CN108227250A - Lcd质检方法、装置、cim系统及计算机存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种LCD质检方法，该方法包括：获取待检验LCD液晶显示屏的制程参数；确定所述待检验LCD的制程参数，与预存的历史制程参数的相似度；基于所述相似度，结合预存的所述历史制程参数对应的质检结果，匹配所述待检验LCD对应的质检结果；从所述匹配的质检结果中，提取出满足预设条件的质检结果，作为所述待检验LCD的预测质检结果。本发明还公开了一种LCD质检装置、CIM系统及计算机存储介质。本发明可节约人工和时间成本，提高LCD产品的光学不良检出率，降低光学不良的误判率。
Description
技术领域
本发明涉及LCD质检技术领域，尤其涉及一种LCD质检方法、装置、CIM系统及计算机存储介质。
背景技术
LCD(Liquid Crystal Display)液晶显示屏具有低耗电量、体积小、零辐射等优点，广泛应用于PC、电视机、移动终端等设备的屏幕显示。为保证LCD的显示功能，在LCD产出后，需对其进行品质检验。目前LCD的质检，是由人工对LCD进行画面和外观检验来实现的，且需要检验多个画面，这一过程主要依靠质检人员的经验和肉眼敏锐程度，容易造成光学不良的错判和漏判等误判情况。
上述内容仅用于辅助理解本发明的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种LCD质检方法、装置、CIM系统及计算机存储介质，旨在解决现有仅靠人工进行LCD质检的方式，易出现误判情况的技术问题。
为实现上述目的，本发明提供一种LCD质检方法，该方法包括：
获取待检验LCD液晶显示屏的制程参数；
确定所述待检验LCD的制程参数，与预存的历史制程参数的相似度；
基于所述相似度，结合预存的所述历史制程参数对应的质检结果，匹配所述待检验LCD对应的质检结果；
从所述匹配的质检结果中，提取出满足预设条件的质检结果，作为所述待检验LCD的预测质检结果。
可选地，所述制程参数包括压头温度、载台温度、本压时间和本压温度，所述质检结果包括光学不良的种类和不良率。
可选地，所述获取待检验LCD液晶显示屏的制程参数的步骤之前，包括：
获取待检验LCD的初始制程参数；
对所述初始制程参数，以及预存的初始历史制程参数，分别进行归一化处理，得到所述待检验LCD的制程参数，以及历史制程参数。
可选地，所述确定所述待检验LCD的制程参数，与预存的历史制程参数的相似度的步骤包括：
分别计算待检验LCD的制程参数与预存的历史制程参数的欧氏距离，得到对应的欧式距离数据；
所述基于所述相似度，结合预存的所述历史制程参数对应的质检结果，匹配所述待检验LCD对应的质检结果的步骤包括：
根据所述欧式距离数据，结合预存的所述历史制程参数对应的质检结果，匹配所述待检验LCD对应的质检结果。
可选地，所述根据所述欧式距离数据，结合预存的所述历史制程参数对应的质检结果，匹配所述待检验LCD对应的质检结果的步骤包括：
按照由小到大的顺序对所述欧式距离数据进行排序，得到欧式距离数据序列；
按照预设规则，从所述欧式距离数据序列中提取出目标欧式距离数据；
将所述目标欧式距离数据对应的历史制程参数的质检结果，匹配为所述待检验LCD对应的质检结果。
可选地，所述从所述匹配的质检结果中，提取出满足预设条件的质检结果，作为所述待检验LCD的预测质检结果的步骤包括：
确定所述匹配的质检结果中，不同的质检结果的数量；
选取数量最多的质检结果，作为所述待检验LCD的预测质检结果。
可选地，所述方法还包括：
将所述待检验LCD的预测质检结果发送至人工质检工段，供所述人工质检工段对所述待检验LCD进行质检，以确定所述待检验LCD的最终质检结果。
此外，为实现上述目的，本发明还提供一种LCD质检装置，所述LCD质检装置包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的LCD质检程序，所述LCD质检程序被所述处理器执行时实现如上所述的LCD质检方法的步骤。
此外，为实现上述目的，本发明还提供一种CIM系统，所述CIM系统包括：bonding模块、全贴合模块、组装模块、OTP模块、CIM系统质检模块、人工质检模块和LCD质检程序，所述LCD质检程序被所述CIM系统质检模块执行时实现如上所述的LCD质检方法的步骤。
此外，为实现上述目的，本发明还提供一种计算机存储介质，所述计算机存储介质上存储有LCD质检程序，所述LCD质检程序被处理器执行时实现如上所述的LCD质检方法的步骤。
本发明获取待检验LCD液晶显示屏的制程参数；确定所述待检验LCD的制程参数，与预存的历史制程参数的相似度；基于所述相似度，结合预存的所述历史制程参数对应的质检结果，匹配所述待检验LCD对应的质检结果；从所述匹配的质检结果中，提取出满足预设条件的质检结果，作为所述待检验LCD的预测质检结果。通过上述方式，本发明可基于预存的历史制程参数及其对应的质检结果，确定出待检验LCD的预测质检结果，该预测质检结果对后续人工质检工段起辅助作用，质检人员只需根据该预测质检结果进行二次加强检验，即可确定待检验LCD的最终质检结果，由此，不仅节约人工和时间成本，还提高了LCD产品光学不良的检出率，降低光学不良的误判率。
附图说明
图1是本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的终端结构示意图；
图2为本发明LCD质检方法第一实施例的流程示意图；
图3为原有基于CIM系统的LCD生产流程示意图；
图4为本发明实施例方案涉及的基于CIM系统的LCD生产流程示意图；
图5为本发明LCD质检方法第二实施例的流程示意图；
图6为本发明LCD质检方法第三实施例的流程示意图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
本发明实施例的主要解决方案是：获取待检验LCD液晶显示屏的制程参数；确定所述待检验LCD的制程参数，与预存的历史制程参数的相似度；基于所述相似度，结合预存的所述历史制程参数对应的质检结果，匹配所述待检验LCD对应的质检结果；从所述匹配的质检结果中，提取出满足预设条件的质检结果，作为所述待检验LCD的预测质检结果。
如图1所示，图1是本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的装置所属终端结构示意图。
本发明实施例终端可以是PC。
如图1所示，该终端可以包括：处理器1001，例如CPU，通信总线1002，用户接口1003，网络接口1004，存储器1005。其中，通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信。用户接口1003可以包括显示屏(Display)、输入单元比如键盘(Keyboard)，可选的用户接口1003还可以包括标准的有线接口、无线接口。网络接口1004可选的可以包括标准的有线接口、无线接口(如WI-FI接口)。存储器1005可以是高速RAM存储器，也可以是稳定的存储器(non-volatile memory)，例如磁盘存储器。存储器1005可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储装置。
可选地，终端还可以包括摄像头、RF(Radio Frequency，射频)电路，传感器、音频电路、Wi-Fi模块等等。其中，传感器比如光传感器、运动传感器以及其他传感器。具体地，光传感器可包括环境光传感器及接近传感器，其中，环境光传感器可根据环境光线的明暗来调节显示屏的亮度，接近传感器可在移动终端移动到耳边时，关闭显示屏和/或背光。作为运动传感器的一种，重力加速度传感器可检验各个方向上(一般为三轴)加速度的大小，静止时可检验出重力的大小及方向，可用于识别移动终端姿态的应用(比如横竖屏切换、相关游戏、磁力计姿态校准)、振动识别相关功能(比如计步器、敲击)等；当然，移动终端还可配置陀螺仪、气压计、湿度计、温度计、红外线传感器等其他传感器，在此不再赘述。
本领域技术人员可以理解，图1中示出的终端结构并不构成对终端的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。
如图1所示，作为一种计算机存储介质的存储器1005中可以包括操作系统、网络通信模块、用户接口模块以及LCD质检程序。
在图1所示的终端中，网络接口1004主要用于连接LCD生产设备，与LCD生产设备进行数据通信；用户接口1003主要用于连接客户端(用户端)，与客户端进行数据通信；而处理器1001可以用于调用存储器1005中存储的LCD质检程序，并执行以下操作：
获取待检验LCD液晶显示屏的制程参数；
确定所述待检验LCD的制程参数，与预存的历史制程参数的相似度；
基于所述相似度，结合预存的所述历史制程参数对应的质检结果，匹配所述待检验LCD对应的质检结果；
从所述匹配的质检结果中，提取出满足预设条件的质检结果，作为所述待检验LCD的预测质检结果。
进一步地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的LCD质检程序，还执行以下操作：
获取待检验LCD的初始制程参数；
对所述初始制程参数，以及预存的初始历史制程参数，分别进行归一化处理，得到所述待检验LCD的制程参数，以及历史制程参数。
进一步地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的LCD质检程序，还执行以下操作：
分别计算待检验LCD的制程参数与预存的历史制程参数的欧氏距离，得到对应的欧式距离数据；
根据所述欧式距离数据，结合预存的所述历史制程参数对应的质检结果，匹配所述待检验LCD对应的质检结果。
进一步地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的LCD质检程序，还执行以下操作：
按照由小到大的顺序对所述欧式距离数据进行排序，得到欧式距离数据序列；
按照预设规则，从所述欧式距离数据序列中提取出目标欧式距离数据；
将所述目标欧式距离数据对应的历史制程参数的质检结果，匹配为所述待检验LCD对应的质检结果。
进一步地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的LCD质检程序，还执行以下操作：
确定所述匹配的质检结果中，不同的质检结果的数量；
选取数量最多的质检结果，作为所述待检验LCD的预测质检结果。
进一步地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的LCD质检程序，还执行以下操作：
将所述待检验LCD的预测质检结果发送至人工质检工段，供所述人工质检工段对所述待检验LCD进行质检，以确定所述待检验LCD的最终质检结果。
此外，本发明实施例涉及的LCD质检方法还应用于CIM系统，该CIM系统包括：bonding模块、全贴合模块、组装模块、OTP模块、CIM系统质检模块、人工质检模块，其中每个模块的硬件结构，可参照上述图1所示的硬件结构，即每个模块可以包括处理器(例如CPU)、通信总线、用户接口、网络接口、存储器。对于CIM系统质检模块的存储器部分，包括LCD质检程序，而CIM系统质检模块的处理器，可以调用CIM系统质检模块的存储器中存储的LCD质检程序，并执行以下操作：
获取待检验LCD液晶显示屏的制程参数；
确定所述待检验LCD的制程参数，与预存的历史制程参数的相似度；
基于所述相似度，结合预存的所述历史制程参数对应的质检结果，匹配所述待检验LCD对应的质检结果；
从所述匹配的质检结果中，提取出满足预设条件的质检结果，作为所述待检验LCD的预测质检结果。
基于上述硬件结构，提出本发明LCD质检方法的各个实施例。
参照图2，本发明LCD质检方法第一实施例提供一种LCD质检方法，所述方法包括：
步骤S10，获取待检验LCD液晶显示屏的制程参数；
LCD(Liquid Crystal Display)，液晶显示屏，属于平面显示器的一种，用于PC、电视机、移动终端等设备的屏幕显示，具有耗电量低、体积小、辐射低等优点。
本实施例应用于CIM系统。CIM系统(Computer Integrated Manufacture System)是将生产制造、开发设计、生产管理、经营销售等企业生产活动的全过程组合在一起的计算机一体化生产(制造)系统。在LCD的生产制造方面，参照图3，图3为原有基于CIM系统的LCD生产流程示意图，依次包括bonding、全贴合、组装、OTP、人工质检的工段。参照图4，图4为本实施例基于CIM系统的LCD生产流程示意图，依次包括bonding、全贴合、组装、OTP、CIM系统质检、人工质检的工段，其中，Bondingbonding工段、全贴合工段、组装工段、OTP工段，是依次对LCD模组进行压合、全贴合、组装、OTP烧录的生产过程，CIM系统质检和人工质检的工段是对LCD的质检过程，对应地，本实施例涉及的CIM系统包括bonding模块、全贴合模块、组装模块、OTP模块、CIM系统质检模块和人工质检模块。CIM系统分别与bonding模块、全贴合模块、组装模块、OTP模块、CIM系统质检模块和人工质检模块建立有通信连接，可通过有线方式或无线方式建立连接，无线方式可以为Wi-Fi、ZigBee、蓝牙、NB-IOT(2G、3G、4G、5G网络)等连接方式，上述任意模块之间的交互通过CIM系统实现。相比于图3所示LCD生产流程，本实施例多了CIM系统质检这一工段，本实施例的LCD质检方法正是应用于CIM系统质检工段对应的CIM系统质检模块。
首先，CIM系统获取待检验LCD的制程参数。
在本实施例中，各个生产工段对应的设备在生产每一批LCD模组时，会将各自的关键制程参数(对应初始制程参数)上传至CIM系统的数据库中。生产待检验LCD模组时，当CIM系统接收到OTP工段时机台发送的烧录成功的指令后，进入CIM系统质检工段，CIM系统获取待检验LCD的制程参数，该制程参数是对设备上传的待检验LCD的初始制程参数进行归一化处理后得到的。以CIM系统获取待检验LCD在Bonding段的制程参数为例，待检验LCD在Bonding段的制程参数是对待检验LCD在Bonding段的初始制程参数(压头温度、载台温度、本压时间和本压温度)进行归一化处理后得到的。
步骤S20，确定所述待检验LCD的制程参数，与预存的历史制程参数的相似度；
步骤S30，基于所述相似度，结合预存的所述历史制程参数对应的质检结果，匹配所述待检验LCD对应的质检结果；
在本实施例中，CIM系统的数据库中预先存储有以往各批次LCD产品的制程参数及其对应的质检结果，也就是历史制程参数及其对应的质检结果，该历史制程参数包括压头温度、载台温度、本压时间和本压温度，是对以往各批次LCD产品的初始制程参数进行归一化处理得到的，其对应的质检结果包括经人工检验确认的以往各批次LCD产品的各类光学不良种类和不良率。可以理解的是，在某一工段，比如Bonding段，历史制程参数及其对应的质检结果是有很多组的，以往每一批次LCD产品对应一组历史制程参数及其对应的质检结果。
CIM系统在获得待检验LCD的制程参数后，需分析待检验LCD的制程参数与预存的历史制程参数之间的相似度，基于该相似度，结合历史制程参数对应的质检结果，匹配待检验LCD的质检结果。例如，CIM系统在获得待检验LCD在Bonding段的制程参数后，需分别分析待检验LCD在Bonding段的制程参数，与预存的Bonding段的各组历史制程参数之间的相似度。相似度分析可通过距离度量的方式来实现，距离度量(Distance)用于衡量个体在空间上存在的距离，距离越近说明个体间的差异越小。欧氏距离是最常见的距离度量。欧氏距离即欧几里得度量(euclidean metric)，是一个通常采用的距离定义，指在m维空间中两个点之间的真实距离，或者向量的自然长度(即该点到原点的距离)。欧氏距离衡量的是多维空间中各个点之间的绝对距离，计算欧式距离的公式如下：
本实施例通过计算待检验LCD的制程参数与历史制程参数的欧氏距离，来分析待检验LCD的制程参数与预存的历史制程参数之间的相似度，欧式距离越小二者越相似，那么就可以根据待检验LCD的制程参数与历史制程参数的欧氏距离数据来匹配待检验LCD对应的质检结果。
步骤S40，从所述匹配的质检结果中，提取出满足预设条件的质检结果，作为所述待检验LCD的预测质检结果。
之后，从匹配的质检结果中，提取出满足预设条件的质检结果，即提取匹配的质检结果中频率最高的质检结果，作为待检验LCD的预测质检结果。该预测质检结果对后续人工质检工段起辅助作用，也就是说，本实施例CIM系统通过上述方式，可以确定待检验LCD可能出现的不良种类及其对应的不良率，那么在后续人工质检工段，质检人员只需根据CIM系统确定的可能出现的不良种类及其对应的不良率，进一步进行加强检验即可确定待检验LCD的最终质检结果，对于LCD的质检就不必仅依赖于人工，由此，不仅减少了质检人员的工作量，节约了人工和时间，还提高了光学不良的检出率，降低光学不良的误判率。
此外，本实施例的LCD质检方法对LCD产品的DOE实验设计也有帮助，实验人员可以结合CIM系统提供的质检结果，在后续的实验中进行验证，找出不良产生的真因，由此，简化了DOE实验设计，有利于节约DOE实验设计所消耗的物料和人工成本。
本实施例LCD质检系统获取待检验LCD液晶显示屏的制程参数；确定所述待检验LCD的制程参数，与预存的历史制程参数的相似度；基于所述相似度，结合预存的所述历史制程参数对应的质检结果，匹配所述待检验LCD对应的质检结果；从所述匹配的质检结果中，提取出满足预设条件的质检结果，作为所述待检验LCD的预测质检结果。通过上述方式，本实施例LCD质检系统可基于预存的历史制程参数及其对应的质检结果，确定出待检验LCD的预测质检结果，该预测质检结果对后续人工质检工段起辅助作用，质检人员只需根据该预测质检结果进行二次加强检验，即可确定待检验LCD的最终质检结果，由此，就不必仅靠人工来进行LCD质检了，不仅节约人工和时间成本，还提高了光学不良的检出率，降低光学不良的误判率。
参照图5，本发明LCD质检方法第二实施例提供一种LCD质检方法，基于上述图2所示的第一实施例，步骤S10之前，可以包括：
步骤S50，获取待检验LCD的初始制程参数；
步骤S60，对所述初始制程参数，以及预存的初始历史制程参数，分别进行归一化处理，得到所述待检验LCD的制程参数，以及历史制程参数。
在本实施例中，当CIM系统接收到OTP工段时机台发送的烧录成功的指令后，进入CIM系统质检工段，CIM系统首先获取的是各个生产工段对应的设备上传的待检验LCD的初始制程参数，需对待检验LCD的初始制程参数，以及预存的以往批次LCD产品的初始历史制程参数，分别进行归一化处理，分别将待检验LCD的初始制程参数和初始历史制程参数的数值处理至0～1之间。具体地，对待检验LCD的制程参数进行归一化处理的方式如下：
待检验LCD的制程参数＝(待检验LCD的初始制程参数-初始历史制程参数最小值)/(初始历史制程参数最大值-初始历史制程参数最小值)
对初始历史制程参数进行归一化处理的方式如下：
历史制程参数＝(初始历史制程参数-初始历史制程参数最小值)/(初始历史制程参数最大值-初始历史制程参数最小值)
例如，如表1所示，表1包括CIM系统中储存的Bonding段初始历史制程参数及其对应的在FI段检验出的不良，以及待检验LCD的初始制程参数。
表1
表1中序号6对应待检验LCD，对待检验LCD的初始制程参数进行的归一化处理，以对序号6对应的初始压头温度进行归一化处理为例，序号6的压头温度归一化为(200-182)/(220-182)＝0.473
对初始历史制程参数进行的归一化处理，以对序号5对应的初始压头温度进行归一化处理为例，序号5的压头温度归一化为(217-182)/(220-182)＝0.921
由此，通过归一化处理，得到待检验LCD的制程参数，以及历史制程参数，例如，上述表1的相关参数经归一化处理后如表2所示：
表2
在本实施例中，CIM系统对待检验LCD的初始制程参数，以及预存的以往批次LCD产品的初始历史制程参数，分别进行归一化处理，以供后续确定二者之间的相似度。
参照图6，本发明LCD质检方法第三实施例提供一种LCD质检方法，基于上述图2和图5所示的实施例，步骤S20，可以包括：
步骤S21，分别计算待检验LCD的制程参数与预存的历史制程参数的欧氏距离，得到对应的欧式距离数据；
步骤S30，可以包括：
步骤S31，根据所述欧式距离数据，结合预存的所述历史制程参数对应的质检结果，匹配所述待检验LCD对应的质检结果。
本实施例通过计算待检验LCD的制程参数与预存的历史制程参数之间的欧氏距离，来确定待检验LCD的制程参数与历史制程参数的相似度。
例如，以上述表2所示的数据为例，待检验LCD在Bonding段的制程参数对应序号6，基于第一实施例中所述的欧式距离公式，计算序号6到序号1的欧式距离D1，而计算欧式距离，是将Bonding段的制程参数处理为制程参数矩阵来进行的。具体地，序号6的制程参数矩阵为(1，0，1，1)，序号1为(0.47，0.16，0，0)，则D1为：
以此类推，分别计算序号6到序号2的欧式距离D2等，得到一系列的欧式距离数据，然后根据欧式距离数据，结合预存的历史制程参数对应的质检结果，匹配待检验LCD对应的质检结果，具体地，步骤S31可以包括：
步骤S310，按照由小到大的顺序对所述欧式距离数据进行排序，得到欧式距离数据序列；
步骤S311，按照预设规则，从所述欧式距离数据序列中提取出目标欧式距离数据；
步骤S312，将所述目标欧式距离数据对应的历史制程参数的质检结果，匹配为所述待检验LCD对应的质检结果。
由前述可知，欧式距离越小越相似，由此CIM系统可按照由小到大的顺序对欧式距离数据进行排序，得到欧式距离数据序列，然后基于CIM系统中预先设置的规则，比如取欧式距离数据序列的前n个欧式距离数据，作为目标欧式距离数据。前n个欧式距离数据也就是欧式距离相对较小的欧式距离，它们对应的历史制程参数与待检验LED的制程参数较相似，因而它们对应的历史制程参数的质检结果，可以作为待检验LED对应的质检结果，由此将目标欧式距离数据对应的历史制程参数的质检结果，匹配为待检验LCD对应的质检结果。
步骤S40，可以包括：
步骤S41，确定所述匹配的质检结果中，不同的质检结果的数量；
步骤S42，选取数量最多的质检结果，作为所述待检验LCD的预测质检结果。
之后，从匹配的质检结果中，提取出满足预设条件的质检结果，即提取匹配的质检结果中频率最多的质检结果，作为待检验LCD的预测质检结果。具体实施时，确定匹配的质检结果中，不同的质检结果的数量，然后选取数量最多的质检结果，作为待检验LCD的预测质检结果。例如，匹配的有3个质检结果：(1)COG Mura ND6％可过，(2)COG Mura ND8％可过，(3)COG Mura ND6％可过，可以确定COG Mura ND6％有2个，而COG Mura ND8％只有1个，就选取COG Mura ND6％作为待检验LCD的预测质检结果。
本实施例通过计算待检验LCD的制程参数与预存的历史制程参数之间的欧氏距离，来确定待检验LCD的制程参数与历史制程参数的相似度，基于相似度，将与待检验LCD的制程参数较相似的历史制程参数的质检结果匹配给待检验LCD，再从匹配的质检结果中提取出频率最高的一个质检结果作为待检验LCD的预测质检结果，提高了预测的准确性。
进一步地，本发明LCD质检方法第四实施例提供一种LCD质检方法，基于上述图2、图5和图6所示的实施例，所述方法还包括：
步骤S70，将所述待检验LCD的预测质检结果发送至人工质检工段，供所述人工质检工段对所述待检验LCD进行质检，以确定所述待检验LCD的最终质检结果。
当在本实施例中，当CIM系统确定出待检验LCD的预测质检结果后，将该预测质检结果发送至人工质检工段，供质检人员根据CIM系统确定的预测质检结果，对待检验LCD进行加强检验，以确定待检验LCD的最终质检结果。
作为一种实施方式，当CIM系统确定出待检验LCD的预测质检结果后，可基于该预测质检结果对待检验批次的LCD进行品质风险分级，然后对风险等级高的产品进行标记，以提示质检人员需对风险等级高的产品加强检验力度，同时供其他生产环节参考使用，以提高产品品质。
本实施例CIM系统可接收质检人员在后续人工质检工段进行二次加强质检所得的最终质检结果进行存储。
此外，原有的LCD质检流程在产品产出后不能实时反馈每片玻璃的光学亮度与色坐标值，每次需人工进行抽检光学数据，在进行新产品实验或DOE实验时，每片产品需人工在光学机台(如CS2000)上量测数据，耗费人工和时间，本实施例中的CIM系统可在OTP工段烧录完成后，接收检验治具加装的光学镜头(如MSE+镜头)量测的各种光学数据(亮度、色坐标等)，存储于CIM数据库中，并提供本次试验CPK值，节省人工和时间成本。
此外，本发明实施例还提出一种计算机存储介质。
本发明计算机存储介质上存储有LCD质检程序，所述LCD质检程序被处理器执行时实现如下操作：
获取待检验LCD液晶显示屏的制程参数；
确定所述待检验LCD的制程参数，与预存的历史制程参数的相似度；
基于所述相似度，结合预存的所述历史制程参数对应的质检结果，匹配所述待检验LCD对应的质检结果；从所述匹配的质检结果中，提取出满足预设条件的质检结果，作为所述待检验LCD的预测质检结果。
其中，本发明计算机存储介质上存储的LCD质检程序被处理器执行的具体实施例与上述LCD质检方法各实施例基本相同，在此不作赘述。
需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。
上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，空调器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。
以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (10)
1.一种LCD质检方法，其特征在于，所述方法包括：
获取待检验LCD液晶显示屏的制程参数；
确定所述待检验LCD的制程参数，与预存的历史制程参数的相似度；
基于所述相似度，结合预存的所述历史制程参数对应的质检结果，匹配所述待检验LCD对应的质检结果；
从所述匹配的质检结果中，提取出满足预设条件的质检结果，作为所述待检验LCD的预测质检结果。
2.如权利要求1所述的LCD质检方法，其特征在于，所述制程参数包括压头温度、载台温度、本压时间和本压温度，所述质检结果包括光学不良的种类和不良率。
3.如权利要求1所述的LCD质检方法，其特征在于，所述获取待检验LCD液晶显示屏的制程参数的步骤之前，包括：
获取待检验LCD的初始制程参数；
对所述初始制程参数，以及预存的初始历史制程参数，分别进行归一化处理，得到所述待检验LCD的制程参数，以及历史制程参数。
4.如权利要求1所述的LCD质检方法，其特征在于，所述确定所述待检验LCD的制程参数，与预存的历史制程参数的相似度的步骤包括：
分别计算待检验LCD的制程参数与预存的历史制程参数的欧氏距离，得到对应的欧式距离数据；
所述基于所述相似度，结合预存的所述历史制程参数对应的质检结果，匹配所述待检验LCD对应的质检结果的步骤包括：
根据所述欧式距离数据，结合预存的所述历史制程参数对应的质检结果，匹配所述待检验LCD对应的质检结果。
5.如权利要求4所述的LCD质检方法，其特征在于，所述根据所述欧式距离数据，结合预存的所述历史制程参数对应的质检结果，匹配所述待检验LCD对应的质检结果的步骤包括：
按照由小到大的顺序对所述欧式距离数据进行排序，得到欧式距离数据序列；
按照预设规则，从所述欧式距离数据序列中提取出目标欧式距离数据；
将所述目标欧式距离数据对应的历史制程参数的质检结果，匹配为所述待检验LCD对应的质检结果。
6.如权利要求5所述的LCD质检方法，其特征在于，所述从所述匹配的质检结果中，提取出满足预设条件的质检结果，作为所述待检验LCD的预测质检结果的步骤包括：
确定所述匹配的质检结果中，不同的质检结果的数量；
选取数量最多的质检结果，作为所述待检验LCD的预测质检结果。
7.如权利要求1所述的LCD质检方法，其特征在于，所述方法还包括：
将所述待检验LCD的预测质检结果发送至人工质检工段，供所述人工质检工段对所述待检验LCD进行质检，以确定所述待检验LCD的最终质检结果。
8.一种LCD质检装置，其特征在于，所述LCD质检装置包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的LCD质检程序，所述LCD质检程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的LCD质检方法的步骤。
9.一种CIM系统，其特征在于，所述CIM系统包括：bonding模块、全贴合模块、组装模块、OTP模块、CIM系统质检模块、人工质检模块和LCD质检程序，所述LCD质检程序被所述CIM系统质检模块执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的LCD质检方法的步骤。
10.一种计算机存储介质，其特征在于，所述计算机存储介质上存储有LCD质检程序，所述LCD质检程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的LCD质检方法的步骤。
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