CN108291839B - 测定用光学装置 - Google Patents
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Abstract
三刺激值型光电色彩计具有：物镜(21)，其使来自被测定物的光入射；光电转换部(25)，其将接收到的光转换为电信号；光束分割部件(24)，其将通过物镜(21)入射的光引导至光电转换部(25)；控制部(36)及电源部(37)，其配置在光束分割部件(24)的光轴的周围，并且在周向上彼此错开地配置。通过这样的结构，提供一种抑制因电子器件的发热而引起的测定精度的下降的测定用光学装置。
Description
技术领域
本发明涉及一种测定用光学装置。
背景技术
关于现有的测定用光学装置，例如，在日本特开2002-310800号公报中，出于即使在光强度微弱的情况下也能准确地测定指向性强的被测定物的光学特性的目的，公开了一种测定用光学系统及具有该测定用光学系统的三刺激值型光电色彩计(专利文献1)。
专利文献1所公开的三刺激值型光电色彩计具有物镜、光纤和受光传感器，物镜具有仅对从被测定物的被测定区域出射的光束中的出射角α以下的光束进行聚集的正的焦度，光纤具有被物镜聚集的光束的入射面，将入射的光束分割成三个光束出射，受光传感器接收被光纤分割成的三个光束，并输出与三刺激值相当的受光信号。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：日本特开2002-310800号公报
发明内容
发明所要解决的技术问题
作为既用于测定光的强度(测光)又用于测定颜色(测色)的测定用光学装置，例如，已知上述专利文献1中公开的三刺激值型光电色彩计。在这样的三刺激值型光电色彩计中，设置有将通过物镜入射的来自被测定物的光向受光传感器引导的光纤和用于处理由受光传感器输出的受光信号的各种电子器件。
但是，根据作为发热源的电子器件的配置场所的不同，电子器件对光纤的热影响有可能产生不均匀。在这样的情况下，导致三刺激值型光电色彩计中的色彩的测定精度下降。
因此，本发明的目的在于解决上述技术问题，提供一种抑制因电子器件的发热而引起的测定精度的下降的测定用光学装置。
用于解决技术问题的手段
根据本发明的测定用光学装置具有：入射部，其使来自被测定物的光入射；光电转换部，其将接收到的光转换为电信号；导光部，其将通过入射部入射的光引导至光电转换部；第一电子器件及第二电子器件，其配置在导光部的光轴的周围，并且在周向上彼此错开地配置。
发明效果
根据本发明，能够提供一种抑制因电子器件的发热而引起的测定精度的下降的测定用光学装置。
附图说明
图1是表示本发明的实施方式的三刺激值型光电色彩计的外观的立体图。
图2是表示图1中的三刺激值型光电色彩计的截面图。
图3是表示图1中的三刺激值型光电色彩计的内部结构的框图。
图4是表示图2中的测定光学系统及光电转换部的具体结构的图。
图5是表示从光纤出射的光束的照射范围的图。
图6是表示图2中的光束分割部件的外周上的控制部及电源部的配置的图。
图7是表示电子器件及基板的配置的比较例的图。
图8是表示图2中的光束分割部件的具体结构的截面图。
图9是表示图6中的控制部及电源部的配置的第一变形例的截面图。
图10是表示图6中的控制部及电源部的配置的第二变形例的截面图。
图11是表示图6中的控制部及电源部的配置的第三变形例的截面图。
图12是表示图6中的控制部及电源部的配置的第四变形例的截面图。
具体实施方式
参照附图对本发明的实施方式进行说明。注意，在以下参照的附图中，对于相同或与之相当的部件，标注相同的附图标记。
图1是表示本发明的实施方式的三刺激值型光电色彩计的外观的立体图。图2是表示图1中的三刺激值型光电色彩计的截面图。图3是表示图1中的三刺激值型光电色彩计的内部结构的框图。图4是表示图2中的测定光学系统及光电转换部的具体结构的图。
参照图1至图4，本实施方式的三刺激值型光电色彩计10(以下也简称为“色彩计10”)例如在液晶面板制造生产线的检查工序中使用，测定液晶面板的显示面12的亮度和色度。首先，对色彩计10的整体结构进行说明。
色彩计10由测定探测器部14和测定器主体部16构成(参照图3)。测定探测器部14及测定器主体部16一体地构成。
测定探测器部14例如与被测定物即液晶面板的显示面12以分离规定距离(作为一个例子，为3cm)的方式相对配置。测定探测器部14将来自液晶面板的显示面12的光光电转换为电信号(模拟信号)并将其输入到测定器主体部16。
测定探测器部14由测定光学系统27及受光系统28构成。
测定光学系统27具有物镜21及光束分割部件24。物镜21被设置为使来自被测定物的光入射的入射部。物镜21例如由平凸透镜构成，具有单一的正的焦度。光束分割部件24被设置为对通过物镜21入射的光进行引导的导光部。光束分割部件24将透过物镜21的光束分割为三个光束。
受光系统28具有光电转换部25及放大部26。光电转换部25接收在光束分割部件24中引导的光，并将其转换为电信号。光电转换部25具有受光传感器62p、62q、62r，受光传感器62p、62q、62r具有标准观测者的光谱灵敏度特性(参照图4)。受光传感器62p、62q、62r接收从光束分割部件24出射的三个光束，将该三个光束光电转换为与入射强度对应的电信号并将该电信号输出。放大部26将从受光传感器62p、62q、62r的各受光传感器输出的电信号(电压)放大到规定的水平。
测定器主体部16将从测定探测器部14输入的电信号(模拟信号)转换为数字信号，并对其进行规定的运算处理。测定器主体部16通过该运算处理算出三刺激值(X，Y，Z)、由CIE(国际照明委员会)制定的xyY(色度坐标、亮度)、TΔuvY(相关色温、来自黑体轨迹的色差、亮度)等，并将该运算结果显示于显示部34。
参照图4，对测定探测器部14(测定光学系统27及受光系统28)的结构进行更具体的说明。光束分割部件24配置在通过物镜21入射的光的光轴L(以下也简称为“物镜21的光轴”)上。光束分割部件24具有使光传播的光纤55和具有正的焦度的透镜56p、56q、56r。
光纤55是将多根光纤捆绑成束而构成的。光纤55通过将捆绑成束的多根光纤在中间部分分割为三个，从而具有一个光束入射面A和三个光束出射面B1、B2、B3。光纤55被配置为，光束入射面A位于与物镜21的像侧主点PP(注意，为了便于说明，在本实施方式中例示了像侧主点与物体侧主点大致一致)相距物镜21的焦距f的位置。即，利用物镜21及光纤55构成远心光学系统。
在本实施方式中，在光束分割部件24中使用光纤55，但不局限于这样的结构，例如，也可以使用像光导管等那样起到与光纤同等功能的其他光学器件。
当将测定探测器部14与液晶面板的显示面12分离规定间隔地放置时，在从液晶面板的被测定区域AR的各部分出射的光束中，只有相对于被测定区域AR的法线方向(在图4中是与光轴L平行的方向)的出射角的最大值α(以下称为“最大出射角α”)以下的光束入射到光纤55的光束入射面A。注意，最大出射角α是根据物镜21的焦离f和光纤55的光束入射面A的直径R而确定的。入射的光束在光纤55内被分割为三个光束，分别从光束出射面B1、B2、B3出射。
构成光纤55的各光纤具有配置于中心部的芯体和覆盖芯体的周围的包覆层的双层结构。芯体被设计为与包覆层相比折射率更高，因此光以通过全反射而被限制在芯体内的状态进行传导。
光纤55在光束入射面A和光束出射面B1、B2、B3被固定的状态下设置为弯曲成规定形状的姿态。因此，只要没有振动冲击或温度变化等状态变化，就能维持光纤55的姿态。在该情况下，入射到光束入射面A的光从光束出射面B1、B2、B3以规定角度出射。但是，一旦有振动冲击或温度变化等状态变化，光纤55的弯曲情况或姿态就会变化。其结果是，入射到光束入射面A的光将从光束出射面B1、B2、B3以偏离规定角度的角度出射。在该情况下，光向后述的光谱灵敏度校正滤波器的入射角度会从规定角度偏离，所以如果使用光谱灵敏度特性对入射角度有依赖性的滤波器作为光谱灵敏度校正滤波器，则测定数据会产生误差。
图5是表示从光纤出射的光束的照射范围的图。参照图4及图5，透镜56p将从光纤55的光束出射面B1出射的光束向受光传感器62p聚集，使该光束的照射范围LA与受光传感器62p的受光范围SA大致一致。
同样，透镜56q将从光纤55的光束出射面B2出射的光束向受光传感器62q聚集，使该光束的照射范围与受光传感器62q的受光范围大致一致。透镜56r将从光纤55的光束出射面B3出射的光束向受光传感器62r聚集，使该光束的照射范围与受光传感器62r的受光范围大致一致。
这样，通过将从光纤55出射的光束向受光传感器62p、62q、62r的受光范围聚集，从而使入射到光纤55的光束(从液晶面板的被测定区域AR的各部分出射的相对于该被测定区域AR的法线方向的最大出射角α以下的全部光束)分别向受光传感器62p、62q、62r各入射1/3。因此，受光传感器62p、62q、62r处的受光光量不会下降。
参照图4，光电转换部25还具有光谱灵敏度校正滤波器61p、61q、61r，光谱灵敏度校正滤波器61p、61q、61r用于使受光传感器62p、62q、62r具有CIE规定的标准观测者的光谱灵敏度。
受光传感器62p、62q、62r具有大致相同的受光灵敏度，例如由SPC(硅光电池)构成。受光传感器62p、62q、62r分别在透镜56p、56q、56r的光轴上，配置在使由透镜56p、56q、56r聚集的光的照射范围处于受光传感器62p、62q、62r的受光范围的位置。光谱灵敏度校正滤波器61p、61q、61r分别配置在受光传感器62p、62q、62r与透镜56p、56q、56r之间的适当位置。
光谱灵敏度校正滤波器61p具有在R(红色)的波长区域具有灵敏度的滤波器特性，通过该滤波器特性，将受光传感器62p的受光灵敏度校正为在红色的波长区域具有高灵敏度的等色函数
的受光灵敏度。光谱灵敏度校正滤波器61q具有在G(绿色)的波长区域具有灵敏度的滤波器特性，通过该滤波器特性，将受光传感器62q的受光灵敏度校正为在绿色的波长区域具有高灵敏度的等色函数
的受光灵敏度。光谱灵敏度校正滤波器61r具有在B(蓝色)的波长区域具有灵敏度的滤波器特性，通过该滤波器特性，将受光传感器62r的受光灵敏度校正为在蓝色波长区域具有高灵敏度的等色函数
的受光灵敏度。从受光传感器62p、62q、62r分别输出相当于三刺激值(X，Y，Z)的受光信号。
接着参照图1至图3对测定器主体部16的结构进行更具体的说明，测定器主体部16具有A/D转换部31、数据存储器32、显示部34、操作部35、控制部36、电源部37和通信部38。
A/D转换部31将从测定探测器部14输入的受光信号转换为数字信号(以下称为“测定数据”)。数据存储器32存储从A/D转换部31输出的测定数据。控制部36通过集中控制测定探测器部14的动作和测定器主体部16中的各部分的动作来控制测定动作。控制部36使用存储于数据存储器32的测定数据，运算三刺激值(X，Y，Z)、由CIE制定的xyY(色度坐标、亮度)、TΔuvY(相关色温、来自黑体轨迹的色差、亮度)等。
显示部34显示控制部36的运算结果。向操作部35输入与测定有关的各种信息(测定指示、显示模式设定、测定范围等)。电源部37对从外部的AC适配器(未图示)供给的电力的电压进行变压并经由控制部36向各构成要素供给电力。通信部38将控制部36的运算结果输出到外部。
测定器主体部16还具有CPU基板41、电源基板42和传感器基板43(参照图2)。在CPU基板41上安装有数据存储器32及控制部36。在电源基板42上安装有通信部38及电源部37。在传感器基板43上安装有放大部26及A/D转换部31。
接着，对测定器主体部16中的各种电子器件及基板的配置进行详细说明。
参照图2，色彩计10还具有基准板45、支承部件46及支承部件48。
基准板45在物镜21的光轴方向上插装在物镜21与光束分割部件24之间。支承部件46及支承部件48以在物镜21的光轴方向上支承光束分割部件24的两端的方式设置。光束分割部件24利用支承部件46及支承部件48定位在物镜21的光轴上。
支承部件46及支承部件48分别具有凸缘部47及凸缘部49。凸缘部47及凸缘部49在光束分割部件24的外周上扩设成帽檐状。光束分割部件24经由凸缘部47安装于基准板45。
CPU基板41及电源基板42相对于物镜21的光轴沿光束分割部件24的外周上的周向错开配置。CPU基板41及电源基板42以沿物镜21的光轴方向呈板状地延伸的方式配置。另一方面，传感器基板43设置在支承部件48及光电转换部25的端面。传感器基板43以沿与物镜21的光轴正交的方向呈板状地延伸的方式配置。
光束分割部件24具有第一相对面52和第二相对面53。在物镜21的光轴方向上，第一相对面52与物镜21相对，第二相对面53与光电转换部25相对。CPU基板41及电源基板42在物镜21的光轴方向上配置在光束分割部件24的第一相对面52与第二相对面53之间。CPU基板41及电源基板42在物镜21的光轴方向上配置在凸缘部47与凸缘部49之间。CPU基板41及电源基板42在物镜21的光轴方向上配置在凸缘部47与传感器基板43之间。
在CPU基板41及电源基板42相对于传感器基板43设置在与测定光学系统27(物镜21及光束分割部件24)相反的相反侧的情况下，色彩计10在物镜21的光轴方向上的全长变长。相对于此，在本实施方式中，通过将沿物镜21的光轴方向延伸的CPU基板41及电源基板42配置在光束分割部件24的外周上，能够缩短色彩计10的全长。
例如，在将智能手机等的小型液晶面板作为被测定物的情况下，考虑通过将多个色彩计10并列搭载在板上，从而同时检查多个小型液晶面板的方法。即使在这样的情况下，也能够通过色彩计10的小型化，容易地同时搭载多个色彩计10。
注意，在图2中，数据存储器32及控制部36设置在CPU基板41的与面对光束分割部件24的一侧相反的一侧的表面，电源部37及通信部38设置在电源基板42的与面对光束分割部件24的一侧相反一侧的表面。不限于这样的结构，可以在CPU基板41的面对光束分割部件24的一侧的表面设置数据存储器32和/或控制部36，也可以在电源基板42的面对光束分割部件24的一侧的表面设置电源部37和/或通信部38。
图6是表示图2中的光束分割部件的外周上的控制部及电源部的配置的图。在图中，表示沿图2中的VI-VI线的截面。
参照图2及图6，在本实施方式的色彩计10中，控制部36及电源部37在物镜21的围绕光轴的周向上彼此错开地配置。在从物镜21的光轴观察的情况下，控制部36及电源部37隔着光束分割部件24(光纤55)彼此相对地配置。
CPU基板41及电源基板42在物镜21的围绕光轴的周向上彼此错开地配置。CPU基板41及电源基板42在物镜21的围绕光轴的周向上彼此分离地配置。在从物镜21的光轴观察的情况下，CPU基板41及电源基板42隔着光束分割部件24(光纤55)彼此相对地配置。CPU基板41及电源基板42彼此平行地配置。
控制部36及电源部37在物镜21的光轴方向上配置在彼此重叠的位置。控制部36及电源部37也可以在物镜21的光轴方向上配置在彼此分离的位置。控制部36与光束分割部件24(光纤55)之间的距离和电源部37与光束分割部件24(光纤55)之间的距离优选大致相等。
图7是表示电子器件及基板的配置的比较例的图。参照图7，在本比较例中，在光纤55的外周上设置有电子器件112和安装电子器件112的基板111。电子器件112及基板111相对于光纤55仅设置在物镜21的围绕光轴的一侧。
在这样的结构中，伴随着色彩计的工作，基板111上的电子器件112发热，通过该热量使光纤55从一个方向受热。由此，如图7中的双点划线113所示，光纤55的温度分布失衡。在该情况下，如前所述，光纤55的弯曲情况或姿态出现变化，由此导致光向光谱灵敏度校正滤波器的入射角度发生偏离，导致测定数据产生误差。
参照图2及图6，相对于此，在本实施方式中，伴随着色彩计的工作，安装于CPU基板41的控制部36发热，安装于电源基板42的电源部37发热。
此时，光纤55从配置控制部36及电源部37的两个方向受热，所以如图6中的双点划线110所示，光纤55的温度分布绕物镜21的光轴对称。由此，能够抑制光纤55的弯曲情况或姿态变化，或者，即使假设光纤55变形，也能够防止该变形绕物镜21的光轴呈非对称。其结果是，能够使光谱灵敏度校正滤波器发挥所希望的光谱灵敏度特性，能够防止测定精度下降。
注意，以上仅是对控制部36及电源部37的位置关系进行说明，安装于CPU基板41的控制部36及数据存储器32和安装于电源基板42的电源部37及通信部38之间的相互位置关系与控制部36和电源部37之间的位置关系相同。
图8是表示图2中的光束分割部件的具体结构的截面图。参照图8，光束分割部件24还具有保护部件57。
保护部件57以覆盖光纤55的方式设置，保护光纤55。保护部件57整体具有在光纤55的周围呈筒状地延伸的形状(鞘形状)。光纤55收纳于保护部件57。保护部件57以支承光纤55的两端的方式设置。
更具体地说，保护部件57是将筒状部57m及盖部57n组合而构成的。筒状部57m支承光纤55的一端，从该一端向光纤55的另一端呈筒状地延伸。筒状部57m在光纤55的另一端开口。盖部57n以封闭筒状部57m的开口部的方式设置。盖部57n支承光纤55的另一端。
光纤55除了被保护部件57支承的支承部以外都以与保护部件57非接触的状态进行设置。因此，在光纤55与保护部件57之间形成有空气层58。在控制部36及电源部37发热时，空气层58作为绝热层而起作用，由此能够抑制光纤55的温度上升。
保护部件57可以由金属形成。作为形成保护部件57的金属，优选为导热性良好的金属，例如使用铝或黄铜等。在该情况下，通过促进保护部件57中的热传导，能够使光纤55中的热分布更均匀。
保护部件57也可以由绝热材料形成。作为绝热材料的代表例，可列举各种树脂材料。在该情况下，能够抑制从控制部36及电源部37向光纤55的热传导，从而抑制光纤55的温度上升。
图9至图12是表示图6中的控制部及电源部的配置的各种变形例的截面图。参照图9，在本变形例中，控制部36(CPU基板41)及电源部37(电源基板42)在物镜21的围绕光轴的周向上配置在错开90°的相位位置。CPU基板41及电源基板42以彼此交叉成90°的姿态进行配置。
参照图10，在本变形例中，控制部36(CPU基板41)及电源部37(电源基板42)在物镜21的围绕光轴的周向上以比90°小的角度错开配置。CPU基板41及电源基板42以彼此交叉成大于90°且小于180°的角度的姿态进行配置。
在图9及图10中的变形例中列举例子中，不特别限定控制部36及电源部37沿轴向彼此错开的角度。
参照图11，在本变形例中，控制部36(CPU基板41)及电源部37(电源基板42)在物镜21的围绕光轴的周向上彼此错开地配置，并且具有彼此重叠的部分。在这样的结构中，也能够在一定范围内起到抑制光纤55的温度分布失衡的效果。
参照图12，在本变形例中，控制部36、数据存储器32及电源部37在物镜21的围绕光轴的周向上彼此错开地配置。控制部36、数据存储器32及电源部37安装在一张基板44上。如本变形例所示，沿周向错开配置的多个电子器件可以安装于同一基板。
总结以上说明的本发明的实施方式的三刺激值型光电色彩计10的基本结构，就是：作为本实施方式的测定用光学装置的三刺激值型光电色彩计10具有作为入射部的物镜21、光电转换部25、作为导光部的光束分割部件24和作为第一电子器件的控制部36及作为第二电子器件的电源部37，物镜21使来自被测定物的光入射，光电转换部25将接收到的光转换为电信号，光束分割部件24将通过物镜21入射的光引导至光电转换部25，控制部36及电源部37配置在光束分割部件24的光轴的周围，并且在周向上彼此错开地配置。
另外，三刺激值型光电色彩计10具有作为入射部的物镜21、作为导光部的光束分割部件24、光电转换部25和作为第一电子器件的控制部36及作为第二电子器件的电源部37，物镜21使来自被测定物的光入射，光束分割部件24配置在通过物镜21入射的光的光轴上，对通过物镜21入射的光进行引导，光电转换部25接收在光束分割部件24中引导的光，并将其转换为电信号，控制部36及电源部37相对于通过物镜21入射的光的光轴设置在光束分割部件24的外周上，并且在周向上彼此错开地配置，用于对在光电转换部25中转换出的电信号进行处理。
根据如此构成的本发明的实施方式的三刺激值型光电色彩计10，能够抑制色彩计中的测光及测色的测定精度因控制部36及电源部37的发热而降低。
注意，在本实施方式中对能够进行测光及测色两者的三刺激值型光电色彩计10进行了说明，但不限于此，本发明也可以应用于仅能够进行测光及测色中的任意一方的测定的测定用光学装置。另外，本发明也可以应用于使用分光测色方法的色彩计。
根据本发明的测定用光学装置具有：入射部，其使来自被测定物的光入射；光电转换部，其将接收到的光转换为电信号；导光部，其将通过入射部入射的光引导至光电转换部；第一电子器件及第二电子器件，其配置在导光部的光轴的周围，并且在周向上彼此错开地配置。
根据如此构成的测定用光学装置，通过使作为发热源的第一电子器件及第二电子器件在周向上彼此错开地配置，能够使这些电子器件对导光部的热影响在导光部的光轴的周围更加均匀。由此，能够抑制测定用光学装置的测定精度因电子器件的发热而降低。
更优选的是，在从通过入射部入射的光的光轴方向观察的情况下，第一电子器件及第二电子器件隔着导光部彼此相对地配置。
根据如此构成的测定用光学装置，能够使第一电子器件及第二电子器件对导光部的热影响在通过入射部入射的光的光轴周围更加均匀。
更优选的是，第一电子器件是控制测定用光学装置的测定动作的控制部。第二电子器件是对从外部供给的电力进行变压的电源部。
根据如此构成的测定用光学装置，通过将发热量特别大的控制部及电源部在导光部的外周上沿周向错开配置，能够更有效地起到抑制测定精度下降的效果。
更优选的是，导光部包含光纤和保护部件，光纤使光传播，保护部件以覆盖光纤的方式设置，保护光纤。
根据如此构成的测定用光学装置，能够保护光纤不受来自外部的振动和冲击影响。
更优选的是，在光纤与保护部件之间形成有空气层。
根据如此构成的测定用光学装置，能够抑制从第一电子器件及第二电子器件向光纤的热传导。
更优选的是，保护部件由金属形成。
根据如此构成的测定用光学装置，通过促进保护部件中的热传导，能够使第一电子器件及第二电子器件对光纤的热影响在通过入射部入射的光的光轴周围更加均匀。
更优选的是，保护部件由绝热材料形成。
根据如此构成的测定用光学装置，能够抑制从第一电子器件及第二电子器件向光纤的热传导。
更优选的是，测定用光学装置还具有分别安装第一电子器件及第二电子器件的第一基板及第二基板。
根据如此构成的测定用光学装置，能够使分别安装于第一基板及第二基板的第一电子器件及第二电子器件对导光部的热影响在通过入射部入射的光的光轴周围更加均匀。
更优选的是，测定用光学装置还具有沿通过入射部入射的光的光轴方向呈板状地延伸的多个基板。导光部在通过入射部入射的光的光轴方向上具有与入射部相对的第一相对面和与光电转换部相对的第二相对面。多个基板在通过入射部入射的光的光轴方向上全部配置在第一相对面与第二相对面之间。
根据如此构成的测定用光学装置，能够在通过入射部入射的光的光轴方向上使测定用光学装置小型化。
应认为本次公开的实施方式在所有方面都是示例，没有限制性。本发明的范围不是通过上述说明表示，而是通过权利要求书表示，与权利要求书为同等含义及范围内的所有改变都包含在本发明的范围内。
工业实用性
本发明例如可应用于三刺激值型光电色彩计。
附图标记说明
10 三刺激值型光电色彩计
12 显示面
14 测定探测器部
16 测定器主体部
21 物镜
24 光束分割部件
25 光电转换部
26 放大部
27 测定光学系统
28 受光系统
31 A/D转换部
32 数据存储器
34 显示部
35 操作部
36 控制部
37 电源部
38 通信部
41 CPU基板
42 电源基板
43 传感器基板
44、111 基板
45 基准板
46、48 支承部件
47、49 凸缘部
52 第一相对面
53 第二相对面
55 光纤
56p、56q、56r 透镜
57 保护部件
57m 筒状部
57n 盖部
58 空气层
61p、61q、61r 光谱灵敏度校正滤波器
62p、62q、62r 受光传感器
112 电子器件。
Claims (8)
1.一种测定用光学装置，其特征在于，具有：
入射部，其使来自被测定物的光入射；
光电转换部，其将接收到的光转换为电信号；
导光部，其将通过所述入射部入射的光引导至所述光电转换部；
安装第一电子器件的第一基板及安装第二电子器件的第二基板，其配置在所述导光部的光轴的周围，并且以所述导光部的所述第一基板侧的温度分布与所述第二基板侧的温度分布绕所述导光部的光轴对称的方式在周向上彼此错开地配置。
2.如权利要求1所述的测定用光学装置，其特征在于，
在从通过所述入射部入射的光的光轴方向观察的情况下，所述第一基板及所述第二基板隔着所述导光部彼此相对地配置。
3.如权利要求1或2所述的测定用光学装置，其特征在于，
在所述第一基板上，作为所述第一电子器件，安装有控制测定用光学装置的测定动作的控制部，
在所述第二基板上，作为所述第二电子器件，安装有对从外部供给的电力进行变压的电源部。
4.如权利要求1或2所述的测定用光学装置，其特征在于，
所述导光部包含光纤和保护部件，所述光纤使光传播，所述保护部件以覆盖所述光纤的方式设置，保护所述光纤。
5.如权利要求4所述的测定用光学装置，其特征在于，
在所述光纤与所述保护部件之间形成有空气层。
6.如权利要求4所述的测定用光学装置，其特征在于，
所述保护部件由金属形成，将热量在所述光纤的周向上传导。
7.如权利要求4所述的测定用光学装置，其特征在于，
所述保护部件由绝热材料形成。
8.如权利要求1或2所述的测定用光学装置，其特征在于，
所述导光部在通过所述入射部入射的光的光轴方向上具有与所述入射部相对的第一相对面和与所述光电转换部相对的第二相对面，
所述第一基板及所述第二基板在通过所述入射部入射的光的光轴方向上配置在所述第一相对面与所述第二相对面之间。
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