CN108362681A - 分析装置、方法和试剂 - Google Patents

Abstract

描述了一种用于进行分析的装置、系统、方法、试剂和工具组件以及它们的准备过程。它们被特别良好地配置成在多孔板分析形式下进行自动取样、样品准备和分析。例如，它们可以被用于环境监测中对从空气和/或液体中得到的样品中的颗粒进行自动分析。

Description

分析装置、方法和试剂

本申请是申请日为2009年04月10日、申请号为200980115394.2、 发明名称为“分析装置、方法和试剂”的发明专利申请的分案申请。

相关申请的交叉引用

本申请要求2008年4月11日提交的申请No.61/123,975的权益。

技术领域

本发明涉及用于进行分析(assay)的装置、系统、方法、试剂和 工具组件。本发明的装置、系统、方法、试剂和工具组件的一些实施 例可以用于在多孔板分析形式下进行自动取样、样品准备和/或样品分 析。例如，它们可以被用于自动分析从空气和/或液体样品中得到的微 粒。

背景技术

很多方法和系统已经被开发出来用于进行化学、生物化学和/或生 物学的分析了。这些方法和系统在包括医疗诊断、食品和饮料测试、 环境监测、加工质量控制、药物发明和基础科学研究在内的很多应用 中都是不可或缺的。

多孔分析板(也被称作微孔板或微板)已经成为多样品的处理和 分析的标准形式。多孔分析板可以采用多种形式、大小和形状。为方 便起见，对于用于处理高通量分析样品的仪器，已经出现了一些标准。 典型地，多孔分析板被制成标准的尺寸和形状，并且具有标准的孔排 列。孔的排列包括在96孔板(孔的12×8阵列)、384孔板(孔的24×16 阵列)和1536孔板(孔的48×32阵列)中发现的那些。生物分子筛选 学会已经公布了用于多种板形式的被推荐的微板规格(参考 http://www.sbsonline.org)。

用于在多孔板上进行分析测量的多种平板读取器可以得到，其包 括测量光吸收、发光(例如，荧光、磷光、化学发光和电化学发光) 发射、放射线发射的变化，光散射中的变化和电磁场内的变化的读取 器。Wohlstadter等人的美国专利申请10/185,274和10/185,363的公开 文献2004/0022677和2005/0052646介绍了对在多孔板形式下进行单元 和多元ECL(电化学发光)分析很有用的解决方案。它们包括.由板顶 部和板底部组成的板，板顶部具有形成孔壁的通孔，板底部被密封到 板顶部上以形成孔底面。板底部被衬有传导层以为那些孔提供电极表 面，这些电极表面不仅作为结合反应的固相支撑，还作为诱导电化学发光(ECL)的电极。传导层可以还包括用于施加电能到电极表面上 的电触头。

尽管已经已知了那些用于进行分析的方法和系统，但仍需要用于 在多孔板分析形式下进行自动取样、样品准备和/或样品分析的改进装 置、系统、方法、试剂和工具组件。

发明内容

因而，本发明提供了一种在多孔板上进行发光分析的装置，该装 置包括：(a)光检测子系统；(b)液体处理子系统；和(c)板处理子 系统，其中，所述装置通过连续交错程序处理分析样品。该装置可以 还包括聚焦于样品上的图形用户界面。

本发明的装置包括板处理子系统，板处理子系统包括：

a)不透光封罩，包括：

(i)具有能够被升高和降低的板提升平台的一个或多个板升降 器；

(ii)不透光封罩顶部，不透光封罩顶部具有被置于所板升降器上 方的一个或多个板引入口和成像口，其中，所述封罩顶部包括用于密 封所述板引入口的滑动不透光门；以及

(iii)用于在一个或多个水平方向上平移板的板平移台，其中， 所述板平移台包括用于支撑板的板支架，所述板支架具有开口，以允 许被置于板支架下方的所述板升降器接近并提升板，且所述板平移台 被设置成将所述板置于成像口下方以及将所述板置于所述板升降器上 方；

b)一个或多个板堆垛器，该一个或多个板堆垛器被安装于所述板 引入口上方的所述封罩顶部上，其中，所述板堆垛器被设置成接收或 传递板到所述板升降器上；以及

c)光检测器，该检测器安装于所述封罩顶部上，并借助于不透光 密封件连接到所述成像口上。

本发明的装置还包括液体处理子系统，该液体处理子系统包括移 液系统，用于传输液体到装置中的分析板的孔内或从其排出液体。

另外，本发明的装置包括下述特征：

a)移液系统包括安装于移液平移台上的移液探针，移液平移台用 于在竖直方向上和可选地在一个或多个水平方向上平移所述移液探 针；

b)封罩顶部具有一个或多个移液口；

c)滑动不透光门具有一个或多个移液口，其中，滑动不透光门具 有移液位置，在此位置上，所述封罩顶部上的所述移液口与所述滑动 不透光门上的所述移液口对正；以及

d)移液平移台被安装于所述封罩顶部上，且被设置成允许当所述 滑动不透光门处于所述移液位置时降低所述移液探针，以接近被置于 所述封罩顶部上的所述移液口下方的孔。

本发明的装置可以还包括选自包括试剂和/或样品传输站、试剂和 /或样品管架、探针清洗站、废液传输站和它们的组合的组中的部件， 其中，所述移液平移台被设置成在一个或多个水平方向上移动，以接 触所述部件内的液体和/或传输液体到所述部件内。该装置还包括板密 封件穿刺探针，其中：

(i)所述封罩顶部具有穿刺探针口；

(ii)所述滑动不透光门具有穿刺探针口，其中，所述滑动不透光 门具有穿刺位置，在此位置上，所述封罩顶部的所述穿刺探针口与所 述滑动不透光门的所述穿刺探针口对正；以及

(iii)所述穿刺探针被安装到所述封罩顶部上，且被设置成允许， 当所述滑动不透光门处于所述穿刺位置时，降低所述穿刺探针以穿刺 被置于所述封罩顶部的所述穿刺口下方的孔上的密封件。

本发明装置包括移液平移台，移液平移台包括探针平移元件，且 所述移液平移台被设置成水平移动以便通过所述探针平移元件接触所 述穿刺探针，和竖直移动以便通过所述探针平移元件降低和升高所述 穿刺探针。

另外，本发明的装置还包括板接触部件，以提供电能到被放置于 所述光检测器下面的孔内的电极上。

本发明还提供了一种使用此处所述的装置进行分析的方法，该方 法包括：

(a)引入多孔板到一个板堆垛器上；

(b)滑动所述滑动不透光门以暴露所述一个板堆垛器下面的板引 入口；

(c)使用一个所述板升降器以从所述一个板堆垛器上降低所述板 到所述板支架上；

(d)滑动所述滑动不透光门以密封所述板引入口；

(e)平移所述板支架以将一个或多个孔放置于所述光检测器下 面；

(e)检测来自所述一个或多个孔的光；

(f)滑动所述滑动不透光门以暴露至少一个板引入口；

(g)平移所述板支架以将所述板放置于所述一个板引入口下面； 和

(h)升高一个板升降器以升高所述板到一个板堆垛器上。

其中，所述装置以连续交错程序处理所述多孔板上的多个孔。

上面描述的方法可以还包括下述步骤中的一个或多个：吸引样品 和/或试剂到一个孔内或从一个孔内吸出，从一个或多个所述孔上拆除 密封件，或施加电能到一个或多个所述孔内的电极上。

本发明的方法还包括下述顺序的步骤：

(a)吸引样品和/或试剂到所述多孔板的第一孔内；

(b)施加电能到所述第一孔内的电极上；

(c)平移所述板支架以将所述多孔板的所述第一孔放置于所述光 检测器下方；

(d)检测来自所述第一个孔的光；

当步骤(a)在所述第一孔上完成后，在所述多孔板的一个或多个 另外的孔上重复步骤(a)-(d)。

本发明的方法可以还包括下述顺序的步骤：

(a)从一个或多个所述孔上拆除密封件；

(b)吸引样品和/或试剂到所述多孔板的第一孔内；

(c)施加电能到所述第一孔内的电极上；

(d)平移所述板支架以将所述多孔板的所述第一孔放置于所述光 检测器下方；

(e)检测来自所述第一个孔的光；

当步骤(a)在所述第一孔上完成后，在所述多孔板的一个或多个 另外的孔上重复步骤(a)-(e)。

在本发明的方法的一个实施例中，密封件在步骤(a)中从所述第 一孔上拆除。

本发明还提供了一种使用本发明的装置进行分析的方法，所述方 法包括：

(a)引入板到一个板堆垛器上；

(b)滑动所述滑动不透光门以暴露一个板引入口；

(c)使用一个板升降器以从所述一个板堆垛器上降低所述板到所 述板支架上；

(d)滑动所述滑动不透光门到所述穿刺位置；

(e)将所述板的孔对正在所述穿刺探针下方并穿刺所述孔上的密 封件；

(f)滑动所述滑动不透光门到所述移液位置；

(g)使用所述移液探针，以引入试剂和/或样品到所述板的一个 或多个孔内和/或从其排出；

(h)滑动所述滑动不透光门以密封所述板引入口；

(i)平移所述板支架以将一个或多个孔放置于所述光检测器下 面；

(j)检测来自所述一个或多个孔的光；

(k)滑动所述滑动不透光门以暴露一个板引入口；

(l)平移所述板支架以将所述板置于一个板升降器上方；和

(m)升高所述板升降器以升高所述板到一个板堆垛器上。

其中，所述装置以连续交错程序处理所述多孔板上的多个孔。该 方法可以还包括下述步骤中的一个或多个：

吸引样品和/或试剂到一个孔内或从所述一个孔内吸出；

从一个或多个所述孔上拆除密封件；

施加电能到一个或多个所述孔内的电极上。

因而，本发明的方法包括下述顺序的步骤：

(a)吸引样品和/或试剂到所述多孔板的第一孔内；

(b)施加电能到所述第一孔内的电极上；

(c)平移所述板支架以将所述多孔板的所述第一孔放置于所述光 检测器下方；

(d)检测来自所述第一个孔的光；

当步骤(a)在所述第一孔上完成后，在所述多孔板的一个或多个 另外的孔上重复步骤(a)-(d)。在某一实施例中，该方法包括下述 顺序的步骤：

(a)从一个或多个所述孔上拆除密封件；

(b)吸引样品/或试剂到所述多孔板的第一孔内；

(c)施加电能到所述第一孔内的电极上；

(d)平移所述板支架以将所述多孔板的所述第一孔放置于所述光 检测器下方；

(e)检测来自所述第一个孔的光；

当步骤(a)在所述第一孔上完成后，在所述多孔板的一个或多个 另外的孔上重复步骤(a)-(e)。可选地，密封件在步骤(a)中从所 述第一孔上拆除。

在本发明的方法中，光检测器是成像系统。例如，成像系统被用 于对来自所述一个或多个孔内结合区域的阵列的光成像，且所述装置 对从所述阵列的各个元件发出的光报告发光强度值。

此处描述的方法可以包括具有干燥的分析试剂的板，例如一个或 多个孔包括被密封的干燥的分析试剂，以保护干燥试剂不受环境影响。

附图说明

图1示出了多孔板读取器100的安装视图；

图2示出了揭露光检测器和流体部件的实施例的板读取器100的 视图；

图3示出了板读取器100的光检测系统160的一个实施例；

图4示出了一种流体和密封件穿刺部件的实施例；

图5示出了样品/废液传输站300的实施例；

图6a-6c示出了弹簧加载式移液探针400的实施例；

图7a-7b示出了板密封件穿刺探针225的实施例；

图8示出了集成的板密封件穿刺件/移液器500的实施例；

图9a-9c示出了板读取器100的不透光封罩110的实施例的俯视 图并示意了滑动不透光门150(用平行的阴影线示出)的操作；

图10示出了板读取器100的不透光封罩110的一个实施例中存在 的机械部件的视图；

图11为耗材型分析装置，其中图11a示出了用于多孔板读取器 100的盒的视图，而图11b是该盒的一个孔的组成部件的分解图；

图12示出了可以用于多孔板读取器100的分析方案的概要图；

图13为装置概要图，其中图13a和13b是本发明的多孔板读取器 的图示表示，分别示出了形式A和形式B；

图14为装置设计，其中图14a-c是本发明的多孔板读取器的一个 实施例的各种图示表示。图14a是该仪器的详细概要图，图14b示出 了在可选的实例中的该仪器。图14c是其中样品管架被96多孔板代替 的仪器的替代视图；

图15为装置子系统：顶部组件，其中图15a和15b是本发明的多 孔板读取器的顶部组件的图示表示。图15a示出了可选择实例中的仪 器，图15b示出了顶部组件的详细视图，顶部组件包括具有流体感应 能力且包括用以防止缓冲液污染的两个通道的移液探针、用以拆除分 析板的孔密封的集成工具、袖珍CCD相机和透镜组件、能够保持多达 五个分析板的板堆垛器和能够读取和跟踪输入堆垛器上的分析板的编 码读取器；

图16为装置子系统：不透光封罩(LTE)，其中图16a和16b是 用于本发明的板读取器的一个实施例中的不透光封罩(LTE)的图示 表示。图16a示出了可选择实例中的仪器，图16b是不透光封罩的详 细视图，不透光封罩包括X-Y平台、升降器和接触结构；

图17为装置子系统：样品传输站，其中图17a和17b是可以用于 本发明的板读取器的一个实施例中的样品传输站的图示表示。样品传 输站可以包括将管放置于移液器上的线性导引件、可以用于样品或液 体试剂的常设管架、用于24个12×75mm管或96孔源板的可代替管架 和废液容器，废液容器可选择为可拆除的并可选择为由成形模制的塑 料构造而成，能够拆除用于废液排出。废液容器还包括移液清洗站以 使样品遗留最少；

图18是可以用于本发明的板读取器的样品交错处理的示意性概 要图；

图19为图形用户界面(GUI)，其中图19a和19b示出了可以用 于与本发明的板读取器连接的可替代图形用户界面的屏幕截图。图19a示出了形式I：聚焦于板上的界面，图19b示出了形式II：聚焦于样品 列上的界面；

图20示出了聚焦于样品列上的图形用户界面的屏幕截图。

具体实施方式

下面的详细介绍部分提供了本发明的某些实施例的介绍，这些实 施例不应被认为是限制本发明而仅意于示意某些发明方面。

此处介绍的是一种用于在多孔板形式下进行分析的装置，其具有 一个或多个下述理想的特征：i)高灵敏度，ii)大动态范围，iii)尺 寸小，重量轻，iv)基于阵列的多路复用能力，v)自动操作(包括取 样和/或试剂运输)；vi)处理多个板的能力，和vii)处理被密封的板 的能力。我们还介绍了在这种装置中很有用的部件，和使用这种装置 和部件的方法。它们尤其被很好地适用于，虽然并不仅限于，环境、 医疗或食品样品的自动分析。此装置和方法可以与很多包括，但不仅 限于，测量一个或多个可检测信号的分析检测技术一起使用。它们中 的一些适合电化学发光测量，特别是，实施例适合与带有集成电极的 多孔板(和使用这些板的分析方法)一起使用，例如那些分别位于 Wohlstadter等人的美国申请10/185,274和10/185,363的公开文献 2004/0022677和2005/0052646和Glezer等人的申请No.11/642,970中 所介绍的。

一种用于测量来自密封式多孔分析板的孔的信号的装置被提供 了，其包括：a)用于从多孔板的孔上拆除密封件的密封件拆除工具， 和b)用于测量从所述多孔板的孔内发出的信号的检测系统。密封件 拆除工具可以通过下述几个步骤实现其功能：i)用带有密封件穿刺末 端的探针穿刺密封膜，ii)抓住并拆除孔上的盖，iii)从孔的顶部剥离 密封膜，或iv)用取芯工具(coring tool)拆除密封件。

在某一实施例中，密封件拆除工具是穿刺探针，其包括：i)穿刺 部分，其具有逐渐变细到顶点以在穿刺方向(穿刺操作过程中的平移 轴线)的一端形成穿刺末端的外表面，和ii)密封件移动部分，其被 沿穿刺方向与穿刺部分相邻布置。在某些特殊实施例中，密封件移动 部分具有垂直于穿刺方向的横截面形状，其被选择以与探针在其上面 操作的孔的开口形状大概一致。探针的尺寸可以相对于孔的开口稍微 小点，以允许探针滑动进入孔的开口，并靠着孔壁压住或折叠被穿刺 的密封件。这种方法可以被用于拆除密封件，密封件对于使用位于孔 上方的检测器(例如，光检测器和/或光成像系统)检测孔内的分析信 号来说是障碍。适当的间隙可以根据特殊膜的厚度进行选择，和/或可 以被选择为小于约0.1英寸、小于大0.2英寸或小于约0.3英寸。

在穿刺工具的一个实施例中，密封件移动部分的横截面形状是圆 形。在另一实施例中，其为正方形或带有圆角的正方形。穿刺部分可 以是圆锥形状。作为替代地，它可以包括暴露的切割边，例如，其从 末端在径向方向上延伸，并能够在穿刺过程中切割密封件，和帮助靠 着孔壁重复折叠密封件。在一个特殊实施例中，末端是棱锥形状，而 棱锥的边提供暴露的切割边。

在某些实施例中，穿刺探针是弹簧加载式的，以使探针沿所述穿 刺方向施加到板密封件上的最大向下的力被弹簧的弹簧常数限定。探 针可以还包括限定所述穿刺探针进入所述孔内的行程的最大距离的与 所述密封件移动部分相邻的板止动部分。在一个特殊实施例中，止动 部分是探针的宽度太大不能进入孔内的部位，且最大距离由止动部分 碰撞到孔顶部处的距离限定。

此装置可以进一步包括移液探针(pipetting probe)。在一个实施例 中，穿刺探针具有平行于穿刺方向的通孔。可选地，通孔从穿刺末端 偏离，并且移液探针被可移动地置于通孔内，以当使用穿刺探针拆除 孔密封件时，移液探针能够被抽回到穿刺探针内，并且它可以在移液 操作过程中被从穿刺探针伸出去。穿刺探针和移液探针可以被彼此独 立控制，例如，通过单独的电机。作为替代地，一个电机可以被用于 驱动两个探针。在一个实施例中，穿刺探针包括如上所述的板止动部 分，而移液探针被通过弹簧连接到穿刺探针上。此弹簧的弹簧常数被 选择为使得：i)当探针不在物体上施加力时，移液探针被抽回到穿刺 探针的通孔内，ii)朝着孔移动移液探针导致穿刺探针一起移动，并允 许传递足够的力以移动孔上的密封件，且iii)继续移动经过穿刺探针 行程的最大距离使得弹簧压缩且移液探针从穿刺探针中伸出来进入所 述孔内，在那里它可以被用于吸引液体到孔内和从孔内吸出液体。在 可替代实施例中，移液探针被从穿刺针分离开，每一个都被独立控制。移液探针可以还包括流体传感器。

一种使用包括(如上所述的)密封件拆除工具的装置的方法被提 供了，该方法包括从多孔板的孔上拆除密封件并检测来自所述孔的所 述信号。拆除密封件可以包括穿刺多孔板的孔上的密封件和，可选地， 将密封件切割成部分(例如，使用穿刺末端上的切割边)并抵靠着孔 的内壁折叠这些部分。该方法可以进一步包括以下步骤中的一个或多 个：吸引样品到孔内、吸引分析试剂到孔内、从孔内排出液体、清洗 孔、照亮孔或施加电势到孔内的电极上。另外，该方法可以进一步包 括在板的一个或多个另外的孔上重复如上所述的过程的某些部分或全 部。

更进一步地，该方法可以包括在一个或多个孔上平行进行如上所 述的过程的某些部分或全部。因而，本装置可以同时在多孔板的多于 一个的孔上平行进行，例如多达十个孔或多达五个孔。此平行处理在 此处被称为样品交叉或交错处理(sampleinterleaving)，且其被设计用 以提高样品处理量。

一种可以被用于传输多孔板分析装置使用的试剂和存储多孔板分 析装置产生的废液的试剂盒被提供了。根据一个实施例，试剂盒包括 封有内部体积的盒体。盒体具有试剂端口和废液端口以传输试剂和接 收废液。在盒体内，试剂盒还包括分别被连接到试剂和废液端口的试 剂腔和废液腔。腔的体积是可调的以使试剂和废液所占用的盒体体积 的相对比例可以被调整，例如，作为试剂在分析中被消耗但作为废液 被返回到盒内。盒体的整个内部体积可以小于约2倍、小于约1.75倍、 小于约1.5倍、或小于约1.25倍的壳体内被存储的液体体积，例如， 最初被提供到壳体内的试剂的体积，这样，最小化了废液和试剂存储所需的空间，并且为方便起见，允许一个步骤完成试剂补充和废液排 出。在某些实施例中，该装置具有被设置成接收盒的试剂盒沟槽，并 提供流体连接到废液和试剂端口上，可选地，通过“快插式接头”或“快 速连接接头”。

可选地，试剂腔和/或废液腔是可拆除的。在某一实施例中，试剂 和/或废液腔是可拆除的，且本装置还包括传感器例如光学传感器以监 视试剂腔和/或废液腔内的液体水平。当试剂腔和/或废液腔到达某一最 小或最大容量时，如传感器所检测到的，装置即警告用户拆除试剂腔 或废液腔，以补充和/或排空内容物。在某一实施例中，移液探针的电 机与传感器联通，且当试剂腔和/或废液腔到达最小或最大容量时，移 液探针电机被该装置失效，例如探针传感器传递有关腔的容量的信息 到仪器软件上，仪器的软件停止进一步的移液动作。

试剂腔和废液腔可以通过置于盒体内的可收缩的袋被提供。试剂 和废液腔中的其中一个可以通过可收缩的袋被提供，而另一个可以通 过盒体自身提供(也就是说，除去盒体内可收缩的袋限定的体积之外 的盒体内的体积)。除了第一试剂和废液腔之外，试剂盒可以进一步包 括被连接到一个或多个另外的试剂和/或废液端口的一个或多个另外 的可收缩的试剂和/或废液腔。可替代地，试剂和废液腔中的一个或另 一个可以由成形模制塑料构造而成。

一种使用试剂盒的方法被提供了。该方法包括从试剂腔内排出试 剂并将废液引入到废液腔内。在某些实施例中，试剂体积的至少约 70％、至少约80％或至少约90％被作为废液重新引入到试剂盒内。

一种液体分配器被提供了。该分配器可以被用于添加液体到多孔 板的孔内或从中排出液体。一种包括分配器的分析装置被提供了。液 体分配器的一个实施例包括具有竖直管元件的移液探针。此分配器还 包括探针导引件，探针导引件以竖直定向的方式支撑管元件且被设置 成允许所述管元件在导引件内在完全伸出位置和完全收回位置之间竖 直移动。分配器还包括弹性元件，其被连接到竖直管元件和探针导引 件上，以偏压管元件到完全伸出位置(也就是，被向下伸出)。竖直平 移台被连接到探针导引件上以升高和降低探针。

管元件具有通过其液体被分配或吸引的下部开口。在一个实施例 中，下部开口是直头管端。可选地，该端部可以被开槽以允许当开口 被压到平面上时液体通过开口运动。在某些实施例中，分配器包括两 个或多个管元件。在一个特殊实例中，不同试剂通过不同管元件被分 配。在另一特殊实例中，一个管元件可以被用于分配试剂而另一管元 件被用于吸引废液。多个管元件可以被设置为多种布置方式，例如， 平行管布置或同轴管布置。

一种用于使用液体分配器添加液体到容器，例如多孔板的孔，内 或从中抽取液体的方法被提供了。一种方法包括：a)通过降低平移台 以降低移液探针到容器内，直到探针接触到容器的底表面，b)继续降 低平移台以使所述管元件推动弹簧并收回到探针导引件中的所述完全 伸出位置和完全收回位置之间的某一位置，c)通过移液探针添加液体 到容器中和/或从中抽取液体，和d)通过升高所述平移台，将移液探 针升高到所述容器外。

在使用带有可穿刺密封件的容器的特殊实施例中，该方法可以进 一步包括降低平移台直到探针接触和穿刺密封件。另外，穿刺密封件 可以进一步包括e)降低平移台直到移液探针接触板密封件，(f)继续 降低平移台以使管元件推动弹簧并收回到探针导引件中的完全收回位 置，和g)进行降低平移台以使移液探针穿刺板密封件，并且管元件 返回到完全伸出位置。

一种在多孔板上进行发光分析(luminescence assay)的装置被提供 了。一个实施例包括提供无光环境的不透光封罩，发光性测量可以在 该无光环境内进行。该封罩包括板平移台，以在封罩内水平移动板到 特殊分析处理和/或检测步骤被实施的区域。该封罩还包括具有一个或 多个板引入口的封罩顶部，通过这些板引入口板可以被降低到板平移台上或从板平移台上移走(手工地或机械地)。滑动的不透光门被用于 在进行发光测量之前密封板引入口不受环境光影响。

该装置可以还包括光检测器，其可以被安装在不透光封罩内或， 作为替代地，它可以被安装在封罩顶部上的检测缝隙上(例如，通过 不透光连接器或隔板)。在某些实施例中，光检测器是成像光检测器例 如CCD相机，且它可以还包括透镜。该装置可以还包括移液系统、密 封件穿刺系统、试剂和废液存储容器、样品或试剂管的管保持器、用 于传输/排出样品/试剂/废液的流体输送站等。这些部件可以是传统的 部件，例如现有技术中已知的部件。作为替代地，该装置可以使用此 处所介绍的特殊部件。而且，该装置可以包括计算机或其它电学系统 以控制装置的操作，包括例如操作电动机械系统和触发激发和/或分析 光信号。

用于在多孔板上进行发光分析的装置的另一实施例包括不透光封 罩，其包括i)一个或多个具有可以被升高和降低的板提升平台的板升 降器，ii)具有被放置于板升降器上方的一个或多个板引入口及检测口 的不透光封罩顶部，该封罩顶部包括用于密封板引入口的滑动不透光 门，和iii)用于在一个或多个水平方向上平移板的板平移台。平移台包括支撑板的板保持器，在板下面具有开口以允许板保持器被放置于 板升降器下方而接近和提板提升。而且，板平移台被设置成将板放置 于检测口下方并将这些板放置于板升降器上方。

该装置还包括一个或多个板堆垛器和光检测器。板堆垛器被安装 在封罩顶部上板引入口上方，且被设置成从板升降器上接收板或传输 板到板升降器上。光检测器被安装到封罩顶部上，并通过不透光密封 件连接到成像口上。

该装置的某些特殊实施例可以还包括移液系统，以传输液体到装 置上分析板的孔内或从孔内排出液体。在一个特殊实施例中，移液系 统包括被安装到移液平移台上的移液探针，以在竖直方向上和，可选 地，在一个或多个水平方向上移动所述移液探针。而且，封罩顶部具 有一个或多个移液口，而且滑动不透光门具有一个或多个移液口。滑 动不透光门具有使封罩顶部上的移液口和滑动不透光门上的移液口对 正的移液位置。移液平移台被安装在封罩顶部上，且其被设置成使， 当滑动不透光门处于移液位置时，移液探针可以被降低以接近被放置 于封罩顶部上的移液口下方的孔。

该装置的另一可选择部件是密封件拆除工具例如板密封件穿刺探 针。在一个实例中，封罩顶部和滑动不透光门具有穿刺探针口，而不 透光门具有使门上和顶部上的穿刺口对正的穿刺位置。穿刺探针被安 装在封罩顶部上，且其被设置成使，当滑动不透光门处于穿刺位置时， 穿刺探针可以被降低以穿刺被放置于封罩顶部上的穿刺口下方的孔上 的密封件。具有优势地，当穿刺探针和移液探针都存在时，它们都可 以被一个平移台驱动，例如上面对集成的移液/穿刺工具介绍的。在替 代实施例中，支撑移液探针的移液平移台包括探针平移元件，且移液 平移台被设置成借助于探针平移元件水平移动并抓住穿刺探针，并竖 直移动以降低和升高所述穿刺探针。

此装置的其它可选部件是板接触部件，以在板上制造电接触并提 供电能到被置于所述光检测器(例如用于诱导ECL)下面的孔内的电 极上。

一种使用该装置在多孔板上进行发光分析的方法也被提供了。板 可以是传统的多孔板。在某些实施例中，使用了适于在电化学发光分 析中使用的板，如美国申请10/185,274；10/185,363和10/238,391中 所介绍的。在每次检测从一个孔内发出的ECL的分析方法中，这些孔 内的电极和电极触点被适于允许每次只应用电能到一个孔内的电极 上。此装置可以尤其很好地适于在包含干燥试剂和/或被密封的孔的板 上进行分析，例如，Glezer等人的申请No.11/642,970中所描述的。

在一个实施例中，该方法包括：a)将板引放到板堆垛器上，b) 打开不透光门，c)从堆垛器上降低板到板平移台上的板保持器上，d) 密封不透光门，e)移动板以将一个或多个孔放置于光检测器下面，e) 检测从该一个或多个孔内发出的光，f)打开不透光门，g)移动板到 板堆垛器下面的位置，和h)升高板到板堆垛器上。该方法可以还包 括移动所述板支架以将一个或多个另外的孔放置与所述光检测器下 面，并检测从所述一个或多个另外的孔内发出的光。该方法可以，可 选地，还包括下述步骤中的一个或多个：i)移液样品/或试剂进或出一 个孔，ii)从其中一个或多个所述孔上拆除密封件，或iii)应用电能 到其中一个或多个所述孔内的电极上(例如，以诱导电化学发光)。

该装置包括移液探针，且封罩顶部和滑动门包括移液口，该方法 可以进一步包括：滑动滑动不透光门到移液位置并使用移液探针从板 的一个或多个孔中引入和/或排出试剂和/或样品。该装置包括密封件穿 刺探针，且封罩顶部和滑动门包括穿刺口，该方法可以进一步包括： 滑动滑动不透光门到穿刺位置，在穿刺探针下面对准板上的孔，并穿 刺孔上的密封件。它们可以被重复以穿刺板上的其它孔。在一个实施 例中，在被移液探针接近之前，板上的孔的密封件被用密封件穿刺工 具穿刺。在另一实施例中，该孔首先被穿刺密封件以在密封件上形成 一个或多个小孔或缺口的移液探针接近。然后该孔被穿刺探针穿刺以 完全移动密封件并允许不受防碍地检测从孔内发出的信号。

光检测器可以是传统的光检测器，例如光电二极管、雪崩光电二 极管、光电倍增管或类似构件。合适的光检测器还包括这些光检测器 的阵列。可以被使用的光检测器还包括成像系统例如CCD和CMOS 相机。光检测器可以还包括透镜、光导件等，以在检测器上对光进行 引导、聚焦和/或成像。在某些特殊实施例中，成像系统被用于成像从 分析板的一个或多个孔内的结合区域的阵列中发出的光，且分析装置 报告所述阵列的各自元件发出的光的发光强度值。

一种环境监测系统也被提供，其包括分析物检测模块和空气取样 系统。空气取样系统处理空气以浓缩空气中的颗粒物质并将这些颗粒 悬浮到液体悬浮液中。检测模块是用于在此处公开的多孔板上进行发 光分析的装置。在操作中，空气取样系统在一段时间内处理空气并传 输样品给分析物检测模块，后者然后对分析板上的一个或多个孔内的 一种或多种目标分析物进行分析，并且在分析完成之后，报告结果。 空气取样系统、检测模块和这两个部件之间的界面，优选地，被设计 在自主式模式下操作。在选定的间隔时间内，其他的样品被从空气取 样系统传输到检测模块中并在分析板上不用的孔内进行分析。此分析可以被安排在系列模式下运行。作为替代地，该分析可以被安排以在 其中一些步骤重叠的交错模式下运行。通过使用多孔板(和固定多个 多孔板的板堆垛器)，在不需要补充消费品的情况下可以实现长时间的 自主式操作。

图1示出了多孔板读取器100的一个实施例的等轴测视图。板读 取器100具有不透光封罩110和流体/成像系统封罩130。输入和输出 板堆垛器122和120分别保持着板105以在分析中使用(板被示出具 有可选的板密封件)。板堆垛器120和122具有弹簧加载式板释放门闩 125，以允许板从下面的不透光封罩上被升高(使用本视图中没有被示 出的板升降器)以在堆垛中被捕获。输入堆垛122上的门闩还可以被 直接释放以允许板从堆垛上被释放到下面的板升降器(未示出)上。 窗口140在流体/成像系统封罩130上为条形码读取器提供光路，以读 出输入堆垛122上的板上的条形码。可选地，板堆垛盖(未示出)可 以被安装在板堆垛上方以保护堆垛中的板不受环境影响。板堆垛盖可 以包括加热器和/或冷却器(例如，热电加热器/冷却器)和/或干燥腔 以保持板堆垛处于可控的温度和/和湿度下。

图2是不带有流体/成像系统封罩130的盖和板105的板读取器 100的视图。本视图示出了提供不透光密封件到位于板堆垛器120和 122下面的不透光封罩110顶部上的板引入口上的滑动不透光门150。 通过带电机155被连接到打开门150的线性螺杆驱动(未示出)上。 板读取器100的被提供的视图示意出了用于移动包括门150的本装置 的很多部件的某些特殊平移机构的使用；同时所选择的特殊机构可以 具有某些发明性的优势，此说明并不意于加以限制，且本领域技术人 员将能够从很多传统的单轴或多轴平移机构中进行选择。还应注意， 为了简化附图，电路板没有被示出。

成像系统160被安装在不透光封罩110顶部上的成像口上，且能 够成像从封罩110上的板上发出的光。泵170被用于驱动流体通过集 成的移液系统。本领域技术人员将能够选择合适的泵以在本系统中使 用，包括但不仅限于隔膜泵、蠕动泵和高压注射(或活塞)泵(如图 所示)。泵170还包括多路阀以允许泵从不同流体线路上推进和吸引液 体。作为替代地，多个泵可以被用于在不同流体线路上彼此独立地控 制流体。条形码读取器180和旋转镜185被用于从输入板堆垛器122 上的板上扫描条形码。流体输送站200被用于传输样品到装置上、清 洗集成的移液器(pipettor)并从移液器内排出废液。穿刺工具225被 用于穿刺和移动被密封板的孔上的密封件，以允许孔的无障碍成像。 移液平移台250提供双移液探针260的水平和竖直移动。

图3是聚焦于成像系统160的部件上并示出了通过相机支架164 被安装在不透光封罩110顶部上的相机162的板读取器100的另一视 图。被连接到相机162上的透镜166被用于提供从封罩110上的板上 发出的光的聚焦成像。隔膜168密封透镜166和封罩110顶部上的口， 并允许成像系统160成像从封罩110上发出的光，同时保持封罩110 处于保护其不受环境光影响的不透光环境中。在成像系统160中使用 的合适的相机包括，但不仅限于，传统的相机例如胶片相机、CCD相 机、CMOS相机和类似相机。CCD相机可以被冷却以降低电学噪音。 透镜166是可以由玻璃或注塑塑料制成的高数值孔径透镜。成像系统 可以被用于同时成像板的一个孔或多个孔。对从一个孔发出的光进行 成像的光收集效率高于由于CCD芯片尺寸和被成像的区域尺寸更接 近匹配而对一组孔进行成像的效率。被成像区域尺寸的被减小和收集 效率的增加允许使用小的便宜的CCD相机和透镜，同时保持检测中的 高灵敏度。特别的优势是，由于它们的低成本和小尺寸，使用非冷却 的相机或具有最小程度冷却(优选地，冷却到约-20℃，约-10℃，约0℃ 或更高温度)的相机。

图4示出了板密封件穿刺工具225、移液平移台250和样品/废液 传输站300的放大视图。移液平移台250包括被安装在电动竖直平移 台280上的双探针移液器260，电动竖直平移台280反过来被安装在 水平平移台270上。水平平移台270使用电机和带驱动沿线性导轨移 动竖直平移台280，并在穿刺工具225和样品/废液传输站300之间水 平移动移液器260。竖直平移台280使用电动线性螺杆驱动升高和降 低双探针移液器260。运动的范围允许探针260接近样品/废液传输站 中的液体和接近(通过不透光封罩110顶部上的口，图中未示出)位 于封罩110上的板上的孔。

双探针移液器260包括流体连接以连接两个探针到两个流体线路 上。使用两个探针允许其中一个探针被用于传输液体到孔内而另一个 探针被用于排出废液。作为替代地，这两个探针可以被用于从两个不 同的流体线路传输不同的试剂。竖直平移台280包括被制成滑动到穿 刺工具225上的槽227内的形状的穿刺探针平移元件265。通过使用 移液平移台270，探针平移元件可以被移动以通过轭状物265在槽227 处接触和抓住穿刺探针225。然后，竖直平移台280的向上和向下运 动可以被用于控制穿刺探针225的竖直位置。

图5示出了样品/废液传输站300的两个视图。输送站300具有三 个被限定在其上表面上的开放腔：样品腔310、废品腔320和清洗腔330。样品310与流体连接器312流体连接。被传输到流体连接器312 上的样品(例如，从空气取样系统)注入样品腔310并使移液器260可使用。废液腔320排空流体连接器322并为移液器260提供容器以 传输废液。清洗腔330可以被用于清洗移液器260的表面；移液器260 被插入到腔330内，而流体系统被指令分配清洗液，清洗液在溢出到 废液腔320之前沿移液器260的外侧表面流动。腔310、320、330被 凹陷在孔305内，这样腔310和330中的任何溢出都被指令成为废液 而不会溢出输送站300。流体传感器314和324被包括以监测腔310 和320内的液面水平，并保证正确的操作。合适的流体传感器包括但 不仅限于光学反射和电容式传感器。

试剂块340仅仅被用于提供外部液体试剂源(被连接到流体连接 器344上)和泵170(被连接到流体连接器342上)之间的连接。试 剂块340被使用流体传感器346监控以保证液体试剂的传输。在特殊 应用中如果不需要液体试剂可以被省略。液体试剂的可能用途的非独 占性实施例包括用作泵和流体线路的工作液体、用作清洗分析孔的清 洗缓冲液和/或用作为发光测量提供最佳环境的读取缓冲液。在某一实 施例中，它是电化学发光读取缓冲液。废液和液体缓冲液可以被存储 在外面的或内部的瓶内。作为替代地，它们可以被存储在，例如此处 所介绍的，试剂盒内。

本领域技术人员会理解样品/废液传输站300的功能部件中的一个 或多个(例如，其中一个腔、试剂块、传感器等)可以被省略或可以 被提供在单独的部分中。另外，样品腔可以通过其它提供样品的方法 补充或替换。例如，管支架和/或源板座可以被引入到此装置中。那样 的实施例可以被设置成使探针260的行程足以接近那些管或那些源板 上的孔。支架或板保持器可以还具有运动轴线，以帮助提供到所有管 和孔的通道。在某一实施例中，探针在横向方向上(也就是，相对于 仪器的基板来说从一侧到另一侧)的水平运动和管或板保持器在长度 方向上(也就是从前面到后面)的运动提供了到管支架上的管的阵列和/或被固定在板保持器上的源板上的孔的阵列的通道。

在某一实施例中，装置包括可以容纳用于分析样品、试剂或两者 的试管的常设样品架。装置还可以包括用于试管、多孔板或两者的可 拆卸的样品架。在某一实施例中，可拆卸的样品架可以容纳至少24 个试管和/或96孔多孔板或96深孔多孔板。支架或板保持器可以具有 用于从装置头至装置尾移动样品架的运动的单一轴线。另外，双探针 移液器260具有足够的长度以竖直延伸试管的全部深度。

图6a示出了可以被用于移液器260上的其中一个探针或两个探针 的移液探针末端400的详细视图。探针400是带有直头端的中空管， 其直头端上具有围绕探针的圆周切进末端内部的槽410，以当探针与 表面接触时，液体被吸引到探针内和从中分配出去。图中示出了矩形 槽，但是很明显，包括三角形或半圆形开口的可替代的几何形状可以 被使用。在围绕探针末端的圆周上可以具有一个或多个槽。槽可以排 列成对称图案，或者槽可以被布置在探针的特殊侧面上(不对称的) 以使液体可以从优选的方向被吸引，也就是说，为了从绕孔底面边缘 的半月牙形状上推动液体。

可选地，被用于这些装置内的移液探针是弹簧加载式的，这样它 们接触表面而不损坏表面或探针。图6b和6c示出了显示有可以被使 用的可替代探针实施例的液体分配器420。液体分配器420包括具有 竖直管元件425的移液探针424和探针导引件430，其被设置成允许 管元件425在导引件430内的完全伸出位置(图6b)和完全收回位置 (图6c)之间竖直移动。如图所示，探针424的大直径部位被限定在 由导引件430的内表面限定的两个位置止动件之间，但是本领域技术 人员能够设计位置止动件的可替代结构。分配器420还包括弹簧元件 440，其在导引件430的表面和竖直管元件425上的凸缘(或领状物) 435之间被压缩，这样，当探针的底面上不存在外部力时，所述管元 件仍停留在伸出位置。分配器还包括被连接到导引件430(未示出) 上以允许升高和降低导引件430的竖直平移台。

在使用分配器420的移液操作的一个实施例中，导引件被降低以 使探针424被降低到容器内直到它接触底表面。继续降低使得管元件 425推动弹簧440，并收回到探针导引件430内的完全伸出位置和完全 收回位置之间的位置。液体被添加到孔中或从中被排出，而探针424 被升高到孔外面。在使用带有可穿刺密封件的容器的特殊实施例中， 该方法可以进一步包括降低平移台直到探针424接触并穿刺密封件。 另外，穿刺密封件可以还包括：e)降低平移台直到移液探针424接触 板密封件，f)继续降低平移台以使管元件425推动弹簧440并收回到 探针导引件430内的完全收回位置，和g)继续降低平移台以使移液 探针424穿刺板密封件，且管元件425返回到完全伸出位置。

图7a-7b示出了装置100的穿刺探针225的两个视图。穿刺探针 225包括带有逐渐变细到顶点以在穿刺方向(探针移动以穿刺孔的方 向，在本实施例中是探针的长轴)的一端形成穿刺末端451的外表面 的穿刺部分450。穿刺探针225还包括被沿穿刺的尺寸与穿刺部分450 相邻布置的密封件移动部分452。移动部分452相对于它将要穿刺的 孔的开口的形状(在本实施例中是带有圆角的方形孔)一致，但尺寸 稍微小些。当穿刺部分450穿刺密封件后，移动部分452抵靠着孔壁 推动板密封件并防止密封件干扰孔内信号的检测。穿刺探针225还包 括与移动部分452相邻的板止动部分454。止动部分454被制成使其 不能进入目标孔的尺寸，并因此限定了探针225在目标孔内的最大行 程。

如上所述，移动部分452与它将要穿刺的孔的形状一致。横截面 区域(垂直于穿刺方向)可以采用包括，但不仅限于，圆形、椭圆形、 多边形(规则的或不规则的)和带有圆角的多边形的任一孔形状。在 一个特殊实施例中，它是正方形或带有圆角边缘的正方形。穿刺部分 450可以采用包括，但不仅限于，圆锥形和棱锥形的形状。如图7a所 示，它是具有从末端451开始在径向方向上延伸的边453的正方棱锥 形状。棱锥的边，具有优势地，形成在穿刺操作过程中帮助将密封件 切割成部分的切割边。例如，如图7a-7b中所示的穿刺探针被设计为 穿刺带圆角的正方形孔上的密封件，对角切割密封件以形成四个三角 形的密封件部分并抵靠着孔壁折叠这些部分。切割边还可以从表面上 被提升，例如，穿刺系统基本上可以是圆锥形状具有从圆锥表面开始 延伸的被升高了的切割边。一种用于分析包括穿刺探针和被密封的板 的多孔板的装置也被提供了。适合的板包括用密封薄膜(例如，粘合剂密封，热密封，或超声焊接的薄膜)密封的板。该薄膜可以包括， 但不仅限于，塑料和金属薄膜或两者的组合的材料。在一个特殊实施 例中，密封件是金属箔片(可以被涂有密封层例如可热密封或粘合剂 密封的涂层或薄膜)例如可热密封的或粘性的铝箔。

如图7b中所示，穿刺探针225是弹簧加载式的以提供可恢复力并 限制能够被施加到板上的最大力。穿刺探针225包括滑动进入探针导 引件470上的口内的探针轴460，其中探针导引件470被固定安装到 不透光封罩110顶部上(参考图2)。压缩弹簧461提供偏压探针轴460 以完全升高到探针导引件470内的可恢复力。可恢复力被提供在下面 两者之间：i)被固定约束在轴460上的销464，和ii)被固定约束在 导引件470和封罩110顶部之间但可以在轴460的槽463(槽463限 定探针轴460相对于导引件470的运动范围)内自由移动的销462。 探针225被设计以通过施加力到活塞465上(例如，通过用探针移动 元件265抓住槽227(如图4中所示)并在竖直方向上移动探针移动 元件265)在穿刺方向上被移动。活塞465和销464之间的第二压缩 弹簧(未示出)限制了使用穿刺探针225可能施加的力；如果被施加 了过大的力，活塞将压缩第二压缩弹簧而不是相对于导引件470移动 轴460。槽467内的销466限定了活塞465在轴460内的最大行程。

图8示出了被集成为一个单元的穿刺探针和移液探针的可替代实 施例。图8示出了包括密封件穿刺探针510的密封穿刺件/移液器500， 密封件穿刺探针510具有带有密封件穿刺末端521、密封移动部分522 和板止动部分524的密封件穿刺部分520。穿刺件/移液器500还包括 穿刺探针导引件540，其具有探针510在其内可以沿穿刺方向滑动的 圆柱形开口。穿刺探针510还具有平行于穿刺方向并，在一个实例中， 从穿刺末端521偏离的通孔525。移液探针530被可移动地置于通孔 525内并被固定连接到导引件540上，这样，穿刺探针510远离导引 件540的运动会导致移液探针530从穿刺探针510伸出，并且穿刺探 针510朝向导引件540的运动会导致移液探针530收回到穿刺探针510 内。导引件540内的压缩弹簧545推动穿刺探针510远离导引件540 并收回移液探针530(穿刺探针510的最大位移被物理止动件，特别 是探针510上的领状物526和导引件540上的凸缘547限定)。

在操作中，板导引件540向着被密封的孔被降低以使穿刺探针510 穿刺并移动孔上的密封件。压缩弹簧545的弹簧常数被选择以使密封 件不从本质上压缩弹簧545(且移液探针530保持收回到通孔525内 并与穿刺探针510一起移动)就可以被穿刺。导引件540的继续降低 使得板止动部分524接触孔的顶表面，阻止穿刺探针510的进一步移 动，并使得弹簧545压缩和移液探针530伸到孔内。

图9a-9c示出了在拆除安装在封罩110顶部上的大部分部件后装 置100的不透光封罩110的俯视图(参考图1－2)。图9示出了滑动 不透光门150处于三个不同位置(为清楚起见，门150的暴露表面被 用平行的阴影线示出了)时的三个视图(a－c)。在图9a中，门150处于完全被密封的位置，以完全密封封罩110顶部上的板引入口626、 穿刺探针口630和移液探针口640。光检测口610被清除了障碍以允 许检测和/或成像从被置于口610下面的孔发出的光。本视图还示出了 被安装在口610下面封罩110底面上的板接触机构615。板接触机构 615被设计以与在孔内具有电极的板一起使用，且与这些电极的电极 触点被排列在板的底面上；为孔的电极触点提供电接触的板接触机构 615被置于口610下面。

在图9b中，滑动门150被部分打开以使滑动门150上的穿刺探针 和移液探针口与封罩110顶部上的对应口630和640对正。当门处于 此位置时，穿刺探针和移液探针可以接近被置于适当口下方的孔。多 个移液口被提供以使移液探针可以接近板上的一个孔或多个孔内的多 个位置而不需要重新放置该板，在图9c中，滑动门150被完全打开， 完全打开板引入口626并允许在板堆垛器120和122和板升降器625 之间传输板。

图10示出了存在于不透光封罩110内的机械部件。板平移台710 被安装于封罩110内被升高的位置，并提供板保持器720和保持板730。 平移台710包括为板保持器720提供移动的两个水平轴的线性导引件 和电机，并允许板保持器720和封罩110覆盖的大部分水平区域。板 保持器720在边缘处支撑成板730并在中心处是开放的，这样，板升 降器740和接触机构750可以通过板保持器720接触板730的底面。 当板保持器720被放置在升降器740上的其中一个平台745上方时， 升降器740的电机驱动剪叉结构可以操作以升高平台，并从板保持器 720上提板提升730到被安装于封罩110顶部上的板堆垛器上。类似 地，当板保持器720被放置于接触机构750上方时，接触机构750的 电机驱动剪叉机构可以操作以升高电接触755使它们接触板730底面 上的电极触点，并允许通过所述触点应用电能到板730上的孔内的电 极上，例如，在那些电极上感应电化学发光。应注意，所描述的用于 移动板、电接触、探针等的运动系统并不局限于此处所描述的特殊机 构，虽然这些机构可能具有特殊的优势。本领域技术人员在他们的权 限内选择其它用于实现部件的预期运动的传统机构也是很好的。

在某一实施例中，平移台710可以被用于实现板保持器720的快 速单轴或两轴震动，并因而震动和混和板保持器上板的承重物。震动 形式可以从持续的单轴震动变化到周期操作的轨道震动。一个实例包 括在两个不同的频率上与轴一起震动。此系统可以还提供声波技术以 在样品培养过程中加强混和，例如，Wohlstadter等人的美国专利 6,413,783中所介绍的。

在某一实施例中，不透光封罩包括被置于成像口下面和板保持器 的高度下面的光源。这个布置允许利用将被用于修正板对正误差的板 上的基准孔或窗口。从光源发出的光经过基准并在成像系统上成像以 确定和修正板的对正。具有优势地，由与板顶部匹配的板底部(例如， 在美国申请10/185,274和10/185,363中描述的带有与注塑的板顶部匹 配的丝网印刷的板底部的板)形成的板，具有优势地，包括被排列(例 如，丝网印刷)或切刻到板底面上去的基准以修正板底部相对于板顶 部的错位(不重合度)。在一个特殊实施例中，这种板上的板顶部包括 与板底面上的基准对齐的孔(例如，在板顶部的外侧框架上)以允许 基准的成像。因此，从板下面产生的光的成像可以被用于将板的确切 位置传达给成像处理软件，且还用于提供相机聚焦检查。然后使用两 轴定位系统该板可以被重新对准。这样，一种板的定位方法被提供， 包括：(1)提供具有光路开口的板；(2)从底部照亮板；(3)检测从 光路开口来的光；和(4)可选地，重新对准该板。

本发明的装置使用多孔分析板，例如在图11中描述的那些。在图 11a和11b中示出了多孔板的一个实例，其包括注塑的板顶面和丝网 印刷的聚酯板底部上方的铝箔板密封件。板包括分析孔和干燥剂孔。 图11b提供了该分析板的一个孔的展开图。孔的板底部包括工作电极、 对电极和介电层。材料阵列，例如特别针对目标分析物的抗体阵列， 被附着到工作电极上，且该孔包括位于板底面上方凸出物上用于分析 的冻干的检测抗体和/或正控制。在图12中示意性示出了使用例如在 图11中描述的那些板的分析方案的概要图。

此处也设想了本发明的装置的不同实施例。图13描述了两个非限 制性实例。图13a描述了包括用于空气监视系统的检测部件的装置的 一种形式。用于图13a中的装置的样品源是泵吸到样品传输站内的流 体，且本装置能够串行处理。在图13b中示出了另一实施例。图13b 能够例如在现场实验室设置中进行自动样品分析，且装置包括保持管 列或源板的样品架。在图13b中示出的实施例能够交错进行药品处理， 如此处更详细描述的。

图14是在图13b中大概描述的装置的详细视图。除可代替的样品 管架之外，图14a中的装置还包括常设管架。常设样品架能够容纳可 以用于样品、试剂或两者的多个试管(图14a中示出的实施例中有八 个试管)。可拆卸的样品架可以还容纳多个试管和/或多孔板，例如， 多达24个试管、96孔板或96深孔板(在图14c中示出了这一可替代 布置)。另外，本装置包括传感器，用以检测装置内安装的样品架的类 型。图14中的装置还包括可拆卸的废液腔和与废液腔连通的流体传感 器。废液腔可以通过图14a中示出的废液释放盒排出。在可替代实施 例中，废液腔被外部置于装置内，但通过流体泵与仪器和仪器软件联 通，流体泵传输废液到外部废液腔内。图14b中的装置还包括样品通 道门，样品通道门包括例如LED灯或其他指示器或锁定机构，以当样 品架处于运动中或其他不可接近的情况时，防止用户靠近。在某一实 施例中，此机构包括软件控制锁。图15描述了图14中示出的装置的 俯视图。

图16提供了在图14中示出的装置中使用的不透光封罩110(LTE) 的详细视图。LTE包括X-Y平台，该X-Y平台可以放置多孔板以将其 在装置内传递到板堆垛，传递至进行密封件穿刺，传递至进行移液， 或传递到ECL测量站。LTE还包括升降器以在X-Y平台和输入/输出 堆垛器之间传输板，和接触机构以对CCD相机下面的板孔内的电极制 造电接触。

图17提供了在图14中示出的装置的样品传输站的详细视图。样 品传输站包括线性导引件以在移液探针下面放置管、常设和可代替的 管架和废液容器。

如图18所示，本发明提供了一种在多孔板上进行发光分析的装 置，该装置包括(a)光检测子系统；(b)液体处理子系统；和(c) 板处理子系统，其中，所述装置通过连续交错程序(continuous interleaved process)处理分析样品。因此，本发明还提供了一种利用本发明的装 置的方法，其中，用于各个孔的程序包括下列串联步骤：

(a)第一样品添加阶段(图示中的“前端”)，其中，在样品添加 期间，移液探针被结合到各个孔上，其中，第一样品添加阶段包括时 间片n；

(b)第一培养阶段，其中，移液探针不需要在各个孔上接触和/ 或操作，但可以选择性地在其他孔上接触和/或操作，且第一培养阶段 包括时间片m；

(c)第一试剂添加阶段(图中的“后端”)，其中，在试剂添加期 间，移液探针被接合到各个孔上(其可以选择性地成为孔清洗步骤的 一部分)，且第一试剂添加阶段包括时间片p。

第一样品添加阶段可以还包括密封件穿刺、试剂添加和与准备用 于分析的孔相关的其他步骤。试剂添加阶段中的第一试剂添加可以是 孔清洗步骤的一部分，孔清洗步骤可以还包括从该各个孔内吸出流体。 第一试剂添加阶段可以还包括在各个孔上进行检测程序(例如，从各 个孔上诱导和测量ECL)。第一样品添加和第一试剂添加阶段可以包 括用于准备或清洗移液探针的步骤(例如，清洗流体线的预先准备、 清洗移液器末端等)

可选地，在各个孔上进行的程序可以包括另外的培养阶段或试剂 添加阶段。例如但不限制，“两步”结合分析可以包括第二培养阶段和 第二试剂添加阶段。

对多孔板上的第一孔实施(a)-(c)步骤，并且步骤(a)在前 面的孔上完成之后，对该多孔板上的一个或多个另外的孔重复这些步 骤。例如，当步骤(a)在板的第一孔上完成后，在该第一孔上顺序进 行步骤(b)-(c)。当在一个孔上完成一个步骤时，该步骤可以在该板的另外孔上完成，同时前面的孔继续下一步骤。同样，对另外的孔 进行剩余的步骤。这个过程可以在板的每一个孔也就是板上的相邻或 邻近的孔上进行，这样，在一个孔上进行了该过程中的第一步骤(紧 跟着进行过程中的剩余步骤)，接着在相邻的孔上进行该步骤，紧跟着 进行该过程中的后面步骤。可替代地，该过程可以在不相邻的孔上进 行，也就是，在一个孔上进行了该过程中的第一步骤(紧跟着进行该 过程中的后面步骤)，接着在板上的很远的孔上进行该步骤，紧跟着进 行该过程中的后面步骤。

如图18中所示，用以测量多种样品的一种方法是串行样品处理程 序，其包括在对下一样品开始分析之前完成对一中样品的样品分析， 此处理程序提供较低的样品处理量。为了提高处理量，可以在前面样 品的培养阶段期间开始处理样品，因而利用在此期间前面的样品不需 要移液器的事实。这种方法的一个实施例是连续的交错处理程序，其 包括在对各个孔实施动作期间的针对不同阶段的专用交替时间片(例 如，在阶段(a)和(c)中所描述的时间片n-和p)。在专用的样品添 加时间片期间，如果样品可以用了，则仪器添加样品到孔内(如果没 有样品可用，移液器将在那个时间片内空闲)。紧跟着样品添加时间片， 是试剂添加时间片，在此期间，将对已经到达培养阶段末期的孔进行 处理(如果没有样品正在培养或如果没有样品达到它们的培养阶段末 期，移液器将在该时间片内空闲)。样品和试剂添加时间片的这个交替 过程继续进行。软件调度程序在任意给定时间跟踪通过装置在单一板 上运行的所有分析的状态。上面描述的调度方法保证了基本上利用相 同的分析方案和计时对所有孔都进行处理，同时遵循相对简单的调度 算法。可替代地，软件调度程序可以编程为用以按照用户的决定调节 方案中的一个或多个步骤。在交错处理程序中，最大化了培养样品的 震动时间，以使本装置持续震动板，除非移液探针正在接触孔或测量到ECL信号。

在包括单一移液探针的装置中，进行交错处理程序是有益的，因为它 大大提高了仪器处理量，特别是当该单一探针被用于在分析过程中的不同 时间进行多个动作时。该处理程序在包括一个以上移液探针的装置中也是 有益的。如果使用一个以上移液探针，对于给定的时间片可以给每个探针 分配分析任务，且相对于利用单一移液探针进行的处理程序来说可以进一 步精简分析步骤。

除提高仪器处理量外，样品交错处理有助于引入样品的自动再测试， 如果初始测试具有不同于预定阈值的信号，例如信号高于或低于预定的阈 值。例如，如果从不同样品孔发出的平均或中值信号(典型地初始测试孔 和至少另一个再测试孔)超过针对某一特殊分析的阈值，可以对该样品进 行自动再测试。可替代地，对于样品的整体“肯定性”需求，该程序可以 要求给定样品的所有分析必须是正(肯定性)的即阳性的。

图19示出了可以与本发明的装置一起使用的图形用户界面的两种形 式。在图19a中描述的形式中，用户界面聚焦于分析板上，以使用户能够 总体上观察和看到板和板上每个孔的分析结果。相比之下，在图19b中示 出的形式聚焦于样品上。聚焦于样品上的用户界面允许用户输入样品信息 到样品列中，例如样品名字和支架位置，且用户可以看到给定分析样品的 状态和每个样品的分析结果。图20提供了聚焦于样品上的图形用户界面样 品的另一视图。

此装置、系统、方法、试剂和工具组件可以被用于对环境样品进 行分析。它们尤其可以被很好地适于在多孔板分析形式下进行自动取 样、样品准备和分析。

一个实施例是自主式环境监测系统，其包括(1)样品收集模块； (2)可选地，样品处理模块；和(3)生物制剂检测模块，其中，这 些模块被流体连接，或在一个可连接的实施例中，以允许样品在模块 之间传输。根据一个实施例，自主式环境系统允许多周周期的持续操 作所需要的人员交互被减少了。

可以被检测到的生物制剂包括病毒、细菌、真菌和寄生病原体以 及生物毒素。这些制剂本身可以被检测到，或者可以通过测量从这些 制剂得到的物质包括，但不仅限于，细胞片段、蛋白质、核酸、脂质、 多聚糖和毒素被检测。

在一个实施例中，自主式环境监测系统抽取空气样品，将空气样 品中的颗粒物质悬浮在收集液体中制造液体样品，并对包括病毒、细 菌和毒素的一个或多个生物制剂进行分析。此分析可以在单元或多元 分析形式下进行。

生物制剂的一些实施例包括，但不仅限于，痘苗病毒(vaccinia virus)、布鲁氏菌(Brucella spp.)、肉毒杆菌毒素A(botulinum toxin A)、 蓖麻毒素(ricin)、葡萄球菌肠毒素B(staph enterotoxin B(SEB))、 委内瑞拉马脑炎病毒(Venezuelan equineencephalitis(VEE))、鼠疫 杆菌(Yersinia pestis(YP))、炭疽杆菌(Bacillus anthracis(BA))、 贝氏柯克斯体(Coxiella burnetii(CB))、和法兰西氏土伦杆菌 (Francisellatularensis(FT))和它们的组合。

在一个实施例中，该系统还包括接收和处理从生物制剂检测模块 传来的数据的计算机。该计算机从数据中识别出肯定性标识物并，可 选地，提高进行测试的频率，发送数据以警告适当的权威机构，并进 一步可选地，自动警告附近自动提高分析频率和/或降低检测极限以鉴 定生物制剂是否存在的其它自主式环境监测系统。

这样，一种自主式环境监测系统的网络被提供了。根据一个实施 例，网络中的每个自主式环境监测系统，通过获得在操作周期的时间 内在那一特殊位置上对背景的取样，说明各个位置上的背景数据，来 自动确认各自的检测阈极限。所获得的背景水平信息被用于跟踪平均 的背景水平和背景水平的标准偏离，并对各自的自主式环境监测系统 的现场位置动态地调整检测阈极限。

根据一个实施例，样品收集模块能够收集和处理环境样品，例如 从空气样品中被过滤的或被浓缩的悬浮颗粒。可以被使用的空气取样 系统包括基于过滤器的收集器、碰撞采样器、虚拟碰撞采样器和湿式 旋风除尘器。可以被使用的标准样品收集模块的实施例包括美国专利 6,888,085；6,887,710；6,867,044和6,567,008中所介绍的系统。另外， 或作为替代地，样品收集模块可以被设置成收集、浓缩和/或处理其它 种类的样品例如水样、土样、临床样品、环境擦拭样品等，环境污泥、 食物样品、饮料、包括尘土悬浮物的样品或生物样品。可以进行分析 的临床样品包括，但不仅限于，粪便、粘膜拭子、生理流体、包含细 胞悬浮物的样品以及它们的组合。生物样品的特殊实施例包括血液、 血清、血浆、组织吸引(活检)、组织匀浆、细胞培养、细胞培养上清 液(包括真核生物细胞和原核生物细胞的培养)、尿和脑脊髓液。

用于将包含在气溶胶微粒流中的微粒悬浮在收集溶液中的装置可 以使用超声波破碎仪、漩涡混合器、震动器、简易混合器或其它构件 以优化液体和空气样品之间的接触。

根据一个实施例，表面活性剂可以被添加到收集液体中以防止生 物制剂在收集器溶液中遗失成颗粒(包括，但不仅限于，纸张、碎片 和灰尘)。很有用的表面活性剂包括，但不仅限于，离子或非离子型洗 涤剂或表面活性剂(例如，非离子型洗涤剂/表面活性剂的种类可以通 过这些商标名字：BRIJ、TRITON、TWEEN、THESIT、LUBROL、 GENAPOL、PLURONIC、TETRONIC和SPAN知道)。根据另一实施 例，被吸附在微粒上的生物制剂，例如纤维素基的细胞碎片，通过使 用羟酸例如乙酸或柠檬酸进行处理被释放回到溶液中去。

根据一个实施例，生物制剂的检测通过对样品的物理或化学处理 被改进了。此处理可以被用于(1)浓缩样品中的生物制剂，(2)逐渐 溶解生物制剂和/或使生物制剂分成碎片，和(3)暴露结合地点，否 则仍然无法接近。一个或多个处理步骤可以被包括在本发明的方法中。

装置可以包括浓缩器系统以通过过滤筛选法、亲和浓缩法和/或离 心过滤法浓缩悬浮在液体样品中的生物制剂。过滤筛选法浓缩器系统 可以使用被选择以当排出过剩溶液时仍保留细菌和病毒微粒的过滤 器。在一个实施例中，过滤筛选法浓缩器系统使用保留生物分子，例 如蛋白质、毒素、核酸、多聚糖和油脂，的过滤器。该系统可以还提 供从过滤器中排出生物制剂并将其重新悬浮在溶液中，例如通过在相 反方向上流动缓冲溶液和/或超声生物处理法。

离心筛选法浓缩器系统，通过排出跟踪离心筛选器的过剩溶液， 将生物制剂从液体中分离开。该系统还提供在排出过剩的液体后将被 浓缩的生物制剂重新悬浮在更小体积的液体中。

根据一个实施例，该系统使用包括能够结合到生物制剂上去的亲 和树脂的亲和浓缩单元。亲和树脂的实施例包括，但不仅限于，疏水 作用树脂(C4-C18、聚天冬酰胺、聚乙基天冬酰胺和聚甲基天冬酰胺)。 此树脂可以被很方便地包装在柱内、盒内或用作穿珠。该系统通过用 解析溶剂洗脱提供生物制剂从亲和介质中的去除。

根据一个实施例，通过在至少一个微粒，或很多微粒(例如，很 多磁响应微粒)的表面上固定，至少一种分析物可以被浓缩，或被动 地(例如，通过非特异结合)，或通过与分析物的结合一方(例如，结 合分析物的抗体)的结合反应，或通过化学联接例如通过共价键(例 如，与NHS－酯反应)和/或通过与合适的连接剂反应，或通过一种或 多种特殊的结合试剂和/或通过它们的组合。

在一个实施例中，超声溶解系统被引入到样品处理模块中，例如 在Wohlstadter等人的美国专利6,413,873中所介绍的系统。作为替代 地，样品处理模块可以包括化学溶解系统。通过洗涤剂、酸、碱或其 它溶解制剂的化学溶解可以被用于砸开(显出)植物细菌、芽孢和病 毒颗粒。被用于化学溶解的酸性或碱性溶液可以在样品被传输到分析 物检测模块之前被中和。根据一个实施例，溶解系统被引入到包括浓 缩器系统的分离器的上游。作为替代地，溶解在从浓缩器单元中去除 生物制剂之后进行。

样品处理模块可以还包括局部净化系统，其能够去除不需要的物 质和在某些实施例中除去干扰物质。例如，局部净化系统可以包括生 物分子可以透过，但大颗粒透不过的的过滤器。该模块可以还包括化 学局部净化系统(例如，用于使用酒精沉淀核酸的系统)。

根据一个实施例，生物制剂检测模块包括用于从多孔板上读出电 化学发光(ECL)的读取器。例如，基于ECL的多元测试在以下公开 文献中被介绍了：分别为美国申请10/185,274和10/185,363的公开文 献2004/0022677和2004/0052646；美国申请10/238,960的公开文献 2003/0207290；美国申请10/238,391的公开文献2003/0113713；美国 申请10/744,726的公开文献2004/0189311；美国申请10/980,198的公 开文献2005/0142033。

在一个实施例中，生物制剂检测模块具有用于接收样品和缓冲液， 并将它们分布到板上的孔中去的集成的移液器和流体歧管。根据一个 优选实施例，该模块允许每次诱导和测量从仅仅一个孔内发出的光 (ECL)。

图1中示出的分析物检测模块的一个实施例示出了紧凑装置内部 的设置，该装置包括用于存储和移动板的机械系统、用于测量发光(包 括ECL)的光检测器、在用于传输样品到板上去的流体界面和移液系 统和驱动模块的电路板。这种模块的可替代实施例在图14中描述了。

根据一个实施例，分析物检测模块具有三个子系统：(1)光检测，(2)液体处理，和(3)板处理。每个子系统可以，可选地，具有内 嵌式误差检测部件以保证可靠的操作并减少误检的可能性。

还被提供了一种方法，用于对包括，但不仅限于，生物战剂的生 物制剂进行分析。在一个实施例中，该方法为结合分析法。在另一实 施例中，该方法为固相结合分析法(在一个实施例中，为固相免疫分 析法)，并包括用一个或多个结合存在于分析混合物中的目标分析物 (或它们的结合竞争者)的结合表面来接触分析混合物。该方法可以 还包括用一个或多个能够与目标结合物特异结合的检测试剂接触分析 混和物。根据优选实施例，多元结合分析方法在现有技术中可以有很 多形式。合适的分析方法包括夹心式或竞争性结合分析(sandwich or competitive binding assay)形式。夹心式免疫分析法的实施例在美国专 利4,168,146和4,366,241中被介绍了。竞争性免疫分析法的实施例包 括在授予Buechler等人的美国专利4,235,601；4,442,204和5,208,535 中公开的那些。在一个实施例中，具有优势地，小分子毒素例如海洋 毒素和真菌毒素可以在竞争性免疫分析法形式下被测定。

可以被用作检测试剂、结合表面的结合组成成分和/或桥接试剂的 结合试剂包括，但不仅限于，抗体、受体、向心配合体、半抗原、抗 原、抗原决定基、抗原、核酸适体、杂交双方和插入体。合适的结合 试剂组成包括，但不仅限于，蛋白质、核酸、麻醉药、类固醇、激素、 脂质、多聚糖和它们的组合。术语“抗体”包括完整的抗体分子(包括 通过抗体子单元的体外再联合组成的杂交抗体)、抗体片断和包括抗体 的抗原结合区的重组蛋白质结构(例如，J.Cell Physiol.在《Porter& Weir》杂志1966年的67期(补充版)，51-64页；Hochman等人的《生 物化学》1973年的12期，1130-1135页中所介绍的，此处被以引用方 式并入)。此术语还包括完整的抗体分子、抗体片断和已经被化学改变， 例如通过引入标记，的抗体结构。

此处所使用的“被测量”应被理解为包括定量和定性测量，并包括 为很多目的进行的测量，这些目的包括，但不仅限于，检测分析物的 存在、用数量表示分析物的量、识别已知的分析物和/或确定样品中未 知分析物的身份。根据一个实施例，被结合到一个或多个结合表面上 的第一结合试剂和第二结合试剂的量可以被表示为样品中分析物的浓 度值，例如，单位体积样品中每种分析物的量。

使用基于电化学发光的分析形式，分析物可以被检测到。优选地， 电化学发光测量使用被固定或被收集到电极表面上的结合试剂进行。 特别优选的电极包括可以被排列在特殊设计的盒和/或多孔板(例如， 24孔，96孔，384孔等的多孔板)底面上的丝网印刷碳墨电极。从碳 素电极表面上的ECL标记的电化学发光被诱导，并使用如有关的美国 申请10/185,274和10/185,363中所介绍的成像板读取器(标题均为 "Assay Plates,ReaderSystems and Methods for Luminescence Test Measurements"，于2002年6月28日提交，在此以引入方式并入)进 行测量。类似的板和板读取器目前可以商业买到(美国马里兰州盖瑟 斯堡市(Gaithersburg)LLC公司的Meso Scale Diagnostics的分支， Meso ScaleDiscovery提供的和MULTI-ARRAYTM板 和装置)。

在一个实施例中，被固定在板内电极上的抗体可以被用于在夹心 式免疫分析形式下检测被选择的生物制剂。在另一实施例中，排列在 板内集成电极上的抗体的微阵列将被用于在夹心式免疫分析形式下检 测多种被选择的生物制剂。因此，每个孔包括一种或多种被固定到板 的工作电极上的捕捉抗体和，可选地，以干躁形式标记的检测抗体和 样品分析和实施正和负控制所必须的所有额外试剂。在一个实施例中， 在单个孔内具有多个结合表面的阵列允许重复测试以大大减少错误的 肯定性识别。

一种正或阳性(肯定性)控制(positive control)方法被提供以识 别通过干扰信号的生成而可能导致错误的负测量的条件或样品。根据 这一方面，正控制方法包括用结合试剂(例如，抗体)将样品接触到 不希望在环境样品中看到的正控制物质(例如，非毒性正控制物质) 上；然后，用被标记的检测试剂(例如，抗体)将样品接触到正控制 物质上和可控量的正控制物质上，并测量信号。因此，不管什么样品， 正控制都应该一直提供常数正信号。被大大减小的信号可以指示出样 品干涉到抗体结合反应或信号产生过程，或可能显示出板或装置上的 故障。

一种使用与检测试剂不相配的捕捉试剂(例如抗体)的负或阴性(否定性)控制(negative control)方法被提供了。该方法包括在不相 配的检测试剂存在的情况下使用捕捉试剂接触样品并测量信号。因此， 不管什么样品，负控制都提供负信号。从负控制被大大提高的信号显 示出样品中物质的存在，例如导致不相配的检测试剂非特异结合到负 控制捕捉试剂上去的交联剂。

一种方法被提供了，其使用从相同种类(例如，多细胞系老鼠、 野兔、山羊等)的非特异性抗体的混合物作为特异的捕捉抗体以识别 所有的非特异性结合效果，否则其将提供错误的肯定性识别。此混合 物可以被选择以包括在真正的的测试测量中使用的抗体的种类。

一种在交互独立可寻址的孔内使用至少两种不同的捕捉试剂和检 测试剂对(例如，抗体)以减小错误的肯定性识别的频率的方法被提 供了。因此，第一结合试剂对被用作主要识别，如果它是肯定性的， 再使用第二结合试剂对进行确认测试。这些对可以将生物制剂的相同 标记或抗原决定基作为目标，或作为替代地，通过将生物制剂的不同 标记或抗原决定基作为目标，它们可以进一步增加这两次测量的正交 性。在交互孔内布置至少两种不同的抗体对可能特别具有优势。根据 这一方面，这些对被交替设置为主要证明，因此消除了专门将孔用作 确认测试的需要。相反，如果根据大部分的近期测试(基于第一对或第二对)样品被怀疑是阳性，通过运行随后的测试孔，确认被很简单 地进行。

检测方法的可靠性可以通过在一个孔内提供两种或多种不同的捕 捉抗体被进一步改进，其中(a)这两种或多种不同的抗体认识相同的 生物目标的相同标记和/或抗原决定基；和/或b)这两种或多种不同的 抗体认识相同的生物目标的不同标记和/或抗原决定基。

用于生物制剂检测的一种方法包括(1)使用样品收集模块(方式 例如，通过使用集成的气溶胶取样系统收集空气样品中的气溶胶)收 集空气样品；(2)将气溶胶悬浮在液体中；(3)可选地，将气溶胶悬 浮液传输到样品处理模块中；(4)可选地，浓缩和/或局部提纯样品处 理模块中的气溶胶(方式例如，通过去除大颗粒进行局部提纯)；(5) 将液体样品转移到多孔板的孔内，(6)与相同制剂对比，添加至少一 种检测抗体；(7)进行分析测量并识别对生物制剂来说是阳性的样品；(8)可选地，通过重复(5)至(7)步骤进行确认测试；和(9)发 布警告。可选地，检测试剂以干躁形式存在于孔内且步骤(6)可以被 省略。在本实施例中，样品的添加使得干躁试剂重新构造。在一个实 施例中，步骤(5)包括通过使用集成的移液系统将样品转移到孔内。

步骤(5)可以包括将液体样品打入到样品腔内(例如，装置100 的样品腔310)，并使用移液系统(例如，装置100的探针260)将样 品转移到板(例如，装置100的不透光封罩110上的板)上的孔内。 在一个实施例中，如上面所介绍的装置100被用于执行此操作和随后 的分析步骤((6)至(9))中的一个或多个(或所有)。

在一个实施例中，该板具有样品中的结合试剂(例如，抗体或核 酸)和生物制剂的固定不变阵列，这两种试剂结合到对应的固定试剂 和对应被标记的检测试剂上去以形成夹层式复合物。在一个实施例中， 该阵列被形成于电极上，并且使用ECL测量方法进行检测。在一个实 施例中，在添加ECL读出缓冲器之后，通过应用电压到工作电极上， 电极上的标记被诱导而发出ECL，而发出的ECL被用CCD相机成像。 可选地，在进行ECL测量之前可以加上清洗以提供分析灵敏度上的优 势，尤其对于肮脏环境中的气溶胶样品产生的光学混浊样品。成像分 析被用于确认发出的光在阵列上的位置，并因此识别样品中的制剂。 成像分析还提供从抗体阵列的每个元素发出的光的强度并允许精确测 量每种生物制剂的数量。

在本公开中引用的专利、专利申请、文献和测试方法在此处被整 体以引用方式并入。

本发明不会被局限于此处所介绍的特殊实施例的范围内。事实上， 除了此处所介绍的那些之外，从前面的介绍和附图中得出的本发明的 各式修改对于本领域技术人员来说都是很明显的。那些修改旨在权利 要求的范围内。

使用“包括”一词的权利要求允许权利要求范围内包含其它元素； 除此之外，本发明还可使用下述表达方式：“主要由…组成”(也就是， 如果它们不在本质上影响本发明的作用，允许该权利要求范围内包含 其它元素)，或“由…组成”(也就是，只允许权利要求中列出的元素， 而没有一般的与本发明相关的杂质或不合逻辑的行为)。这三个表达方 式中的任一个可以被用于保护本发明。

Claims (23)

1.一种在多孔板上进行发光分析的装置，所述装置通过连续交错程序处理分析样品，对来自分析板的一个或多个孔内结合区域的阵列的光成像，并且对从所述阵列的各个元件发出的光报告发光强度值，所述装置包括：

a)不透光封罩，所述不透光封罩包括：

(i)具有能够被升高和降低的板提升平台的一个或多个板升降器；

(ii)不透光封罩顶部，所述不透光封罩顶部具有被置于所述板升降器上方的一个或多个板引入口，和成像口；

(iii)用于密封所述板引入口的滑动不透光门，所述封罩顶部和所述滑动门具有一个或多个移液口，所述滑动门具有移液位置，在此位置上，所述封罩顶部上的所述移液口与所述滑动门上的所述移液口对正；和

(iv)用于在一个或多个水平方向上平移板的板平移台，其中，所述板平移台被配置用于将所述板置于所述成像口下方以及将所述板置于所述一个或多个板升降器上方，所述板平移台包括用于支撑所述板的板支架，所述板支架具有开口，以允许所述一个或多个板升降器被置于所述板支架下方从而接近并提升所述板；

b)一个或多个板堆垛器，所述一个或多个板堆垛器被安装于所述封罩顶部上、所述板引入口上方，其中，所述板堆垛器被设置成接收或传递板到所述一个或多个板升降器上；

c)安装于所述封罩顶部上的板密封件穿刺探针，其中，所述封罩顶部和所述滑动不透光门分別具有穿刺探针口，所述滑动不透光门具有穿刺位置，在此位置上，所述封罩顶部上的所述穿刺探针口与所述滑动不透光门上的所述穿刺探针口对正，所述滑动不透光门被配置成允许，当所述滑动不透光门处于所述穿刺位置时，降低所述穿刺探针从而穿刺被置于所述穿刺口下方的孔上的密封件，

(d)安装于所述封罩顶部上的移液平移台；

(e)安装于所述移液平移台上的移液探针，所述移液探针被在竖直方向上和可选地在一个或多个水平方向上平移，所述移液探针传输或排出来自被定位于所述移液孔下面的孔的液体，所述移液探针被配置成允许，当所述滑动不透光门处于所述移液位置时，降低所述移液探针以接近被置于所述移液口下方的孔；

(f)被置于所述成像孔下面的光源；和

(g)光检测器，其被安装于所述封罩顶部上并且连接到所述成像口。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述移液平移台包括探针平移元件，且所述移液平移台被设置成水平移动以使所述穿刺探针接触所述探针平移元件，以及竖直移动以便通过所述探针平移元件降低和升高所述穿刺探针。

3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，还包括光学传感器，用于监视所述装置的试剂腔或废液腔内的液体水平。

4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，还包括聚焦于样品上的图形用户界面，

其中，所述聚焦于样品上的图形用户界面允许用户总体上观察和看到板和板上每个孔的分析结果。

5.根据权利要求1-4中任一所述的装置，其特征在于，还包括板接触部件，以提供电能到被放置于所述光检测器下面的孔内的电极上。

6.一种使用装置在多孔分析板上进行分析的方法，所述装置包括：(a)光检测子系统；(b)液体处理子系统；(c)板处理子系统；和(d)操作地连接到所述装置的计算机，所述方法包括计算机实施的连续交错过程，该过程包括对于所述多孔板上的多个单个孔依次连续进行的下述步骤；

(i)在包括时间片n的样品添加阶段期间向单个孔添加样品；

(ii)在包括时间片m的培养阶段期间培养所述单个孔中的所述样品；

(iii)在包括时间片p的试剂添加阶段期间向所述单个孔添加试剂，使得，在所述连续交错过程中，步骤(i)-(iii)在所述多个孔中的第一个上进行，并且至少在步骤(i)在所述第一个上完成之后在所述多个孔中的另外一个或多个上重复步骤(i)-(iii)；

(iv)利用软件调度器对所述单个孔中的每一个跟踪步骤(i)-(iii)的状态，以及

(v)比较来自所述单个孔的分析信号与预定阈值，并且如果所述分析信号不同于所述预定阈值则重复步骤(i)-(iv)。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，

步骤(i)包括在第一样品添加阶段中，向所述第一孔添加第一样品；

步骤(ii)包括(x)在第一培养阶段中培养所述第一孔中的所述第一样品；和(y)在所述第一培养阶段期间，在随后的样品添加阶段中向所述多个孔中的所述另外一个或多个添加一种或多种其它样品；并且

步骤(iii)包括(x)在所述随后的样品添加阶段期间，在第一试剂添加阶段中向所述第一孔添加试剂；(y)在所述第一试剂添加阶段期间，在随后的培养阶段中培养所述多个孔中的所述另外一个或多个中的所述一种或多种其它样品；和(z)在随后的试剂添加阶段期间，向所述多个孔中的所述另外一个或多个添加试剂。

8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述第一孔与所述多个孔中的所述另外一个或多个是所述多孔板上的相邻孔。

9.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述第一孔与所述多个孔中的所述另外一个或多个是所述多孔板上的非相邻孔。

10.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，

步骤(i)还包括在添加样品之前刺穿所述单个孔的密封件。

11.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，

步骤(i)还包括向所述单个孔添加另外的试剂。

12.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，

步骤(i)还包括向所述单个孔添加另外的试剂。

13.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，

步骤(iii)还包括从所述单个孔内吸出流体。

14.根据权利要求6所述的方法，还包括步骤(vi)检测从所述单个孔内发出的光，并且在所述第一孔上执行步骤(i)-(vi)，并且至少步骤(i)在所述第一孔上完成之后在所述多个孔中的另外一个或多个上重复步骤(i)-(vi)。

15.根据权利要求14所述的方法，还包括步骤(vii)在第二培养阶段中培养所述单个孔，以及步骤(vii)在第二试剂添加阶段中向所述单个孔添加第二试剂，其中在所述第一孔上执行步骤(i)-(vii)，并且至少步骤(i)在所述第一孔上完成之后在所述多个孔中的另外一个或多个上重复步骤(i)-(vii)。

16.根据权利要求6所述的方法，包括将所述样品添加阶段专用于时间片n以及将所述试剂添加阶段专用于时间片p。

17.根据权利要求14所述的方法，其特征在于，如果样品可以用，则所述装置在时间片n期间向所述单个孔添加所述样品，并且如果样品不可以用，则所述装置空闲。

18.根据权利要求14所述的方法，其特征在于，如果所述单个孔已经到达时间片m末期，则所述装置在所述时间片p期间向所述单个孔添加试剂，并且如果所述单个孔处于时间片m中并且没有其它的单个孔到达其培养时间片m末期，则所述装置空闲。

19.根据权利要求18所述的方法，其特征在于，时间片n和时间片p继续交替。

20.根据权利要求6所述的方法，还包括随机接近取样。

21.根据权利要求7所述的方法，还包括，如果所述样品中任一种具有与预定阈值不同的分析信号，则在所述第一样品上或所述一种或多种其它样品上自动重复步骤(i)-(v)。

22.根据权利要求21所述的方法，其特征在于，具有不同于预定阈值的分析信号的所述样品被送至样品列的前面。

23.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，对于所述多孔板的一个或多个孔来说，选自包括时间片n，m和p的组中的一个或多个时间片是通过所述软件调度器可调节的。