CN108627467B - 一种图像传感器的线性度的检测方法及检测装置 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种图像传感器线性度检测方法及检测装置，该方法包括设置任意4个曝光时间百分比，获取待检测介质在任一曝光时间百分比时，所述待检测介质处于非曝光状态的电压值；对待检测介质进行反射或透射检测，获取在任一曝光时间百分比时，所述待检测介质处于曝光状态的电压值；计算所述待检测介质在任一曝光时间百分比所对应的电压差值，并利用所述任意4个曝光时间百分比以及4个曝光时间百分比所对应的电压差值计算图像传感器的线性度。采用本发明的传感器计算方法，该方法不仅可以实现定性分析还可以实现定量分析，可以计算任意4个曝光时间点之间的曲线线性度，并且避免的瑕疵像素亮度均值后无法检测出来的缺点，提高了图像传感器检测的精度。

Description

一种图像传感器的线性度的检测方法及检测装置

技术领域

本发明涉及图像传感器技术领域，尤其涉及一种图像传感器的线性度的检测方法及检测装置。

背景技术

图像传感器又称感光元件，是一种将光学图像转换为电子信号的设备，被广泛地应用在数码相机或者其他电子光学设备中。线性度是描述传感器静态特性的一个重要指标，也是评价传感器质量的一项重要指标。传感器校准曲线与拟合直线之间的最大偏差与满量程输出的百分比，称为线性度。

为了检测验钞传感器的质量，现有技术中一般有两种方式。其中一种方法是利用白纸通过验钞器，分别采集白纸在两次不同的曝光时间百分比时所采集的图像亮度，然后估算整体亮度是否成比例线性来估算传感器的线性，该方法验钞器图像传感器的线性度靠人的主观判定，误差较大并且只能定性，无法定量计算。另外一种方法是制作治具，将传感器安装在白色光洁表面，利用传感器两次发光反射，分别采集反射光图像，通过公式γ＝lg(p100-p50)/lg(100-50)计算线性度，其中p100表示曝光时间100％时的图像亮度，p50为曝光时间50％时的图像亮度。该方法虽然理论模型正确，但是没有对误差进行消除。上述方法一和方法二均依赖区域的整体亮度，无法细化到每个成像单元，并且没有对透射光源进行合适的检测，只检测了发射光源，而发射光的频谱范围与透射光并不相同，因此检测不全面，与实际应用不符。

发明内容

基于此，为解决传统技术中的传感器线性度检测存在的上述技术问题，特提出了一种图像传感器的线性度检测方法。

一种图像传感器的线性度检测方法，其包括如下步骤：

设定任意4个曝光时间百分比，所述曝光时间百分比指在扫描图像过程中的曝光时间与完成图像扫描所需要时间之间的百分比；

获取待检测介质在任一曝光时间百分比时，所述待检测介质处于非曝光状态的电压值；

对待检测介质进行反射和/或透射检测，获取待检测介质在任一曝光时间百分比时，所述待检测介质处于曝光状态的电压值；

计算所述待检测介质在任一曝光时间百分比所对应的电压差值，其中任一曝光时间百分比所对应的电压差值为在该曝光时间百分比时，所述待检测介质处于曝光状态的电压值与处于非曝光状态的电压值之间的差值；

根据任意4个曝光时间百分比以及4个曝光时间百分比所对应的电压差值计算所述图像传感器的线性度。

可选地，在其中一个实施例中，所述获取待检测介质在任一曝光时间百分比时，所述待检测介质处于非曝光状态的电压值，包括：

对于任一列像素，获取在任一曝光时间百分比时，该列像素中的任一像素采集的所述待检测介质处于非曝光状态的电压，

对任一像素采集的待检测介质处于非曝光状态的电压进行求和取平均值，从而获得在该曝光时间百分比时，该列像素采集的被检测图像介质处于非曝光状态的列平均电压值。

可选地，在其中一个实施例中，所述对待检测介质进行反射或透射检测，获取在任一曝光时间百分比时，所述待检测介质处于曝光状态的电压值包括：

对于任一列像素，获取在该任一曝光时间百分比时，该列像素中的任一像素采集的所述待检测介质处于曝光状态的电压，

对任一像素采集的待检测介质处于曝光状态的电压进行求和取平均值，从而获得在该任一曝光时间百分比时，该列像素采集的被检测图像介质处于曝光状态的列平均电压值。

可选地，在一个实施例中，所述计算所述待检测介质在任一曝光时间百分比所对应的电压差值包括：

对于任一曝光时间百分比，利用该曝光时间百分比时，被检测介质图像处于曝光状态的列平均电压值减去其处于非曝光状态的列平均电压值，从而获得该曝光时间百分比所对应的列电压差值。

可选地，在一个实施例中，所述根据任意4个曝光时间百分比以及4个曝光时间百分比所对应的电压差值计算所述图像传感器的线性度，包括：

利用所述设置的任意4个曝光时间百分比以及该4个曝光时间百分比所对应的列电压差值计算所述图像传感器的线性度。

可选地，在一个实施例中，所述利用所述设置的任意4个曝光时间百分比以及该4个曝光时间百分比所对应的列电压差值计算所述图像传感器的线性度，为：

利用公式

计算所述图像传感器的列线性度，其中a，b，c，d为任意设置的4个曝光时间百分比，γN为图像传感器第N列的线性度，VE_paN为当曝光时间百分比为a时所对应的第N列的电压差值，VE_pbN为当曝光时间百分比为b时所对应的第N列的电压差值，VE_pcN为当曝光时间百分比为c时所对应的第N列的电压差值，VE_pdN为当曝光时间百分比为d时所对应的第N列的电压差值。

可选地，在一个实施例中，所述根据任意4个曝光时间百分比以及4个曝光时间百分比所对应的电压差值计算所述图像传感器的线性度之后，还包括：

判断计算的图像传感器的线性度是否处于设定的范围内，如果处于设定的范围内，则判定所述图像传感器的线性度满足条件；否则，判定所述图像传感器的线性度不满足条件。

此外，在本发明中，还提出了一种图像传感器线性度的检测装置。

一种图像传感器的线性度检测装置，其包括：

第一设置单元，用于设置任意4个曝光时间百分比；

第一获取单元，用于获取待检测介质在任一曝光时间百分比时，所述待检测介质处于非曝光状态的电压值；

第二获取单元，对待检测介质进行反射或透射检测，用于获取在任一曝光时间百分比时，所述待检测介质处于曝光状态的电压值；

电压差值获取单元，用于获取所述待检测介质在任一曝光时间百分比所对应的电压差值，其中任一曝光时间百分比所对应的电压差值为在该曝光时间百分比时，所述待检测介质处于曝光状态下的电压值与处于非曝光状态下的电压值之间的差值；

线性度计算单元，用于计算所述图像传感器的线性度。

可选地，在其中一个具体实施方式中，所述装置还包括：

检测单元，用于检测线性度计算单元计算的图像传感器的线性度是否处于设定的范围内，如果处于设定的范围内，则传感器的线性度满足条件；否则，传感器的线性度不满足条件。

实施本发明实施例，将具有如下有益效果：可以计算任意4个曝光时间百分比的线性度，而不仅仅是计算曝光时间为50％、100％的确定时间参数下的线性度，通过采用多个曝光时间点进行计算，提高了传感器线性度检测的精度；此外，通过求取列像素电压差值，不但计算了每个成像单元的线性度，而且避免了瑕疵像素被亮度均值后无法检测出来的弊端；再者，采用本发明的方法及装置，通过更换待检测介质以及光源，按照与反射相同的方法即可实现待检测介质的透射检测。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

其中：

图1为一个为本发明一实施例的图像传感器线性度检测方法的流程图；

图2为一个为本发明的另一实施例的图像传感器线性度检测方法的流程图；

图3为一个为本发明的另一实施例的图像传感器线性度检测方法的流程图；

图4为一个为本发明的另一实施例的图像传感器线性度检测装置的结构框图；

图5一个实施例中运行前述规则图像的边沿斜率的计算方法的计算机设备的结构示意图；

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

如图1所示为本发明的图像传感器的线性度检测方法，该方法应用于验钞机等金融设备的图像传感器的线性度检测，验钞机的图像传感器对纸币等待检测物质的图像进行识别并成像，根据成像的结果来确定待检测纸币的真伪，而图像传感器的线性度的好坏直接影响验钞机成像的质量。图像传感器通常包括H×M的像素阵列。在外界光的照射时，该像素阵列会产生电荷，所产生的电荷与照射光的强度以及曝光时间有关。

具体的，该方法包括如下步骤：

S1、设置任意四个曝光时间百分比。

具体地，曝光时间百分比指的是图像扫描过程中曝光时间与完成图像扫描所需要的时间之间的百分比。以扫描一行图像为例，假设采集一行图像所需要的时间是20s，设置的曝光时间为10s，则认为曝光时间百分比为50％。在光强不变的情况下，不同的曝光时间会引起图像传感器采集的电压值不一样。

更具体地，曝光时间百分比可以是10％、50％、70％或者100％等，当采集图像所需要的时间是20s时，则其对应的时间分别为2s、10s、14s、20s。

S2、获取所述待检测介质在任一曝光时间百分比时，所述待检测介质处于非曝光状态的电压值。

具体地，待检测介质可以是钞票也可以是彩票等需要对图像进行识别与检测的物质；采集图像处于非曝光状态的电压指的是图像处于未打光状态时传感器采集的电压，也即图像处于暗背景状态下的电压。

由于物理器件不可能是理想的，即使没有光照射到传感器像素时，像素单元也会产生电荷，这些电荷产生了暗电流，暗电流与光照产生的电荷很难区分，暗电流在像素阵列各处也不完全相同，它会导致固定图形噪声，对于含有积分功能的像素单元来说，暗电流所造成的固定图形噪声与积分时间成正比。因而可以通过采集被检测介质处于非曝光状态下的暗电流，然后通过对暗电流和曝光对应的曝光时间来获取任曝光时间百分比所对应的非曝光电压值。

具体地，对于任意曝光时间百分比，获取待检测介质处于非曝光状态的电压值具体包括：对于任一列像素，在任一曝光时间百分比时，采集该列H个像素中的每一个像素采集的待检测介质处于非曝光状态的电压，然后对所采集的H个电压进行求和取均值，从而获得该曝光时间百分比时，所述待检测介质处于非曝光状态的列平均电压。

S3、对待检测介质进行反射或透射检验，获取待检测介质在任一曝光时间百分比时，所述待检测介质处于曝光状态时所对应的电压值。

当光照射像素阵列时，发生光电效应，在像素单元内产生相应的电荷，曝光时间不同，产生的电荷也不一样，具体地，在光强一样的情况下，曝光时间越长，产生的电荷越多，传感器检测的电压数值会越大。

具体地，所述对待检测介质进行反射或透射检验，获取待检测介质在任一曝光时间百分比时，所述待检测介质处于曝光状态时所对应的电压值具体包括：对于任一列像素，在任一曝光时间百分比时，采集该列H个像素中的每一个像素采集的待检测介质处于曝光状态的电压，然后对H个电压求和取平均值，从而获得该曝光时间百分比，被检测图像介质处于曝光状态的列平均电压。

S4、获取待检测介质在任一曝光时间百分比时对应的电压差值。

由于图像处于曝光状态时获取的电压值并非完全由光照所引起的，其中有一部分是由于噪声引起的，而噪声引起的电压值会影响传感器计算的线性度，因此，有必要去除曝光状态中由噪声引起的电压值，以提高计算的精确度。

具体地，对于任一曝光时间百分比，利用步骤S3中所获得的该曝光时间百分时，被检测图像介质处于曝光状态的列平均电压减去步骤S2中所获得的被检测图像介质处于非曝光状态的列平均电压值即可获得该曝光时间百分比所对应的列平均电压差值。

S5、计算所述图像传感器的线性度。

具体地，利用步骤S1中设定的任意4个曝光时间百分比以及步骤S4中获取的所述任一曝光时间百分比所对应的列平均电压差值计算图像传感器的列线性度。并可以按照相同的方法计算图像传感器其他列的线性度。更具体地，可以利用任意两个曝光时间对应的列平均电压差值之差、其他两个曝光时间对应的列平均电压差值之差的、任意两个曝光时间百分比之差、其他两个曝光时间百分比之差计算所述图像传感器的线性度

图2为本发明的另一具体实施方式的流程图，该方法还包括步骤S6、判断所述图像传感器的线性度是否合格。

具体地，根据预先设定的图像传感器的数值范围，确定S5中计算的图像传感器的线性度是否处于设定的范围内，如果传感器的线性度处于预设的范围内，则认为图像传感器的线性度合格，否则认为所述图像传感器的线性度不合格。

对于传感器的任何一列的线性度而言，只有其任何一列的线性度均处于设定的范围内，图像传感器的线性度才满足条件，当有任何一列的线性度不处于设定的范围时，则认为传感器的线性度不满足条件。

图3为本发明的另一实施例，假设图像传感器包括H×M个像素，H为传感器像素的行数，M为传感器像素的列数，

步骤S41：设定任意4个曝光时间百分比，假设该任意4个曝光时间百分比为a,b,c,d，

步骤S42：对于任一列像素，获取在任意曝光时间百分比时，待检测介质处于非曝光状态时该列像素所对应的列电压平均值；

获取任一列N的H个像素在任一曝光时间百分比下采集的被检测图像介质处于非曝光状态下的电压，并求取该列像素的列平均电压E_paN、E_pbN、E_pcN、E_pdN。

具体地，对于第N列像素，其中，N为小于H的正整数，假设曝光时间百分比为a，可以获取待检测介质处于该百分比时处于非曝光状态下该列像素的H个电压值，对该H个电压值进行求和取平均值，从而可以获得E_paN。采用相同的办法，可以获取曝光时间百分比为b、c、d时的被检测图像介质处于非曝光状态的列平均电压值E_pbN、E_pcN、E_pdN；

步骤S43：对待检测介质进行反射或透射检验，获取该列像素在任意曝光时间百分比，被检测图像介质处于曝光状态下的该列像素所对应的列电压平均值。

驱动待检测介质进行反射测试，获取第N列的H个像素处被检测图像介质处于在任一曝光时间百分比并处于曝光状态的电压值，并对任意曝光时间百分比所对应的H个电压值求和取平均值从而获得V_paN、V_pbN、V_pcN、V_pdN。

具体地，对于第N列像素，假设曝光时间百分比为a时，可以获取H个电压值，对该H个电压值求和取平均值，从而可以获得V_paN，采用相同的方法即可获得V_pbN、V_pcN、V_pdN。

步骤S44：获取任意曝光时间百分比所对应的列电压差值：VE_paN＝V_paN-E_paN、VE_pbN＝V_pbN-E_pbN、VE_pcN＝V_pcN-E_pcN、VE_pdN＝V_pdN-E_pdN。

步骤S45：计算图像传感器第N列的线性度为:

其中，γN为所述图像传感器第N列的线性度，a,b,c,d分别为任意选定的4个曝光时间百分比，VE_pa为曝光时间百分比为a时，图像曝光电压与非曝光电压之间的电压差值；VE_pb为曝光时间百分比为b时，图像曝光电压与非曝光电压之间的电压差值；VE_pc为曝光时间百分比为c时，图像曝光电压与非曝光电压之间的电压差值，VE_pd为曝光时间百分比为d时，图像曝光电压与非曝光电压之间的电压差值。

步骤S46：判断图像传感器的线性度是否合格。

判断γh是否处于设定的范围内，如果γh处于设定的范围内，则继续计算其他列的线性度，如果所有列的线性度都处于设定的范围内，则认为图像传感器的线性度满足条件，否则认为图像传感器的线性度不满足条件。

优选地，也可以在计算出所有的列线性度的情况下，先比较所有列线性度的值，选出列线性度中数值最大和最小的列线性度，然后利用最大的列线性度与设定的线性度最大值进行比较，最小的列线性度与设定线性度的最小值进行比较，当两者都处于设定范围内时，则认为传感器线性度满足条件，否则，传感器线性度不满足条件。

在对图像传感器进行反射测试后，可以更换被检测图像介质以及光源，对图像传感器进行透射测试，透射测试的方法与反射测试的方法相同。

图4为本发明的图像传感器的线性度的检测装置，该检测装置包括：第一设置单元102、第一获取单元104、第二获取单元106、电压差值获取单元108、线性度计算单元110，其中

第一设置单元102，用于设置任意4个曝光时间百分比；

第一获取单元104，用于获取待检测介质处于任一非曝光状态下的非曝光电压；

第二获取单元106，用于获取待检测介质处于任一曝光时间百分比所对应的曝光电压值；

电压差值获取单元108，用于计算任一曝光时间百分比所对应的曝光电压与非曝光电压之间的电压差值；

线性度计算单元110，用于根据设定的曝光时间百分比以及电压差值计算图像传感器的线性度。

在一具体实施方式中，所述线性度计算单元还包括采用如下公式计算图像传感器的线性度，

其中，γN为所述图像传感器第N列的线性度，a,b,c,d分别为任意选定的4个曝光时间百分比，VE_pa为曝光时间百分比为a时，图像曝光电压与非曝光电压之间的电压差值；VE_pb为曝光时间百分比为b时，图像曝光电压与非曝光电压之间的电压差值；VE_pc为曝光时间百分比为c时，图像曝光电压与非曝光电压之间的电压差值，VE_pd为曝光时间百分比为d时，图像曝光电压与非曝光电压之间的电压差值。

此外，该图像传感器的线性度的检测装置还包括检测单元112，该检测单元112用于检测线性度计算单元计算的图像传感器的线性度是否处于设定的范围内，如果处于设定的范围内，则认为图像传感器的线性度满足条件，否则认为图像传感器的线性度不满足条件。

实施本发明实施例，将具有如下有益效果：

本发明的实施例通过设定任意4个曝光时间百分比，并对4个任意曝光时间百分比、任一列像素处被检测图像介质处于曝光状态与非曝光状态的电压相减从而获得任意曝光时间百分比，任意列像素的列电压差值，然后利用任意4个曝光时间百分比及4个列电压差值计算传感器的列线性度，采用该方法，可以计算任意4个曝光时间百分比的线性度，而不仅仅是计算曝光时间为50％、100％的确定时间参数下的线性度，此外，通过求取列电压差值，不但计算了每个成像单元的线性度，而且避免了瑕疵像素被亮度均值后无法检测出来的弊端，再者，采用本发明的方法可装置，通过更换待检测介质以及光源，按照与反射相同的方法即可实现待检测介质的透射检测。

在一个实施例中，如图4所示，图4展示了一种运行上述运行图像传感器的检测方法的基于冯诺依曼体系的计算机系统的终端。该计算机系统可以是智能手机、平板电脑、掌上电脑、笔记本电脑或个人电脑等终端设备。具体的，可包括通过系统总线连接的外部输入接口1001、处理器1002、存储器1003和输出接口1004。其中，外部输入接口1001可选的可至少包括网口10012。存储器1003可包括外存储器10032(例如硬盘、光盘或软盘等)和内存储器10034。输出接口1004可至少包括显示屏10042等设备。

在本实施例中，本方法的运行基于计算机程序，该计算机程序的程序文件存储于前述基于冯诺依曼体系的计算机系统的外存储器10032中，在运行时被加载到内存储器10034中，然后被编译为机器码之后传递至处理器1002中执行，从而使得基于冯诺依曼体系的计算机系统中形成逻辑上的各个虚拟模块。且在上述规则图像的边沿斜率的计算方法执行过程中，输入的参数均通过外部输入接口1001接收，并传递至存储器1003中缓存，然后输入到处理器1002中进行处理，处理的结果数据或缓存于存储器1003中进行后续地处理，或被传递至输出接口1004进行输出。

以上所揭露的仅为本发明较佳实施例而已，当然不能以此来限定本发明之权利范围，因此依本发明权利要求所作的等同变化，仍属本发明所涵盖的范围。

Claims (5)

1.一种图像传感器的线性度检测方法，其包括如下步骤：

设置任意4个曝光时间百分比，所述曝光时间百分比指在扫描图像过程中的曝光时间与完成图像扫描所需要时间之间的百分比；

获取待检测介质在任一曝光时间百分比时，所述待检测介质处于非曝光状态的电压值；

对待检测介质进行反射和/或透射检测，获取待检测介质在任一曝光时间百分比时，所述待检测介质处于曝光状态的电压值；

计算所述待检测介质在任一曝光时间百分比所对应的电压差值，其中任一曝光时间百分比所对应的电压差值为在该曝光时间百分比时，所述待检测介质处于曝光状态的电压值与处于非曝光状态的电压值之间的差值；

根据任意4个曝光时间百分比以及4个曝光时间百分比所对应的电压差值计算所述图像传感器的线性度；

其中，所述获取待检测介质在任一曝光时间百分比时，所述待检测介质处于非曝光状态的电压值，包括：

对于任一列像素，获取在任一曝光时间百分比时，该列像素中的任一像素采集的所述待检测介质处于非曝光状态的电压；

对任一像素采集的待检测介质处于非曝光状态的电压进行求和取平均值，从而获得在该任一曝光时间百分比时，该列像素采集的被检测图像介质处于非曝光状态的列平均电压值；

其中，所述对待检测介质进行反射和/或透射检测，获取待检测介质在任一曝光时间百分比时，所述待检测介质处于曝光状态的电压值包括：

对于任一列像素，获取在任一曝光时间百分比时，该列像素中的任一像素采集的所述待检测介质处于曝光状态的电压；

对任一像素采集的待检测介质处于曝光状态的电压进行求和取平均值，从而获得在该任一曝光时间百分比时，该列像素采集的被检测图像介质处于曝光状态的列平均电压值；

其中，计算所述待检测介质在任一曝光时间百分比所对应的电压差值包括：

对于任一曝光时间百分比，利用该曝光时间百分比时，被检测图像介质处于曝光状态的列平均电压值减去其处于非曝光状态的列平均电压值，从而获得该曝光时间百分比所对应的列电压差值；

其中，根据所述任意4个曝光时间百分比以及4个曝光时间百分比所对应的电压差值计算所述图像传感器的线性度，包括：

利用所述设置的任意4个曝光时间百分比以及该4个曝光时间百分比所对应的列电压差值计算所述图像传感器的线性度；

其中，利用公式

计算所述图像传感器的列线性度，其中a，b，c，d为任意设置的4个曝光时间百分比，γN为图像传感器第N列的线性度，VE_paN为当曝光时间百分比为a时所对应的第N列的电压差值，VE_pbN为当曝光时间百分比为b时所对应的第N列的电压差值，VE_pcN为当曝光时间百分比为c时所对应的第N列的电压差值，VE_pdN为当曝光时间百分比为d时所对应的第N列的电压差值。

2.如权利要求1所述的一种图像传感器的线性度的检测方法，其特征在于：根据所述任意4个曝光时间百分比以及4个曝光时间百分比所对应的电压差值计算所述图像传感器的线性度之后，还包括：

判断计算的图像传感器的线性度是否处于设定的范围内，如果处于设定的范围内，则判定所述图像传感器的线性度满足条件；否则，判定所述图像传感器的线性度不满足条件。

3.一种图像传感器的线性度检测装置，其包括：

第一设置单元，用于设置任意4个曝光时间百分比；

第一获取单元，用于获取待检测介质在任一曝光时间百分比时，所述待检测介质处于非曝光状态的电压值；

第二获取单元，对待检测介质进行反射和/或透射检测，用于获取待检测介质在任一曝光时间百分比时，所述待检测介质处于曝光状态的电压值；

电压差值获取单元，用于获取所述待检测介质在任一曝光时间百分比所对应的电压差值，其中任一曝光时间百分比所对应的电压差值为在该曝光时间百分比时，所述待检测介质处于曝光状态下的电压值与处于非曝光状态下的电压值之间的差值；

线性度计算单元，用于计算所述图像传感器的线性度；

所述第一获取单元具体用于对于任一列像素，获取在任一曝光时间百分比时，该列像素中的任一像素采集的所述待检测介质处于非曝光状态的电压，对任一像素采集的待检测介质处于非曝光状态的电压进行求和取平均值，从而获得在该任一曝光时间百分比时，该列像素采集的被检测图像介质处于非曝光状态的列平均电压值；

所述第二获取单元具体用于对于任一列像素，获取在任一曝光时间百分比时，该列像素中的任一像素采集的所述待检测介质处于曝光状态的电压，对任一像素采集的待检测介质处于曝光状态的电压进行求和取平均值，从而获得在该任一曝光时间百分比时，该列像素采集的被检测图像介质处于曝光状态的列平均电压值；

所述电压差值获取单元具体用于对于任一曝光时间百分比，利用该曝光时间百分比时，被检测图像介质处于曝光状态的列平均电压值减去其处于非曝光状态的列平均电压值，从而获得该曝光时间百分比所对应的列电压差值；

所述线性度计算单元具体用于利用所述设置的任意4个曝光时间百分比以及该4个曝光时间百分比所对应的列电压差值计算所述图像传感器的线性度，为：

利用公式

计算所述图像传感器的列线性度，其中a，b，c，d为任意设置的4个曝光时间百分比，γN为图像传感器第N列的线性度，VE_paN为当曝光时间百分比为a时所对应的第N列的电压差值，VE_pbN为当曝光时间百分比为b时所对应的第N列的电压差值，VE_pcN为当曝光时间百分比为c时所对应的第N列的电压差值，VE_pdN为当曝光时间百分比为d时所对应的第N列的电压差值。

4.如权利要求3所述的一种图像传感器的线性度检测装置，其特征在于：所述图像传感器的线性度检测装置还包括：

检测单元，用于检测线性度计算单元计算的图像传感器的线性度是否处于设定的范围内，如果处于设定的范围内，则传感器的线性度满足条件；否则，传感器的线性度不满足条件。

5.一种金融设备，包括图像传感器以及如权利要求3-4任一项所述的图像传感器的线性度检测装置。

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