CN108474693A - 测定装置及测定方法 - Google Patents

Abstract

测定装置(1)具有：A/D变换器(30)、MUX(40)和控制电路(50)。A/D变换器(30)将热电偶(10)产生的电压值(Raa)变换为电压值(Rad)，并且将冷接点补偿电阻(20)产生的电压值(Rba)变换为电压值(Rbd)。MUX(40)具有将电压值(Raa)输入的第1输入端子(41)和将电压值(Rba)输入的第2输入端子(42)。控制电路(50)对电压值(Rad)及电压值(Rbd)进行处理。MUX(40)对由A/D变换器(30)将电压值(Raa)变换为电压值(Rad)的第1状态和由A/D变换器(30)将电压值(Rba)变换为电压值(Rbd)的第2状态进行切换。

Description

测定装置及测定方法

技术领域

本发明涉及对测定对象物的状态量进行测定的测定装置及测定方法。

背景技术

以往使用对作为测定对象物的状态量的温度进行测定的测定装置(参照专利文献1)。专利文献1所示的测定装置具有：测定装置主体；热电偶，其与所述测定装置主体的端子座连接且固定于测定对象物；以及冷接点补偿电阻，其用于对所述端子座的温度进行测定。

专利文献1：日本特开2010－96507号公报

发明内容

专利文献1所示的测定装置具有：热电偶输出测定电路，其对热电偶产生的热电动势进行测定；以及输出测定电路，其对电流流过冷接点补偿电阻时的电压进行测定。即，专利文献1所示的测定装置需要设置下述两个处理部，即，对热电偶产生的热电动势进行处理的处理部和对电流流过冷接点补偿电阻时的电压进行处理的处理部。这样，专利文献1所示的测定装置存在部件个数增加的问题。

本发明就是鉴于上述情况而提出的，其目的在于得到能够抑制部件个数的增加的测定装置。

为了解决上述的课题并达到目的，本发明的测定装置具有：第1数据输入部，其输入第1数据；第2数据输入部，其输入第2数据；以及采样部，其对第1数据及第2数据进行采样。第2数据的每单位时间的变化量与第1数据不同。测定装置的特征在于，具有：切换部，其对第1状态和第2状态进行切换，该第1状态是由采样部对第1数据进行采样的状态，该第2状态是由采样部对第2数据进行采样的状态；以及信息处理部，其对通过采样部得到的第1数据的采样结果及第2数据的采样结果进行处理。

发明的效果

本发明所涉及的测定装置具有下述效果，即，能够抑制部件个数的增加。

附图说明

图1是表示实施方式1所涉及的测定装置的外观的斜视图。

图2是表示实施方式1所涉及的测定装置的结构的框图。

图3是表示图2所示的测定装置的第1状态的MUX的图。

图4是表示图2所示的测定装置的第2状态的MUX的图。

图5是表示图2所示的测定装置的控制电路的周期控制部、MUX及A/D变换器的动作的图。

图6是表示图2所示的测定装置的控制电路的A/D变换器、第1数据处理部、第2数据处理部及运算部的动作的图。

图7是表示图1所示的测定装置的硬件的结构的图。

图8是表示图1所示的测定装置的存储器的存储区域的图。

图9是表示实施方式2所涉及的测定装置的结构的框图。

图10是表示图9所示的测定装置的控制电路的A/D变换器、第1数据处理部、第2数据处理部及运算部的动作的图。

具体实施方式

下面，基于附图，对本发明的实施方式所涉及的测定装置及测定方法详细地进行说明。此外，本发明并不受本实施方式限定。

实施方式1.

图1是表示实施方式1所涉及的测定装置的外观的斜视图。图2是表示实施方式1所涉及的测定装置的结构的框图。测定装置1构成FA(Factory Automation)领域的设备，对作为测定对象物W的状态量的温度进行测定、存储。在实施方式1中，测定装置1对测定对象物W的温度进行测定，但并不限定于温度，可以对各种状态量进行测定。作为各种状态量，测定装置1也可以对压力、电位进行测定。在实施方式1中，测定装置1是将表示测定对象物W的温度的模拟信号变换为数字信号的所谓的模拟输入单元。

测定装置1如图1所示，在框体2的外表面2a具有多个端子座3。端子座3用于对未图示的外部仪器进行连接。端子座3具有：端子3a，其露出至框体2的外表面且与收容于框体2内的未图示的电路基板连接；以及螺钉3b，其螺入至端子3a。端子3a由导电性的金属板构成，表面与框体2的外表面2a平行地配置。螺钉3b螺入至端子3a而将与端子3a之间的外部仪器的配线夹持。在实施方式1中，测定装置1具有多个端子座3。

测定装置1如图2所示，具有：热电偶10，其固定于测定对象物W；冷接点补偿电阻20，其固定于端子座3；以及作为采样部的A/D(Analog/Digital)变换器30，其对热电偶10产生的作为第1数据的电压值Ra及冷接点补偿电阻20产生的作为第2数据的电压值Rb进行采样。测定装置1具有：作为切换部的MUX(Multiplexer；多路复用器)40，其对第1状态和第2状态进行切换，该第1状态是由A/D变换器30对电压值Ra进行采样的状态，该第2状态是由A/D变换器30对电压值Rb进行采样的状态；以及作为信息处理部的控制电路50。

热电偶10产生与测定对象物W的温度相对应的电压值Ra。电压值Ra是与测定对象物W的温度相对应地变化的电压值。热电偶10具有由彼此不同的金属材料构成的2根金属线11、12。2根金属线11、12的一端彼此连接，相互连接的一端固定于测定对象物W。2根金属线11、12的另一端与彼此不同的端子座3、3连接。向连接有2根金属线11、12的另一端的端子座3、3连接有电压测定电路13，该电压测定电路13对端子座3、3间即2根金属线11、12的另一端间的电压值Ra进行测定，将电压值Ra输出。

冷接点补偿电阻20由电阻根据温度变化而变化的元件构成。冷接点补偿电阻20固定于端子座3、3的一个端子3a。冷接点补偿电阻20的一端连接恒定电流电路21，另一端接地。冷接点补偿电阻20如果被从恒定电流电路21供给了预先设定的电流值的电流，则产生与端子座3、3的一个端子3a的温度相对应的电压值Rb。电压值Rb是与一个端子3a的温度相对应而变化的电压值。电压值Rb表示一个端子3a的温度，一个端子3a安装于框体2的外表面2a，因此与电压值Ra相比每单位时间的变化量少。这样，电压值Rb与电压值Ra的每单位时间的变化量不同。另外，电压值Ra、Rb均是大小与温度相对应地变化的电压值，即，大小与温度相对应地变化的模拟信号。

图3是表示图2所示的测定装置的第1状态的MUX的图。图4是表示图2所示的测定装置的第2状态的MUX的图。

MUX 40如图3及图4所示，是具有下述部分的电路，即：作为第1数据输入部的第1输入端子41，其输入电压值Ra；作为第2数据输入部的第2输入端子42，其输入电压值Rb；以及1个输出端子43。第1输入端子41经由电压测定电路13而与热电偶10连接。第1输入端子41始终输入由电压测定电路13输出的电压值Ra。第2输入端子42与冷接点补偿电阻20的一端连接。第2输入端子42始终输入由冷接点补偿电阻20产生的电压值Rb。输出端子43与A/D变换器30连接。MUX 40对第1状态和第2状态进行切换，该第1状态是由A/D变换器30对电压值Ra进行采样的图3所示的状态，该第2状态是由A/D变换器30对电压值Rb进行采样的图4所示的状态。在第1状态下，MUX 40使电压值Ra输入至A/D变换器30。在第2状态下，MUX 40使电压值Rb输入至A/D变换器30。

A/D变换器30对电压值Ra及电压值Rb进行采样。在实施方式1中，A/D变换器30每隔预先设定的周期将电压值Ra及电压值Rb变换为数字信号。数字信号是以超过两阶的阶数对电压值Ra及电压值Rb的大小即温度进行确定的数字信号。数字信号在测定装置1对8bit的数字信号进行处理的情况下，以256阶对温度进行确定，在测定装置1对16bit的数字信号进行处理的情况下，以65536阶对温度进行确定。

如上所述，在实施方式1中，进行采样表示的是将模拟信号变换为数字信号。此外，下面，实施方式1将模拟信号的电压值Ra及电压值Rb表示为电压值Raa及电压值Rba，将变换后的数字信号的电压值Ra及电压值Rb表示为电压值Rad及电压值Rbd。另外，在实施方式1中，采样结果表示变换后的数字信号，即电压值Rad及电压值Rbd。

控制电路50对通过A/D变换器30变换后的电压值Raa的采样结果即电压值Rad及电压值Rba的采样结果即电压值Rbd进行处理。控制电路50将从A/D变换器30输入的电压值Rb存储于存储器60的电压值存储区域61。电压值存储区域61能够对两个电压值Rbd进行存储。控制电路50如果被从A/D变换器30输入了电压值Rb，则在电压值存储区域61中存在没有存储电压值Rbd的空闲状态的存储区域的情况下，在空闲状态的存储区域对从A/D变换器30输入的时刻和电压值Rbd进行存储。控制电路50如果被从A/D变换器30输入了电压值Rbd，则在电压值存储区域61中不存在没有存储电压值Rbd的空闲状态的存储区域的情况下，在电压值存储区域61所存储的电压值Rbd中的时刻旧的电压值Rbd的存储区域以覆盖的方式改写为从A/D变换器30输入的时刻和电压值Rbd。

控制电路50如图2所示，具有：周期控制部51、第1数据处理部52、第2数据处理部53和运算部54。图5是表示图2所示的测定装置的控制电路的周期控制部、MUX及A/D变换器的动作的图。周期控制部51向MUX 40输出切换信号，将MUX 40切换为第1状态或第2状态。周期控制部51对应于电压值Raa和电压值Rba的每单位时间的变化量的差，确定将切换信号输出的定时(timing)。即，就MUX 40而言，对应于电压值Raa和电压值Rba的每单位时间的变化量的差，确定对第1状态和第2状态进行切换的定时。在实施方式1中，对MUX 40的第1状态和第2状态进行切换的定时被设定为，电压值Raa和电压值Rba中的变化量多的一方即电压值Raa的通过A/D变换器30变换的电压值Rad的数量比少的另一方即电压值Rba的通过A/D变换器30变换的电压值Rbd的数量多的定时。

在实施方式1中，周期控制部51如图5所示，在能够重复进行在第1状态下由A/D变换器30生成3个电压值Rad这一动作和在第2状态下由A/D变换器30仅生成1个电压值Rbd这一动作的定时，将切换信号输出至MUX 40。在实施方式1中，从第2状态切换为第1状态的切换信号和从第1状态切换为第2状态的切换信号之间的时间T1，是从第1状态切换为第2状态的切换信号和从第2状态切换为第1状态的切换信号之间的时间T2的3倍，但并不限定于此。即，MUX 40维持为第1状态的时间T1比MUX 40维持为第2状态的时间T2长。

图6是表示图2所示的测定装置的控制电路的A/D变换器、第1数据处理部、第2数据处理部及运算部的动作的图。

控制电路50的第1数据处理部52对MUX 40的1次第1状态下的采样结果即电压值Rad进行处理。第1数据处理部52如图6所示，在MUX 40维持1次第1状态的期间，从A/D变换器30输入多个电压值Rad。在实施方式1中，第1数据处理部52在MUX 40维持1次第1状态的期间，输入3个电压值Rad。第1数据处理部52对在MUX 40维持1次第1状态的期间输入的3个电压值Rad的平均值即平均电压值Radave进行计算。第1数据处理部52将计算出的平均电压值Radave输出至运算部54。

控制电路50的第2数据处理部53对MUX 40的多次第2状态下的采样结果即电压值Rbd进行处理。在实施方式1中，第2数据处理部53对MUX 40的3次第2状态下的采样结果即电压值Rbd进行处理。

第2数据处理部53如图6所示，在MUX 40维持1次第2状态的期间，从A/D变换器30输入1个电压值Rbd。第2数据处理部53将在存储器60的电压值存储区域61中存储的2个电压值Rbd读出。第2数据处理部53对来自A/D变换器30的1个电压值Rbd和在电压值存储区域61中存储的2个电压值Rbd的平均值即平均电压值Rbdave进行计算。第2数据处理部53将计算出的平均电压值Rbdave输出至运算部54。如上所述，由第2数据处理部53进行处理的MUX40的多次第2状态下的采样结果即电压值Rbd，包含过去的采样结果即在存储器60的电压值存储区域61中存储的电压值Rbd。

运算部54基于平均电压值Radave、平均电压值Rbdave和在存储器60的存储区域的电动势数据存储区域62中存储的电动势数据ED，对表示测定对象物W的温度的测温数据TD进行计算。电动势数据ED是表示热电偶10的金属线11、12的一端的温度和在金属线11、12的另一端间产生的热电动势之间关系的数据，是通过确定构成热电偶10的金属线11、12而确定下来的数据。运算部54将计算出的测温数据TD和计算出该测温数据TD的时刻一起存储于存储器60的存储区域的测温数据存储区域63。

图7是表示图1所示的测定装置的硬件的结构的图。图8是表示图1所示的测定装置的存储器的存储区域的图。

测定装置1如图7所示，在端子座3、热电偶10、冷接点补偿电阻20、电压测定电路13、恒定电流电路21、MUX 40及A/D变换器30的基础上，具有：MPU(Micro Processing Unit)70，其执行计算机程序；以及存储器60，其对计算机程序进行存储。MPU 70和存储器60经由内部总线B连接。

控制电路50即周期控制部51、第1数据处理部52、第2数据处理部53和运算部54的功能，是通过由MPU 70将在存储器60中存储的计算机程序读出、执行而实现的。即，控制电路50由单一的MPU 70来实现其功能。计算机程序是通过软件、固件、或软件和固件的组合而实现的。另外，MPU 70具有缓冲存储器，该缓冲存储器具有能够对可由计算机读出的计算机程序或数据进行存储的存储区域。MPU 70在缓冲存储器中对平均电压值Radave及平均电压值Rbdave暂时地进行保存。

存储器60具有能够对可由计算机读出的计算机程序或数据进行存储的存储区域。存储器60的存储区域如图8所示，具有：电动势数据存储区域62、电压值存储区域61和测温数据存储区域63。存储器60由非易失性的半导体存储器或易失性的半导体存储器构成。作为非易失性的半导体存储器或易失性的半导体存储器，能够使用RAM、ROM、闪存存储器、EPROM(Erasable Programmable Read Only Memory)或EEPROM(Electrically ErasableProgrammable Read Only Memory)。另外，存储器60也可以由磁盘、光盘及光磁盘中的至少1个构成。

电压测定电路13及恒定电流电路21各自由单一电路、复合电路实现。

实施方式1所涉及的测定装置1执行下述测定方法，即，对电压值Raa及电压值Rba进行采样，对与电压值Rad及电压值Rbd相对应的作为测定对象物W的状态量的温度进行测定。在测定装置1中，控制电路50的周期控制部51向MUX 40输出切换信号，在MUX40为1次第1状态期间由A/D变换器30将3个电压值Raa变换为电压值Rad。在MUX 40为1次第2状态期间由A/D变换器30将1个电压值Rba变换为电压值Rbd。因此，在测定方法中，对应于电压值Raa和电压值Rba的变化量的差，确定对第1状态和第2状态进行切换的定时。

测定装置1通过第1数据处理部52对在MUX 40为1次第1状态期间由A/D变换器30变换后的3个电压值Rad的平均值即平均电压值Radave进行计算。测定装置1通过第2数据处理部53对在MUX40为1次第2状态期间由A/D变换器30变换后的1的电压值Rbd和在存储器60中存储的2个电压值Rbd的平均值即平均电压值Rbdave进行计算。在测定装置1中，运算部54基于平均电压值Radave、平均电压值Rbdave及电动势数据ED而对测定对象物W的温度进行计算，将计算出的温度作为测温数据TD而存储于存储器60。

实施方式1所涉及的测定装置1具有MUX 40，作为信息处理部的控制电路50由单一的MPU 70构成，由此对电压值Rad及电压值Rbd进行处理。因此，测定装置1无需为了对电压值Rad及电压值Rbd进行处理而具有两个部件。其结果，测定装置1能够抑制部件个数增加。

另外，根据实施方式1所涉及的测定装置1及测定方法，对MUX 40的第1状态和第2状态进行切换的定时是对应于电压值Raa及电压值Rba的每单位时间的变化量的差而确定的。并且，根据实施方式1所涉及的测定装置1及测定方法，对MUX 40的第1状态和第2状态进行切换的定时被确定为，将变化量多的电压值Raa变换为电压值Rad的数量比将变化量少的电压值Rba变换为电压值Rbd的数量多的定时。因此，测定装置1及测定方法能够使每单位时间可计算出的测定对象物W的温度，即，测温数据TD的数量增加。其结果，测定装置1及测定方法能够缩短测温数据TD的计算周期。

另外，在测定装置1及测定方法中，对MUX 40的第1状态和第2状态进行切换的定时被确定为，将变化量多的电压值Raa变换为电压值Rad的数量比将变化量少的电压值Rba变换为电压值Rbd的数量多的定时，因此即使将变化量多的电压值Raa变换为电压值Rad的数量增加，也能够抑制为了对测温数据TD进行计算所花费的时间的长时间化。其结果，测定装置1及测定方法能够一边抑制为了对测温数据TD进行计算所花费的时间的长时间化，一边实现测温数据TD的精度提高。

在测定装置1及测定方法中，对MUX 40的第1状态和第2状态进行切换的定时被确定为，将变化量多的电压值Raa变换为电压值Rad的数量比将变化量少的电压值Rba变换为电压值Rbd的数量多的定时。因此，就测定装置1及测定方法而言，即使对变换为电压值Rbd的数量进行抑制，也会由于电压值Rba的变化量少，因此能够抑制测温数据TD的精度降低。

在测定装置1及测定方法中，由控制电路50对MUX 40的1次第1状态下的电压值Rad进行处理，因此能够抑制为了对测温数据TD进行计算所花费的时间的长时间化。

在测定装置1及测定方法中，由控制电路50对MUX 40的多次第2状态下的电压值Rbd进行处理。另外，测定装置1及测定方法在每次处理时，对在存储器60中存储的过去的第2状态下的电压值Rbd进行处理。其结果，测定装置1及测定方法能够根据多个电压值Rbd对平均电压值Rbdave进行计算，能够抑制测温数据TD的精度降低。

在测定装置1及测定方法中，由控制电路50对多个电压值Rad的平均电压值Radave进行计算，对多个电压值Rbd的平均电压值Rbdave进行计算，因此能够实现测定对象物W的温度，即，测温数据TD的精度提高。

实施方式2.

接下来，基于附图，对本发明的实施方式2所涉及的测定装置1－2及测定方法进行说明。图9是表示实施方式2所涉及的测定装置的结构的框图。图10是表示图9所示的测定装置的控制电路的A/D变换器、第1数据处理部、第2数据处理部及运算部的动作的图。在图9及图10中，对与实施方式1相同的部分标注相同的标号而省略说明。

实施方式2所涉及的测定装置1－2如图9所示，取代实施方式1的测定装置1的热电偶10及冷接点补偿电阻20而具有测温电阻体80，具有向测温电阻体80供给电流的恒定电流电路82，除此以外是与实施方式1相同的结构。

测温电阻体80由预先掌握了温度和电阻的关系的金属构成，固定于测定对象物W。测温电阻体80的一端经由线缆81及端子座3而与第1输入端子41连接，另一端经由线缆81及端子座3而与第2输入端子42连接。另外，测温电阻体80的另一端还接地。测温电阻体80由连接于端子座3和第1输入端子41之间的恒定电流电路82从一端供给电流。测温电阻体80如果被恒定电流电路82供给电流，则产生与测温电阻体80的温度相对应的作为第1数据的电压值Raa2。电压值Raa2是与测定对象物W的温度相对应地变化的电压值。

实施方式2所涉及的测定装置1－2的MUX 40的第1输入端子41在MUX 40为第1状态时，输入电压值Raa2。第2输入端子42在MUX 40为第2状态时，输入与由恒定电流电路82供给的电流值相对应的由线缆81的电阻r引起的作为第2数据的电压值Rba2。电压值Rba2是由线缆81的电阻r引起的，因此与电压值Raa2相比每单位时间的变化量少。电压值Raa2及电压值Rba2与实施方式1的电压值Raa及电压值Rba同样地，是模拟信号。

另外，就实施方式2所涉及的测定装置1－2的MUX 40而言，与实施方式1同样地，对应于电压值Raa2及电压值Rba2的每单位时间的变化量的差，确定对第1状态和第2状态进行切换的定时。实施方式2所涉及的测定装置1－2的对MUX 40的第1状态和第2状态进行切换的定时被确定为，电压值Raa2和电压值Rba2中的变化量多的一方即电压值Raa2的变换为通过A/D变换器30变换的电压值Rad2的数量比变化量少的另一方即电压值Rba2的变换为电压值Rbd2的数量多的定时。

在实施方式2中，测定装置1－2的控制电路50的周期控制部51与实施方式1同样地，如图10所示，在能够重复进行在第1状态下由A/D变换器30生成3个电压值Rad2这一动作和在第2状态下由A/D变换器30仅生成1个电压值Rbd2这一动作的定时，将切换信号输出至MUX 40。

在实施方式2中，在测定装置1－2的存储器60中，取代电动势数据存储区域62而具有电阻温度关系数据存储区域64。在实施方式2中，电阻温度关系数据存储区域64存储有表示测温电阻体80的温度和电阻的关系的电阻温度关系数据RT。

在实施方式2中，测定装置1－2的控制电路50的运算部54使用平均电压值Radave2、平均电压值Rbdave2及下面的式1，对测温电阻体80产生的电压值进行计算。测定装置1－2的控制电路50的运算部54使用计算出的测温电阻体80产生的电压值和电阻温度关系数据RT，对测定对象物W的温度，即，测温数据TD进行计算。

Radave2－(2×Rbdave2)···式1

实施方式2所涉及的测定装置1－2与实施方式1同样地，执行下述测定方法，即，对电压值Raa2及电压值Rba2进行采样，对与电压值Rad2及电压值Rbd2相对应的作为测定对象物W的状态量的温度进行测定。测定装置1－2如图10所示，控制电路50的周期控制部51向MUX 40输出切换信号，在MUX 40为1次第1状态期间由A/D变换器30将3个电压值Raa2变换为电压值Rad2。在MUX 40为1次第2状态期间由A/D变换器30将1个电压值Rba2变换为电压值Rbd2。

测定装置1－2通过第1数据处理部52对在MUX 40为1次第1状态期间由A/D变换器30变换后的3个电压值Rad2的平均值即平均电压值Radave2进行计算。测定装置1－2通过第2数据处理部53对在MUX 40为1次第2状态期间由A/D变换器30变换后的1个电压值Rbd2和在存储器60中存储的2个电压值Rbd2的平均值即平均电压值Rbdave2进行计算。测定装置1－2通过运算部54基于平均电压值Radave2、平均电压值Rbdave2、式1及电阻温度关系数据RT而对测定对象物W的温度进行计算，将计算出的温度作为测温数据TD而存储于存储器60。

根据实施方式2所涉及的测定装置1－2，设置MUX 40，作为信息处理部的控制电路50由单一的MPU 70构成，由此对电压值Rad2及电压值Rbd2进行处理。其结果，测定装置1－2与实施方式1同样地，无需为了对电压值Rad2及电压值Rbd2进行处理而设置两个部件，能够抑制部件个数增加。

另外，根据实施方式2所涉及的测定装置1－2及测定方法，对MUX 40的第1状态和第2状态进行切换的定时被确定为电压值Raa2及电压值Rba2的每单位时间的变化量的差。并且，根据实施方式2所涉及的测定装置1－2及测定方法，对MUX 40的第1状态和第2状态进行切换的定时被确定为，将变化量多的电压值Raa2变换为电压值Rad2的数量比将变化量少的电压值Rba2变换为电压值Rbd2的数量多的定时。其结果，测定装置1－2及测定方法与实施方式1同样地，能够缩短测温数据TD的计算周期。另外，在实施方式2所涉及的测定装置1－2及测定方法中，对MUX 40的第1状态和第2状态进行切换的定时被确定为，将变化量多的电压值Raa2变换为电压值Rad2的数量比将变化量少的电压值Rba2变换为电压值Rbd2的数量多的定时，因此与实施方式1同样地，能够一边抑制为了对测温数据TD进行计算所花费的时间的长时间化，一边实现测温数据TD的精度提高。

以上的实施方式所示的结构表示的是本发明的内容的一个例子，也能够与其他公知技术进行组合，在不脱离本发明的主旨的范围，也能够对结构的一部分进行省略、变更。

标号的说明

1、1－2测定装置，30A/D变换器(采样部)，40MUX(切换部)，41第1输入端子(第1数据输入部)，42第2输入端子(第2数据输入部)，50控制电路(信息处理部)，Ra、Raa电压值(第1数据)，Rb、Rba电压值(第2数据)，Rad电压值(采样结果)，Rbd电压值(采样结果)，Radave、Rbdave平均电压值(平均值)，TD测温数据(状态量)，W测定对象物。

Claims (8)

1.一种测定装置，其特征在于，具有：

第1数据输入部，其输入第1数据；

第2数据输入部，其输入每单位时间的变化量与所述第1数据不同的第2数据；

采样部，其对所述第1数据及所述第2数据进行采样；

切换部，其对第1状态和第2状态进行切换，该第1状态是由所述采样部对所述第1数据进行采样的状态，该第2状态是由所述采样部对所述第2数据进行采样的状态；以及

信息处理部，其对通过所述采样部得到的所述第1数据的采样结果及所述第2数据的采样结果进行处理。

2.根据权利要求1所述的测定装置，其特征在于，

就所述切换部而言，对应于所述第1数据和所述第2数据的每单位时间的变化量的差，确定对所述第1状态和所述第2状态进行切换的定时。

3.根据权利要求2所述的测定装置，其特征在于，

对所述切换部的所述第1状态和所述第2状态进行切换的定时被确定为，所述第1数据和所述第2数据中的变化量多的一方的由所述采样部进行采样的采样数比变化量少的另一方的由所述采样部进行采样的采样数多的定时。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的测定装置，其特征在于，

所述信息处理部对所述切换部的1次所述第1状态下的采样结果进行处理。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的测定装置，其特征在于，

所述信息处理部对所述切换部的多次所述第2状态下的采样结果进行处理。

6.根据权利要求5所述的测定装置，其特征在于，

所述多次所述第2状态下的采样结果包含过去的采样结果。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的测定装置，其特征在于，

所述信息处理部对所述采样结果的平均值进行计算。

8.一种测定方法，其对第1数据、每单位时间的变化量与所述第1数据不同的第2数据进行采样，对与所述第1数据及所述第2数据相对应的状态量进行测定，

该测定方法的特征在于，

对应于所述第1数据和所述第2数据的每单位时间的变化量的差，确定对第1状态和第2状态进行切换的定时，该第1状态是对所述第1数据进行采样的状态，该第2状态是对所述第2数据进行采样的状态。