CN108492768A - 一种面板裂纹检测结构及检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种面板裂纹检测结构及检测方法，所述面板裂纹检测结构包括：具有压降补偿单元的像素驱动电路、设置于面板上的裂纹检测走线以及信号控制单元；所述裂纹检测走线通过第一电源电压端接入到所述像素驱动电路中；所述信号控制单元用于生成面板裂纹检测的检测信号，以对所述压降补偿单元的补偿功能进行削弱或者消除；其中，所述压降补偿单元用于对输入到所述像素驱动电路中的第一电源电压端的压降进行补偿；所述第一电源电压端用于为像素提供阳极电压。本申请能够在不使用开关的情况下有效实现面板裂纹检测，同时不影响面板的电学检测，不仅提高了裂纹检测的效率和准确性，同时能够实现面板的窄边框设计。

Description

一种面板裂纹检测结构及检测方法

技术领域

本发明涉及面板裂纹检测相关技术领域，特别是指一种面板裂纹检测结构及检测方法。

背景技术

在柔性有机发光二极管(OLED)产品中，由于采用柔性封装，Growing dark spot(GDS)不良成为了产品后段工艺的头号杀手。GDS直接成因是封装漏气，导致电致发光元件(EL)器件接触外界水汽，进而导致EL材料失效；其根本原因是出现膜层裂纹(Crack)，导致封装TFE(thin film encapsulation，薄膜封装)薄膜破裂。在面板电学(Cell ET)检测阶段，如果只有轻微膜层Crack，TFE薄膜可能未出现明显裂缝，也即在点亮阶段不会出现明显不良，但在长期使用中或者高温信赖性试验中，会使Crack发生恶化，从而在后期导致EL材料失效，引起面板(panel)报废的风险。如果不能在Cell阶段将存在膜层Crack的产品及时甄别出来，轻则浪费模组(Module)阶段耗材，重则影响客户送样，影响公司、产品信誉。

针对于此，在OLED柔性产品中，目前大部分采用了一种面板裂纹检测(PanelCrack Detect，PCD)设计，将检测用的金属走线连接至显示(AA)区若干数据线(Data)走线，当PCD出现Crack时，断裂的金属走线将会增加PCD电阻，使相连的Data线写入不足，最终呈现数条不亮线，从而到达检测膜层Crack的目的。同时为了不影响正常的Cell ET，需要在面板边缘位置设置一个Vdata Switch开关用于关闭金属走线的影响，避免金属走线的断裂对Cell ET误判。但当前由于产品的不断更新换代、产品分辨率(PPI)的不断增加以及全面屏的逐渐普及，Panel中能够用于Vdata Switch(转换)开关的位置越来越狭隘，目前多使用单边Switch开关用于Cell Test区分RGB画面，而对于PCD检测走线，已经无多余Switch开关进行开关控制，导致panel产品在Cell Test中，由于PCD走线本身的电阻，导致连接PCD的Vdata信号存在明显压降，也即使得data写入不足，进而在不同电路中呈现亮线与暗线，导致Cell Test过程中受到竖条PCD-X-Line干扰，影响产品正常的不良检测，容易出现过检和误判，最终影响产品品质和良率。

在实现本申请的过程中，发明人发现现有技术至少存在以下问题：对于窄边框设计的显示面板，现有通过数据线实现面板裂纹检测的结构将会影响正常的Cell Test，导致容易出现过检和误判，影响产品品质和良率。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提出一种面板裂纹检测结构及检测方法，能够在不使用开关的情况下有效实现面板裂纹检测，同时不影响面板的电学检测，不仅提高了裂纹检测的效率和准确性，同时能够实现面板的窄边框设计。

基于上述目的本发明提供的一种面板裂纹检测结构，包括：具有压降补偿单元的像素驱动电路、设置于面板上的裂纹检测走线以及信号控制单元；

所述裂纹检测走线通过第一电源电压端接入到所述像素驱动电路中；所述信号控制单元用于生成面板裂纹检测的检测信号，以对所述压降补偿单元的补偿功能进行削弱或者消除；其中，所述压降补偿单元用于对输入到所述像素驱动电路中的第一电源电压端的压降进行补偿；所述第一电源电压端用于为像素提供阳极电压。

可选的，所述像素驱动电路包括驱动晶体管；所述驱动晶体管的栅极与第一节点连接，所述驱动晶体管的第一极与第一电源电压端连接，所述驱动晶体管的第二极与有机发光二极管连接，所述驱动晶体管用于根据所述第一节点的电压控制所述有机发光二极管发光；

所述压降补偿单元用于根据控制信号向所述第一节点写入补偿电压；所述补偿电压为第一电源电压与所述驱动晶体管的阈值电压之和；

所述裂纹检测走线设置于第一电源电压端与驱动晶体管之间；所述检测信号包括第一电源电压端检测信号以及用于初始写入所述第一节点的初始电压检测信号；所述第一电源电压端检测信号与所述初始电压检测信号的压差小于所述驱动晶体管的开启电压；其中，所述第一电源电压端检测信号为所述第一电源电压端对应的电压信号，所述初始电压检测信号为所述初始电压输入端对应的电压信号。

可选的，所述像素驱动电路还包括：第一晶体管、第二晶体管、第四晶体管、第五晶体管、第六晶体管、第七晶体管、第八晶体管以及存储电容；

所述驱动晶体管的第一极通过所述裂纹检测走线连接到第一电源电压端，所述驱动晶体管的第二极连接到所述第二晶体管的第一极和所述第六晶体管的第一极，所述驱动晶体管的栅极连接到第一节点以及与所述第一节点连接的所述存储电容的第一端、所述第二晶体管的第二极和所述第一晶体管的第二极；

所述第六晶体管的第二极连接到有机发光二极管的阳极和所述第八晶体管的第二极，所述第六晶体管的栅极连接到工作电压端；所述第八晶体管的第一极连接到初始电压输入端；所述第八晶体管的栅极连接到栅极电压端；有机发光二极管的阴极连接到第二电源电压端；

所述第二晶体管的栅极连接到栅极电压端；所述第一晶体管的第一极连接到初始电压输入端，所述第一晶体管的栅极连接到复位信号端；

所述存储电容的第二端连接到所述第五晶体管的第二极、所述第七晶体管的第二极以及所述第四晶体管的第二极；所述第五晶体管的第一极和所述第七晶体管的第一极均连接到参考电压端；所述第五晶体管的栅极连接到工作电压端；所述第七晶体管的栅极连接到复位信号端；所述第四晶体管的第一端连接到数据线端，所述第四晶体管的栅极连接到栅极电压端。

可选的，所述检测信号还包括数据线端检测信号和参考电压端检测信号；其中，所述数据线端检测信号等于所述参考电压端检测信号。

可选的，所述检测信号还包括第二电源电压端检测信号。

可选的，所述第一电源电压端检测信号对应的电压取值范围为0V～2V；所述初始电压输入端检测信号对应的电压取值范围为-2.5V～0V；所述第二电源电压端检测信号对应的电压取值范围为-2V～-3V。

可选的，所述第一电源电压端检测信号对应的电压为2V；所述初始电压输入端检测信号对应的电压为-2.5V；所述第二电源电压端检测信号对应的电压为-2.5V；所述数据线端检测信号对应的电压为-2.5V；所述参考电压端检测信号对应的电压为-2.5V。

可选的，所述裂纹检测走线围绕面板设置且至少设置有2圈。

可选的，所述裂纹检测走线的材料包括钼。

本申请还提供了一种面板裂纹检测方法，包括：将面板裂纹检测走线通过第一电源电压端接入到像素驱动电路中；其中，所述像素驱动电路包括压降补偿单元，用于对输入到所述像素驱动电路中的第一电源电压端的压降进行补偿；

生成用于面板裂纹检测的检测信号，以对所述压降补偿单元的补偿功能进行削弱或者消除。

从上面所述可以看出，本发明提供的面板裂纹检测结构及检测方法，通过使得裂纹检测走线通过第一电源电压接入到像素驱动电路中，同时基于所述像素驱动电路中存在压降补偿单元，能够对第一电源电压进行补偿，使得在进行面板电学检测过程中，裂纹检测走线引起的第一电源电压的压降不会影响像素中的电流，也即不需要额外增加开关单元来控制裂纹检测走线的屏蔽，最终能够实现窄边框设计，同时通过信号控制单元能够实现压降补偿单元的削弱和消除，使得进行裂纹检测时，不会由于电压补偿而无法检测或者漏检误检。因此，本申请所述面板裂纹检测结构及检测方法能够在不使用开关的情况下有效实现面板裂纹检测，同时不影响面板的电学检测，不仅提高了裂纹检测的效率和准确性，同时能够实现面板的窄边框设计。

附图说明

图1为本发明提供的面板裂纹检测结构一个实施例的结构框图；

图2为现有一种裂纹检测结构设计示意图；

图3为本发明提供的面板裂纹检测结构另一个实施例的结构示意图；

图4为本发明提供的面板裂纹检测结构进行ET检测的电流走向示意图；

图5为本发明提供的面板裂纹检测结构进行裂纹检测的电流走向示意图；

图6为本发明提供的裂纹检测走线示意图；

图7为本发明提供的高灰阶下Vdata和Vdd变化对电流的影响示意图；

图8为本发明提供的低灰阶下Vdd变化对电流的影响示意图；

图9为本发明提供的检测信号下Vdd变化对电流的影响示意图；

图10为本发明提供的ET信号时序图；

图11为本发明提供的面板裂纹检测方法一个实施例的流程图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本发明进一步详细说明。

需要说明的是，本发明实施例中所有使用“第一”和“第二”的表述均是为了区分两个相同名称非相同的实体或者非相同的参量，可见“第一”“第二”仅为了表述的方便，不应理解为对本发明实施例的限定，后续实施例对此不再一一说明。

本申请针对于当前裂纹检测存在的问题，尤其是面对窄边框设计的趋势使得面板边缘无法提供更多的开关单元用于实现现有裂纹检测走线(PCD)的关闭控制，进而使得在进行面板电学测试过程中，容易由于裂纹检测走线带来的压降进而使得测试结果不准确的问题，提出了一种改进的裂纹检测结构，使得在不需要开关单元的基础上，实现裂纹检测和面板测试，使得两者相互不受影响并且测试结果准确有效。

具体的，发明人经过仔细研究发现，当前为了电路差异带来的压降以及不同驱动晶体管之间的阈值电压的区别，在像素驱动电路中均相应的设计有用于实现输入电压补偿的压降补偿单元，保证电路的均一性。由此，发明人认为可以利用驱动电路中对于第一电源电压具有补偿的特性，进而将裂纹检测走线的接入位置改为从第一电源电压端接入，由此使得在具有补偿功能时，无论是否存在裂纹均不会影响面板电学检测的结果，同时为了实现裂纹检测的有效性，可以通过输入特殊的监测信号，进而使得补偿功能削弱或者消除，进而可以准确有效的实现面板裂纹检测。也即本申请通过在第一电源电压(Vdd)IR Drop(压降)补偿电路中，对Vdd进行补偿，使得在正常的Cell Test中，Vdd差异不会对Panel造成明显影响，可以实现Cell Test；然后通过特殊输入信号，能够关闭Vdd IR Drop补偿，也即可以准确在画面上反映出由于PCD Crack造成的Vdd差异，从而达到快速有效地检测出面板裂纹，同时又不影响Cell Test检测准确性。避免Panel Crack Detect和Cell Test之间产生误检。因此，本申请在高PPI、窄边框产品中将有着显著地优势。

下面，将以具体的是实施例对本申请的设计思路进行说明。

实施例一，

参照图1所示，为本发明提供的面板裂纹检测结构一个实施例的结构框图。由图可知，本申请所述面板裂纹检测结构包括：具有压降补偿单元11的像素驱动电路1、设置于面板上的裂纹检测走线2以及信号控制单元3；

所述裂纹检测走线2通过第一电源电压端接入到所述像素驱动电路1中；所述信号控制单元3用于生成面板裂纹检测的检测信号，以对所述压降补偿单元11的补偿功能进行削弱或者消除；其中，所述压降补偿单元11用于对输入到所述像素驱动电路1中的第一电源电压端的压降进行补偿；所述第一电源电压端用于为像素提供阳极电压。

由上述实施例可知，本申请利用像素驱动电路中自身对于第一电源电压端的压降进行补偿的特性，将现有从数据线端接入的裂纹检测走线改进为从第一电源电压端接入，使得正常情况下可以自然的将裂纹检测走线带来的电阻变化，也即压降关闭，也即不需要额外的增加开关，进而避免对面板电学测试带来干扰，同时为了实现裂纹的有效检测，可以根据补偿机理，相应的改变输入信号，也即提供一个检测信号，使得压降补偿单元的补偿作用消失或者削弱，这样就可以将裂纹检测走线带来的压降以及最终的电流变化反应到最后的面板亮度上，也即可以准确有效的实现面板的裂纹检测。因此，本申请所述面板裂纹检测结构能够在不增加开关的情况下有效实现面板裂纹检测，同时不影响面板的电学检测，不仅提高了裂纹检测的效率和准确性，同时能够实现面板的窄边框设计。

需要说明的是，虽然本申请下述实施例均是以具体的像素驱动电路进行说明，但是实际上本申请的主要改进是在于利用电路中固有的压降补偿特性进而实现避免需要增加开关单元的效果，至于像素驱动电路具体采用哪种补偿形式或者说如何利用信号实现压降补偿的削弱均属于本申请的设计思路，对此不申请不作详细赘述。

在本申请一些可选的实施例中，所述像素驱动电路中包括驱动晶体管；所述驱动晶体管的栅极与第一节点连接，所述驱动晶体管的第一极与第一电源电压端连接，所述驱动晶体管的第二极与有机发光二极管(OLED)连接，所述驱动晶体管用于根据所述第一节点的电压控制所述有机发光二极管发光；

所述压降补偿单元用于根据控制信号向所述第一节点写入补偿电压；所述补偿电压为第一电源电压与所述驱动晶体管的阈值电压之和；

所述裂纹检测走线设置于第一电源电压端与驱动晶体管之间；所述检测信号包括第一电源电压端检测信号以及用于初始写入所述第一节点的初始电压检测信号；所述第一电源电压端检测信号与所述初始电压检测信号的压差小于所述驱动晶体管的开启电压。其中，所述第一电源电压端检测信号为所述第一电源电压端对应的电压信号，所述初始电压检测信号为所述初始电压输入端对应的电压信号。

这样，当所述像素驱动电路中的电压补偿是利用所述驱动晶体管的特性实现补偿时，压降补偿单元将会在控制信号的驱动下向连接到所述驱动晶体管栅极的第一节点写入一个包括第一电源电压和阈值电压的补偿电压，这样在实现OLED点亮的过程中，由于驱动晶体管的电流控制特性，将会使得两端的第一电源电压和阈值电压均相互抵消，进而可以实现压降补偿。而本申请通过减小写入所述第一节点的初始电压检测信号与第一电源电压的压差，能够降低驱动晶体管的开启能力，进而使得压降补偿单元无法提前写入补偿电压，也即使得无法实现第一电源电压的补偿，这样可以准确有效的实现面板裂纹检测。

实施例二，

本实施例以具体的像素驱动电路为例进行详细说明。

参照图2所示，为现有的一种裂纹检测结构设计示意图；由图可知，传统的PCD走线通过连接AA区的Vdata走线，即数据线接入到像素驱动电路中，当出现PCD断裂时，PCD电阻的变化将会导致Vdata写入电压异常，进而实现裂纹的检测，但是当前由于窄边框电路中难以安置用于控制PCD功能的Switch TFT，导致Vdata信号在Cell Test阶段也会写入异常，最终导致Vdata写入异常会在panel上出现竖条不等暗线，响应Cell Test检测结果的判断。

针对于此，本申请利用像素驱动电路中的压降补偿特性，将裂纹检测走线通过第一电源电压接入到电路中，可以避免对Cell Test阶段的干扰。具体的，参照图3所示，为本发明提供的面板裂纹检测结构另一个实施例的结构示意图。所述像素驱动电路包括：第一晶体管T1、第二晶体管T2、驱动晶体管T3、第四晶体管T4、第五晶体管T5、第六晶体管T6、第七晶体管T7、第八晶体管T8以及存储电容C1；

所述驱动晶体管T3的第一极通过所述裂纹检测走线(PCD)连接到第一电源电压端VDD，所述驱动晶体管T3的第二极连接到所述第二晶体管T2的第一极和所述第六晶体管T6的第一极，即第三节点N3，所述驱动晶体管T3的栅极连接到第一节点N1以及与所述第一节点N1连接的所述存储电容C1的第一端、所述第二晶体管T2的第二极和所述第一晶体管T1的第二极；

所述第六晶体管T6的第二极连接到有机发光二极管的阳极和所述第八晶体管T8的第二极，即第四节点N4；所述第六晶体管T6的栅极连接到工作电压端EM；所述第八晶体管T8的第一极连接到初始电压输入端Vinit；所述第八晶体管T8的栅极连接到栅极电压端G；有机发光二极管的阴极连接到第二电源电压端VSS；

所述第二晶体管T2的栅极连接到栅极电压端G；所述第一晶体管T1的第一极连接到初始电压输入端Vinit，所述第一晶体管T1的栅极连接到复位信号端Re；

所述存储电容C1的第二端连接到所述第五晶体管T5的第二极、所述第七晶体管T7的第二极以及所述第四晶体管T4的第二极，即第二节点N2；所述第五晶体管T5的第一极和所述第七晶体管T7的第一极均连接到参考电压端Vref；所述第五晶体管T5的栅极连接到工作电压端EM；所述第七晶体管T7的栅极连接到复位信号端Re；所述第四晶体管T4的第一端连接到数据线端Vdata，所述第四晶体管T4的栅极连接到栅极电压端G。

需要说明的是，基于晶体管的特性，上述所有晶体管的第一极可选为源极或漏极，对应的第二极可选为漏极或源极，本实施例不再重复说明。

进一步，参照图10所示，为本发明提供的ET信号时序图。也即，所述复位信号端Re对应的复位电压信号Reset、所述栅极电压端G对应的栅极电压信号Gate以及所述工作电压端EM对应的工作电压信号EM均为相应的扫描或者控制信号。具体的，结合图3和图10所示，正常Cell Test信号在t1时刻进行复位操作，使得初始电压输入端Vinit写入N1点，得到N1＝Vinit；t2时刻为补偿写入阶段，N1点写入第一电源电压Vdd，也即使得N1＝Vdd+Vth；其中，Vth为T3的阈值电压；t3时刻进入电量阶段，由于参考电压Vref写入到存储电容C1左侧，使得N1点电位发生跳变，得到N1＝Vdd+Vth+Vdata-Vref，同时由于T3作为驱动晶体管，控制输出电流即其中W/L为驱动晶体管的宽长比，μ为空穴迁移率，Cox为栅极电容，Vgs为驱动晶体管的栅源电压。这样，得到最终的输出电流与第一电源电压没有关系，也即无论是否有PCD出现裂纹，也不会对正常Cell Test造成不良影响。但是这样也会使得无法进行裂纹检测，而本申请基于电路中压降补偿的机理，通过改变相应的控制信号，即可消除对于第一电源电压的补偿，也即无法消除第一电源电压，最终能够实现面板裂纹检测。具体可选的，本申请通过降低Vdd和Vinit的压差，使得在t2时刻，由于压差减小，减弱了Vdd写入N1点的能力，进而使得N1点≈Vinit，这样使得在t3时刻，驱动晶体管的输出电流 由于Vdd没法进行抵消，使得输出电流与Vdd有关系，也即使得面板裂纹引起的Vdd电压异常将会在画面中出现X-Line(暗线)，从而准确有效的实现PCD检测。

参照图4为本发明提供的面板裂纹检测结构进行ET检测的电流走向示意图；图5为本发明提供的面板裂纹检测结构进行裂纹检测的电流走向示意图，结合图4和图5可知，通过改变控制信号即可实现压降补偿功能的开启与关闭，进而达到无需开关控制的效果。

在本申请一些可选的实施例中，所述检测信号还包括数据线端检测信号和参考电压端检测信号；其中，所述数据线端检测信号等于所述参考电压端检测信号。通过使得Vref＝Vdata，在t2补偿阶段，电容左侧电压不变，右侧电压，即N1点电压将不会发生跳变，这样，不仅能够保证不发实现压降补偿，而且使得整个测试过程更加稳定可靠。

在本申请一些可选的实施例中，所述检测信号还包括第二电源电压端检测信号。这样，通过适应性的对第二电源电压端电压信号进行改动，使得检测信号的变化不会引起OLED的异常点亮等问题，保证检测的有效性。

在本申请一些可选的实施例中，所述第一电源电压端检测信号对应的电压取值范围为0V～2V；所述初始电压输入端检测信号对应的电压取值范围为-2.5V～0V；所述第二电源电压端检测信号对应的电压取值范围为-2V～-3V。例如：所述第一电源电压端检测信号对应的电压为2V；所述初始电压输入端检测信号对应的电压为-2.5V；所述第二电源电压端检测信号对应的电压为-2.5V；所述数据线端检测信号对应的电压为-2.5V；所述参考电压端检测信号对应的电压为-2.5V。如下表1所示，列出了正常ET信号(Normal ET)与本申请中用于对所述压降补偿单元的补偿功能进行削弱或者消除的检测信号(Special ET)的对照关系。

表1正常ET信号与检测信号的对照表

	Vdd	Vss	Vinit	Vdata	Vref
						Normal ET	4.6	-3	-3	4	3
Special ET	2	-2.5	-2.5	-2.5	-2.5

由上述实施例可知，本申请所述面板裂纹检测结构，通过将PCD通过Vdd接入到电路中，可以有效快捷的检测Panel Crack，同时最大程度减小了PCD造成的IR Drop对CellTest检测的影响，提高了产品质量以及不良检测效率。

实施例三，

参照图6所示，为本发明提供的裂纹检测走线示意图。由图可知，所述裂纹检测走线围绕面板设置且至少设置有2圈。可选为2-3圈。这样，既有利于裂纹检测走线的布置有具有足够的检测精确度。

在本申请一些可选的实施例中，所述裂纹检测走线的材料包括钼。通过使用更易于破裂的金属材质Mo作为走线，当面板发生Crack时，膜层Crack极易造成PCD走线Crack，导致PCD电阻值大幅增加。这样将会使得裂纹检测更加准确有效。

实施例四，

参照图11所示，为本发明提供的面板裂纹检测方法一个实施例的流程图。由图可知，所述面板裂纹检测方法包括：

步骤S1，将面板裂纹检测走线通过第一电源电压端接入到像素驱动电路中；其中，所述像素驱动电路包括压降补偿单元，用于对输入到所述像素驱动电路中的第一电源电压端的压降进行补偿；

步骤S2，生成用于面板裂纹检测的检测信号，以对所述压降补偿单元的补偿功能进行削弱或者消除。需要说明的是，针对不同驱动电路中压降补偿单元所采用的补偿机理的不同，可以相应的生成对应的检测信号来削弱补偿功能。

基于所述面板裂纹检测方法采用了与上述实施例中裂纹检测结构同样的结构设计，因此具有同样的技术效果，本实施例不再重复赘述。

实施例五，

为了验证本申请改进的有效性，本实施例还提供了关于上述不同结构的模式实验。

参照图7所示，为本发明提供的高灰阶下Vdata和Vdd变化对电流的影响示意图；结合图7与图4，在正常Cell Test画面，当处于高灰阶且Vdata＝4V时，由于PCD存在裂纹导致电源电压出现压降，当Vdd的压降由4.6V降至2.6V时，对输出电流I无明显影响，因此不会被误判为PCD-X-Line，而对于Vdata，压降由4V降为3.5V时，由于Vdata直接控制输出电流，导致输出电流下降一个数量级，在Panel画面上会出现明显暗线，导致出现误判。

参照图8所示，为本发明提供的低灰阶下Vdd变化对电流的影响示意图；结合图8和图4，对于Cell Test低灰阶画面，Vdata＝3.5V时，由于Panel内电流降低，Vdd IR Drop下降，当Vdd由4.6V降至4.4V时，输出电流I无特别明显变化，通过高灰阶和低灰阶对比，Vdata与PCD连接后存在明显输出电流变化，而PCD与Vdd连接时，由PCD导致的Vdd IR Drop对电流无明显影响。

参照图9所示，为本发明提供的检测信号下Vdd变化对电流的影响示意图；结合图9和图5，通过特殊ET信号，即检测信号，能够减弱Vdd补偿效果，通过Vdd和Vinit共同决定最终的Panel亮度，当PCD出现Crack时，Vdd写入电压严重受阻，测试输出电流和Normal条件相比出现明显异常，即可正常检测出Panel Crack导致的PCD OPEN(断路)。

由此可知，本申请所述面板裂纹检测结构及检测方法至少包括以下优点：(1)使PCD通过Vdd接入，减少了Vdata Switch开关，对于高PPI、全面屏布局更为简洁；(2)通过Vdd补偿电路，在正常Cell Test信号下，不会有由于PCD电阻造成的PCD-X-Line误判；(3)通过特殊Cell Test信号，减弱Vdd补偿，实现PCD裂纹检测。

所属领域的普通技术人员应当理解：以上任何实施例的讨论仅为示例性的，并非旨在暗示本公开的范围(包括权利要求)被限于这些例子；在本发明的思路下，以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合，步骤可以以任意顺序实现，并存在如上所述的本发明的不同方面的许多其它变化，为了简明它们没有在细节中提供。

另外，为简化说明和讨论，并且为了不会使本发明难以理解，在所提供的附图中可以示出或可以不示出与集成电路(IC)芯片和其它部件的公知的电源/接地连接。此外，可以以框图的形式示出装置，以便避免使本发明难以理解，并且这也考虑了以下事实，即关于这些框图装置的实施方式的细节是高度取决于将要实施本发明的平台的(即，这些细节应当完全处于本领域技术人员的理解范围内)。在阐述了具体细节(例如，电路)以描述本发明的示例性实施例的情况下，对本领域技术人员来说显而易见的是，可以在没有这些具体细节的情况下或者这些具体细节有变化的情况下实施本发明。因此，这些描述应被认为是说明性的而不是限制性的。

尽管已经结合了本发明的具体实施例对本发明进行了描述，但是根据前面的描述，这些实施例的很多替换、修改和变型对本领域普通技术人员来说将是显而易见的。例如，其它存储器架构(例如，动态RAM(DRAM))可以使用所讨论的实施例。

本发明的实施例旨在涵盖落入所附权利要求的宽泛范围之内的所有这样的替换、修改和变型。因此，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何省略、修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种面板裂纹检测结构，包括：具有压降补偿单元的像素驱动电路、设置于面板上的裂纹检测走线以及信号控制单元；其特征在于，

所述裂纹检测走线通过第一电源电压端接入到所述像素驱动电路中；所述信号控制单元用于生成面板裂纹检测的检测信号，以对所述压降补偿单元的补偿功能进行削弱或者消除；其中，所述压降补偿单元用于对输入到所述像素驱动电路中的第一电源电压端的压降进行补偿；所述第一电源电压端用于为像素提供阳极电压。

2.根据权利要求1所述的面板裂纹检测结构，其特征在于，所述像素驱动电路包括驱动晶体管；所述驱动晶体管的栅极与第一节点连接，所述驱动晶体管的第一极与第一电源电压端连接，所述驱动晶体管的第二极与有机发光二极管连接，所述驱动晶体管用于根据所述第一节点的电压控制所述有机发光二极管发光；

所述压降补偿单元用于根据控制信号向所述第一节点写入补偿电压；所述补偿电压为第一电源电压与所述驱动晶体管的阈值电压之和；

所述裂纹检测走线设置于第一电源电压端与驱动晶体管之间；所述检测信号包括第一电源电压端检测信号以及用于初始写入所述第一节点的初始电压检测信号；所述第一电源电压端检测信号与所述初始电压检测信号的压差小于所述驱动晶体管的开启电压；其中，所述第一电源电压端检测信号为所述第一电源电压端对应的电压信号，所述初始电压检测信号为所述初始电压输入端对应的电压信号。

3.根据权利要求2所述的面板裂纹检测结构，其特征在于，所述像素驱动电路还包括：第一晶体管、第二晶体管、第四晶体管、第五晶体管、第六晶体管、第七晶体管、第八晶体管以及存储电容；

所述驱动晶体管的第一极通过所述裂纹检测走线连接到第一电源电压端，所述驱动晶体管的第二极连接到所述第二晶体管的第一极和所述第六晶体管的第一极，所述驱动晶体管的栅极连接到第一节点以及与所述第一节点连接的所述存储电容的第一端、所述第二晶体管的第二极和所述第一晶体管的第二极；

所述第六晶体管的第二极连接到有机发光二极管的阳极和所述第八晶体管的第二极，所述第六晶体管的栅极连接到工作电压端；所述第八晶体管的第一极连接到初始电压输入端；所述第八晶体管的栅极连接到栅极电压端；有机发光二极管的阴极连接到第二电源电压端；

所述第二晶体管的栅极连接到栅极电压端；所述第一晶体管的第一极连接到初始电压输入端，所述第一晶体管的栅极连接到复位信号端；

所述存储电容的第二端连接到所述第五晶体管的第二极、所述第七晶体管的第二极以及所述第四晶体管的第二极；所述第五晶体管的第一极和所述第七晶体管的第一极均连接到参考电压端；所述第五晶体管的栅极连接到工作电压端；所述第七晶体管的栅极连接到复位信号端；所述第四晶体管的第一端连接到数据线端，所述第四晶体管的栅极连接到栅极电压端。

4.根据权利要求3所述的面板裂纹检测结构，其特征在于，所述检测信号还包括数据线端检测信号和参考电压端检测信号；其中，所述数据线端检测信号等于所述参考电压端检测信号。

5.根据权利要求3所述的面板裂纹检测结构，其特征在于，所述检测信号还包括第二电源电压端检测信号。

6.根据权利要求5所述的面板裂纹检测结构，其特征在于，所述第一电源电压端检测信号对应的电压取值范围为0V～2V；所述初始电压输入端检测信号对应的电压取值范围为-2.5V～0V；所述第二电源电压端检测信号对应的电压取值范围为-2V～-3V。

7.根据权利要求6所述的面板裂纹检测结构，其特征在于，所述第一电源电压端检测信号对应的电压为2V；所述初始电压输入端检测信号对应的电压为-2.5V；所述第二电源电压端检测信号对应的电压为-2.5V；所述数据线端检测信号对应的电压为-2.5V；所述参考电压端检测信号对应的电压为-2.5V。

8.根据权利要求1-7任一项所述的面板裂纹检测结构，其特征在于，所述裂纹检测走线围绕面板设置且至少设置有2圈。

9.根据权利要求8所述的面板裂纹检测结构，其特征在于，所述裂纹检测走线的材料包括钼。

10.一种面板裂纹检测方法，其特征在于，包括：

将面板裂纹检测走线通过第一电源电压端接入到像素驱动电路中；其中，所述像素驱动电路包括压降补偿单元，用于对输入到所述像素驱动电路中的第一电源电压端的压降进行补偿；

生成用于面板裂纹检测的检测信号，以对所述压降补偿单元的补偿功能进行削弱或者消除。