CN108336029B - 一种氮化铝底板与铜热沉复合体的制备方法 - Google Patents

一种氮化铝底板与铜热沉复合体的制备方法 Download PDF

Info

Publication number
CN108336029B
CN108336029B CN201711414692.4A CN201711414692A CN108336029B CN 108336029 B CN108336029 B CN 108336029B CN 201711414692 A CN201711414692 A CN 201711414692A CN 108336029 B CN108336029 B CN 108336029B
Authority
CN
China
Prior art keywords
heat sink
aluminum nitride
copper
nano
copper heat
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201711414692.4A
Other languages
English (en)
Other versions
CN108336029A (zh
Inventor
左洪波
杨鑫宏
李岩
李铁
王芳
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Harbin Aurora Optoelectronics Technology Co Ltd
Original Assignee
Harbin Aurora Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Harbin Aurora Optoelectronics Technology Co Ltd filed Critical Harbin Aurora Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority to CN201711414692.4A priority Critical patent/CN108336029B/zh
Publication of CN108336029A publication Critical patent/CN108336029A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN108336029B publication Critical patent/CN108336029B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/12Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
    • H01L23/14Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates characterised by the material or its electrical properties
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/36Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
    • H01L23/367Cooling facilitated by shape of device

Abstract

本发明涉及一种氮化铝底板与铜热沉复合体的制备方法。本发明制备方法首先将氮化铝表面氧化成氧化铝,再利用具有纳米孔的聚合物挡板,在酸性条件下制备氧化铝纳米孔。在铜热沉表面利用相同的挡板,电化学方法制备与氧化铝纳米孔互补的铜纳米线。通过DBC(direct bonded copper)方法,将两个纳米材料层键合形成复合体。与传统的封装工艺相比,此复合体底板和热沉直接键合,且具有两层纳米线材料层,散热比表面积得到了极大增加,可以更好的应对碳化硅功率器件的散热要求。

Description

一种氮化铝底板与铜热沉复合体的制备方法
技术领域
本发明涉及一种具有纳米材料散热表面的氮化铝与铜热沉复合体的制备方法,具体涉及一种用于碳化硅功率器件封装的领域中,氮化铝底板与铜热沉的联接方法。
背景技术
功率半导体器件是指直接用于电源电路中转换或控制的电子器件。目前,功率半导体器件的主要材料是硅。但是,随着人们对电力的需求不断扩大,硅功率器件的使用条件已经达到极限,促使研究者寻找新的替代材料。碳化硅材料是第三代宽禁带半导体材料,与硅材料相比,具有高临界击穿电场(工作电压高)、高热导率、高电流密度和高工作温度等优势。高电流和高工作电压就意味着功率很高,器件的放热很大。高温下,器件很容易老化失灵,因此对于功率器件降低温度是首要任务。
半导体器件的封装是半导体器件制备过程中,极其重要的一步。这是因为封装可以保护器件本体,可以支撑器件,较稳定地将器件固定于电路中,不会出现虚接的情况,提高器件的可靠性。自从硅器件被广泛应用以来,已经有一套适用于硅器件的封装标准和材料。可是,由于碳化硅功率器件工作时的高温,现有的封装材料有很多都不适于碳化硅器件。例如,环氧树脂的耐热温度只有180 oC,可是碳化硅器件的工作温度可以达到300 oC以上。近年,陶瓷封装材料越来越受到人们的重视,这是因为陶瓷有耐热性,有一些陶瓷有很高的热导率。例如,氮化铝材料室温下理论热导率319 W/(m·K), 与铜的热导率很接近(393 W/(m·K)),很适合碳化硅功率器件的封装要求,而且二者的热膨胀系数相近,不会产生过多的热应力。另一方面,为了及时有效地进行散热,碳化硅器件的封装中经常利用铜热沉。氮化铝与铜热沉之间,一般利用界面放热材料进行联接。这种联接的散热有效比表面积很小,当器件的功率增大时,不利于散热降温。因此,需要一种有效联接氮化铝材料与铜热沉的方法,而且这种方法要比界面放热材料更有利于热量的传递。
发明内容
本发明的目的在于提供一种可以显著地加快热量的传递,改善封装器件的降温效果,此氮化铝与铜热沉的复合体适合应用于碳化硅功率器件封装的氮化铝底板与铜热沉复合体的制备方法。
本发明的目的是这样实现的:它具体包括以下主要步骤:(1)氧化氮化铝材料;(2)利用带纳米孔的聚合物挡板,腐蚀制备氧化铝纳米孔;(3)利用同一种聚合物挡板,电沉积制备铜纳米线;(4)含氧气氛下,高温键合氧化铝纳米孔与铜纳米线,形成氮化铝底板与铜热沉的复合体;(5)去除剩余氧化铝层,露出氮化铝表面。
氧化氮化铝材料制备过程中,首先在1000~1500 oC的高温下,将氮化铝材料表面氧化成氧化铝,内部仍然是氮化铝材料。利用具有纳米孔的聚合物薄膜作为挡板,并使得聚合物薄膜吸附在氧化铝层表面;另一面的氧化铝层用胶布保护,在酸性溶液中腐蚀,制备单面氧化铝纳米孔。将相同的聚合物挡板在铜热沉的上表面和锯齿内表面上吸附,利用电化学方法,在铜热沉的上平面和锯齿内部电沉积制备铜纳米线。氧化铝纳米孔层与铜热沉的上表面纳米线层相接触,在有氧的条件下,加热至1000~ 1500 oC进行键合形成具有两层导热纳米材料层的氮化铝与铜热沉的复合体。利用酸洗操作,去除胶布保护的剩余氧化铝层,漏出氮化铝的表面。
本发明首先加热氧化氮化铝,在氮化铝材料表面制备一层氧化铝层。然后,分别在氧化铝表面和铜热沉表面制备互补的纳米孔和纳米线,再利用Direct bond coppertechnology (DBC) 方法,将氧化铝纳米孔层与铜纳米线层键合,形成一个复合体结构。再利用酸洗的方法,去除氮化铝底板剩余的氧化铝层。这个制备过程使得复合体上表面是氮化铝材料,界面是纳米材料形成的键合层,下面的铜热沉的外部是铜纳米线层。由于纳米材料都有极大的比表面积,这个复合体被用于碳化硅器件封装,可以有更好的散热效果。
本发明还有这样一些特征:
1、所述的氧化铝纳米孔与铜纳米线的长度在100–200 nm, 直径为50–100 nm。
2、用于腐蚀氧化铝的酸类,可是盐酸、硫酸、硝酸等强酸的水溶液,也可以是酸性的上述酸盐的缓冲液。pH值在2~3的范围内。
3、铜纳米线的电沉积过程中,利用的电化学方法可以是恒流法、也可用恒压法或CV (循环伏安法) 法制备。电解液是0.1~0.4 M CuSO4 与1~1.5 M H2SO4混合溶液。
本发明的有益效果有:
1.氮化铝与铜热沉间是键合,生成了新的化合物CuAlO4, 形成了化学键。因此,比利用界面导热材料去除空气层更有利于热传递。
2.氮化铝与铜热沉表面都是纳米材料结构的键合,增大了界面导热层的比表面积,更加有利于热量传递。
3.铜热沉表面也是纳米线结构,也会增加铜热沉的散热比表面积,改善在空气中的散热效果。
以上三点,都可以显著地加快热量的传递,改善封装器件的降温效果,此氮化铝与铜热沉的复合体适合应用于碳化硅功率器件的封装。
附图说明
图1为氮化铝底板与铜热沉复合体结构示意图。
具体实施方式
下面结合图1对发明进行详细说明。图1为氮化铝底板与铜热沉复合体的结构示意图。
实施例 1
将铜热沉依次用丙酮、乙醇和去离子水进行清洗,去除表面的有机物层。将带有纳米孔的聚合物挡板的粉末,分散在水溶液中,形成悬浮液,并用超声振动使得粉末分散均一。用胶头滴管吸取这个悬浊液,分数次滴入铜热沉的锯齿中和铜热沉的表面上。将铜热沉放入真空烘箱,真空下120 oC烘烤2小时,去除水分后,聚合物挡板吸附在铜表面。利用焊锡连接铜热沉与导线制成电极,并将铜热沉浸入电解液中,电解液是0.1 M CuSO4 + 1 MH2SO4 混合溶液。联接铜热沉电极与CHI660D电化学工作站,参比电极用Ag/AgCl,对电极用铂金片。利用循环伏安法,在聚合物挡板的纳米孔内制备铜纳米线。在纳米线达到100 nm以上后,停止通电。将带有铜纳米线的热沉放入电炉中,300 oC进行烘烤2小时,纳米线退火的同时,烧尽聚合物挡板。
将氮化铝底板1放入电炉中,加热到1200 oC,保持温度8小时,在氮化铝表面制备一层氧化铝层。 氧化铝单面用胶头滴管制备聚合物挡板的吸附层,另一面用胶布保护。放入pH 2.0 的盐酸水溶液中,聚合物纳米孔中的氧化铝层腐蚀消失,被挡板挡住的氧化铝层形成纳米孔。利用电炉加热,可以去除聚合物挡板层。氧化铝的纳米孔层与铜热沉的纳米线层接触,并进行DBC操作,氧化铝与铜纳米线与氧气反应,生成了CuAlO4化合物层,氮化铝底板与铜热沉形成了复合体2。最后,利用酸性溶液,去除复合体表面剩余的氧化铝层,露出氮化铝表面后,用去离子水清洗并晾干,即可得到最终的复合体结构3。
实施例 2
将铜热沉依次用丙酮、乙醇和去离子水进行清洗,去除表面的有机物层。将带有纳米孔的聚合物挡板的粉末,分散在水溶液中,形成悬浮液,并用超声振动使得粉末分散均一。用胶头滴管吸取这个悬浊液,分数次滴入铜热沉的锯齿中和铜热沉的表面上。将铜热沉放入真空烘箱,真空下120 oC烘烤2小时,去除水分后,聚合物挡板吸附在铜表面。利用焊锡连接铜热沉与导线制成电极,并将铜热沉浸入电解液中,电解是0.2 M CuSO4 + 1.5 MH2SO4 混合溶液。联接铜热沉电极与CHI660D电化学工作站,参比电极用Ag/AgCl,对电极用铂金片。利用恒流法,在聚合物挡板的纳米孔内制备铜纳米线。在纳米线达到100 nm以上后,停止通电。将带有铜纳米线的热沉放入电炉中,300 oC进行烘烤2小时,纳米线退火的同时,去除聚合物挡板。
将氮化铝底板放入电炉中,加热到1200 oC,保持温度8小时,在氮化铝表面制备一层氧化铝层。 氧化铝单面用胶头滴管制备聚合物挡板的吸附层,另一面用胶布保护。放入pH 2.5 的硫酸水溶液中,聚合物纳米孔中的氧化铝层腐蚀消失,被挡板挡住的氧化铝层形成纳米孔。利用电炉加热,可以去除聚合物挡板层。氧化铝的纳米孔层与铜热沉的纳米线层接触,并进行DBC操作,制成有键合层的氮化硅底板与铜热沉的复合体。最后,利用酸性溶液,去除复合体表面剩余的氧化铝层,露出氮化铝表面后,用去离子水清洗并晾干,即可得到最终的复合体结构。

Claims (6)

1.一种氮化铝底板与铜热沉复合体的制备方法,其特征在于它具体包括以下主要步骤:(1)氧化氮化铝材料,首先在1000~1500 oC的高温下,加热氧化氮化铝,在氮化铝材料表面制备一层氧化铝层,将氮化铝材料表面氧化成氧化铝,内部仍然是氮化铝材料;(2)利用带纳米孔的聚合物挡板,腐蚀制备氧化铝纳米孔;(3)利用同一种聚合物挡板,电沉积制备铜纳米线;(4)含氧气氛下,氧化铝纳米孔层与铜热沉的上表面纳米线层相接触,氧化铝与铜纳米线与氧气反应,在有氧的条件下,加热至1000~ 1500 oC进行键合形成具有两层导热纳米材料层的氮化铝与铜热沉的复合体,生成了CuAlO4化合物层,形成氮化铝底板与铜热沉 的复合体;(5)去除剩余氧化铝层,露出氮化铝表面。
2.根据权利要求1所述的一种氮化铝底板与铜热沉复合体的制备方法,其特征在于制备过程中,利用具有纳米孔的聚合物薄膜作为挡板,并使得聚合物薄膜吸附在氧化铝层表面;另一面的氧化铝层用胶布保护,在酸性溶液中腐蚀,制备单面氧化铝纳米孔。
3.根据权利要求2所述的一种氮化铝底板与铜热沉复合体的制备方法,其特征在于制备过程中,将相同的聚合物挡板在铜热沉的上表面和锯齿内表面上吸附,利用电化学方法,在铜热沉的上平面和锯齿内部电沉积制备铜纳米线。
4.根据权利要求3所述的一种氮化铝底板与铜热沉复合体的制备方法,其特征在于制备过程中,利用酸洗操作,去除胶布保护的剩余氧化铝层,漏出氮化铝的表面。
5.根据权利要求4所述的一种氮化铝底板与铜热沉复合体的制备方法,其特征在于所述的氧化铝纳米孔与铜纳米线的长度在100–200 nm, 直径为50–100 nm。
6.根据权利要求5所述的一种氮化铝底板与铜热沉复合体的制备方法,其特征在于所述的铜纳米线的电沉积过程中,利用的电化学方法为恒流法、恒压法或循环伏安法制备,电解液是0.1~0.4 M CuSO4与1~1.5 M H2SO4混合溶液。
CN201711414692.4A 2017-12-25 2017-12-25 一种氮化铝底板与铜热沉复合体的制备方法 Active CN108336029B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201711414692.4A CN108336029B (zh) 2017-12-25 2017-12-25 一种氮化铝底板与铜热沉复合体的制备方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201711414692.4A CN108336029B (zh) 2017-12-25 2017-12-25 一种氮化铝底板与铜热沉复合体的制备方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN108336029A CN108336029A (zh) 2018-07-27
CN108336029B true CN108336029B (zh) 2020-04-17

Family

ID=62924359

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201711414692.4A Active CN108336029B (zh) 2017-12-25 2017-12-25 一种氮化铝底板与铜热沉复合体的制备方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN108336029B (zh)

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100593852C (zh) * 2007-04-09 2010-03-10 浙江大学 高功率led兼容集成封装模块
JP2010192656A (ja) * 2009-02-18 2010-09-02 Sumitomo Electric Ind Ltd 接合体及びこれを利用した放熱構造体とその製造方法
CN101908490B (zh) * 2009-06-04 2012-12-05 同欣电子工业股份有限公司 具有散热器的电路基板模组及其制造方法
DE102015105509A1 (de) * 2015-04-10 2016-10-13 Osram Opto Semiconductors Gmbh Bauelement und Verfahren zur Herstellung eines Bauelements
JP2016048789A (ja) * 2015-11-05 2016-04-07 Dowaホールディングス株式会社 アルミニウム−セラミックス接合体の製造方法
CN205900527U (zh) * 2016-05-11 2017-01-18 深圳前海德旺通科技有限公司 一种氮化铝覆铜陶瓷板

Also Published As

Publication number Publication date
CN108336029A (zh) 2018-07-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2016011987A1 (zh) 石墨烯薄膜及其制备方法
CN108520855A (zh) 一种纳米银浆提高陶瓷覆铜板可靠性的方法
CN105514059A (zh) 一种石墨烯复合材料/氮化硅/硅芯片高效散热系统
CN107910324A (zh) 一种基于纳米银焊膏双面互连碳化硅mos器件的模块化封装方法
CN109243989B (zh) 一种基于石墨烯浆料的硅-硅低温键合的方法
CN108054108B (zh) 一种基于快速局域电沉积的引线键合方法
CN107680919B (zh) 一种塑封铜键合引线集成电路开封方法
CN104465533A (zh) 自粘合裸片
JP2013131595A (ja) 金属部材と樹脂の接合方法およびその接合体
CN108364913A (zh) 一种用于碳化硅功率器件的无引线封装结构和制备方法
Zhang et al. Effects of sintering pressure on the densification and mechanical properties of nanosilver double-side sintered power module
Hromadka et al. DBC technology for low cost power electronic substrate manufacturing
CN113773793A (zh) 一种导热导电银胶及其制备方法与应用
CN115863295A (zh) 一种用于银烧结的复合焊片结构及其制备方法
CN108336029B (zh) 一种氮化铝底板与铜热沉复合体的制备方法
CN105679725B (zh) 一种用于激光显示的散热装置的制备方法
CN113230681B (zh) 一种用于液膜沸腾的复合微腔多孔曲面微通道结构及其制备方法
Lee et al. Heat dissipation performance of metal-core printed circuit board prepared by anodic oxidation and electroless deposition
CN104637898B (zh) 集成电路器件的导热复合材料层及电子器件导热结构封装方法
CN109449212A (zh) 一种裸封gpp整流二极管芯片及其制造工艺
CN110014718A (zh) 一种将镓基热界面材料应用于铝基底增强界面传热的方法
CN106024911B (zh) 一种玻璃钝化二极管u型封装方法
WO2020220666A1 (zh) 一种浅沟槽的电极同侧二极管芯片的制造工艺
CN208548341U (zh) 石墨烯晶体管电路装置
CN103072938B (zh) 一种平面碳膜电极的制备方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant