CN108492766B - 补偿电压计算方法及装置、补偿方法及系统、驱动芯片 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种补偿电压计算方法及装置、补偿方法及系统、驱动芯片，所述方法包括步骤：获取显示面板的长宽比x/y以及子像素电路的行数N；根据显示面板的长宽比x/y以及子像素电路的行数N，计算宽度上模拟的子像素电路的行数Ny；根据计算的宽度上模拟的子像素电路的行数Ny、子像素电路的行数N以及面板裂纹检测PCD电压差，计算每一行子像素电路的电压差值ΔV；根据计算的每一行子像素电路的电压差值ΔV，确定第i行子像素电路的电压衰减值ΔVi，以使得将第i行子像素电路的电压衰减值ΔVi用于补偿第i行子像素电路的数据电压的电压值。本发明整体显示画面更加均匀，改善了面板的显示质量。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种补偿电压计算方法及装置、补偿方法及系统、驱动芯片。
背景技术
目前的有源矩阵有机发光二极管(Active-matrix organic light emittingdiode，AMOLED)显示面板，尤其是大尺寸的AMOLED显示面板，由于受到驱动电源电压的布线方式及走线阻抗的影响，到达各个有效显示单元(子像素电路)的驱动电源电压往往会存在差异，从而造成显示画面不均，影响AMOLED显示面板的整体显示质量。
为了保证AMOLED显示面板的整体显示质量，现有技术可能采用以下几种方式实现：1)、设计专门的像素电路并搭配对应的控制时序图，对驱动电源电压进行补偿以消除驱动电源电压引起的IR压降的影响；2)、利用外部亮度成像仪对图像进行成像从而得到亮度差以及相应补偿电压；3)、对驱动电源走线进行网格布线，使驱动电压分布均匀，以减少驱动电压的影响；4)、对每个子像素的灰阶值进行补偿，以使整体显示画面更加均匀。
然而上述实现方式存在的问题是，需借助额外的设备获取数据，存在占用驱动芯片的存储空间的现象。
发明内容
本发明的主要目的在于提出一种补偿电压计算方法及装置、补偿方法及系统、驱动芯片，旨在解决现有技术存在的问题。
为实现上述目的，本发明实施例第一方面提供一种补偿电压计算方法，所述方法包括步骤：
获取显示面板的长宽比x/y以及子像素电路的行数N；
根据所述显示面板的长宽比x/y以及所述子像素电路的行数N，计算宽度上模拟的子像素电路的行数Ny；
根据计算的宽度上模拟的子像素电路的行数Ny、所述子像素电路的行数N以及面板裂纹检测PCD电压差，计算每一行子像素电路的电压差值ΔV；
根据计算的每一行子像素电路的电压差值ΔV，确定第i行子像素电路的电压衰减值ΔVi，以使得将所述第i行子像素电路的电压衰减值ΔVi用于补偿第i行子像素电路的数据电压的电压值。
可选的，所述根据所述显示面板的长宽比x/y以及所述子像素电路的行数N，计算宽度上模拟的子像素电路的行数Ny，通过以下公式实现：
Ny＝N×(x/y)。
可选的，所述根据计算的宽度上模拟的子像素电路的行数Ny、所述子像素电路的行数N以及PCD电压差，计算每一行子像素电路的电压差值ΔV，通过以下公式实现：
可选的，所述第i行子像素电路的电压衰减值ΔVi，通过以下公式实现：
ΔVi＝ΔV×i。
此外，为实现上述目的，本发明实施例第二方面提供一种补偿电压计算装置，所述补偿电压计算装置包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的补偿电压计算程序，所述补偿电压计算程序被所述处理器执行时实现第一方面所述的补偿电压计算方法的步骤。
此外，为实现上述目的，本发明实施例第三方面提供一种电压补偿系统，所述电压补偿系统包括存储模块、第二方面所述的补偿电压计算装置及补偿模块；
所述存储模块，用于存储所述补偿电压计算装置确定的第i行子像素电路的电压衰减值ΔVi；
所述补偿模块，用于获取所述存储模块存储的第i行子像素电路的电压衰减值ΔVi；根据获取的所述存储模块存储的第i行子像素电路的电压衰减值ΔVi，对第i行子像素电路的数据信号的电压进行调整；将调整后的第i行子像素电路的数据信号的电压，发送到所述第i行子像素电路所连接的数据线。
可选的，所述电压补偿系统还包括水平同步信号接收模块；
所述水平同步信号接收模块，用于接收针对所述第i行子像素电路的水平同步信号；
所述补偿模块，还用于在所述水平同步信号接收模块接收到所述第i行子像素电路的水平同步信号后，获取所述存储模块存储的第i行子像素电路的电压衰减值ΔVi。
此外，为实现上述目的，本发明实施例第四方面提供一种驱动芯片，所述驱动芯片包括第三发明所述的电压补偿系统。
再者，为实现上述目的，本发明实施例五方面一种电压补偿方法，所述方法包括步骤：
获取存储的第i行子像素电路的电压衰减值ΔVi；
根据获取的存储的第i行子像素电路的电压衰减值ΔVi，对第i行子像素电路的数据信号的电压进行调整；
将调整后的第i行子像素电路的数据信号的电压，发送到所述第i行子像素电路所连接的数据线。
可选的，所述获取存储的第i行子像素电路的电压衰减值ΔVi包括：
若接收到所述第i行子像素电路的水平同步信号，则获取存储的第i行子像素电路的电压衰减值ΔVi。
本发明实施例提供的补偿电压计算方法及装置、补偿方法及系统、驱动芯片，通过将计算的第i行子像素电路的电压衰减值ΔVi，用于补偿第i行子像素电路的数据电压的电压值；整体显示画面更加均匀，改善了面板的显示质量。
附图说明
图1为本发明第一实施例的补偿电压计算方法流程示意图；
图2为本发明实施例的利用PCD线路测量电压差结构示意图；
图3为本发明第二实施例的补偿电压计算装置结构示意图；
图4为本发明第三实施例的电压补偿系统结构示意图；
图5为本发明第四实施例的驱动芯片结构示意图；
图6为本发明第五实施例的电压补偿方法流程示意图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
以下将参照附图更详细地描述本发明。在各个附图中，相同的元件采用类似的附图标记来表示。为了清楚起见，附图中的各个部分没有按比例绘制。此外，在图中可能未示出某些公知的部分。
在下文中描述了本发明的许多特定的细节，例如器件的结构、材料、尺寸、处理工艺和技术，以便更清楚地理解本发明。但正如本领域的技术人员能够理解的那样，可以不按照这些特定的细节来实现本发明。
第一实施例
如图1所示，本发明第一实施例提供一种补偿电压计算方法，所述方法包括步骤：
11、获取显示面板的长宽比x/y以及子像素电路的行数N；
12、根据所述显示面板的长宽比x/y以及所述子像素电路的行数N，计算宽度上模拟的子像素电路的行数Ny；
在本实施例中，所述根据所述显示面板的长宽比x/y以及所述子像素电路的行数N，计算宽度上模拟的子像素电路的行数Ny，通过以下公式实现：
Ny＝N×(x/y)。
13、根据计算的宽度上模拟的子像素电路的行数Ny、所述子像素电路的行数N以及面板裂纹检测PCD电压差，计算每一行子像素电路的电压差值ΔV；
在本实施例中，所述根据计算的宽度上模拟的子像素电路的行数Ny、所述子像素电路的行数N以及PCD(Panel Crack Detection，面板裂纹检测)电压差，计算每一行子像素电路的电压差值ΔV，通过以下公式实现：
其中Vout-Vin为PCD电压差。
在本实施例中，所述PCD电压差的实现方式在此不作限制。作为示例地，请参考图2所示，在屏体上设置检测屏体裂纹的线路(Vout-Vin之间的PCD线路)，在PCD线路上可设置测试点(例如Vout、Vin两个测试点)，读取测试点处的电压值即可得到PCD电压差。不需借助额外的设备获取数据，不会占用驱动芯片的存储空间。
14、根据计算的每一行子像素电路的电压差值ΔV，确定第i行子像素电路的电压衰减值ΔVi，以使得将所述第i行子像素电路的电压衰减值ΔVi用于补偿第i行子像素电路的数据电压的电压值。
在本实施例中，所述第i行子像素电路的电压衰减值ΔVi，通过以下公式实现：
ΔVi＝ΔV×i。
为了更好地理解本实施例，以下以图2为例进行说明：
如图2所示，图中的Line(1)、Line(i)、Line(N)分别为显示面板的第一行子像素电路、第i行子像素电路以及第N行子像素电路。显示面板的长为X，宽为Y。
显示面板的长宽比为x/y，根据显示面板的长宽比x/y以及子像素电路的行数N，通过公式Ny＝N×(x/y)计算宽度上模拟的子像素电路的行数Ny。
Vout-Vin为PCD电压差，根据计算的宽度上模拟的子像素电路的行数Ny、子像素电路的行数N以及PCD电压差，通过公式于算每一行子像素电路的电压差值ΔV。
因此，第i行子像素电路的电压衰减值ΔVi为ΔVi＝ΔV×i。根据电压衰减值ΔVi对第i行子像素电路的数据信号的电压进行调整，并发送到第i行子像素电路所连接的数据线。
本发明实施例提供的补偿电压计算方法，通过将计算的第i行子像素电路的电压衰减值ΔVi，用于补偿第i行子像素电路的数据电压的电压值；整体显示画面更加均匀，改善了面板的显示质量。
第二实施
参照图3，图3为本发明第二实施例提供一种补偿电压计算装置，所述补偿电压计算装置20包括：存储器21、处理器22及存储在所述存储器21上并可在所述处理器22上运行的补偿电压计算程序，所述补偿电压计算程序被所述处理器执行时实现第一方面所述的补偿电压计算方法的步骤。
本发明实施例提供的补偿电压计算装置，通过将计算的第i行子像素电路的电压衰减值ΔVi，用于补偿第i行子像素电路的数据电压的电压值；整体显示画面更加均匀，改善了面板的显示质量。
第三实施
参照图4，图4为本发明第三实施例提供一种电压补偿系统，所述电压补偿系统包括存储模块31、补偿电压计算装置20及补偿模块32；
其中补偿电压计算装置20可参考第一实施例和第二实施例的说明，在此不作赘述。
所述存储模块31，用于存储所述补偿电压计算装置20确定的第i行子像素电路的电压衰减值ΔVi；
所述补偿模块32，用于获取所述存储模块31存储的第i行子像素电路的电压衰减值ΔVi；根据获取的所述存储模块31存储的第i行子像素电路的电压衰减值ΔVi，对第i行子像素电路的数据信号的电压进行调整；将调整后的第i行子像素电路的数据信号的电压，发送到所述第i行子像素电路所连接的数据线。
在一种实施方式中，所述电压补偿系统还包括水平同步信号接收模块33；
所述水平同步信号接收模块33，用于接收针对所述第i行子像素电路的水平同步信号；水平同步信号接收模块33是根据图像数据输出的同步信号，以该信号为基准，可以保证补偿数据和图像数据同时发出。
所述补偿模块32，还用于在所述水平同步信号接收模块33接收到所述第i行子像素电路的水平同步信号后，获取所述存储模块31存储的第i行子像素电路的电压衰减值ΔVi。
本发明实施例提供的电压补偿系统，通过将计算的第i行子像素电路的电压衰减值ΔVi，用于补偿第i行子像素电路的数据电压的电压值；整体显示画面更加均匀，改善了面板的显示质量。
第四实施
参照图5，图5为本发明第四实施例提供一种驱动芯片，所述驱动芯片包括第三实施例所述的电压补偿系统。
其中补偿电压计算装置20、存储模块31、补偿模块32以及水平同步信号接收模块33可参考第三实施例的说明，在此不作赘述。需要说明的是，存储模块31可以设置在驱动芯片内，也可以设置在驱动芯片外，不占用驱动芯片的存储空间。
以下对图中的Display Engine TCON41、Data Latcha42、Data Buffer43、GammaGenerator44进行说明：
Display Engine TCON41，又称显示引擎逻辑板。用于将接收到的原始图像信号(模拟信号)进行模/数转化，将原始图像信号转化为离散的数字信号。为便于理解，后文将所述接收到的原始图像信号，称为原始图像信号，将转化得到的离散的数字信号，称为数字化的图像数据。Display Engine TCON41在将原始图像信号转化为数字化的图像数据后，对数字化的图像数据进行时序化处理，使得数字化的图像数据以数据序列的方式，存储到Data Latcha42中。其中，一个图像数据序列对应显示面板的一行子像素电路。
此外，Display Engine TCON41的另一个作用，在于向补偿模块32发送时序控制信号，以使得补偿模块32根据时序控制信号，确定出当前时序应该用Gamma Generator44发送给补偿模块32的哪个驱动信号对子像素序列进行驱动。
Data Latcha42，称为数据锁存器，用于存储Display Engine TCON41输出的由数字化的图像数据构成的图像数据序列。
Data Buffer43，称为行缓冲器。行缓冲器是一个缓存，用于当Data Latcha42中被Display Engine TCON41写入图像数据序列后，对补偿模块32在Display Engine TCON41发出的时序控制信号的控制下从Data Latcha42读取到的图像数据序列进行存储。其中，补偿模块32在Display Engine TCON41发出的时序控制信号的控制下，按照每次读取单个图像数据序列的方式，从Data Latcha42中读取图像数据序列，并将读取到的图像数据序列存储至Data Buffer43中。例如，Display Engine TCON41可以按照一定的频率，周期性发送时序控制信号给补偿模块32，补偿模块32每接收到一个时序控制信号，就读取一个图像数据序列。被读取过的图像数据序列不再进行重复读取，因此被读取过的图像数据序列可以从Data Latcha42中删除。
Gamma Generator44，用于对Data Buffer43中存储的图像数据序列进行监测和读取，一旦监测到Data Buffer43中存储了图像数据序列，Gamma Generator44就将DataBuffer43中存储的图像数据序列读取出来进行数/模转化，使图像数据序列转化为相应的模拟信号(后将对单个图像数据序列进行数/模转化后得到的模拟信号称为驱动信号)，而后，Gamma Generator44将转化得到的驱动信号，输出给补偿模块32。
补偿模块32，用于接收Display Engine TCON41发出的时序控制信号，并在所述时序控制信号的控制下，从Data Latcha42中读取图像数据序列到Data Buffer43中。将图像数据序列读取到Data Buffer43后进行的一些步骤参见前文的描述，此处不再重复介绍。
本发明实施例提供的驱动芯片，通过将计算的第i行子像素电路的电压衰减值ΔVi，用于补偿第i行子像素电路的数据电压的电压值；整体显示画面更加均匀，改善了面板的显示质量。
第五实施
参照图6，图6为本发明第五实施例提供一种电压补偿方法，所述方法包括步骤：
51、获取存储的第i行子像素电路的电压衰减值ΔVi；
52、根据获取的存储的第i行子像素电路的电压衰减值ΔVi，对第i行子像素电路的数据信号的电压进行调整；
53、将调整后的第i行子像素电路的数据信号的电压，发送到所述第i行子像素电路所连接的数据线。
在一种实施方式中，所述获取存储的第i行子像素电路的电压衰减值ΔVi包括：
若接收到所述第i行子像素电路的水平同步信号，则获取存储的第i行子像素电路的电压衰减值ΔVi。
本发明实施例提供的电压补偿方法，通过将计算的第i行子像素电路的电压衰减值ΔVi，用于补偿第i行子像素电路的数据电压的电压值；整体显示画面更加均匀，改善了面板的显示质量。
应当说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
依照本发明的实施例如上文所述，这些实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该发明仅为所述的具体实施例。显然，根据以上描述，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本发明的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地利用本发明以及在本发明基础上的修改使用。本发明仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。
Claims (8)
1.一种补偿电压计算方法，其特征在于，所述方法包括步骤：
获取显示面板的长宽比x/y以及子像素电路的行数N；
根据所述显示面板的长宽比x/y以及所述子像素电路的行数N，通过公式Ny＝N×(x/y)计算宽度上模拟的子像素电路的行数Ny；
根据计算的宽度上模拟的子像素电路的行数Ny、所述子像素电路的行数N以及面板裂纹检测PCD电压差，通过公式
计算每一行子像素电路的电压差值△V，其中Vout-Vin为PCD电压差；
根据计算的每一行子像素电路的电压差值△V，确定第i行子像素电路的电压衰减值△Vi，以使得将所述第i行子像素电路的电压衰减值△Vi用于补偿第i行子像素电路的数据电压的电压值。
2.根据权利要求1所述的一种补偿电压计算方法，其特征在于，所述第i行子像素电路的电压衰减值△Vi，通过以下公式实现：
△Vi＝△V×i。
3.一种补偿电压计算装置，其特征在于，所述补偿电压计算装置包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的补偿电压计算程序，所述补偿电压计算程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至2中任一项所述的补偿电压计算方法的步骤。
4.一种电压补偿系统，其特征在于，所述电压补偿系统包括存储模块、权利要求3所述的补偿电压计算装置及补偿模块；
所述存储模块，用于存储所述补偿电压计算装置确定的第i行子像素电路的电压衰减值△Vi；
所述补偿模块，用于获取所述存储模块存储的第i行子像素电路的电压衰减值△Vi；根据获取的所述存储模块存储的第i行子像素电路的电压衰减值△Vi，对第i行子像素电路的数据信号的电压进行调整；将调整后的第i行子像素电路的数据信号的电压，发送到所述第i行子像素电路所连接的数据线。
5.根据权利要求4所述的一种电压补偿系统，其特征在于，所述电压补偿系统还包括水平同步信号接收模块；
所述水平同步信号接收模块，用于接收针对所述第i行子像素电路的水平同步信号；
所述补偿模块，还用于在所述水平同步信号接收模块接收到所述第i行子像素电路的水平同步信号后，获取所述存储模块存储的第i行子像素电路的电压衰减值△Vi。
6.一种驱动芯片，其特征在于，所述驱动芯片包括如权利要求4或5所述的电压补偿系统。
7.一种电压补偿方法，其特征在于，应用如权利要求4或5所述的电压补偿系统进行电压补偿，所述方法包括步骤：
获取存储的第i行子像素电路的电压衰减值△Vi；
根据获取的存储的第i子像素电路的电压衰减值△Vi，对第i行子像素电路的数据信号的电压进行调整；
将调整后的第i行子像素电路的数据信号的电压，发送到所述第i子像素电路所连接的数据线。
8.根据权利要求7所述的一种电压补偿方法，其特征在于，所述获取存储的第i行子像素电路的电压衰减值△Vi包括：
若接收到所述第i行子像素电路的水平同步信号，则获取存储的第i行子像素电路的电压衰减值△Vi。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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| GR01 | Patent grant | ||
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