CN108885238A - 一种用于矩阵排列芯片的测试装置 - Google Patents

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赵余成
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Abstract

一种用于矩阵排列芯片的测试装置，包括上料区(11)、下料区(12)、测试区(13)以及横跨所述上料区(11)、下料区(12)、测试区(13)的传送小车(14)。测试区(13)包括至少两个测试工位(131)，测试工位(131)内部具有对芯片进行移位的传送轴，传送轴运动方向和传送小车(14)运动方向垂直，传送小车(14)按照各测试工位(131)的实际状态进行搬运。

Description

一种用于矩阵排列芯片的测试装置
技术领域
本申请涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种用于矩阵排列芯片的测试装置。
背景技术
随着指纹识别和移动支付浪潮的到来，指纹芯片迎来了爆发增长，而为满足不同手机产商对指纹芯片不同形状及不同尺寸的要求，矩阵排列芯片(Strip芯片)应运而生。矩阵排列芯片(Strip芯片)是在一条基板上有多颗成矩阵排列的芯片，芯片与芯片之间有一定的空间距离，这样方便客户切割成自己需要的形状与尺寸。
传统的芯片测试装置主要是针对单颗分离芯片的测试需求设计的，无法针对矩阵排列芯片进行高效测试。
因此，如何提高芯片测试装置的产能,成为现有技术中亟需解决的技术问题。
发明内容
有鉴于此，本申请实施例所解决的技术问题之一在于提供一种用于矩阵排列芯片的测试装置，提高芯片测试装置的产能。
本申请实施例提供一种用于矩阵排列芯片的测试装置，包括上料区、下料区、测试区以及横跨所述上料区、下料区、测试区的传送小车。所述测试区包括至少两个测试工位，所述测试工位内部具有对基板进行移位的传送轴，所述传送轴运动方向和所述传送小车运动方向垂直，所述搬运小车按照各测试工位的实际状态进行搬运。
由以上技术方案可见，本申请所述测试装置的测试区包括至少两个测试工位，本申请所述传送小车将进行测试的矩阵排列芯片(Strip芯片)的条状基板一次性搬运至所述测试区，测试区的测试工位利用传送轴根据所述条状基板上芯片的位置对基板进行移位。因此，所述条状基板的多次测试或其他操作的移位工作由测试工位的运送轴来完成，不占用垂直于测试工位的传送小车的时间。传送小车有足够的时间按照各测试工位的实际状态进行搬运，高效利用了传送小车，提高芯片测试装置的产能。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1是本申请用于矩阵排列芯片的测试装置的结构示意图。
具体实施方式
传统的芯片测试装置为单工位设计，即除了上料区、下料区外，测试区仅包括一个测试工位。传送小车(通过伺服电机控制移动的能自动搬运基板的机械结构部件)需要对每个芯片进行一次搬运操作，传送小车得到较高程度的利用。
传统的芯片测试装置无法实现矩阵排列芯片(Strip芯片)的测试。在传统的芯片测试装置的基础上经过改进了的符合矩阵排列芯片测试的装置同样为单工位设计，每片基板只需要传送小车进行一次搬运操作，传送小车没有得到高效利用。
本申请所述测试装置的测试区包括至少两个测试工位，本申请所述传送小车将进行测试的矩阵排列芯片(Strip芯片)的条状基板一次性搬运至所述测试区，测试区的测试工位利用传送轴根据所述条状基板上芯片的位置对基板进行移位。因此，所述条状基板的多次测试或其他操作的移位工作由测试工位的运送轴来完成，不占用垂直于测试工位的传送小车的时间。传送小车有足够的时间按照各测试工位的实际状态进行搬运，高效利用了传送小车，提高芯片测试装置的产能。
当然，实施本申请实施例的任一技术方案必不一定需要同时达到以上的所有优点。
为了使本领域的人员更好地理解本申请实施例中的技术方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本申请实施例一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请实施例中的实施例，本领域普通技术人员所获得的所有其它实施例，都应当属于本申请实施例保护的范围。
下面结合本申请实施例附图进一步说明本申请实施例具体实现。
在示例性实施例的以下描述，参考由其所附的附图，其中通过图解方式示出的特定实施例可被实践。它要理解的是，其它实施例可以使用和结构的改变可以由不脱离各种实施例的范围。
参见图1，本申请提供一种用于矩阵排列芯片的测试装置，包括上料区11、下料区12、测试区13以及横跨所述上料区11、下料区12、测试区13的传送小车14。
具体地，所述上料区11、下料区12安装在所述测试装置的机台长边的两端，所述测试区13位于所述上料区11、下料区12之间。
所述测试区13包括至少两个测试工位131，所述测试工位131内部具有对基板进行移位的传送轴(图中未示出)，所述传送轴运动方向和所述传送小车运动方向垂直，所述搬运小车14按照各测试工位131的实际状态进行搬运。
具体地，如果某一测试工位需要装载基板进行测试，所述搬运小车14将需要进行测试的基板从所述上料区11搬运至所述测试工位。如果另一测试工位中的基板已经完成测试，所述搬运小车14将完成测试的基板从所述测试工位搬运至所述下料区12。
本申请所述传送小车14将进行测试的矩阵排列芯片(Strip芯片)的条状基板一次性搬运至所述测试区13，测试区13的测试工位131利用传送轴根据所述条状基板上芯片的位置对基板进行移位。因此，所述条状基板的多次测试或其他操作的移位工作由测试工位131的运送轴来完成，不占用垂直于测试工位的传送小车14的时间。传送小车14有足够的时间按照各测试工位131的实际状态进行搬运，高效利用了传送小车14，提高芯片测试装置的产能。
在具有多个测试工位的测试装置中如果采用整体结构，就会出现当测试需求变更时，需要更换测试装置的整个机台，这样就会大幅增加测试成本。
在本申请一具体实现中，所述各测试工位131的测试功能相同或者不同，从而实现对本申请所述条状基板上芯片进行相同或者不同的测试。
本申请实施例各测试工位各自独立，可以根据测试需求进行设置，本申请实施例所述工作区13可以为功能相同或者功能不同的工位的组合。因此，本申请实施例可以满足各种测试需求，降低测试成本。
在本申请另一具体实现中，所述测试区13还包括至少一可选工位132，所述可选工位132可设置为测试工位或者打码工位。
所述可选工位132设置为测试工位时，可以和其他测试工位功能相同或者不同。
所述可选工位132还可以设置为打码工位或者进行其他用途的工位。
本申请实施例根据测试需求增加或者减少测试工位，或者设置打码工位及其他工位，增加了所述机台的扩展性，本申请实施例可以更加灵活的满足各种测试需求，降低测试成本。
在本申请再一具体实现中，为了便于所述传送小车14协调搬运，所述上料区11、下料区12、测试工位131以及可选工位132的高度和宽度相同。
在本申请再一具体实现中，所述测试区13预留至少一工位空间。
具体地，在机台设计时预留至少一大小相同的工位空间，同时所述预留工位空间具有固定工位部件的固定部件(图中未示出)，所述固定部件为基础机械结构部件。
这样，根据测试的需要，操作人员可以在所述预留工位空间方便拆卸、安装或增加相应的测试工位。
在本申请再一具体实现中，为了方便所述测试工位131与所述可选工位132的拆卸，所述测试工位131与所述可选工位132上的机械部件(图中未示出)通过可拆卸部(图中未示出)与机台固定。
具体地，所述可拆卸部包括：分别设置在所述机械部件与所述机台上的通孔和螺钉。本申请实施例通过通孔和螺钉固定所述测试工位131与所述可选工位132至所述机台，便于所述测试工位131与所述可选工位132的拆卸。
传统的条状基板识别方式是采用人为方式在所述条状基板上贴上纸质标签，然后再对所述纸质标签进行人为识别来获取所述基板上各芯片的标签内容，这样的识别方式效率低下而且容易出错。
在本申请再一具体实现中，所述上料区11的上方具有自动识别上料区11条状基板上二维码的扫描枪15。
具体地，所述扫描枪15对所述上料区的条状基板上的各个二维码进行扫描，从而自动识别所述二维码内容，减少了人工识别的出错率并提高了识别效率。
在本申请再一具体实现中，所述测试工位131的上方设有搭载基板的电路板131a，所述电路板131a朝下的一面具有与芯片的对针接触的夹具(Socket)，朝上的一面具有连接测试机(图中未示出)的插座131b，例如牛角插座。所述芯片通过所述电路板131a和插座131b与测试机电气连接。
具体地，所述测试机为具有芯片测试功能的电子设备。所述测试装置与测试机用电缆连接，将测试数据发送至所述测试机，所述测试机对所述测试数据进行分析处理。
本领域的技术人员应明白，本申请实施例的实施例可提供为方法、装置(设备)、或计算机程序产品。因此，本申请实施例可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请实施例可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本申请实施例是参照根据本申请实施例的方法、装置(设备)和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其它可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其它可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其它可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其它可编程数据处理设备上，使得在计算机或其它可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其它可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
尽管已描述了本申请实施例的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本申请实施例范围的所有变更和修改。显然，本领域的技术人员可以对本申请实施例进行各种改动和变型而不脱离本申请实施例的精神和范围。这样，倘若本申请实施例的这些修改和变型属于本申请实施例权利要求及其等同技术的范围之内，则本申请实施例也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (11)

1.一种用于矩阵排列芯片的测试装置，包括上料区、下料区、测试区以及横跨所述上料区、下料区、测试区的传送小车，其特征在于，所述测试区包括至少两个测试工位，所述测试工位内部具有对基板进行移位的传送轴，所述传送轴运动方向和所述传送小车运动方向垂直，所述传送小车按照各测试工位的实际状态进行搬运。
2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述各测试工位的测试功能相同或者不同。
3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试区还包括至少一可选工位，所述可选工位可设置为测试工位或者打码工位。
4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述上料区、下料区、测试工位以及可选工位的高度和宽度相同。
5.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试区13预留至少一工位空间。
6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述预留工位空间具有固定工位部件的固定部件。
7.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述预留工位空间的大小相同。
8.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述测试工位与可选工位上的机械部件通过可拆卸部与机台固定。
9.根据权利要求8所述的测试装置，其特征在于，所述可拆卸部包括：分别设置在所述机械部件与所述机台上的通孔和螺钉。
10.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述上料区的上方具有自动识别上料区条状基板上二维码的扫描枪。
11.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试工位的上方设有搭载基板的电路板，所述电路板朝下的一面具有与芯片的对针接触的夹具，朝上的一面具有连接测试机的插座。
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