CN107981877B - 扫描设备的采样方法和采样装置 - Google Patents

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Abstract

本申请提供一种扫描设备的采样方法和采样装置，所述采样方法包括：根据扫描设备预设的多个扫描角度，获取扫描设备的扫描射线在多个扫描角度下的衰减变化量；根据扫描设备的扫描射线在多个扫描角度下的衰减变化量，调整扫描设备在每个扫描角度下对应的初始采样间隔，确定扫描设备在每个扫描角度下对应的校正采样间隔；根据扫描设备在每个扫描角度下对应的校正采样间隔进行实际采样。本申请的扫描设备的采样方法，根据扫描设备的扫描射线在不同扫描角度下的衰减变化量，调整初始采样间隔，再根据校正采样间隔进行实际采样，可以兼顾各个扫描角度采样的具体要求，使得空间分辨率、扫描剂量等指标的综合性能达到最佳。

Description

扫描设备的采样方法和采样装置
技术领域
本申请涉及医疗设备技术领域，尤其涉及扫描设备的采样方法和采样装置。
背景技术
在通常的医疗设备的扫描作业中，由球管和检测器等部件组成的扫描系统，围绕旋转中心进行旋转，球管发射的射线穿过待扫描物，由检测器接收球管发射的穿过待扫描物的射线，并对接收信号进行采样。整个过程中该系统会旋转一圈或多圈，之后会根据采集的信号重建图像。
通常，检测器在旋转过程中进行等时等间隔的采样，即每两个相邻采样点之间的扫描时间和采样角度间隔相同。这样当采样间隔较大时，扫描时间也较长，继而检测器接收到的射线光子数更多，接收值的噪声更小，但空间分辨率会降低；相反，当采样间隔较小时，扫描时间也较短，继而检测器接收到的射线光子数更少，接收值的噪声更大，但空间分辨率会提高。
参见图1所示，为现有技术的扫描系统对待扫描物体进行扫描的某种应用场景示意图。在该场景下，扫描系统在圆周内进行采样的时候，可能出现在某些投影角度附近，待扫描物的衰减变化较大，例如：扫描系统的球管91和检测器90围绕旋转中心旋转(旋转方向如图1中箭头反向所示)时，同一角度的射线i1经过旋转后变为射线i1'，这样射线的衰减值变化较大，因为射线i1并未穿过待扫描物92的骨骼93而射线i1'却需要在待扫描物92的骨骼93中穿过很大的距离，而骨骼93对射线的衰减能力与附近其他部位(软组织)有明显差异，在这些角度下需要较高的空间分辨率。
参见图2所示，为现有技术的扫描系统对待扫描物体进行扫描的另一应用场景示意图。在该场景下，在另一些投影角度附近，待扫描物的衰减变化较小，扫描系统的球管91和检测器90围绕旋转中心旋转时，同一角度的射线i2经过旋转后变为射线i2'，衰减值的变化很小，因为射线i2、i2’在待扫描物92的骨骼93及软组织中穿过的距离变化很小，在这些角度下不需要较高的空间分辨率。
因此，采用上述现有技术的缺陷是：若某些投影角度的采样点需要更高的空间分辨率，而某些投影角度的采样点不需要很高的空间分辨率时，等时等间隔的采样方法便不能兼顾各个采样的具体要求，而只能得到统一的空间分辨率，不能使空间分辨率、扫描剂量综合性能达到最佳。
发明内容
本申请提供一种扫描设备的采样方法，包括：
根据扫描设备预设的多个扫描角度，获取扫描设备的扫描射线在所述多个扫描角度下的衰减变化量；
根据扫描设备的扫描射线在所述多个扫描角度下的衰减变化量，调整扫描设备在每个扫描角度下对应的初始采样间隔，确定扫描设备在每个扫描角度下对应的校正采样间隔；
根据扫描设备在每个扫描角度下对应的校正采样间隔进行实际采样。
本申请的扫描设备的采样方法，根据扫描设备的扫描射线在不同扫描角度下的衰减变化量，调整扫描设备在每个扫描角度下对应的初始采样间隔，再根据扫描设备在每个扫描角度下对应的校正采样间隔进行实际采样，可以兼顾各个扫描角度采样的具体要求，使得空间分辨率、扫描剂量等指标的综合性能达到最佳。
本申请扫描设备的采样方法的进一步改进在于，获取扫描设备的扫描射线在所述多个扫描角度下的衰减变化量，包括：
确定扫描设备的扫描射线在每个扫描角度下对应的衰减值；
根据扫描设备的扫描射线在每个扫描角度下对应的衰减值，统计扫描设备的扫描射线在每个扫描角度下对应的衰减值变化量。
本申请扫描设备的采样方法的进一步改进在于，根据扫描设备的扫描射线在每个扫描角度下对应的衰减值，统计扫描设备的扫描射线在每个扫描角度下对应的衰减值变化量，包括：
根据扫描设备的扫描射线在每个扫描角度下对应的衰减值，确定扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值以及扫描设备的扫描射线在与当前扫描角度相邻的前、后两个扫描角度下对应的衰减值；
根据扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值以及扫描设备的扫描射线在与当前扫描角度相邻的前、后两个扫描角度下对应的衰减值，确定扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值相对于扫描设备的扫描射线在与当前扫描角度相邻的前、后两个扫描角度下对应的衰减值的衰减值变化量。
本申请扫描设备的采样方法的进一步改进在于，根据扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值变化量，调整扫描设备在当前扫描角度下对应的初始采样间隔，包括：
设定扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值变化量的阈值范围，所述阈值范围包括阈值下限和阈值上限；
当扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值变化量小于所述阈值下限时，增大扫描设备在当前扫描角度下对应的初始采样间隔；
当扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值变化量大于所述阈值上限时，减小扫描设备在当前扫描角度下对应的初始采样间隔；
当扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值变化量位于所述阈值下限与所述阈值上限之间时，保持扫描设备在当前扫描角度下对应的初始采样间隔不变。
本申请扫描设备的采样方法的进一步改进在于，扫描设备在每一圈扫描过程中的扫描角度均相同，所述采样方法还包括：
对待扫描物体进行预扫描，确定扫描设备在第一圈扫描过程中的各个扫描角度；
根据扫描设备在第一圈扫描过程中的各个扫描角度，确定扫描设备的扫描射线在第一圈扫描过程中的每个扫描角度下的衰减值变化量；
根据扫描设备的扫描射线在第一圈扫描过程中的每个扫描角度下的衰减值变化量，调整扫描设备在第一圈扫描过程中的每个扫描角度下对应的初始采样间隔，确定扫描设备在第一圈扫描过程中的每个扫描角度下对应的校正采样间隔；
将扫描设备在第一圈扫描过程中的每个扫描角度下对应的校正采样间隔组成为扫描设备的固定采样方案；
根据所述固定采样方案对扫描设备的每一圈扫描过程进行实际采样。
本申请扫描设备的采样方法的进一步改进在于，扫描设备包括多个扫描通道，确定扫描设备的扫描射线在每个扫描角度下对应的衰减值，包括：确定扫描设备的所述多个扫描通道各自的扫描射线在每个扫描角度下对应的衰减值。
本申请扫描设备的采样方法的进一步改进在于，确定扫描设备的所述多个扫描通道各自的扫描射线在每个扫描角度下对应的衰减值，包括：根据已扫描角度下扫描设备的扫描通道的扫描射线对应的衰减值，确定后续待扫描角度下扫描设备的扫描通道的扫描射线对应的衰减值。
本申请还提供一种扫描设备的采样装置，包括：
衰减变化量确定模块，其构造为用于根据扫描设备预设的多个扫描角度，获取扫描设备的扫描射线在所述多个扫描角度下的衰减变化量；
第一校正采样间隔确定模块，其构造为用于根据扫描设备的扫描射线在所述多个扫描角度下的衰减变化量，调整扫描设备在每个扫描角度下对应的初始采样间隔，确定扫描设备在每个扫描角度下对应的校正采样间隔；
第一采样模块，其构造为用于根据扫描设备在每个扫描角度下对应的校正采样间隔进行实际采样。
本申请的扫描设备的采样装置，先通过衰减变化量确定模块确定的扫描设备的扫描射线在不同扫描角度下的衰减变化量，再通过第一校正采样间隔确定模块调整扫描设备在每个扫描角度下对应的初始采样间隔并确定校正采用间隔，最后通过第一采样模块根据该校正采样间隔进行实际采样，可以兼顾各个扫描角度采样的具体要求，使得空间分辨率、扫描剂量等指标的综合性能达到最佳。
本申请扫描设备的采样装置的进一步改进在于，所述衰减变化量确定模块，包括：
第一衰减值确定模块，其构造为用于确定扫描设备的扫描射线在每个扫描角度下对应的衰减值；
衰减值变化量统计模块，其构造为用于根据扫描设备的扫描射线在每个扫描角度下对应的衰减值，统计扫描设备的扫描射线在每个扫描角度下对应的衰减值变化量。
本申请扫描设备的采样装置的进一步改进在于，所述衰减值变化量统计模块，包括：
第二衰减值确定模块，其构造为用于根据扫描设备的扫描射线在每个扫描角度下对应的衰减值，确定扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值以及扫描设备的扫描射线在与当前扫描角度相邻的前、后两个扫描角度下对应的衰减值；
第一衰减值变化量确定模块，其构造为用于根据扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值以及扫描设备的扫描射线在与当前扫描角度相邻的前、后两个扫描角度下对应的衰减值，确定扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值相对于扫描设备的扫描射线在与当前扫描角度相邻的前、后两个扫描角度下对应的衰减值的衰减值变化量。
本申请扫描设备的采样装置的进一步改进在于，所述第一校正采样间隔确定模块，包括：
阈值范围设定模块，其构造为用于设定扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值变化量的阈值范围，所述阈值范围包括阈值下限和阈值上限；
初始采样间隔调整模块，其构造为用于执行以下操作：
当扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值变化量小于所述阈值下限时，增大扫描设备在当前扫描角度下对应的初始采样间隔；
当扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值变化量大于所述阈值上限时，减小扫描设备在当前扫描角度下对应的初始采样间隔；
当扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值变化量位于所述阈值下限与所述阈值上限之间时，保持扫描设备在当前扫描角度下对应的初始采样间隔不变。
本申请扫描设备的采样装置的进一步改进在于，扫描设备在每一圈扫描过程中的扫描角度均相同，所述采样装置还包括：
预扫描模块，其构造为用于对待扫描物体进行预扫描，确定扫描设备在第一圈扫描过程中的各个扫描角度；
第二衰减值变化量确定模块，其构造为用于根据扫描设备在第一圈扫描过程中的各个扫描角度，确定扫描设备的扫描射线在第一圈扫描过程中的每个扫描角度下的衰减值变化量；
第二校正采样间隔确定模块，其构造为用于根据扫描设备的扫描射线在第一圈扫描过程中的每个扫描角度下的衰减值变化量，调整扫描设备在第一圈扫描过程中的每个扫描角度下对应的初始采样间隔，确定扫描设备在第一圈扫描过程中的每个扫描角度下对应的校正采样间隔；
第二采样模块，其构造为用于将扫描设备在第一圈扫描过程中的每个扫描角度下对应的校正采样间隔组成为扫描设备的固定采样方案；
根据所述固定采样方案对扫描设备的每一圈扫描过程进行实际采样。
本申请扫描设备的采样装置的进一步改进在于，扫描设备包括多个扫描通道，所述第一衰减值确定模块进一步构造为用于确定扫描设备的所述多个扫描通道各自的扫描射线在每个扫描角度下对应的衰减值。
本申请扫描设备的采样装置的进一步改进在于，所述第一衰减值确定模块进一步构造为用于根据已扫描角度下扫描设备的扫描通道的扫描射线对应的衰减值，确定后续待扫描角度下扫描设备的扫描通道的扫描射线对应的衰减值。
附图说明
图1是现有技术的扫描系统对待扫描物进行扫描的某种应用场景示意图。
图2是现有技术的扫描系统对待扫描物进行扫描的另一应用场景示意图。
图3是本申请示出的一种扫描设备的采样方法的流程示意图。
图4是图3中步骤S101的详细流程图。
图5是图4中步骤S1012的详细流程图。
图6是本申请示出的一种扫描设备的采样方法的较佳实施例示意图。
图7是本申请示出的一种扫描设备的采样装置的结构框图。
图8是本申请示出的一种扫描设备的采样装置的衰减变化量确定模块的结构框图。
图9是本申请示出的一种扫描设备的采样装置的衰减值变化量统计模块的结构框图。
图10是本申请示出的一种扫描设备的采样装置的第一校正采样间隔确定模块的结构框图。
具体实施方式
这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本申请相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本申请的一些方面相一致的装置和方法的例子。
在本申请使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本申请。在本申请和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解，本文中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。
应当理解，尽管在本申请可能采用术语第一、第二、第三等来描述各种信息，但这些信息不应限于这些术语。这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区分开。例如，在不脱离本申请范围的情况下，第一信息也可以被称为第二信息，类似地，第二信息也可以被称为第一信息。取决于语境，如在此所使用的词语“如果”可以被解释成为“在……时”或“当……时”或“响应于确定”。
下面结合附图，对本申请扫描设备的采样方法和采样装置进行详细介绍。在不冲突的情况下，下述的实施例及实施方式中的特征可以相互组合。
参见图3所示，为本申请示出的一种扫描设备的采样方法的流程示意图。该方法包括：
步骤S101：根据扫描设备预设的多个扫描角度，获取扫描设备的扫描射线在所述多个扫描角度下的衰减变化量；
步骤S102：根据扫描设备的扫描射线在所述多个扫描角度下的衰减变化量，调整扫描设备在每个扫描角度下对应的初始采样间隔，确定扫描设备在每个扫描角度下对应的校正采样间隔；
步骤S103：根据扫描设备在每个扫描角度下对应的校正采样间隔进行实际采样。
参见图4所示，步骤S101进一步包括：
步骤S1011：确定扫描设备的扫描射线在每个扫描角度下对应的衰减值；
步骤S1012：根据扫描设备的扫描射线在每个扫描角度下对应的衰减值，统计扫描设备的扫描射线在每个扫描角度下对应的衰减值变化量。
进一步参见图5所示，步骤S1012包括：
步骤S10121：根据扫描设备的扫描射线在每个扫描角度下对应的衰减值，确定扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值以及扫描设备的扫描射线在与当前扫描角度相邻的前、后两个扫描角度下对应的衰减值；
步骤S10122：根据扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值以及扫描设备的扫描射线在与当前扫描角度相邻的前、后两个扫描角度下对应的衰减值，确定扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值相对于扫描设备的扫描射线在与当前扫描角度相邻的前、后两个扫描角度下对应的衰减值的衰减值变化量。
进一步地，根据上述步骤S1012，上述步骤S102根据扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值变化量，调整扫描设备在当前扫描角度下对应的初始采样间隔，确定扫描设备在当前扫描角度下对应的校正采样间隔，又进一步包括：
1)设定扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值变化量的阈值范围t1-t2，其中，t1是所述阈值范围的阈值下限，t2是所述阈值范围的阈值上限，t1<t2。
2)当扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值变化量小于阈值下限t1时，增大扫描设备在当前扫描角度下对应的初始采样间隔。另外，也可以选择为了保持扫描设备的检测器接收值噪声水平不变，而相应的降低剂量。
3)当扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值变化量大于阈值上限t2时，减小扫描设备在当前扫描角度下对应的初始采样间隔。另外，也可以选择为了保持扫描设备的检测器接收值噪声水平不变，而相应的提高剂量。
4)当扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值变化量位于阈值下限t1-阈值上限t2之间时，保持扫描设备在当前扫描角度下对应的初始采样间隔不变。另外，也可以选择为了保持扫描设备的检测器接收值噪声水平不变，而相应的维持剂量。
本申请的扫描设备的采样方法，在一个应用场景中，扫描设备在每一圈扫描过程中的扫描角度不同，采用上述的实施方式，根据扫描设备的扫描射线在不同扫描角度下的衰减变化量，调整扫描设备在每个扫描角度下对应的初始采样间隔，再根据扫描设备在每个扫描角度下对应的校正采样间隔进行实际采样，可以在每一圈扫描过程中对采样间隔进行实时计算和调整，使整个采样过程始终采取最合理的采样间隔进行采样，可以兼顾各个扫描角度采样的具体要求，使得空间分辨率、扫描剂量等指标的综合性能达到最佳。另外，也可以选择为了保持扫描设备的检测器接收值噪声水平不变，而相应的降低剂量、提高剂量或者维持剂量。
本申请的扫描设备的采样方法，在另一个应用场景中，扫描设备在每一圈扫描过程中的扫描角度均相同，那么，本申请公开的扫描设备的采样方法，在确定第一圈扫描过程中每个扫描角度下对应的校正采样间隔，再将第一圈扫描过程中每个扫描角度下对应的校正采样间隔组成为扫描设备的固定采样方案，然后，扫描设备的每一圈扫描过程均根据所述固定采样方案进行实际采样。在该应用场景下，本申请的扫描设备的采样方法具体包括：
通过一个低剂量的扫描剂量对待扫描物体进行预扫描，确定扫描设备在第一圈扫描过程中的各个扫描角度；
根据扫描设备在第一圈扫描过程中的各个扫描角度，确定扫描设备的扫描射线在第一圈扫描过程中的每个扫描角度下的衰减值变化量；
根据扫描设备的扫描射线在第一圈扫描过程中的每个扫描角度下的衰减值变化量，调整扫描设备在第一圈扫描过程中的每个扫描角度下对应的初始采样间隔，确定扫描设备在第一圈扫描过程中的每个扫描角度下对应的校正采样间隔；
将扫描设备在第一圈扫描过程中的每个扫描角度下对应的校正采样间隔组成为扫描设备的固定采样方案；
根据所述固定采样方案对扫描设备的每一圈扫描过程进行实际采样。
本申请的扫描设备的采样方法在该应用场景中，确定第一圈扫描过程中每个扫描角度下对应的校正采样间隔，再将第一圈扫描过程中每个扫描角度下对应的校正采样间隔组成为扫描设备的固定采样方案，然后扫描设备的每一圈扫描过程均根据所述固定采样方案对进行实际采样，整个扫描过程不需要再实时计算和调整采样间隔，同样可以使整个采样过程始终采取最合理的采样间隔进行采样，可以兼顾各个扫描角度采样的具体要求，使得空间分辨率、扫描剂量等指标的综合性能达到最佳。另外，也可以选择为了保持扫描设备的检测器接收值噪声水平不变，而相应的降低剂量、提高剂量或者维持剂量。
可选地，在本申请的一个实施方式中，扫描设备可能包括多个扫描通道，在此应用场景下，上述步骤S1011进一步包括：根据已扫描角度下扫描设备的扫描通道的扫描射线对应的衰减值，确定后续待扫描角度下扫描设备的扫描通道的扫描射线对应的衰减值。
也就是说，可以根据扫描设备的扫描通道在已扫描角度下扫描射线对应的衰减值来预测扫描设备的扫描通道在当前扫描角度下扫描射线对应的衰减值，然后再确定扫描设备的扫描通道在当前扫描角度下扫描射线对应的衰减值与扫描设备的扫描通道在与该当前扫描角度相邻的扫描角度下扫描射线对应的衰减值的变化大小，再据此调整扫描设备在该当前扫描角度下的初始采样间隔，最后确定扫描设备在该当前扫描角度下的校正采样间隔，实际扫描时扫描设备在该当前扫描角度下就根据确定的校正采用间隔进行采样。
以下通过一较佳实施例对本申请扫描设备的采样方法进行详细说明。
参见图6所示，是本申请示出的一种扫描设备的采样方法的较佳实施例示意图。在该实施例中，扫描设备的扫描通道的数量以5个为例，即扫描设备包括c1～c5共5个扫描通道，扫描设备的扫描旋转方向如图中箭头方向所示。假设图6中View r、View s、View t、View u、View v位置所对应的扫描角度是已扫描角度，View x位置所对应的扫描角度是待扫描角度。
1)根据已扫描角度(即View r、View s、View t、View u、View v位置所对应的扫描角度)下扫描设备的扫描通道的扫描射线对应的衰减值，确定后续待扫描角度(即View x位置所对应的扫描角度)下扫描设备的扫描通道的扫描射线对应的衰减值。
根据穿过待扫描物体的射线径向为同一直线的两个扫描射线所对应的衰减值相等原则，可以将View v扫描角度下扫描设备的c5扫描通道的扫描射线对应的衰减值作为在View x扫描角度下扫描设备的c1扫描通道的扫描射线的衰减值；将View u扫描角度下扫描设备的c4扫描通道的扫描射线对应的衰减值作为View x扫描角度下扫描设备的c2扫描通道的扫描射线的衰减值；将View t扫描角度下扫描设备的c3扫描通道的扫描射线对应的衰减值作为View x扫描角度下扫描设备的c3扫描通道的扫描射线的衰减值；将View s扫描角度下扫描设备的c2扫描通道的扫描射线对应的衰减值作为View x扫描角度下扫描设备的c4扫描通道的扫描射线的衰减值；将View r扫描角度下扫描设备的c1扫描通道的扫描射线对应的衰减值作为View x扫描角度下扫描设备的c5扫描通道的扫描射线的衰减值。其中，View x位置下各扫描通道c1～c5对应的具有相同扫描射线的衰减值的各已扫描角度(即View r、View s、View t、View u、View v位置)很容易获取。例如：对应View x位置下的扫描通道c2、c5的已扫描角度View u或View r的位置很好求，分别是180°－A和180°+B，其中角度A、B分别是2×α和2×β，α和β分别是c2与c5通道与中心通道的夹角。这样，就确定了Viewx扫描角度下扫描设备的5个扫描通道各自的扫描射线对应的衰减值。
进一步地，从图6中可以看出，View x扫描角度下扫描设备的5个扫描通道的扫描射线各自对应的衰减值被确定的顺序假设为，c5→c4→c3→c2→c1，当View x扫描角度下扫描设备的c1扫描通道的扫描射线对应的衰减值确定完成后，可以认为View x扫描角度下扫描设备的5个通道的扫描射线各自对应的衰减值被全部确定完毕。这样，就可以根据已扫描角度下扫描设备的扫描通道的扫描射线对应的衰减值，确定后续待扫描角度下扫描设备的扫描通道的扫描射线对应的衰减值，从而可以知道何时可以完成对View x扫描角度下扫描设备的5个扫描通道的扫描射线各自对应的衰减值的确定，同时也就知道了当前扫描角度完成后，可以完整确定的下一个扫描角度在哪里。
2)确定扫描设备的扫描射线在当View x扫描角度下对应的衰减值变化量，具体包括：
2.1将扫描设备的每个扫描通道的扫描射线在View x扫描角度下对应的衰减值与对应的扫描设备的每个扫描通道的扫描射线在View x扫描角度的前一个扫描角度(以下以View x-1表示)下对应的衰减值的衰减值差量组成第一差量集合。
扫描设备的每个扫描通道的扫描射线在View x扫描角度下对应的衰减值与对应的扫描设备的每个扫描通道的扫描射线在View x扫描角度的前一个扫描角度(以下以Viewx-1表示)下对应的衰减值的衰减值差量的计算公式为：
Δdiff＝∣diffView(x)-diffView(x-1)∣；其中，Δdiff表示衰减值差量。diffView(x)表示扫描设备的扫描通道的扫描射线在View x扫描角度下对应的衰减值，对应5个扫描通道可以得到5个衰减值。diffView(x-1)表示扫描设备的扫描通道的扫描射线在View x-1扫描角度下对应的衰减值，对应5个扫描通道同样可以得到5个衰减值。那么，就可以得到5个衰减值差量，将这5个衰减值差量组成所述第一差量集合。
2.2将扫描设备的每个扫描通道的扫描射线在View x扫描角度下对应的衰减值与对应的扫描设备的每个扫描通道的扫描射线在View x扫描角度的后一个扫描角度(以下以View x+1表示)下对应的衰减值的衰减值差量组成第二差量集合。
扫描设备的每个扫描通道的扫描射线在View x扫描角度下对应的衰减值与对应的扫描设备的每个扫描通道的扫描射线在View x扫描角度的后一个扫描角度(以下以Viewx+1表示)下对应的衰减值的衰减值差量的计算公式为：
Δdiff＝∣diffView(x+1)-diffView(x)∣；其中，Δdiff表示衰减值差量。diffView(x)表示扫描设备的扫描通道的扫描射线在View x扫描角度下对应的衰减值，对应5个扫描通道可以得到5个衰减值。diffView(x+1)表示扫描设备的扫描通道的扫描射线在View x+1扫描角度下对应的衰减值，对应5个扫描通道同样可以得到5个衰减值。那么，就可以得到5个衰减值差量，将这5个衰减值差量组成所述第二差量集合。
2.3将所述第一差量集合和所述第二差量集合中对应同一扫描通道的衰减值差量求和，对应5个扫描通道可以得到5个衰减值差量的相加值。
2.4在得到的5个衰减值差量的相加值中选取最大值作为扫描设备的扫描射线在View x扫描角度下对应的衰减值变化量。假设将该衰减值变化量以Diff表示，则扫描设备的扫描射线在View x扫描角度下对应的衰减值变化量的表达式为：Diff＝Max(∣diffView(x)-diffView(x-1)∣+∣diffView(x+1)-diffView(x)∣)。
3)设定扫描设备的扫描射线在当View x扫描角度下对应的衰减值变化量的阈值范围，具体包括：
3.1将所述第一差量集合中的5个衰减值差量和所述第二差量集合中的5个衰减值差量共同组成衰减值差量组；
3.2将所述衰减值差量组中的最小值t1和最大值t2的范围作为所述阈值范围，即t1就是所述阈值范围的阈值下限，t2就是所述阈值范围的阈值上限。
当扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值变化量Diff≤t1时，增大扫描设备在当前扫描角度下对应的初始采样间隔。
当扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值变化量Diff≥t2时，减小扫描设备在当前扫描角度下对应的初始采样间隔。
当扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值变化量Diff符合t1≤Diff≤t2时，保持扫描设备在当前扫描角度下对应的初始采样间隔不变。
与前述本申请的扫描设备的采样方法的实施例及实施方式相对应，本申请还提供了一种扫描设备的采样装置。
参见图7所示，是本申请示出的一种扫描设备的采样装置的结构框图。本申请的扫描设备的采样装置，包括：
衰减变化量确定模块10，其构造为用于根据扫描设备预设的多个扫描角度，获取扫描设备的扫描射线在所述多个扫描角度下的衰减变化量；
第一校正采样间隔确定模块20，其构造为用于根据扫描设备的扫描射线在所述多个扫描角度下的衰减变化量，调整扫描设备在每个扫描角度下对应的初始采样间隔，确定扫描设备在每个扫描角度下对应的校正采样间隔；
第一采样模块30，其构造为用于根据扫描设备在每个扫描角度下对应的校正采样间隔进行实际采样。
本申请的扫描设备的采样装置，先通过衰减变化量确定模块确定的扫描设备的扫描射线在不同扫描角度下的衰减变化量，再通过第一校正采样间隔确定模块调整扫描设备在每个扫描角度下对应的初始采样间隔并确定校正采用间隔，最后通过第一采样模块根据该校正采样间隔进行实际采样，可以兼顾各个扫描角度采样的具体要求，使得空间分辨率、扫描剂量等指标的综合性能达到最佳。
参见图8所示，是本申请示出的一种扫描设备的采样装置的衰减变化量确定模块的结构框图。可选地，衰减变化量确定模块10，进一步包括：
第一衰减值确定模块110，其构造为用于确定扫描设备的扫描射线在每个扫描角度下对应的衰减值；
衰减值变化量统计模块120，其构造为用于根据扫描设备的扫描射线在每个扫描角度下对应的衰减值，统计扫描设备的扫描射线在每个扫描角度下对应的衰减值变化量。
进一步地，参见图9所示，是本申请示出的一种扫描设备的采样装置的衰减值变化量统计模块的结构框图。衰减值变化量统计模块120包括：
第二衰减值确定模块121，其构造为用于根据扫描设备的扫描射线在每个扫描角度下对应的衰减值，确定扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值以及扫描设备的扫描射线在与当前扫描角度相邻的前、后两个扫描角度下对应的衰减值；
第一衰减值变化量确定模块122，其构造为用于根据扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值以及扫描设备的扫描射线在与当前扫描角度相邻的前、后两个扫描角度下对应的衰减值，确定扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值相对于扫描设备的扫描射线在与当前扫描角度相邻的前、后两个扫描角度下对应的衰减值的衰减值变化量。
进一步地，参见图10所示，是本申请示出的一种扫描设备的采样装置的第一校正采样间隔确定模块的结构框图。第一校正采样间隔确定模块20包括：
阈值范围设定模块210，其构造为用于设定扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值变化量的阈值范围，所述阈值范围包括阈值下限和阈值上限；
初始采样间隔调整模块220，其构造为用于执行以下操作：
当扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值变化量小于所述阈值下限时，增大扫描设备在当前扫描角度下对应的初始采样间隔；
当扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值变化量大于所述阈值上限，减小扫描设备在当前扫描角度下对应的初始采样间隔；
当扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值变化量位于所述阈值下限与所述阈值上限之间时，保持扫描设备在当前扫描角度下对应的初始采样间隔不变。
可选地，扫描设备包括多个扫描通道，第一衰减值确定模块110进一步构造为用于确定扫描设备的所述多个扫描通道各自的扫描射线在每个扫描角度下对应的衰减值。
可选地，第一衰减值确定模块110进一步构造为用于根据已扫描角度下扫描设备的扫描通道的扫描射线对应的衰减值，确定后续待扫描角度下扫描设备的扫描通道的扫描射线对应的衰减值。
可选地，扫描设备在每一圈扫描过程中的扫描角度均相同，所述采样装置还包括：
预扫描模块，其构造为用于对待扫描物体进行预扫描，确定扫描设备在第一圈扫描过程中的各个扫描角度；
第二衰减值变化量确定模块，其构造为用于根据扫描设备在第一圈扫描过程中的各个扫描角度，确定扫描设备的扫描射线在第一圈扫描过程中的每个扫描角度下的衰减值变化量；
第二校正采样间隔确定模块，其构造为用于根据扫描设备的扫描射线在第一圈扫描过程中的每个扫描角度下的衰减值变化量，调整扫描设备在第一圈扫描过程中的每个扫描角度下对应的初始采样间隔，确定扫描设备在第一圈扫描过程中的每个扫描角度下对应的校正采样间隔；
第二采样模块，其构造为用于将扫描设备在第一圈扫描过程中的每个扫描角度下对应的校正采样间隔组成为扫描设备的固定采样方案；
根据所述固定采样方案对扫描设备的每一圈扫描过程进行实际采样。
上述装置中各个模块的功能和作用的实现过程具体详见上述方法中对应步骤的实现过程，在此不再赘述。
对于装置实施例而言，由于其基本对应于方法实施例，所以相关之处参见方法实施例的部分说明即可。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本申请方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下，即可以理解并实施。
以上所述仅是本申请的较佳实施例而已，并非对本申请做任何形式上的限制，虽然本申请已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本申请，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本申请技术方案的范围内，当可利用上述揭示的技术内容做出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本申请技术方案的内容，依据本申请的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本申请技术方案的范围内。

Claims (10)

1.一种扫描设备的采样方法，其特征在于，包括：
根据扫描设备预设的多个扫描角度，获取扫描设备的扫描射线在所述多个扫描角度下的衰减变化量；
根据扫描设备的扫描射线在所述多个扫描角度下的衰减变化量，调整扫描设备在每个扫描角度下对应的初始采样间隔，确定扫描设备在每个扫描角度下对应的校正采样间隔；
根据扫描设备在每个扫描角度下对应的校正采样间隔进行实际采样；
其中，所述获取扫描设备的扫描射线在所述多个扫描角度下的衰减变化量，包括：
确定扫描设备的扫描射线在每个扫描角度下对应的衰减值；
根据扫描设备的扫描射线在每个扫描角度下对应的衰减值，统计扫描设备的扫描射线在每个扫描角度下对应的衰减值变化量；
其中，所述根据扫描设备的扫描射线在每个扫描角度下对应的衰减值，统计扫描设备的扫描射线在每个扫描角度下对应的衰减值变化量，包括：
根据扫描设备的扫描射线在每个扫描角度下对应的衰减值，确定扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值以及扫描设备的扫描射线在与当前扫描角度相邻的前、后两个扫描角度下对应的衰减值；
根据扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值以及扫描设备的扫描射线在与当前扫描角度相邻的前、后两个扫描角度下对应的衰减值，确定扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值相对于扫描设备的扫描射线在与当前扫描角度相邻的前、后两个扫描角度下对应的衰减值的衰减值变化量。
2.根据权利要求1所述的扫描设备的采样方法，其特征在于，根据扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值变化量，调整扫描设备在当前扫描角度下对应的初始采样间隔，包括：
设定扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值变化量的阈值范围，所述阈值范围包括阈值下限和阈值上限；
当扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值变化量小于所述阈值下限时，增大扫描设备在当前扫描角度下对应的初始采样间隔；
当扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值变化量大于所述阈值上限时，减小扫描设备在当前扫描角度下对应的初始采样间隔；
当扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值变化量位于所述阈值下限与所述阈值上限之间时，保持扫描设备在当前扫描角度下对应的初始采样间隔不变。
3.根据权利要求2所述的扫描设备的采样方法，其特征在于，扫描设备在每一圈扫描过程中的扫描角度均相同，所述采样方法还包括：
对待扫描物体进行预扫描，确定扫描设备在第一圈扫描过程中的各个扫描角度；
根据扫描设备在第一圈扫描过程中的各个扫描角度，确定扫描设备的扫描射线在第一圈扫描过程中的每个扫描角度下的衰减值变化量；
根据扫描设备的扫描射线在第一圈扫描过程中的每个扫描角度下的衰减值变化量，调整扫描设备在第一圈扫描过程中的每个扫描角度下对应的初始采样间隔，确定扫描设备在第一圈扫描过程中的每个扫描角度下对应的校正采样间隔；
将扫描设备在第一圈扫描过程中的每个扫描角度下对应的校正采样间隔组成为扫描设备的固定采样方案；
根据所述固定采样方案对扫描设备的每一圈扫描过程进行实际采样。
4.根据权利要求2或3所述的扫描设备的采样方法，其特征在于，扫描设备包括多个扫描通道，确定扫描设备的扫描射线在每个扫描角度下对应的衰减值，包括：确定扫描设备的所述多个扫描通道各自的扫描射线在每个扫描角度下对应的衰减值。
5.根据权利要求4所述的扫描设备的采样方法，其特征在于，确定扫描设备的所述多个扫描通道各自的扫描射线在每个扫描角度下对应的衰减值，包括：根据已扫描角度下扫描设备的扫描通道的扫描射线对应的衰减值，确定后续待扫描角度下扫描设备的扫描通道的扫描射线对应的衰减值。
6.一种扫描设备的采样装置，其特征在于，包括：
衰减变化量确定模块，其构造为用于根据扫描设备预设的多个扫描角度，获取扫描设备的扫描射线在所述多个扫描角度下的衰减变化量；
第一校正采样间隔确定模块，其构造为用于根据扫描设备的扫描射线在所述多个扫描角度下的衰减变化量，调整扫描设备在每个扫描角度下对应的初始采样间隔，确定扫描设备在每个扫描角度下对应的校正采样间隔；
第一采样模块，其构造为用于根据扫描设备在每个扫描角度下对应的校正采样间隔进行实际采样；
其中，所述衰减变化量确定模块，包括：
第一衰减值确定模块，其构造为用于确定扫描设备的扫描射线在每个扫描角度下对应的衰减值；
衰减值变化量统计模块，其构造为用于根据扫描设备的扫描射线在每个扫描角度下对应的衰减值，统计扫描设备的扫描射线在每个扫描角度下对应的衰减值变化量；
其中，所述衰减值变化量统计模块，包括：
第二衰减值确定模块，其构造为用于根据扫描设备的扫描射线在每个扫描角度下对应的衰减值，确定扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值以及扫描设备的扫描射线在与当前扫描角度相邻的前、后两个扫描角度下对应的衰减值；
第一衰减值变化量确定模块，其构造为用于根据扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值以及扫描设备的扫描射线在与当前扫描角度相邻的前、后两个扫描角度下对应的衰减值，确定扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值相对于扫描设备的扫描射线在与当前扫描角度相邻的前、后两个扫描角度下对应的衰减值的衰减值变化量。
7.根据权利要求6所述的扫描设备的采样装置，其特征在于，所述第一校正采样间隔确定模块，包括：
阈值范围设定模块，其构造为用于设定扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值变化量的阈值范围，所述阈值范围包括阈值下限和阈值上限；
初始采样间隔调整模块，其构造为用于执行以下操作：
当扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值变化量小于所述阈值下限时，增大扫描设备在当前扫描角度下对应的初始采样间隔；
当扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值变化量大于所述阈值上限时，减小扫描设备在当前扫描角度下对应的初始采样间隔；
当扫描设备的扫描射线在当前扫描角度下对应的衰减值变化量位于所述阈值下限与所述阈值上限之间时，保持扫描设备在当前扫描角度下对应的初始采样间隔不变。
8.根据权利要求7所述的扫描设备的采样装置，其特征在于，扫描设备在每一圈扫描过程中的扫描角度均相同，所述采样装置还包括：
预扫描模块，其构造为用于对待扫描物体进行预扫描，确定扫描设备在第一圈扫描过程中的各个扫描角度；
第二衰减值变化量确定模块，其构造为用于根据扫描设备在第一圈扫描过程中的各个扫描角度，确定扫描设备的扫描射线在第一圈扫描过程中的每个扫描角度下的衰减值变化量；
第二校正采样间隔确定模块，其构造为用于根据扫描设备的扫描射线在第一圈扫描过程中的每个扫描角度下的衰减值变化量，调整扫描设备在第一圈扫描过程中的每个扫描角度下对应的初始采样间隔，确定扫描设备在第一圈扫描过程中的每个扫描角度下对应的校正采样间隔；
第二采样模块，其构造为用于将扫描设备在第一圈扫描过程中的每个扫描角度下对应的校正采样间隔组成为扫描设备的固定采样方案；
根据所述固定采样方案对扫描设备的每一圈扫描过程进行实际采样。
9.根据权利要求7或8所述的扫描设备的采样装置，其特征在于，扫描设备包括多个扫描通道，所述第一衰减值确定模块进一步构造为用于确定扫描设备的所述多个扫描通道各自的扫描射线在每个扫描角度下对应的衰减值。
10.根据权利要求9所述的扫描设备的采样装置，其特征在于，所述第一衰减值确定模块进一步构造为用于根据已扫描角度下扫描设备的扫描通道的扫描射线对应的衰减值，确定后续待扫描角度下扫描设备的扫描通道的扫描射线对应的衰减值。
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