CN108842179B - 一种设置σ3孪晶界制备双晶向多晶硅铸锭的方法 - Google Patents
一种设置σ3孪晶界制备双晶向多晶硅铸锭的方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN108842179B CN108842179B CN201810769398.3A CN201810769398A CN108842179B CN 108842179 B CN108842179 B CN 108842179B CN 201810769398 A CN201810769398 A CN 201810769398A CN 108842179 B CN108842179 B CN 108842179B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- crystal
- seed
- polycrystalline silicon
- seed crystal
- silicon ingot
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 239000013078 crystal Substances 0.000 title claims abstract description 293
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 62
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 36
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims abstract description 43
- 239000002210 silicon-based material Substances 0.000 claims abstract description 19
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 13
- 238000007711 solidification Methods 0.000 claims abstract description 7
- 230000008023 solidification Effects 0.000 claims abstract description 7
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 claims abstract description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 20
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 20
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 20
- 229910021421 monocrystalline silicon Inorganic materials 0.000 claims description 15
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 claims description 10
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 8
- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 6
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 claims 2
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 abstract 1
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 20
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 6
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 5
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 4
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 4
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000005266 casting Methods 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 3
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000009191 jumping Effects 0.000 description 3
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 2
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 2
- LBZRRXXISSKCHV-UHFFFAOYSA-N [B].[O] Chemical class [B].[O] LBZRRXXISSKCHV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 229910021419 crystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010309 melting process Methods 0.000 description 1
- 238000010248 power generation Methods 0.000 description 1
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
- 230000007847 structural defect Effects 0.000 description 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B28/00—Production of homogeneous polycrystalline material with defined structure
- C30B28/04—Production of homogeneous polycrystalline material with defined structure from liquids
- C30B28/06—Production of homogeneous polycrystalline material with defined structure from liquids by normal freezing or freezing under temperature gradient
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B29/00—Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
- C30B29/02—Elements
- C30B29/06—Silicon
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
本发明公开了一种多晶硅铸锭的制备方法,包括如下步骤:对两种晶向不同的单晶籽晶进行切割,再将切割得到的单晶籽晶相邻间隔、紧密拼接形成籽晶层,铺设在坩埚底部;再将硅料置于籽晶层上,加热控制坩埚温度,使得硅料完全融化而籽晶层部分融化,诱导部分熔化的籽晶层生长,在籽晶拼接处形成了Σ3孪晶界,最后通过定向凝固得到了双晶向的多晶硅铸锭。本发明方法通过在籽晶拼接处人工设置了Σ3孪晶界避免了由于籽晶摆放形成的晶向差而导致的位错,规则的双晶向多晶硅铸锭上部的位错密度低于104/cm2,有效的提高了多晶硅铸锭的质量。
Description
技术领域
本发明涉及多晶硅的制造领域,具体涉及一种设置Σ3孪晶界制备双晶向多晶硅铸锭的方法。
背景技术
太阳能作为自然界最丰富的清洁能源,在世界范围内被认为是最理想的可再生新能源之一,目前全球主要通过光伏发电来利用太阳能。在目前的光伏市场上,太阳电池组件主要以晶体硅材料为基础,其占据了90%以上的市场份额,晶体硅材料包括单晶硅片和多晶硅片。
单晶硅片是由直拉法(Czochralski)生长得到的圆柱形单晶硅棒切片得到,缩颈的工艺使得直拉单晶硅具有无位错的特性,因此缺陷较少,杂质含量较低。单晶硅片的晶向统一为<100>,因此可通过碱制绒工艺在硅片表面形成金字塔状绒面,产生陷光效应,大大降低硅片表面的反射率,从而增强硅片对太阳光的吸收,提高单晶硅太阳电池的转换效率。但是,单晶硅片单炉产量低,生产成本较高,且太阳电池组件需要方形硅片,会造成圆形直拉单晶硅片的材料浪费。此外,对于普遍生产的p型直拉单晶硅,由于其氧含量较大,在光照下会产生大量的硼氧复合体,从而造成严重的光致衰减效应。
多晶硅片则是由定向凝固法生长得到的方形多晶硅锭切片得到,相比于少缺陷、少杂质、高效率的单晶硅,其优势在于成本较低,单炉产量大,且方形的材料利用率高。此外,多晶硅片中的氧含量相对直拉单晶硅要低的多,因此光衰减的影响要小的多。然而,多晶硅片的缺点也很明显,第一,由于坩埚和氮化硅涂层与熔融硅液直接接触,会使得多晶硅片中杂质含量较高;第二,由于多晶硅材料中,存在大量的晶界和位错等结构缺陷,这些缺陷会与杂质元素相互作用,形成的载流子复合中心,严重影响材料的质量,制约太阳电池的转换效率;第三,由于多晶硅片表面晶粒取向不一,只能通过酸制绒工艺来制备绒面,也影响了太阳电池的转换效率。
在籽晶辅助铸造多晶硅中,孪晶现象引起了研究者们的注意,孪晶会于坩埚壁和拼接缝晶界处形成,影响到籽晶辅助铸造多晶硅的晶向。但是值得注意的是,孪晶的产生不会带来位错,而位错是制约铸造多晶硅太阳电池效率的核心因素。
发明内容
本发明的目的在于提供一种通过在籽晶拼接处设置Σ3孪晶界制备双晶向多晶硅铸锭的方法,避免了籽晶拼接处由于取向差而产生的位错,大大提高了多晶硅铸锭的质量。
一种设置Σ3孪晶界制备双晶向多晶硅铸锭的方法,包括如下步骤:
(1)分别对两种晶向不同、形状相同的长方体形单晶籽晶I与单晶籽晶II进行切割,分别得到形状相同的单晶籽晶III与单晶籽晶IV,再将单晶籽晶III与单晶籽晶IV相邻间隔、紧密拼接形成籽晶层;
(2)将籽晶层铺设在坩埚底部,再将硅料置于籽晶层上,并将内装籽晶层和硅料的坩埚装入多晶硅铸锭炉内,将多晶硅铸锭炉加热至硅料完全熔化而籽晶层部分熔化;
(3)当熔化至预设高度时,通过降温来诱导部分熔化的籽晶层生长,所述籽晶层生长的过程中,在籽晶拼接处形成Σ3孪晶界,最后通过定向凝固形成双晶向多晶硅铸锭。
本发明方法通过将两种不同晶向的籽晶进行切割,再将切割得到的单晶籽晶相邻间隔、紧密拼接,在诱导半熔籽晶生长的过程中,双晶向的籽晶相邻间隔排列可在籽晶拼接处形成Σ3孪晶界,Σ3孪晶界属于无电学活性的晶界,不仅不会影响铸锭的质量,还可以避免籽晶拼接处由于取向差而造成的位错缺陷,使得到的双晶向多晶硅铸锭上部的位错密度降低至104/cm2以下,与传统多晶硅铸锭上部105/cm2以上的位错密度相比有了明显的降低,有效提高了多晶硅铸锭的质量。
步骤(1)中,所述单晶籽晶I六个面均为{100}晶面,所述单晶籽晶II六个面均为{221}晶面;所述单晶籽晶III与单晶籽晶IV在水平拼接处的夹角为54.7°,在纵向拼接处的夹角为45°并向<100>晶向籽晶倾斜。
步骤(1)中,所述单晶籽晶I为<110>生长晶向,其四个侧面分别为两个{110}晶面和两个{100}晶面;所述单晶籽晶II是将<221>晶向以[1-22]晶向为轴逆时针旋转45°并垂直(1-22)晶面切割得到,其生长面为旋转45°后的<221>晶向;所述单晶籽晶III与单晶籽晶IV在水平拼接处的夹角为54.7°,在纵向拼接处的夹角为90°。
优选地,步骤(1)中,所述籽晶层的高度为20~30mm,其选择的是一个常规高度,既能降低单晶籽晶的成本,又能适应半熔法生长的容错要求。
优选地,步骤(1)中,所述籽晶层的上平面与坩埚底面平行,是为了能减少籽晶铺设所产生的缝隙,更好的在籽晶拼接处形成Σ3孪晶界。
优选地,步骤(2)中,所述多晶硅铸锭炉的加热温度为1450~1500℃,加热时间为4~6h,所选择的加热工艺能让坩埚内的硅料完全熔化而籽晶层部分熔化。
优选地,步骤(2)中,所述部分熔化的籽晶层厚度占籽晶层总厚度的50%~70%,便于熔化的籽晶以该未熔化籽晶的取向凝固生长。
优选地,步骤(3)中,所述降温过程为跳步降温,即在熔化过程中,会通过石英棒监测熔化的高度,熔化至预设高度后就跳过熔化阶段,进入长晶阶段,降温是通过提升隔热笼实现,隔热笼的提升速度为10~20mm/h。
同现有技术相比,本发明的有益效果体现在:
(1)本发明方法简单易行,仅通过对不同晶向的单晶籽晶进行切割排列,以实现在籽晶拼接处形成Σ3孪晶界,即可避免由于籽晶摆放形成晶向差而产生的位错;
(2)本发明得到的多晶硅铸锭的上部为规则的双晶向结构,其上部的位错密度低于104/cm2,与传统无序晶向多晶硅铸锭的位错密度高于105/cm2相比,有了大大的降低,有效地提高了多晶硅铸锭的质量。
附图说明
图1为实施例1中切割得到单晶籽晶I的切割示意图;
图2为实施例1中切割得到单晶籽晶II的切割示意图;
图3为实施例1中切割得到单晶籽晶III和单晶籽晶IV的切割示意图以及将其铺设在坩埚底部的简化示意图;
图4为实施例2中切割得到单晶籽晶I的切割示意图;
图5为实施例2中切割得到单晶籽晶II的切割示意图;
图6为实施例2中切割得到单晶籽晶III和单晶籽晶IV的切割示意图以及将其铺设在坩埚底部的简化示意图。
具体实施方式
下面结合具体的实施例对本发明作进一步说明。
实施例1
(1)沿着<100>晶向直拉单晶硅棒中四条棱线标定的标准{100}晶面切割,切割方式如图1所示,得到尺寸为156×156×30mm3且6个面均为{100}晶面族的单晶籽晶I;从标准的<100>晶向单晶立方中切割得到形状与单晶籽晶I相同且6个面均为{221}晶面族的单晶籽晶II,切割方式如图2所示;
(2)挑选出无崩边、切端面平整的单晶籽晶I和单晶籽晶II,于水平拼接处切割出54.7°夹角,于纵向拼接处切割出水平倾角为45°,倾角向<100>晶向籽晶处倾斜,切割后分别得到形状相同的单晶籽晶III与单晶籽晶IV,再将单晶籽晶III与单晶籽晶IV相邻间隔、紧密排列形成籽晶层,切割和摆放方式如图3所示;
(3)将得到的籽晶层铺设在衬有氮化硅涂层的石英坩埚中,再将硅料置于籽晶层上,将内装籽晶层和多晶硅料的坩埚装入多晶硅铸锭炉中,将炉室抽成真空状态,并将多晶硅铸锭炉升温至1450℃,保温6h,使硅料完全熔化,籽晶层熔化高度为10mm;
(4)当熔化至预设高度时,通过跳步降温,并以10mm/h的速度提升隔热笼,以诱导部分熔化的籽晶层生长,Σ3孪晶界将于拼接缝处形成并垂直于生长面生长,通过定向凝固形成多晶硅铸锭。
将得到的多晶硅铸锭顶部切片,得到2×2×1mm3大小的硅片,对硅片进行机械-化学抛光,再在Secco液中择优腐蚀,将腐蚀后在硅片在光学显微镜下观察并进行腐蚀坑计数,得到其位错面密度小于104/cm2。
图1中圆形实线代表<100>晶向直拉单晶硅棒,4个三角箭头代表的是单晶硅棒上的四条棱线,按方形实线切割,即可得到标准的6个{100}晶面的<100>晶向单晶籽晶I。
图2中立方体代表的为6个面均为{100}晶面族的单晶硅块,沿着三角形虚线切割得到的面为{221}晶面,同理可切割得到剩余5个面也为{221}晶面族,最终得到<221>晶向单晶籽晶II。
图3为单晶籽晶III与单晶籽晶IV切割方式和铺设简化示意图,图中只列了2组籽晶相邻间隔排列,实际生产中所用到的籽晶组数视具体坩埚大小而定。
实施例2
(1)沿着<100>晶向单晶硅棒中四条棱线标定的标准{100}晶面逆时针旋转45°切割,得到尺寸为156×156×30mm3且4个面为{110}晶面族、2个面为{100}晶面族的单晶籽晶I,其生长面为{110}晶面,切割方式如图4所示;
从标准的<100>晶向单晶立方中切割得到6个面均为{221}晶面族的单晶立方,其切割方式如图2所示,再将[221]晶向以[1-22]晶向为轴逆时针旋转45°并垂直于(1-22)晶面切割,切割方式如图5所示,得到与单晶籽晶I形状相同的单晶籽晶II,其生长面为旋转45°后的<221>晶向,并将单晶籽晶II的晶向记为<221>45°晶向;
(2)挑选出无崩边、切端面平整的单晶籽晶I和单晶籽晶II,于生长面拼接处切割出54.7°夹角,拼接面均垂直于生长面,再将切割得到形状相同的单晶籽晶III与单晶籽晶IV相邻间隔、紧密排列形成籽晶层,切割和摆放方式如图6所示;
(3)将得到的籽晶层铺设在衬有氮化硅涂层的石英坩埚中,将硅料置于籽晶层上,再将内装籽晶层和硅料的坩埚装入多晶硅铸锭炉中,将炉室抽成真空状态,并将多晶硅铸锭炉升温至1450℃,保温6h,使硅料完全熔化、籽晶层熔化高度为10mm;
(4)当熔化至预设高度时,通过跳步降温,并以10mm/h的速度提升隔热笼,以诱导部分熔化的籽晶层生长,Σ3孪晶界将于拼接缝处形成并垂直生长,通过定向凝固形成多晶硅铸锭。
将得到的多晶硅铸锭顶部切片,得到2×2×1mm3大小的硅片,对硅片进行机械-化学抛光,再在Secco液中择优腐蚀,将腐蚀后在硅片在光学显微镜下观察并进行腐蚀坑计数,得到其位错面密度小于104/cm2。
图4中圆形实线代表<100>晶向直拉单晶硅棒,4个三角箭头代表的是单晶硅棒上的四条棱线,方形虚线为标准的{100}晶面族,逆时针旋转45°后,按方形实线切割,即可得到所述单晶籽晶I,且设置其中2个{110}晶面为生长面,其余2个{110}晶面和2个{100}晶面族为籽晶的4个侧面。
图5中立方体代表如图2切割方法所得的6个面均为{221}晶面族的单晶硅块,将<221>晶向以[1-22]晶向为轴逆时针旋转45°,并垂直于(1-22)面按方形虚线切割,即可得到单晶籽晶II,设置其2个生长面为{221}45°,4个侧面分别为(-221)45°,(2-2-1)45°,(1-22),(-12-2)。
图6为单晶籽晶III与单晶籽晶IV的切割方式和铺设简化示意图,图中只列了2组籽晶相邻间隔排列,实际生产中所用到的籽晶组数视具体坩埚大小而定。
Claims (14)
1.一种设置Σ3孪晶界制备双晶向多晶硅铸锭的方法,包括如下步骤:
(1)分别对两种晶向不同、形状相同的长方体形单晶籽晶I与单晶籽晶II进行切割,分别得到形状相同的单晶籽晶III与单晶籽晶IV,再将单晶籽晶III与单晶籽晶IV相邻间隔、紧密拼接形成籽晶层;
(2)将籽晶层铺设在坩埚底部,再将硅料置于籽晶层上,并将内装籽晶层和硅料的坩埚装入多晶硅铸锭炉内,将多晶硅铸锭炉加热至硅料完全熔化而籽晶层部分熔化;
(3)当熔化至预设高度时,通过降温来诱导部分熔化的籽晶层生长,所述籽晶层生长的过程中,在籽晶拼接处形成Σ3孪晶界,最后通过定向凝固形成双晶向多晶硅铸锭;
步骤(1)中,所述单晶籽晶I六个面均为{100}晶面,所述单晶籽晶II六个面均为{221}晶面;所述单晶籽晶III与单晶籽晶IV在水平拼接处的夹角为54.7°,在纵向拼接处的夹角为45°并向<100>晶向籽晶倾斜。
2.如权利要求1所述的制备双晶向多晶硅铸锭的方法,其特征在于,步骤(1)中,所述籽晶层的厚度为20~30mm。
3.如权利要求1所述的制备双晶向多晶硅铸锭的方法,其特征在于,步骤(1)中,所述籽晶层的上平面与坩埚底面平行。
4.如权利要求1所述的制备双晶向多晶硅铸锭的方法,其特征在于,步骤(2)中,所述多晶硅铸锭炉的加热温度为1450~1500℃,加热时间为4~6h。
5.如权利要求1所述的制备双晶向多晶硅铸锭的方法,其特征在于,步骤(2)中,所述部分熔化的籽晶层厚度占籽晶层总厚度的50%~70%。
6.如权利要求1所述的制备双晶向多晶硅铸锭的方法,其特征在于,步骤(3)中,所述降温过程通过提升隔热笼实现。
7.如权利要求6所述的制备双晶向多晶硅铸锭的方法,其特征在于,所述隔热笼的提升速度为10~20mm/h。
8.一种设置Σ3孪晶界制备双晶向多晶硅铸锭的方法,包括如下步骤:
(1)沿着<100>晶向单晶硅棒中四条棱线标定的标准{100}晶面逆时针旋转45°切割,得到4个面为{110}晶面族、2个面为{100}晶面族的单晶籽晶I,其生长面为{110}晶面;
从标准的<100>晶向单晶立方中切割得到6个面均为{221}晶面族的单晶立方,再将[221]晶向以[1-22]晶向为轴逆时针旋转45°并垂直于(1-22)晶面切割,得到与单晶籽晶I形状相同的单晶籽晶II,其生长面为旋转45°后的<221>晶向;
挑选出无崩边、切端面平整的单晶籽晶I和单晶籽晶II,于生长面拼接处切割出54.7°夹角,拼接面均垂直于生长面,再将切割得到形状相同的单晶籽晶III与单晶籽晶IV相邻间隔、紧密排列形成籽晶层;
(2)将籽晶层铺设在坩埚底部,再将硅料置于籽晶层上,并将内装籽晶层和硅料的坩埚装入多晶硅铸锭炉内,将多晶硅铸锭炉加热至硅料完全熔化而籽晶层部分熔化;
(3)当熔化至预设高度时,通过降温来诱导部分熔化的籽晶层生长,所述籽晶层生长的过程中,在籽晶拼接处形成Σ3孪晶界,最后通过定向凝固形成双晶向多晶硅铸锭。
9.如权利要求8所述的制备双晶向多晶硅铸锭的方法,其特征在于,步骤(1)中,所述籽晶层的厚度为20~30mm。
10.如权利要求8所述的制备双晶向多晶硅铸锭的方法,其特征在于,步骤(1)中,所述籽晶层的上平面与坩埚底面平行。
11.如权利要求8所述的制备双晶向多晶硅铸锭的方法,其特征在于,步骤(2)中,所述多晶硅铸锭炉的加热温度为1450~1500℃,加热时间为4~6h。
12.如权利要求8所述的制备双晶向多晶硅铸锭的方法,其特征在于,步骤(2)中,所述部分熔化的籽晶层厚度占籽晶层总厚度的50%~70%。
13.如权利要求8所述的制备双晶向多晶硅铸锭的方法,其特征在于,步骤(3)中,所述降温过程通过提升隔热笼实现。
14.如权利要求13所述的制备双晶向多晶硅铸锭的方法,其特征在于,所述隔热笼的提升速度为10~20mm/h。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201810769398.3A CN108842179B (zh) | 2018-07-13 | 2018-07-13 | 一种设置σ3孪晶界制备双晶向多晶硅铸锭的方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201810769398.3A CN108842179B (zh) | 2018-07-13 | 2018-07-13 | 一种设置σ3孪晶界制备双晶向多晶硅铸锭的方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN108842179A CN108842179A (zh) | 2018-11-20 |
CN108842179B true CN108842179B (zh) | 2020-04-14 |
Family
ID=64197169
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201810769398.3A Active CN108842179B (zh) | 2018-07-13 | 2018-07-13 | 一种设置σ3孪晶界制备双晶向多晶硅铸锭的方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN108842179B (zh) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111267248A (zh) * | 2020-03-12 | 2020-06-12 | 常州时创能源股份有限公司 | 非100晶向单晶硅片的制备方法 |
CN111349964B (zh) * | 2020-03-25 | 2021-06-22 | 南昌大学 | 一种单晶面积占比大、位错密度低的铸造单晶硅制备方法 |
CN112126972A (zh) * | 2020-08-26 | 2020-12-25 | 江西赛维Ldk太阳能高科技有限公司 | 籽晶铺设方法、铸锭单晶硅的生产方法和铸锭单晶硅 |
CN112519014B (zh) * | 2020-11-25 | 2022-06-21 | 史珺 | 一种用于铸锭单晶的籽晶制备方法及其铺设方法 |
CN112420505B (zh) * | 2020-11-27 | 2024-03-26 | 郑州磨料磨具磨削研究所有限公司 | 一种衬底材料最优划片方向的确定方法 |
CN114264652A (zh) * | 2021-12-09 | 2022-04-01 | 浙江大学杭州国际科创中心 | 碳化硅中位错产生及演变的逆向分析方法 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003128411A (ja) * | 2001-10-18 | 2003-05-08 | Sharp Corp | 板状シリコン、板状シリコンの製造方法および太陽電池 |
WO2009014957A2 (en) * | 2007-07-20 | 2009-01-29 | Bp Corporation North America Inc. | Methods for manufacturing cast silicon from seed crystals |
JP2011528308A (ja) * | 2007-07-20 | 2011-11-17 | ビーピー・コーポレーション・ノース・アメリカ・インコーポレーテッド | シード結晶からキャストシリコンを製造するための方法及び装置 |
CN102797037B (zh) * | 2011-05-26 | 2015-08-12 | 浙江昱辉阳光能源有限公司 | 多晶硅锭及其制造方法、太阳能电池 |
CN102392300A (zh) * | 2011-11-02 | 2012-03-28 | 浙江碧晶科技有限公司 | 一种晶粒规则排列的太阳能级多晶硅锭的生产方法 |
CN102899720B (zh) * | 2012-09-28 | 2015-06-10 | 东海晶澳太阳能科技有限公司 | 一种高效多晶硅的铸锭方法 |
CN103469293B (zh) * | 2013-09-02 | 2015-10-28 | 湖南红太阳光电科技有限公司 | 一种多晶硅的制备方法 |
US10029919B2 (en) * | 2014-04-29 | 2018-07-24 | Sino-American Silicon Products Inc. | Multicrystalline silicon brick and silicon wafer therefrom |
-
2018
- 2018-07-13 CN CN201810769398.3A patent/CN108842179B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN108842179A (zh) | 2018-11-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN108842179B (zh) | 一种设置σ3孪晶界制备双晶向多晶硅铸锭的方法 | |
US9109302B2 (en) | Method for producing silicon wafers, and silicon solar cell | |
CN101370970B (zh) | 制造单晶铸硅的方法和装置以及用于光电领域的单晶铸硅实体 | |
AU2008279411B2 (en) | Methods for manufacturing cast silicon from seed crystals | |
KR101815620B1 (ko) | 폴리결정질 실리콘 잉곳, 이에 의해 제조된 실리콘 웨이퍼 및 폴리결정질 실리콘 잉곳의 제조방법 | |
CN102277618B (zh) | 多晶硅锭的制造方法 | |
US9637391B2 (en) | Crystalline silicon ingot including nucleation promotion layer | |
US8591649B2 (en) | Methods for manufacturing geometric multi-crystalline cast materials | |
CN109097827A (zh) | 一种双晶向多晶硅铸锭及其制备方法 | |
CN102776556B (zh) | 一种多晶硅锭及其制备方法和多晶硅片 | |
US9447516B2 (en) | Method for manufacturing a silicon monocrystal seed and a silicon-wafer, silicon-wafer and silicon solar-cell | |
CN102732943A (zh) | 单晶硅铸锭的生产方法 | |
CN111485287A (zh) | 一种单晶硅籽晶重复利用的方法、铸造单晶硅片及其制备方法 | |
CN112522782B (zh) | 一种多晶硅锭及其制备方法 | |
TWI452184B (zh) | 製造矽晶鑄錠之方法 | |
US10087080B2 (en) | Methods of fabricating a poly-crystalline silcon ingot from a nucleation promotion layer comprised of chips and chunks of silicon-containing particles | |
CN214327963U (zh) | 一种用于铸锭单晶硅的籽晶坩埚结构 | |
CN106400103A (zh) | 一种用于太阳能电池的掺杂类单晶硅锭的制作方法 | |
CN102995103A (zh) | 用于制备准单晶硅铸锭的坩埚及准单晶硅铸锭的生长方法 | |
US10065863B2 (en) | Poly-crystalline silicon ingot having a nucleation promotion layer comprising a plurality of chips and chunks of poly-crystalline silicon on the bottom | |
CN102732950B (zh) | 一种连续生长准单晶晶体的装置 | |
KR20130137339A (ko) | 태양전지용 다결정 실리콘 웨이퍼의 제조 방법 및 그 방법으로 제조된 다결정 실리콘 웨이퍼 | |
CN106757334A (zh) | 硅锭的铸造方法 | |
JP2010269943A (ja) | シリコン多結晶インゴットおよびシリコン多結晶ウェハー |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |