制电路中的本振寄生馈通(γcosωLO t)。通过在上变频前注入一个合适的直流偏移(VCM,inj),若满足VCM,off-VCM,inj+γ=0,即可补偿上述本振泄露,如下所示:
Vout,calibrated=(VCM,off-VCM,inj)ALOcosωLOt+γALOcosωLOt
=(VCM,off-VCM,inj+γ)ALOcosωLOt
图3为本发明实施例一提供的一种本振泄露消除调制器的电路示意图。如图3所示,输入级为折叠跨导器结构,将差分交流输入电压转换为差分电流,再经本振开关管的调制后转换为电压。其中电流输出数模转换器(DAC)用于注入直流偏移电流,由4-bit控制字调节,而这4-bit控制字在数字基带(DBB)中由逐次逼近寄存器(SAR)法获得。通过对图3所示的本振泄露消除调制器的输入信号Vin是IF(intermediate frequency,中频)信号,输出是调制了LO的RF信号Vout,RF。本应用在中间加入了DAC,用于注入直流偏移电流以对本振泄露进行补偿。因此,通过采用如图3所述的本振泄露消除器,可使得VCM,off-VCM,inj+γ=0,实现对本振泄露进行补偿。
本发明实施例提供了信号的校正方法,通过基于预设失调矩阵、调节矩阵和标准正交测试信号构建失配模型,并在对预设正交测试信号进行调制后,以镜像信号的信号强度减小的方向作为调节方向,对目标电路的参数进行调节;基于逐次逼近法和预设失调矩阵的逆矩阵确定最佳调节矩阵,将与最佳调节矩阵对应的目标电路的当前参数作为目标参数。通过采用上述技术方案,当目标参数配置完成后,可一直保持该参数的配置,实现了在芯片初始化时一次运行校正来确定配置并保持,在后续使用过程中,避免了I/Q不匹配的影响。
实施例二
图4为本发明实施例二提供的一种信号的校正装置的结构框图,如图4所示,该装置包括:失配模型构建模块210、参数调节模块220和目标参数确定模块230。其中,
失配模型构建模块210,用于基于预设失调矩阵、调节矩阵和标准正交测试信号构建失配模型;
参数调节模块220,用于在对预设正交测试信号进行调制后,以镜像信号的信号强度减小的方向作为调节方向,对目标电路的参数进行调节;
目标参数确定模块230,用于基于逐次逼近法和所述预设失调矩阵的逆矩阵确定最佳调节矩阵,将与所述最佳调节矩阵对应的所述目标电路的当前参数作为目标参数。
本发明实施例提供了信号的校正装置,通过基于预设失调矩阵、调节矩阵和标准正交测试信号构建失配模型,并在对预设正交测试信号进行调制后,以镜像信号的信号强度减小的方向作为调节方向,对目标电路的参数进行调节;基于逐次逼近法和预设失调矩阵的逆矩阵确定最佳调节矩阵,将与最佳调节矩阵对应的目标电路的当前参数作为目标参数。通过采用上述技术方案,当目标参数配置完成后,可一直保持该参数的配置,实现了在芯片初始化时一次运行校正来确定配置并保持,在后续使用过程中,避免了I/Q不匹配所造成的影响。
在上述实施例的基础上,该装置还包括:
第一更新模块,用于对所述预设失配模型中的预设失调矩阵进行更新;
相应的,参数调节模块220包括:
校验矩阵计算单元,用于将上一次更新后的预设失调矩阵作为本次新的预设失调矩阵,根据新的预设失调矩阵、所述调节矩阵对应的各个初始值和标准正交测试信号,计算各个初始值对应的校验矩阵;
参数调节单元,用于计算各个校验矩阵对应的信号强度、根据各信号强度对所述调节矩阵中的失配参数进行调节;其中,校验矩阵对应的信号强度为两个正交校正向量振幅的平方之和;
目标参数确定单元,用于将与所述最佳调节矩阵对应的所述目标电路的当前参数作为目标参数。
在上述实施例的基础上,所述校验矩阵包括与所述调节矩阵的第一初始值对应的第一校验矩阵,与所述调节矩阵的第二初始值对应的第二校验矩阵,与所述调节矩阵的第三初始值对应的第三校验矩阵,与所述调节矩阵的第四初始值对应的第四校验矩阵;
相应的,所述目标参数确定单元,包括:
强度计算子单元,用于分别计算第一校验矩阵、第二校验矩阵、第三校验矩阵和第四校验矩阵对应的第一信号强度,第二信号强度、第三信号强度和第四信号强度;
差值计算子单元,用于计算第一信号强度与第二信号强度的第一差值,以及第三信号强度与第四信号强度的第二差值;
失配参数确定子单元,用于以所述第一差值和所述第二差值为参数,调用符号函数,并根据上次调节得到的幅值和相位,确定本次调节的幅值和相位;
其中,当调节次数为1时,所述上次调节的幅值和相位分别为预设初始幅值和预设初始相位。
在上述实施例的基础上,所述失配参数确定子单元,具体用于:
按照如下公式,确定本次调节的幅值和相位:
其中,a(n-1)为上次调节得到的幅值;为上次调节得到的相位;a(n)为本次调节得到的幅值;为本次调节得到的相位;(P1-P2)为第一差值;(P3-P4)为第二差值;K1和K2均为步进系数。
在上述实施例的基础上,所述校验矩阵计算单元,具体用于:
按照如下公式,计算所述各个初始值对应的校验矩阵:
其中,为校验矩阵;为每次迭代后新的预设失调矩阵;标准同向正交测试信号;PCM2×2为调节矩阵,所述调节矩阵存在对应的预设初始值;所述各个初始值包括
在上述实施例的基础上,还包括:
强度调节模块,用于在以镜像信号的信号强度减小的方向作为调节方向,对目标电路的参数进行调节之前,对完成调制的预设正交测试信号进行包络检波处理,以使镜像信号的幅度达到设定条件。
在上述实施例的基础上,所述调节矩阵为:
其中,n为调节次数,a(n)为本次调节得到的幅值;为本次调节得到的相位。
本发明实施例提供的信号的校正装置可执行本发明任意实施例所提供的信号的校正方法,具备执行方法相应的功能模块和有益效果。未在上述实施例中详尽描述的技术细节,可参见本发明任意实施例所提供的信号的校正方法。
实施例三
图5为本发明实施例三提供的一种芯片的结构示意图。图5示出了适于用来实现本发明实施方式的示例性芯片12的框图。图5显示的芯片12仅仅是一个示例,不应对本发明实施例的功能和使用范围带来任何限制。
如图5所示,芯片12以通用计算芯片的形式表现。芯片12的组件可以包括但不限于:一个或者多个处理器或者处理单元16,系统存储器28,连接不同系统组件(包括系统存储器28和处理单元16)的总线18。
总线18表示几类总线结构中的一种或多种,包括存储器总线或者存储器控制器,外围总线,图形加速端口,处理器或者使用多种总线结构中的任意总线结构的局域总线。举例来说,这些体系结构包括但不限于工业标准体系结构(ISA)总线,微通道体系结构(MAC)总线,增强型ISA总线、视频电子标准协会(VESA)局域总线以及外围组件互连(PCI)总线。
芯片12典型地包括多种计算机系统可读介质。这些介质可以是任何能够被芯片12访问的可用介质,包括易失性和非易失性介质,可移动的和不可移动的介质。
系统存储器28可以包括易失性存储器形式的计算机系统可读介质,例如随机存取存储器(RAM)30和/或高速缓存存储器32。芯片12可以进一步包括其它可移动/不可移动的、易失性/非易失性计算机系统存储介质。仅作为举例,存储系统34可以用于读写不可移动的、非易失性磁介质(图5未显示,通常称为“硬盘驱动器”)。尽管图5中未示出,可以提供用于对可移动非易失性磁盘(例如“软盘”)读写的磁盘驱动器,以及对可移动非易失性光盘(例如CD-ROM,DVD-ROM或者其它光介质)读写的光盘驱动器。在这些情况下,每个驱动器可以通过一个或者多个数据介质接口与总线18相连。存储器28可以包括至少一个程序产品,该程序产品具有一组(例如至少一个)程序模块,这些程序模块被配置以执行本发明各实施例的功能。
具有一组(至少一个)程序模块42的程序/实用工具40,可以存储在例如存储器28中,这样的程序模块42包括但不限于操作系统、一个或者多个应用程序、其它程序模块以及程序数据,这些示例中的每一个或某种组合中可能包括网络环境的实现。程序模块42通常执行本发明所描述的实施例中的功能和/或方法。
芯片12也可以与一个或多个外部芯片14(例如键盘、指向芯片、显示器24等)通信,还可与一个或者多个使得用户能与该芯片12交互的芯片通信,和/或与使得该芯片12能与一个或多个其它计算芯片进行通信的任何芯片(例如网卡,调制解调器等等)通信。这种通信可以通过输入/输出(I/O)接口22进行。并且,芯片12还可以通过网络适配器20与一个或者多个网络(例如局域网(LAN),广域网(WAN)和/或公共网络,例如因特网)通信。如图所示,网络适配器20通过总线18与芯片12的其它模块通信。应当明白,尽管图中未示出,可以结合芯片12使用其它硬件和/或软件模块,包括但不限于:微代码、芯片驱动器、冗余处理单元、外部磁盘驱动阵列、RAID系统、磁带驱动器以及数据备份存储系统等。
处理单元16通过运行存储在系统存储器28中的程序,从而执行各种功能应用以及数据处理,例如实现本发明任意实施例所提供的信号的校正方法,该方法包括:
基于预设失调矩阵、调节矩阵和标准正交测试信号构建失配模型;
在对预设正交测试信号进行调制后,以镜像信号的信号强度减小的方向作为调节方向,对目标电路的参数进行调节;
基于逐次逼近法和所述预设失调矩阵的逆矩阵确定最佳调节矩阵,将与所述最佳调节矩阵对应的所述目标电路的当前参数作为目标参数。
实施例四
本发明实施例四还提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时实现本发明任意实施例所提供的信号的校正方法,该方法包括:
基于预设失调矩阵、调节矩阵和标准正交测试信号构建失配模型;
在对预设正交测试信号进行调制后,以镜像信号的信号强度减小的方向作为调节方向,对目标电路的参数进行调节;
基于逐次逼近法和所述预设失调矩阵的逆矩阵确定最佳调节矩阵,将与所述最佳调节矩阵对应的所述目标电路的当前参数作为目标参数。
本发明实施例的计算机存储介质,可以采用一个或多个计算机可读的介质的任意组合。计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质。计算机可读存储介质例如可以是——但不限于——电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件,或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括:具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。在本文件中,计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质,该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。
计算机可读的信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号,其中承载了计算机可读的程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式,包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。计算机可读的信号介质还可以是计算机可读存储介质以外的任何计算机可读介质,该计算机可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。
计算机可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输,包括——但不限于无线、电线、光缆、RF等等,或者上述的任意合适的组合。
可以以一种或多种程序设计语言或其组合来编写用于执行本发明操作的计算机程序代码,所述程序设计语言包括面向对象的程序设计语言—诸如Java、Smalltalk、C++,还包括常规的过程式程序设计语言—诸如”C”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算机上执行、部分地在用户计算机上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算机上部分在远程计算机上执行、或者完全在远程计算机或服务器上执行。在涉及远程计算机的情形中,远程计算机可以通过任意种类的网络——包括局域网(LAN)或广域网(WAN)—连接到用户计算机,或者,可以连接到外部计算机(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。
注意,上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解,本发明不限于这里所述的特定实施例,对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此,虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明,但是本发明不仅仅限于以上实施例,在不脱离本发明构思的情况下,还可以包括更多其他等效实施例,而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (10)

1.一种信号的校正方法,其特征在于,包括:
基于预设失调矩阵、调节矩阵和标准正交测试信号构建失配模型;
在对预设正交测试信号进行调制后,以镜像信号的信号强度减小的方向作为调节方向,对目标电路的参数进行调节;
基于逐次逼近法和所述预设失调矩阵的逆矩阵确定最佳调节矩阵,将与所述最佳调节矩阵对应的所述目标电路的当前参数作为目标参数。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在每确定出一次调节矩阵之后,所述方法还包括:
对所述预设失配模型中的预设失调矩阵进行更新;
相应的,基于逐次逼近法和所述预设失调矩阵的逆矩阵确定最佳调节矩阵,包括:
将上一次更新后的预设失调矩阵作为本次新的预设失调矩阵,根据新的预设失调矩阵、所述调节矩阵对应的各个初始值和标准正交测试信号,计算各个初始值对应的校验矩阵;
计算各个校验矩阵对应的信号强度、根据各信号强度对所述调节矩阵中的失配参数进行调节;其中,校验矩阵对应的信号强度为两个正交校正向量振幅的平方之和。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述校验矩阵包括与所述调节矩阵的第一初始值对应的第一校验矩阵,与所述调节矩阵的第二初始值对应的第二校验矩阵,与所述调节矩阵的第三初始值对应的第三校验矩阵,与所述调节矩阵的第四初始值对应的第四校验矩阵;
相应的,计算各个校验矩阵对应的信号强度,根据各信号强度对调节矩阵中的失配参数进行调节,包括:
分别计算第一校验矩阵、第二校验矩阵、第三校验矩阵和第四校验矩阵对应的第一信号强度,第二信号强度、第三信号强度和第四信号强度;
计算第一信号强度与第二信号强度的第一差值,以及第三信号强度与第四信号强度的第二差值;
以所述第一差值和所述第二差值为参数,调用符号函数,并根据上次调节得到的幅值和相位,确定本次调节的幅值和相位;
其中,当调节次数为1时,所述上次调节的幅值和相位分别为预设初始幅值和预设初始相位。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,以所述第一差值和所述第二差值为参数,调用符号函数,并根据上次调节得到的幅值和相位,确定本次调节的幅值和相位,包括:
按照如下公式,确定本次调节的幅值和相位:
其中,a(n-1)为上次调节得到的幅值;为上次调节得到的相位;a(n)为本次调节得到的幅值;为本次调节得到的相位;(P1-P2)为第一差值;(P3-P4)为第二差值;K1和K2均为步进系数。
5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,根据新的预设失调矩阵、所述调节矩阵对应的各个初始值和标准正交测试信号,计算各个初始值对应的校验矩阵,包括:
按照如下公式,计算所述各个初始值对应的校验矩阵:
其中,为校验矩阵;为每次迭代后新的预设失调矩阵;标准同向正交测试信号;PCM2×2为调节矩阵,所述调节矩阵存在对应的预设初始值;所述各个初始值包括
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在以镜像信号的信号强度减小的方向作为调节方向,对目标电路的参数进行调节之前,所述方法还包括:
对完成调制的预设正交测试信号进行包络检波处理,以使镜像信号的幅度达到设定条件。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述调节矩阵为:
其中,n为调节次数,a(n)为本次调节得到的幅值;为本次调节得到的相位。
8.一种信号的校正装置,其特征在于,包括:
失配模型构建模块,用于基于预设失调矩阵、调节矩阵和标准正交测试信号构建失配模型;
参数调节模块,用于在对预设正交测试信号进行调制后,以镜像信号的信号强度减小的方向作为调节方向,对目标电路的参数进行调节;
目标参数确定模块,用于基于逐次逼近法和所述预设失调矩阵的逆矩阵确定最佳调节矩阵,将与所述最佳调节矩阵对应的所述目标电路的当前参数作为目标参数。
9.一种芯片,其特征在于,所述芯片包括:
一个或多个处理器;
存储装置,用于存储一个或多个程序,
当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行,使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-7中任一所述的信号的校正方法。
10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行时实现如权利要求1-7中任一所述的信号的校正方法。
CN201810885146.7A 2018-08-06 2018-08-06 一种信号的校正方法、装置、芯片和存储介质 Active CN109120265B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810885146.7A CN109120265B (zh) 2018-08-06 2018-08-06 一种信号的校正方法、装置、芯片和存储介质
PCT/CN2018/117412 WO2020029478A1 (zh) 2018-08-06 2018-11-26 电路参数的校正方法、装置、芯片和存储介质

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810885146.7A CN109120265B (zh) 2018-08-06 2018-08-06 一种信号的校正方法、装置、芯片和存储介质

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN109120265A true CN109120265A (zh) 2019-01-01
CN109120265B CN109120265B (zh) 2021-09-14

Family

ID=64852048

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201810885146.7A Active CN109120265B (zh) 2018-08-06 2018-08-06 一种信号的校正方法、装置、芯片和存储介质

Country Status (2)

Country Link
CN (1) CN109120265B (zh)
WO (1) WO2020029478A1 (zh)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110324051A (zh) * 2019-06-24 2019-10-11 成都振芯科技股份有限公司 发送通道正交校正的适应性增强方法及装置
CN114330175A (zh) * 2021-11-18 2022-04-12 北京智芯微电子科技有限公司 用于增益结构的校准方法及装置、增益结构
CN115037321A (zh) * 2022-08-12 2022-09-09 国仪量子(合肥)技术有限公司 量子态读出方法、装置、存储介质和量子测控系统
WO2023165322A1 (zh) * 2022-03-03 2023-09-07 阿里巴巴达摩院(杭州)科技有限公司 信号处理方法和存储介质

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4990911A (en) * 1988-04-08 1991-02-05 Sony Corporation Sampling frequency converter
CN1801627A (zh) * 2004-10-11 2006-07-12 因芬尼昂技术股份公司 模数转换器
CN1849791A (zh) * 2003-09-15 2006-10-18 英特尔公司 用于多载波无线通信系统的自适应iq不平衡校正
US20080063188A1 (en) * 2006-09-12 2008-03-13 Tamagawa K-12 & University Encoding device for error correction, encoding method for error correction and encoding program for error correction
US20110046925A1 (en) * 2007-06-15 2011-02-24 Commissariat A L'energie Atomique Process for Calibrating the Position of a Multiply Articulated System Such as a Robot
CN102868650A (zh) * 2012-09-13 2013-01-09 江苏物联网研究发展中心 一种正交i/q信号相位失衡校正电路
CN104580060A (zh) * 2015-01-20 2015-04-29 重庆邮电大学 一种iq不平衡失真的数字预失真校正装置和方法
CN107070457A (zh) * 2016-02-10 2017-08-18 德克萨斯仪器股份有限公司 校准输出模拟数字转换器装置和方法

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104300994B (zh) * 2014-10-24 2016-10-05 中国科学院嘉兴微电子与系统工程中心 低中频接收机的i/q失配补偿电路
CN104639080A (zh) * 2014-12-12 2015-05-20 长沙景嘉微电子股份有限公司 一种正交相位校正电路
KR20170101368A (ko) * 2016-02-26 2017-09-06 에스케이하이닉스 주식회사 에러 정정 회로 및 에러 정정 방법

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4990911A (en) * 1988-04-08 1991-02-05 Sony Corporation Sampling frequency converter
CN1849791A (zh) * 2003-09-15 2006-10-18 英特尔公司 用于多载波无线通信系统的自适应iq不平衡校正
CN1801627A (zh) * 2004-10-11 2006-07-12 因芬尼昂技术股份公司 模数转换器
US20080063188A1 (en) * 2006-09-12 2008-03-13 Tamagawa K-12 & University Encoding device for error correction, encoding method for error correction and encoding program for error correction
US20110046925A1 (en) * 2007-06-15 2011-02-24 Commissariat A L'energie Atomique Process for Calibrating the Position of a Multiply Articulated System Such as a Robot
CN102868650A (zh) * 2012-09-13 2013-01-09 江苏物联网研究发展中心 一种正交i/q信号相位失衡校正电路
CN104580060A (zh) * 2015-01-20 2015-04-29 重庆邮电大学 一种iq不平衡失真的数字预失真校正装置和方法
CN107070457A (zh) * 2016-02-10 2017-08-18 德克萨斯仪器股份有限公司 校准输出模拟数字转换器装置和方法

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
DAVID L. DONOHO 等: "Exponential Bounds Implying Construction of Compressed Sensing Matrices, Error-Correcting Codes, and Neighborly Polytopes by Random Sampling", 《IEEE TRANSACTIONS ON INFORMATION THEORY》 *
卢刚 等: "一种新型宽带接收机F Q 通道失配的数字校正方法", 《信号处理》 *

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110324051A (zh) * 2019-06-24 2019-10-11 成都振芯科技股份有限公司 发送通道正交校正的适应性增强方法及装置
CN114330175A (zh) * 2021-11-18 2022-04-12 北京智芯微电子科技有限公司 用于增益结构的校准方法及装置、增益结构
CN114330175B (zh) * 2021-11-18 2023-08-18 北京智芯微电子科技有限公司 用于增益结构的校准方法及装置、增益结构
WO2023165322A1 (zh) * 2022-03-03 2023-09-07 阿里巴巴达摩院(杭州)科技有限公司 信号处理方法和存储介质
CN115037321A (zh) * 2022-08-12 2022-09-09 国仪量子(合肥)技术有限公司 量子态读出方法、装置、存储介质和量子测控系统

Also Published As

Publication number Publication date
WO2020029478A1 (zh) 2020-02-13
CN109120265B (zh) 2021-09-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN109120265A (zh) 一种信号的校正方法、装置、芯片和存储介质
US11159129B2 (en) Power amplifier time-delay invariant predistortion methods and apparatus
JP5365516B2 (ja) 信号処理装置及び信号処理方法
US7647028B2 (en) Internal calibration system for a radio frequency (RF) transmitter
TWI455498B (zh) 直接轉換接收器及其校正方法
US8280327B2 (en) Receiver capable of reducing local oscillation leakage and in-phase/quadrature-phase (I/Q) mismatch and an adjusting method thereof
US6667703B1 (en) Matching calibration for digital-to-analog converters
TWI551038B (zh) 用於振幅調變至相位調變失真補償之裝置及方法
WO2007122880A1 (ja) 信号処理回路
CN104158552A (zh) 零中频发射机、接收机及相关方法和系统
WO2008018263A1 (fr) circuit de traitement de signal et procédé de traitement de signal
TW201444323A (zh) 通訊系統校正方法以及通訊系統校正裝置
JPH11136302A (ja) 歪補償回路
JP2005217911A (ja) 直交変調器の調整装置及び調整方法並びに通信装置とプログラム
CN101540640B (zh) 用于发射前端的载波泄漏校正电路和方法
US6570914B1 (en) Amplitude calculation circuit
US8060037B2 (en) Circuit and method of calibrating direct current offset in wireless communication device
US7251464B2 (en) Method and apparatus for predistortion training in an amplifier utilizing predistortion
US8774316B2 (en) Transmitter including calibration of an in-phase/quadrature (I/Q) modulator and associated methods
CN201717850U (zh) 载波泄漏校正电路
US20210211209A1 (en) Polar system and delay difference calibration method
US7058371B2 (en) Mechanism for modulating wireless communication signals
CN113098634B (zh) 极性系统和延迟校准方法
JP3134251B2 (ja) 直交変調信号発生回路
JPH01213052A (ja) 変調装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
TA01 Transfer of patent application right

Effective date of registration: 20200408

Address after: 215634 north side of Chengang road and west side of Ganghua Road, Jiangsu environmental protection new material industrial park, Zhangjiagang City, Suzhou City, Jiangsu Province

Applicant after: ZHANGJIAGANG KANGDE XIN OPTRONICS MATERIAL Co.,Ltd.

Address before: 201203, room 5, building 690, No. 202 blue wave road, Zhangjiang hi tech park, Shanghai, Pudong New Area

Applicant before: WZ TECHNOLOGY Inc.

TA01 Transfer of patent application right
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant