CN108198528A - 一种oled亮度的检测方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种OLED亮度的检测方法，包括：步骤1：提供大尺寸的OLED母板，OLED母板包括相互间隔开的多个OLED显示面板；步骤2：选取一个OLED显示面板，在该OLED显示面板的区域设置由几个到几十个像素紧密排列组成的检测块，检测块所在的OLED显示面板上设置有正负极输入线，调节电压使检测块内的像素亮度变动；采集大批量生产的检测块在某电压下的亮度数据，并根据检测块所在的OLED显示面板制备得到的OLED模组的亮度情况及OLED模组亮度标准，确定检测块在上述电压下的亮度检测标准；步骤4：确定待测的检测块在对应的电压下的亮度是否在上述亮度检测标准内。本发明无需将OLED母板切割成单个OLED显示面板就可以方便快捷地检测OLED母板的亮度是否达到要求。

Description

一种OLED亮度的检测方法
技术领域
本发明涉及显示技术领域，特别是涉及了一种OLED亮度的检测方法。
背景技术
有机电致发光器件(OLED)由于具有发光效率高、色彩丰富、机械可柔、超薄便携等优异性能在下一代高分辨率新型显示、传感器用特殊光源、固态照明 等领域中具有广阔的应用前景。
亮度是表征OLED性能的重要参数之一。对于OLED模组，产品达到规格书定义的亮度是一项基本要求。管控好OLED模组亮度的前提是保证切割前的大片面板亮度达标。常用的检测及控制大片面板亮度的方法是：通过小批量试产初步确定某电压下的亮度标准，再根据量产时模组的表现再对该标准进行微调。量产中，对于大片亮度略低（亮度大于最低亮度标准*75%）的情况，则需要采用试绑定或高电流密度输入检测。试绑定是一种最稳妥的办法，但工作效率极低。而一般电压检测（最大片常用的检测方法）或电流检测达到的亮度只有1万nits以下，对于模拟模组亮度（一般在几万nits到十万nits之间）的情况实用性不强，常常导致误判、导致模组大批量亮度不达标。
发明内容
为了弥补已有技术的缺陷，本发明提供一种OLED亮度的检测方法。
本发明所要解决的技术问题通过以下技术方案予以实现：
一种OLED亮度的检测方法，包括如下步骤：
步骤1：提供大尺寸的OLED 母板，所述OLED母板包括相互间隔开的多个OLED显示面板；
步骤2：从上述OLED 母板中选取一个OLED显示面板，在该OLED显示面板的区域设置由几个到几十个像素紧密排列组成的检测块，所述检测块所在的OLED显示面板上设置有正负极输入线以输入电压，使得所述检测块采用电压驱动点亮所述检测块内的像素，调节电压使检测块内的像素亮度在1万nits至20万nits范围内变动；
步骤3：采集大批量生产的检测块在某电压下的亮度数据，并根据检测块所在的OLED显示面板制备得到的OLED模组的亮度情况及OLED模组亮度标准，确定检测块在上述电压下的亮度检测标准；
步骤4：确定待测的检测块在对应的电压下的亮度是否在上述亮度检测标准内。
进一步地，OLED模组的制备方法是：将上述OLED 母板切割成单个OLED显示面板后，绑定驱动IC及FPC成为OLED模组。
进一步地，步骤2中从上述OLED 母板中选取一个位于所述OLED 母板边缘的OLED显示面板。
进一步地，步骤3中所述的亮度范围的下限为1万nits。
进一步地，所述检测块的形状为正方形或圆形。
进一步地，所述检测块内像素的个数为N2个，其中N为大于1的正整数。
进一步地，同一OLED显示面板中检测块的数量为一个。
进一步地，同一OLED显示面板中检测块的数量为两个，两个检测块由同一电路输入电压，且两个检测块之间采用并联设计，两个检测块分别由不同的SEG及COM控制。
本发明具有如下有益效果：
本发明中，从OLED 母板中选取一个OLED显示面板，设计一几个到几十个像素点亮的检测块，检测块内的像素亮度可以达到或接近OLED模组的像素亮度，同时采集大批量生产的检测块在某电压下的亮度数据，并根据检测块所在的OLED显示面板制备得到的OLED模组的亮度情况及OLED模组亮度标准，确定检测块在上述电压下的亮度检测标准。本发明无需将OLED 母板切割成单个OLED显示面板就可以方便快捷地检测OLED 母板的亮度是否达到要求。
具体实施方式
一种OLED亮度的检测方法，包括如下步骤：
步骤1：提供大尺寸的OLED 母板，所述OLED母板包括相互间隔开的多个OLED显示面板。
其中，所述OLED显示面板包括基板和盖板，所述基板上设置有OLED器件，所述盖板盖合在所述基板上的所述OLED器件上，所述基板与所述盖板之间还设置有封装结构。
步骤2：从上述OLED 母板中选取一个OLED显示面板，在该OLED显示面板的区域设置由几个到几十个像素紧密排列组成的检测块，所述检测块所在的OLED显示面板上设置有正负极输入线以输入电压，使得所述检测块采用电压驱动点亮所述检测块内的像素，调节电压使检测块内的像素亮度在1万nits至20万nits范围内变动。
本发明中，检测块由于发光面积小，输入电压时，检测块内的像素亮度在1万nits至20万nits范围内变动，可以达到OLED模组的像素亮度。
本发明中，检测块采用电压驱动，相较于电流驱动，使得检测更加方便快捷。
本发明中，优选从上述OLED 母板中选取一个位于所述OLED 母板边缘的OLED显示面板。通过这种设置，避免了走线缺陷或其他OLED显示面板缺陷带来的输入电压的下降。
所述检测块的形状根据检测设备光斑的形状确定，作为举例，可以是正方形或圆形。
所述检测块内像素的个数优选为N2个，其中N为大于1的正整数，作为举例，所述检测块内像素的个数可以为4（即22）个，也可以为9（即32）个，也可以为16（即42）个，也可以为25（即52）个。
同一OLED显示面板中检测块的数量可以为1个或2个，更优选为2个，对于点阵型产品，该2个检测块不重合，以防止出现因某个检测块内像素有缺陷的情况。2个检测块可以由同一电路输入电压，但须并联设计。这2个检测块分别由不同的SEG及COM控制，以防止电流过大烧坏像素。
需要说明的是，本发明中检测块内的像素与常见的OLED显示面板中的像素结构相同，都是一般OLED显示面板的像素结构。
步骤3：采集大批量生产的检测块在某电压下的亮度数据，并根据检测块所在的OLED显示面板制备得到的OLED模组的亮度情况及OLED模组亮度标准，确定检测块在上述电压下的亮度检测标准。
其中，所述OLED模组的制备方法是：将OLED 母板切割成单个OLED显示面板后，绑定驱动IC及FPC成为OLED模组。
步骤4：确定待测的检测块在对应的电压下的亮度是否在上述亮度检测标准内。
其中，亮度范围的下限为1万nits。
下面结合实施例对本发明进行详细的说明，实施例仅是本发明的优选实施方式，不是对本发明的限定。
实施例1
一种OLED亮度的检测方法，包括如下步骤：
步骤1：提供大尺寸的OLED 母板，所述OLED母板包括相互间隔开的多个OLED显示面板；
步骤2：从上述OLED 母板中选取一个位于所述OLED 母板边缘的OLED显示面板，在该OLED显示面板的区域设置由9个像素紧密排列组成的检测块，所述检测块所在的OLED显示面板上设置有正负极输入线以输入电压，使得所述检测块采用电压驱动点亮所述检测块内的像素，调节电压使检测块内的像素亮度在1万nits至20万nits范围内变动；
所述检测块的形状是正方形或圆形；同一OLED显示面板中检测块的数量为两个，分别为检测块1和检测块2，两个检测块由同一电路输入电压，且两个检测块之间采用并联设计，两个检测块分别由不同的SEG及COM控制；
步骤3：采集大批量生产的检测块1在8V电压下的亮度数据为35000nits，检测块所在的OLED显示面板制备得到的OLED模组的像素亮度是60000 nits，此OLED模组的亮度标准是大于等于50000 nits；采集大批量生产的检测块2在8V电压下的亮度数据为30000nits，检测块所在的OLED显示面板制备得到的OLED模组的像素亮度是50000 nits，此OLED模组的亮度标准是大于等于50000 nits；据此，确定亮度检测标准是：检测块的输入电压为8V时，检测块的亮度大于等于30000 nits；
其中，所述OLED模组的制备方法是：将OLED 母板切割成单个OLED显示面板后，绑定驱动IC及FPC成为OLED模组；
步骤4：确定待测的检测块在8V电压下的亮度是否在上述亮度检测标准内。
实施例2
一种OLED亮度的检测方法，包括如下步骤：
步骤1：提供大尺寸的OLED 母板，所述OLED母板包括相互间隔开的多个OLED显示面板；
步骤2：从上述OLED 母板中选取一个位于所述OLED 母板边缘的OLED显示面板，在该OLED显示面板的区域设置由16个像素紧密排列组成的检测块，所述检测块所在的OLED显示面板上设置有正负极输入线以输入电压，使得所述检测块采用电压驱动点亮所述检测块内的像素，调节电压使检测块内的像素亮度在1万nits至20万nits范围内变动；
所述检测块的形状是正方形或圆形；同一OLED显示面板中检测块的数量为两个，分别为检测块1和检测块2，两个检测块由同一电路输入电压，且两个检测块之间采用并联设计，两个检测块分别由不同的SEG及COM控制；
步骤3：采集大批量生产的检测块1在9V电压下的亮度数据为60000nits，检测块所在的OLED显示面板制备得到的OLED模组的像素亮度是60000 nits，此OLED模组的亮度标准是大于等于50000 nits；采集大批量生产的检测块2在9V电压下的亮度数据为50000nits，检测块所在的OLED显示面板制备得到的OLED模组的像素亮度是50000 nits，此OLED模组的亮度标准是大于等于50000 nits；据此，确定亮度检测标准是：检测块的输入电压为9V时，检测块的亮度大于等于50000 nits；
其中，所述OLED模组的制备方法是：将OLED 母板切割成单个OLED显示面板后，绑定驱动IC及FPC成为OLED模组；
步骤4：确定待测的检测块在9V电压下的亮度是否在上述亮度检测标准内。
以上所述实施例仅表达了本发明的实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制，但凡采用等同替换或等效变换的形式所获得的技术方案，均应落在本发明的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种OLED亮度的检测方法，包括如下步骤：
步骤1：提供大尺寸的OLED 母板，所述OLED母板包括相互间隔开的多个OLED显示面板；
步骤2：从上述OLED 母板中选取一个OLED显示面板，在该OLED显示面板的区域设置由几个到几十个像素紧密排列组成的检测块，所述检测块所在的OLED显示面板上设置有正负极输入线以输入电压，使得所述检测块采用电压驱动点亮所述检测块内的像素，调节电压使检测块内的像素亮度在1万nits至20万nits范围内变动；
步骤3：采集大批量生产的检测块在某电压下的亮度数据，并根据检测块所在的OLED显示面板制备得到的OLED模组的亮度情况及OLED模组亮度标准，确定检测块在上述电压下的亮度检测标准；
步骤4：确定待测的检测块在对应的电压下的亮度是否在上述亮度检测标准内。
2.如权利要求1所述的OLED亮度的检测方法，其特征在于，OLED模组的制备方法是：将OLED 母板切割成单个OLED显示面板后，绑定驱动IC及FPC成为OLED模组。
3.如权利要求1所述的OLED亮度的检测方法，其特征在于，步骤2中从上述OLED 母板中选取一个位于所述OLED 母板边缘的OLED显示面板。
4.如权利要求1所述的OLED亮度的检测方法，其特征在于，步骤3中所述的亮度范围的下限为1万nits。
5.如权利要求1所述的OLED亮度的检测方法，其特征在于，所述检测块的形状为正方形或圆形。
6.如权利要求1所述的OLED亮度的检测方法，其特征在于，所述检测块内像素的个数为N2个，其中N为大于1的正整数。
7.如权利要求1所述的OLED亮度的检测方法，其特征在于，同一OLED显示面板中检测块的数量为一个。
8.如权利要求1所述的OLED亮度的检测方法，其特征在于，同一OLED显示面板中检测块的数量为两个，两个检测块由同一电路输入电压，且两个检测块之间采用并联设计，两个检测块分别由不同的SEG及COM控制。
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