CN109581195A - 一种pcba的检测方法及装置 - Google Patents

一种pcba的检测方法及装置 Download PDF

Info

Publication number
CN109581195A
CN109581195A CN201811551999.3A CN201811551999A CN109581195A CN 109581195 A CN109581195 A CN 109581195A CN 201811551999 A CN201811551999 A CN 201811551999A CN 109581195 A CN109581195 A CN 109581195A
Authority
CN
China
Prior art keywords
pcba
test
preset
test point
detection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201811551999.3A
Other languages
English (en)
Other versions
CN109581195B (zh
Inventor
梁华锋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Guangdong Genius Technology Co Ltd
Original Assignee
Guangdong Genius Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Guangdong Genius Technology Co Ltd filed Critical Guangdong Genius Technology Co Ltd
Priority to CN201811551999.3A priority Critical patent/CN109581195B/zh
Publication of CN109581195A publication Critical patent/CN109581195A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN109581195B publication Critical patent/CN109581195B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)

Abstract

本发明属于检测技术领域，提供一种PCBA的检测方法及装置，该方法包括：当检测到PCBA处于预设的检测位置时，获取预存储的第一测试点在所述PCBA中的第一位置信息和第二测试点在PCBA中的第二位置信息；其中，所述第一测试点为所述测试电阻的恒流电源接入点，所述第二测试点为所述测试电阻的电压检测点；根据所述第一位置信息在所述第一测试点接入恒流电源；根据所述第二位置信息在所述第二测试点检测第一电压值；若检测到所述第一电压值，则判断所述第一电压值是否在预设的电压阈值范围内；若所述第一电压值在所述预设的电压阈值范围内，则判断所述PCBA上的器件合格。通过直接检测测试电阻的电压对PCBA上器件的质量进行判断，可提高检测效率，且检测准确率高。

Description

一种PCBA的检测方法及装置
技术领域
本发明属于检测技术领域，尤其涉及一种PCBA的检测方法及装置。
背景技术
在现代的生活中，各种终端设备(如手机、电话手表、空调和冰箱等等)都内置了已组装的印制电路板(Printed Circuit Board Assembly,PCBA)以实现各种对应的功能。在PCBA上安插了各种电子元器件(电阻、电容和各种芯片等)，并通过金属层连线实现对应的电路功能。
在印制电路板(Printed Circuit Board,PCB)空板经过表面组装技术(SurfaceMount Technology，SMT)贴片的过程中，由于受到热应力或机械应力的作用会使PCBA容易发生形变，导致电容、电阻等器件开裂从而影响了PCBA的正常功能，目前主要通过人工检测PCBA上的器件是否开裂，检测效率低，且电容电阻等器件微开裂时人工难以发现和探测，使得检测的准确率低。
发明内容
有鉴于此，本发明实施例提供了一种PCBA的检测方法及装置，旨在解决现有检测PCBA上器件的检测效率低和检测准确率低的问题。
本发明实施例的第一方面提供一种已组装的印制电路板PCBA的检测方法，所述PCBA上设有测试电阻；其中，所述测试电阻的阻值与所述测试电阻的形变成比例关系；
所述检测方法包括：
当检测到所述PCBA处于预设的检测位置时，获取预存储的第一测试点在所述PCBA中的第一位置信息和第二测试点在所述PCBA中的第二位置信息；其中，所述第一测试点为所述测试电阻的恒流电源接入点，所述第二测试点为所述测试电阻的电压检测点；
根据所述第一位置信息在所述第一测试点接入恒流电源；
根据所述第二位置信息在所述第二测试点检测第一电压值；
若检测到所述第一电压值，则判断所述第一电压值是否在预设的电压阈值范围内；
若所述第一电压值在所述预设的电压阈值范围内，则判断所述PCBA上的器件合格。
在一个实施例中，在判断所述第一电压值是否在预设的电压阈值范围内之后，还包括：
若所述第一电压值不在所述预设的电压阈值范围内，则判断所述PCBA上存在不合格的器件。
在一个实施例中，当检测到所述PCBA处于预设的检测位置时，获取预存储的第一测试点在所述PCBA中的第一位置信息和第二测试点在所述PCBA中的第二位置信息，包括：
当检测到所述PCBA处于预设的检测位置时，获取预存储的所述测试电阻在所述PCBA中的第三位置信息；
根据所述第三位置信息判断所述测试电阻是否处于预设的有效检测范围内；
若所述测试电阻处于预设的有效检测范围内，则获取预存储的第一测试点在所述PCBA中的第一位置信息和第二测试点在所述PCBA中的第二位置信息。
在一个实施例中，所述根据所述第三位置信息判断所述测试电阻是否处于预设的有效检测范围内，包括：
确定所述PCBA的尺寸大小信息，根据所述尺寸大小信息确定所述PCBA的中心点位置；
根据所述第三位置信息判断所述测试电阻与所述中心点位置之间的距离是否小于预设距离。
在一个实施例中，所述测试电阻处于预设的有效检测范围内包括：
所述测试电阻与所述中心点位置之间的距离小于预设距离。
在一个实施例中，所述方法还包括：
当判断所述PCBA上的器件合格时，播放所述PCBA上器件合格的第一提示信息；
当判断所述PCBA上存在不合格的器件时，播放所述PCBA上存在不合格器件的第二提示信息。
本发明实施例的第二方面提供一种已组装的印制电路板PCBA的检测装置，所述PCBA上设有测试电阻；其中，所述测试电阻的阻值与所述测试电阻的形变成比例关系；
所述检测装置包括：
获取模块，用于当检测到所述PCBA处于预设的检测位置时，获取预存储的第一测试点在所述PCBA中的第一位置信息和第二测试点在所述PCBA中的第二位置信息；其中，所述第一测试点为所述测试电阻的恒流电源接入点，所述第二测试点为所述测试电阻的电压检测点；
接入模块，用于根据所述第一位置信息在所述第一测试点接入恒流电源；
检测模块，用于根据所述第二位置信息在所述第二测试点检测第一电压值；
第一判断模块，用于若检测到所述第一电压值，则判断所述第一电压值是否在预设的电压阈值范围内；
第二判断模块，用于若所述第一电压值在所述预设的电压阈值范围内，则判断所述PCBA上的器件合格。
在一个实施例中，所述检测装置还包括：
第三判断模块，用于若所述第一电压值不在所述预设的电压阈值范围内，则判断所述PCBA上存在不合格的器件。
本发明实施例的第三方面提供一种检测设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述方法的步骤。
本发明实施例的第四方面提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机程序，上述计算机程序被处理器执行时实现上述方法的步骤。
在本发明实施例中，所述PCBA上设有测试电阻；其中，所述测试电阻的阻值与所述测试电阻的形变成比例关系；当检测到所述PCBA处于预设的检测位置时，获取预存储的第一测试点在所述PCBA中的第一位置信息和第二测试点在所述PCBA中的第二位置信息；其中，所述第一测试点为所述测试电阻的恒流电源接入点，所述第二测试点为所述测试电阻的电压检测点；根据所述第一位置信息在所述第一测试点接入恒流电源；根据所述第二位置信息在所述第二测试点检测第一电压值；若检测到所述第一电压值，则判断所述第一电压值是否在预设的电压阈值范围内；若所述第一电压值在所述预设的电压阈值范围内，则判断所述PCBA上的器件合格。由于在给PCBA上的测试电阻接入恒流电源时，检测PCBA上测试电阻的电压，并将检测到的电压与预设的电压阈值相比较，当检测的电压在预设的电压阈值范围内，表示PCBA发生的形变在允许的范围内，从而可以判断出PCBA上器件是合格。通过直接检测测试电阻的电压对PCBA上器件的质量进行判断，可提高检测效率，且检测准确率高。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1是本发明实施例一提供的PCBA的检测方法的流程示意图；
图2是本发明实施例二提供的PCBA的检测方法的流程示意图；
图3是本发明实施例三提供的PCBA的检测装置的结构示意图
图4是本发明实施例四提供的检测设备的结构示意图。
具体实施方式
以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本发明实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本发明。在其它情况中，省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本发明的描述。
应理解，下述方法实施例中各步骤的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对各实施例的实施过程构成任何限定。
为了说明本发明所述的技术方案，下面通过具体实施例来进行说明。
实施例一
本发明实施例提供的一种PCBA的检测方法，可应用于检测设备中，所述检测方法用于检测PCBA上器件的质量，如检测PCBA上器件是否因变形导致电阻、电容等器件的损坏，预先在所述PCBA上设有测试电阻；其中，所述测试电阻的阻值与所述测试电阻的形变成比例关系。
在本发明实施例中，具体可预先在PCB主板进行电子设计时，将具有应力变形的测试电阻，且测试电阻的阻值与测试电阻的形变成比例关系的电阻设计在PCB板上。
如图1所示，所述检测方法包括：
步骤S101，当检测到所述PCBA处于预设的检测位置时，获取预存储的第一测试点在所述PCBA中的第一位置信息和第二测试点在所述PCBA中的第二位置信息；其中，所述第一测试点为所述测试电阻的恒流电源接入点，所述第二测试点为所述测试电阻的电压检测点。
在本发明实施例中，预设的检测位置可以是预先设定的检测设备的的正下方，或者是预先设定的其它位置。预先将上述测试电阻的恒流电源接入点(第一测试点)在PCBA中的位置存储在检测设备中，且将测试电阻的电压检测点(第二测试点)在PCBA中的位置存储在检测设备中，当然可以存储在与检测设备进行通信的其它终端设备中。
具体地，可将待检测的PCBA放置在生产线上，并随着生产线一起移动，当移动到预设的检测位置下，获取预先存储的第一测试点在PCBA中的第一位置信息和第二测试点在PCBA中的第二位置信息。
步骤S102，根据所述第一位置信息在所述第一测试点接入恒流电源。
在本发明实施例中，经步骤S101获取到第一测试点在PCBA中的第一位置信息后，根据所述第一位置信息在所述第一测试点接入恒流电源。
在具体应用场景中，上述检测设备设有电源探针，对所述电源探针接通恒流电源，根据第一位置信息控制电源探针移动至第一测试点所在的位置并与所述第一测试点进行接触，从而使第一测试点接入恒流电源。
步骤S103，根据所述第二位置信息在所述第二测试点检测第一电压值。
在本发明实施例中，在经步骤S101获取到第二测试点在PCBA中的第二位置后，根据所述第二位置在所述第二测试点检测第二测试点的电压；
在具体应用场景中，上述检测设备可设有电压检测探针，根据第二位置信息控制电压检测探针移动至第二测试点所在的位置并与所述第二测试点进行接触，从而在所述第二测试点上检测第一电压值。
步骤S104，若检测到所述第一电压值，则判断所述第一电压值是否在预设的电压阈值范围内；
在本发明实施例中，上述预设的电压阈值范围可以是：根据测试电阻的形变与测试电阻阻值之间的关系，预先进行测试或DOE验证设置电压阈值范围；
具体地，由于测试电阻在SIM贴片的过程中会因热力或机械力产生形变，当测试电阻变形较大时测试电阻的阻值也会发生变化，由于U＝I×R，当电流恒定时，电压的大小与电阻值成正比，进而可通过电压判断出测试电阻的形变状态，同时可反应PCBA受热力或机械力的作用导致器件形变的情况。PCBA在SIM贴片过程中收到了较大的热力或机械力的作用，此时PCBA版上的器件也容易产生形变而损坏。预先进行测试和验证，当测试电阻发生形变且对应PCBA上器件同时也因形变而损坏时，对所述测试电阻接通恒流电源并检测此时的电压；当测试电阻发生形变或未发生形变且对应PCBA上器件未发生形变或者形变并未损坏器件性能时，对所述测试电阻接通恒流电源并检测此时的电压，进行多次验证后预设电源阈值范围，所述电源阈值范围表示对应PCBA上器件未发生形变或者形变并未损坏器件性能的状态。
步骤S105，若所述第一电压值在所述预设的电压阈值范围内，则判断所述PCBA上的器件合格。
在本发明实施例中，若上述第一电压值在预设的电压阈值范围内，表示PCBA上器件为未发生形变或者形变并未损坏器件性能的状态，则判断所述PCBA上的器件合格，检测通过。
步骤S106，若所述第一电压值不在所述预设的电压阈值范围内，则判断所述PCBA上存在不合格的器件。
在本发明实施例中，若上述第一电压值不在预设的电压阈值范围内，表示PCBA上器件因形变而损坏，则判断所述PCBA上存在不合格的器件，检测不通过。对检测不合格的PCBA可做进一步用电气检测方法对PCBA上器件进行功能检测确定具体损坏的器件。
在一个实施例中，当判断所述PCBA上的器件合格时，播放所述PCBA上器件合格的第一提示信息；当判断所述PCBA上存在不合格的器件时，播放所述PCBA上存在不合格器件的第二提示信息。当判断PCBA上的器件合格时，可通过语音或显示的方式播放PCBA上器件合格的第一提示信息；当判断PCBA上的器件不合格时，可通过语音或显示的方式播放PCBA上器件不合格的第二提示信息。
在一种具体应用场景中，可在上述检测设备中设置显示屏，当判断PCBA上的器件合格时，显示屏显示第一提示信息(如显示“PASS”或“通过”等提示信息)，和/或在上述检测设备中设置扬声器，当判断PCBA上的器件合格时，扬声器播放第一提示信息(如播放“PASS”或“通过”等提示信息)；可在上述检测设备中设置显示屏，当判断PCBA上的器件不合格时，显示屏显示第二提示信息(如显示“NG”或“不通过”等提示信息)，和/或在上述检测设备中设置扬声器，当判断PCBA上的器件不合格时，扬声器播放第一提示信息(如播放“NG”或“不通过”等提示信息)
由此可见，在本发明实施例中，由于在给PCBA上的测试电阻接入恒流电源时，检测PCBA上测试电阻的电压，并将检测到的电压与预设的电压阈值相比较，当检测的电压在预设的电压阈值范围内，表示PCBA发生的形变在允许的范围内，从而可以判断出PCBA上器件是合格。通过直接检测测试电阻的电压对PCBA上器件的质量进行判断，可提高检测效率，且检测准确率高。
实施例二
本实施例是对实施例一的进一步说明，本实施例与实施例一相同或相似的地方具体可参见实施例一的相关描述，此处不在赘述，如图2所示，上述步骤S101包括：
步骤S201，当检测到所述PCBA处于预设的检测位置时，获取预存储的所述测试电阻在所述PCBA中的第三位置信息。
在本发明实施例中，可预先存储测试电阻在PCBA中的第三位置信息，当检测到PCBA处于预设的检测位置时，获取预存储的所述测试电阻在所述PCBA中的第三位置信息。具体地，可由用户预先将测试电阻在PCBA上的第三位置信息存储在检测设备中。
步骤S202，根据所述第三位置信息判断所述测试电阻是否处于预设的有效检测范围内；
在本发明实施例中，由于PCBA上器件所处的位置不同，在SIM贴片的过程中产生形变也不相同，一般在靠近PCBA中心的位置的器件最容易发生形变，当测试电阻如设置在PCBA的边缘位置时，当PCBA上其它器件发生形变时，测试电阻可能并未发生形变，此时通过测试电阻的变形检测PCBA上器件的质量并不准确，因此要预设一个有效的检测范围，并判断测试电阻在PCBA中的第三位置信息是否在预设的有效检测范围内。
在一个实施例中，所述根据所述第三位置信息判断所述测试电阻是否处于预设的有效检测范围内，包括：确定所述PCBA的尺寸大小信息，并根据尺寸大小信息确定所述PCBA的中心点位置；根据所述第三位置信息判断所述测试电阻与所述中心点位置之间的距离是否小于预设距离。可先确定PCBA的尺寸大小，如可通过机器视觉等技术确定PCBA的尺寸大小，再根据PCBA的尺寸大小确定PCBA的中心点位置，判断测试电阻在PCBA中的第三位置与所述中心点位置之间的距离是否小于预设距离。
在一个实施例中，所述测试电阻处于预设的有效检测范围内包括：所述测试电阻与所述中心点位置之间的距离小于预设距离。若测试电阻在PCBA中的第三位置与所述中心点位置之间的距离小于预设距离，表示测试电阻处于预设的有效检测范围内。
步骤S203，若所述测试电阻处于预设的有效检测范围内，则获取预存储的第一测试点在所述PCBA中的第一位置信息和第二测试点在所述PCBA中的第二位置信息。
在本发明实施例中，若测试电阻处于预设的有效检测范围内，则获取预存储的第一测试点在PCBA中的第一位置信息和第二测试点在PCBA中的第二位置信息。
在一个实施例中，若测试电阻不处于有效检测范围内，则播放所述测试电阻不处于有效检测范围内的第三提示信息。如可通过语音或显示的方式播放所述测试电阻不处于有效检测范围内的第三提示信息。
由此可见，在本发明实施例中，由于在给PCBA上的测试电阻接入恒流电源时，检测PCBA上测试电阻的电压，并将检测到的电压与预设的电压阈值相比较，当检测的电压在预设的电压阈值范围内，表示PCBA发生的形变在允许的范围内，从而可以判断出PCBA上器件是合格。通过直接检测测试电阻的电压对PCBA上器件的质量进行判断，可提高检测效率，且检测准确率高。
实施例三
本实施例提供一种PCBA的检测装置，用于执行实施例一或实施例二中的方法步骤，检测装置可用于检测PCBA上器件的质量，所述PCBA上设有测试电阻；其中，所述测试电阻的阻值与所述测试电阻的形变成比例关系；为了便于说明，仅示出于本发明相关的部分，如图3所示，所述检测装置300包括：
获取模块301，用于当检测到所述PCBA处于预设的检测位置时，获取预存储的第一测试点在所述PCBA中的第一位置信息和第二测试点在所述PCBA中的第二位置信息；其中，所述第一测试点为所述测试电阻的恒流电源接入点，所述第二测试点为所述测试电阻的电压检测点；
接入模块302，用于根据所述第一位置信息在所述第一测试点接入恒流电源；
检测模块303，用于根据所述第二位置信息在所述第二测试点检测第一电压值；
第一判断模块304，用于若检测到所述第一电压值，则判断所述第一电压值是否在预设的电压阈值范围内；
第二判断模块305，用于若所述第一电压值在所述预设的电压阈值范围内，则判断所述PCBA上的器件合格。
在一个实施例中，所述检测装置300还包括：
第三判断模块306，用于若所述第一电压值不在所述预设的电压阈值范围内，则判断所述PCBA上存在不合格的器件。
在一个实施例中，所述获取模块301具体包括：
第一获取单元，用于当检测到所述PCBA处于预设的检测位置时，获取预存储的所述测试电阻在所述PCBA中的第三位置信息；
判断单元，用于根据所述第三位置信息判断所述测试电阻是否处于预设的有效检测范围内；
第二获取单元，用于若所述测试电阻处于预设的有效检测范围内，则获取预存储的第一测试点在所述PCBA中的第一位置信息和第二测试点在所述PCBA中的第二位置信息。
在一个实施例中，所述判断单元具体包括：
确定子单元，用于确定所述PCBA的尺寸大小信息，根据所述尺寸大小信息确定所述PCBA的中心点位置；
判断子单元，用于根据所述第三位置信息判断所述测试电阻与所述中心点位置之间的距离是否小于预设距离。
在一个实施例中，所述第二获取单元具体用于若所述测试电阻与所述中心点位置之间的距离小于预设距离，则获取预存储的第一测试点在所述PCBA中的第一位置信息和第二测试点在所述PCBA中的第二位置信息。
在一个实施例中，所述检测装置300还包括：
第一播放模块307，用于当判断所述PCBA上的器件合格时，播放所述PCBA上器件合格的第一提示信息；
第二播放模块308，用于当判断所述PCBA上存在不合格的器件时，播放所述PCBA上存在不合格器件的第二提示信息。
由此可见，在本发明实施例中，由于在给PCBA上的测试电阻接入恒流电源时，检测PCBA上测试电阻的电压，并将检测到的电压与预设的电压阈值相比较，当检测的电压在预设的电压阈值范围内，表示PCBA发生的形变在允许的范围内，从而可以判断出PCBA上器件是合格。通过直接检测测试电阻的电压对PCBA上器件的质量进行判断，可提高检测效率，且检测准确率高。
实施例四
如图4所示，是本发明实施例提供的检测设备的结构示意图。所述检测设备400包括：处理器401、存储器402以及存储在上述存储器402中并可在上述处理器401上运行的计算机程序403。上述处理器401执行上述计算机程序403时实现上述PCBA的检测方法实施例中的步骤，例如实施例一中的方法步骤，和/或实施例二中的方法步骤。
示例性的，上述计算机程序403可以被分割成一个或多个单元/模块，上述一个或者多个单元/模块被存储在上述存储器402中，并由上述处理器401执行，以完成本发明。上述一个或多个单元/模块可以是能够完成特定功能的一系列计算机程序指令段，该指令段用于描述上述计算机程序403在上述检测设备400中的执行过程。例如，上述计算机程序403可以被分割成获取模块，接入模块，检测模块，第一判断模块，第二判断模块，第三判断模块，第一播放模块，第二播放模块等模块，各模块具体功能在上述实施例三中已有描述，此处不在赘述。
上述检测设备400可以是具有运算处理能力的智能设备。上述检测设备400可包括，但不仅限于，处理器401、存储器402。本领域技术人员可以理解，图4仅仅是检测设备400的示例，并不构成对检测设备400的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件，例如上述检测设备400还可以包括输入输出设备、网络接入设备、总线等。
所称处理器401可以是中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)，还可以是其它通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其它可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
上述存储器402可以是检测设备400的内部存储单元，例如检测设备400的硬盘或内存。上述存储器402也可以是上述检测设备400的外部存储设备，例如上述检测设备400上配备的插接式硬盘，智能存储卡(Smart Media Card,SMC)，安全数字(Secure Digital,SD)卡，闪存卡(Flash Card)等。进一步地，上述存储器402还可以既包括上述检测设备400的内部存储单元也包括外部存储设备。上述存储器402用于存储上述计算机程序以及上述检测设备400所需的其它程序和数据。上述存储器402还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，仅以上述各功能单元、模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元、模块完成，即将上述装置的内部结构划分成不同的功能单元或模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。实施例中的各功能单元、模块可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中，上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。另外，各功能单元、模块的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本发明的保护范围。上述检测设备中单元、模块的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述或记载的部分，可以参见其它实施例的相关描述。
本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
在本发明所提供的实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，上述模块或单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通讯连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通讯连接，可以是电性，机械或其它的形式。
上述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本发明实施例方案的目的。
另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。
上述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明实现上述实施例方法中的全部或部分流程，也可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，上述的计算机程序可存储于一计算机可读存储介质中，该计算机程序在被处理器执行时，可实现上述各个方法实施例的步骤。其中，上述计算机程序包括计算机程序代码，上述计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。上述计算机可读介质可以包括：能够携带上述计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、U盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，RandomAccess Memory)、电载波信号、电信信号以及软件分发介质等。需要说明的是，上述计算机可读介质包含的内容可以根据司法管辖区内立法和专利实践的要求进行适当的增减，例如在某些司法管辖区，根据立法和专利实践，计算机可读介质不包括是电载波信号和电信信号。
以上所述实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种已组装的印制电路板PCBA的检测方法，其特征在于，所述PCBA上设有测试电阻；其中，所述测试电阻的阻值与所述测试电阻的形变成比例关系；
所述检测方法包括：
当检测到所述PCBA处于预设的检测位置时，获取预存储的第一测试点在所述PCBA中的第一位置信息和第二测试点在所述PCBA中的第二位置信息；其中，所述第一测试点为所述测试电阻的恒流电源接入点，所述第二测试点为所述测试电阻的电压检测点；
根据所述第一位置信息在所述第一测试点接入恒流电源；
根据所述第二位置信息在所述第二测试点检测第一电压值；
若检测到所述第一电压值，则判断所述第一电压值是否在预设的电压阈值范围内；
若所述第一电压值在所述预设的电压阈值范围内，则判断所述PCBA上的器件合格。
2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在判断所述第一电压值是否在预设的电压阈值范围内之后，还包括：
若所述第一电压值不在所述预设的电压阈值范围内，则判断所述PCBA上存在不合格的器件。
3.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，当检测到所述PCBA处于预设的检测位置时，获取预存储的第一测试点在所述PCBA中的第一位置信息和第二测试点在所述PCBA中的第二位置信息，包括：
当检测到所述PCBA处于预设的检测位置时，获取预存储的所述测试电阻在所述PCBA中的第三位置信息；
根据所述第三位置信息判断所述测试电阻是否处于预设的有效检测范围内；
若所述测试电阻处于预设的有效检测范围内，则获取预存储的第一测试点在所述PCBA中的第一位置信息和第二测试点在所述PCBA中的第二位置信息。
4.根据权利要求3所述的检测方法，其特征在于，所述根据所述第三位置信息判断所述测试电阻是否处于预设的有效检测范围内，包括：
确定所述PCBA的尺寸大小信息，根据所述尺寸大小信息确定所述PCBA的中心点位置；
根据所述第三位置信息判断所述测试电阻与所述中心点位置之间的距离是否小于预设距离。
5.根据权利要求4所述的检测方法，其特征在于，所述测试电阻处于预设的有效检测范围内包括：
所述测试电阻与所述中心点位置之间的距离小于预设距离。
6.根据权利要求1至5任一项所述的检测方法，其特征在于，所述方法还包括：
当判断所述PCBA上的器件合格时，播放所述PCBA上器件合格的第一提示信息；
当判断所述PCBA上存在不合格的器件时，播放所述PCBA上存在不合格器件的第二提示信息。
7.一种已组装的印制电路板PCBA的检测装置，其特征在于，所述PCBA上设有测试电阻；其中，所述测试电阻的阻值与所述测试电阻的形变成比例关系；
所述检测装置包括：
获取模块，用于当检测到所述PCBA处于预设的检测位置时，获取预存储的第一测试点在所述PCBA中的第一位置信息和第二测试点在所述PCBA中的第二位置信息；其中，所述第一测试点为所述测试电阻的恒流电源接入点，所述第二测试点为所述测试电阻的电压检测点；
接入模块，用于根据所述第一位置信息在所述第一测试点接入恒流电源；
检测模块，用于根据所述第二位置信息在所述第二测试点检测第一电压值；
第一判断模块，用于若检测到所述第一电压值，则判断所述第一电压值是否在预设的电压阈值范围内；
第二判断模块，用于若所述第一电压值在所述预设的电压阈值范围内，则判断所述PCBA上的器件合格。
8.根据权利要求7所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括：
第三判断模块，用于若所述第一电压值不在所述预设的电压阈值范围内，则判断所述PCBA上存在不合格的器件。
9.一种检测设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至6任一项所述方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6任一项所述方法的步骤。
CN201811551999.3A 2018-12-19 2018-12-19 一种pcba的检测方法及装置 Expired - Fee Related CN109581195B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201811551999.3A CN109581195B (zh) 2018-12-19 2018-12-19 一种pcba的检测方法及装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201811551999.3A CN109581195B (zh) 2018-12-19 2018-12-19 一种pcba的检测方法及装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN109581195A true CN109581195A (zh) 2019-04-05
CN109581195B CN109581195B (zh) 2021-07-02

Family

ID=65929911

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201811551999.3A Expired - Fee Related CN109581195B (zh) 2018-12-19 2018-12-19 一种pcba的检测方法及装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN109581195B (zh)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110514949A (zh) * 2019-09-09 2019-11-29 珠海格力智能装备有限公司 印制电路板组件的检测方法、装置、存储介质和处理器
CN112946364A (zh) * 2021-02-03 2021-06-11 神威超算(北京)科技有限公司 一种电阻测试笔和电阻测试方法
CN114236345A (zh) * 2021-11-16 2022-03-25 深圳维普创新科技有限公司 一种基于可编程的pcba检测方法及装置
CN114295952A (zh) * 2021-12-30 2022-04-08 河北工业大学 一种用于功率器件动态电压测量的非接触式电压测量方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000162231A (ja) * 1998-11-25 2000-06-16 Nec Field Service Ltd 衝撃力検知装置
TW200724881A (en) * 2005-12-16 2007-07-01 Kuender & Co Ltd Circuit board monitoring system
CN102466645A (zh) * 2010-11-15 2012-05-23 株式会社高永科技 检查方法
CN103528493A (zh) * 2013-10-15 2014-01-22 顾捷 一种印制电路板应力应变测试系统
CN205539367U (zh) * 2016-04-05 2016-08-31 广州红象医疗科技有限公司 Pcba功能自动测试系统
CN207992280U (zh) * 2018-04-16 2018-10-19 张照亮 具有应力检测的微欧姆电流检测电阻

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000162231A (ja) * 1998-11-25 2000-06-16 Nec Field Service Ltd 衝撃力検知装置
TW200724881A (en) * 2005-12-16 2007-07-01 Kuender & Co Ltd Circuit board monitoring system
CN102466645A (zh) * 2010-11-15 2012-05-23 株式会社高永科技 检查方法
CN103528493A (zh) * 2013-10-15 2014-01-22 顾捷 一种印制电路板应力应变测试系统
CN205539367U (zh) * 2016-04-05 2016-08-31 广州红象医疗科技有限公司 Pcba功能自动测试系统
CN207992280U (zh) * 2018-04-16 2018-10-19 张照亮 具有应力检测的微欧姆电流检测电阻

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
史洪宾: "印制电路板应变测量用应变片选用方法研究", 《印制电路信息》 *

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110514949A (zh) * 2019-09-09 2019-11-29 珠海格力智能装备有限公司 印制电路板组件的检测方法、装置、存储介质和处理器
CN112946364A (zh) * 2021-02-03 2021-06-11 神威超算(北京)科技有限公司 一种电阻测试笔和电阻测试方法
CN114236345A (zh) * 2021-11-16 2022-03-25 深圳维普创新科技有限公司 一种基于可编程的pcba检测方法及装置
CN114295952A (zh) * 2021-12-30 2022-04-08 河北工业大学 一种用于功率器件动态电压测量的非接触式电压测量方法
CN114295952B (zh) * 2021-12-30 2023-08-11 河北工业大学 一种用于功率器件动态电压测量的非接触式电压测量方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN109581195B (zh) 2021-07-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN109581195A (zh) 一种pcba的检测方法及装置
CN106127872A (zh) 基于移动终端的考勤方法、客户端及设备
CN109582525A (zh) 测试代码验证方法、验证装置、设备和存储介质
CN105652183A (zh) 一种车载系统pcb主板自动化测试方法
CN110502442A (zh) 动态参数校验方法、装置、设备和存储介质
CN115184764A (zh) 一种芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质
CN107908553A (zh) 关联测试方法、应用服务器及计算机可读存储介质
CN112649717A (zh) 一种测试方法、装置、终端设备及存储介质
CN108271150A (zh) 支持同时对多台手机进行刷机或数据清除的方法及系统
CN106526397A (zh) 一种用于智能变电站的自动智能查线方法
CN108123935B (zh) 电路板测试方法、装置、存储介质及终端
CN110489259A (zh) 一种内存故障检测方法及设备
CN106598895A (zh) 一种功能小板识别系统和方法
CN107679423A (zh) 分区完整性检查方法及装置
CN105740118B (zh) 芯片异常检测方法和装置及电路面板异常检测方法和装置
CN105743879B (zh) 智能电视身份识别方法及系统
KR20140042326A (ko) Ｐｃｂ 전기검사 시스템 및 그 방법
CN106655401A (zh) 一种充电的方法和设备
CN112540589B (zh) 遥控器的检测方法、检测装置和计算机可读存储介质
US20130096859A1 (en) Resistance determining system
CN105740114A (zh) 移动终端的容错测试方法及装置
CN112036113A (zh) 一种esd保护方法及系统
CN101754238B (zh) 温度测试方法与应用其的温度测试系统
CN106992873B (zh) 保护组处理方法和装置
KR100549342B1 (ko) 이동통신 단말기의 전원부 불량 선별 장치 및 방법

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20210702