CN107942004A - 用于溶解液晶的复合溶剂及液晶测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种用于溶解液晶的复合溶剂及液晶测试方法，该复合溶剂包含异丙醇和氮甲基吡咯烷酮，异丙醇和氮甲基吡咯烷酮的体积比为5:1‑50:1。本发明通过将异丙醇和氮甲基吡咯烷酮以体积比例5:1‑50:1进行配制得到低金属杂质浓度的复合溶剂，能很好的溶解液晶无析出，且该复合溶剂的出峰时间早于液晶各组分的出峰时间，这样既可以满足目前对液晶的测试需求，又可以降低对液晶测试人员的职业危害。
Description
技术领域
本发明涉及液晶显示技术领域，特别是涉及用于溶解液晶的复合溶剂及液晶测试方法。
背景技术
目前，部分VA技术是借助于液晶中的单体聚合形成聚合物突起物，从而提供预倾角，此种液晶的性能指标监控包含反应性单体浓度、纯度、金属离子杂质、含水率等。在VA液晶性能监控项目中，反应性单体浓度、纯度和金属离子杂质均需要溶解后测试，其要求溶剂的溶解性好无析出、杂质浓度低、出峰时间早于液晶中的任一组分，现在常用的溶剂为正己烷和二氯甲烷。
但长期接触正己烷会导致周围神经炎、慢性中毒，且二氯甲烷为一种潜在的致癌物。因此，长期接触正己烷和二氯甲烷会对液晶测试人员带来很大的职业危害。
发明内容
本发明主要解决的技术问题是提供一种用于溶解液晶的复合溶剂及液晶测试方法，既可以满足目前对液晶测试的需求，又可以降低对液晶测试人员的职业危害。
为了解决上述技术问题，本发明采用的第一个技术方案是提供一种用于溶解液晶的复合溶剂，该复合溶剂包含异丙醇和氮甲基吡咯烷酮，异丙醇和氮甲基吡咯烷酮的体积比为5:1-50:1。
为了解决上述技术问题，本发明采用的第二个技术方案是提供一种液晶的测试方法，该方法包括：制备复合溶剂，复合溶剂包含异丙醇和氮甲基吡咯烷酮，异丙醇和氮甲基吡咯烷酮的体积比为5:1-50:1；使用复合溶剂溶解液晶，并对液晶进行测试。
本发明的有益效果是：区别于现有技术的情况，本发明通过将异丙醇和氮甲基吡咯烷酮以体积比例5:1-50:1进行配制得到低金属杂质浓度的复合溶剂，能很好的溶解液晶无析出，且该复合溶剂的出峰时间早于液晶各组分的出峰时间，这样既可以满足目前对液晶的测试需求，又可以降低对液晶测试人员的职业危害。
附图说明
图1是本发明提供的液晶测试方法的流程示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，均属于本发明保护的范围。
请参照图1，图1是本发明提供的液晶测试方法的流程示意图，以下，详细对液晶测试方法进行说明。
S101：制备复合溶剂，复合溶剂包含异丙醇和氮甲基吡咯烷酮，异丙醇和氮甲基吡咯烷酮的体积比为5:1-50:1。
制备复合溶剂时选用的异丙醇和氮甲金属杂质浓度分别为10ppt和100ppt的异丙醇和氮甲基吡咯烷酮为具体的实施方式。将异丙醇和氮甲基吡咯烷酮以体积比5:1-50:1进行混合，配制得到的复合溶剂中金属杂质的浓度不高于25ppt。其中，异丙醇和氮甲基吡咯烷酮的体积比优选为15:1-30:1。为了尽量降低对液晶测试人员的职业危害，在整个制备复合溶剂的过程中，需满足异丙醇在空气中的浓度不高于1020mg/m3，且氮甲基吡咯烷酮在空气中的浓度不高于100mg/m3的工作条件。
S102：使用复合溶剂溶解液晶，并对液晶进行测试。
将在S101中配制得到的复合溶剂对液晶进行溶解，充分溶解后对液晶的反应性单体浓度、纯度、金属离子杂质、含水率等进行测试。其中，用配制得到的复合溶剂进行测试过程中的出峰时间是3.0-3.5分钟，液晶在测试过程中的出峰时间是5分钟。
以下，通过具体实施例来详细说明复合溶剂的组分、效果及使用该复合溶剂进行液晶测试的方法。
实施例1
将异丙醇和氮甲基吡咯烷酮按照50:1的配比进行混合，其中，异丙醇和氮甲基吡咯烷酮的金属杂质浓度分别低于10ppt和100ppt，本发明选用异丙醇和氮甲基吡咯烷酮的金属杂质浓度分别为10ppt和100ppt为一具体实施方式，混合后复合溶剂的金属杂质浓度为11.8ppt。使用上述复合溶剂溶解液晶，并对液晶进行测试。其中，复合溶剂在测试过程中的出峰时间为3分钟，液晶的出峰时间为5分钟，液晶溶解在该复合溶剂中的溶解速度稍慢，将溶解后得到的含水率为2％的溶液放置36小时，未出现液晶析出的现象，且在这36小时内蠕动管未出现变形。为了降低对液晶测试人员的职业危害，在整个制备复合溶剂的过程中，需满足异丙醇在空气中的浓度不高于1020mg/m3，且氮甲基吡咯烷酮在空气中的浓度不高于100mg/m3的工作条件。
实施例2
将异丙醇和氮甲基吡咯烷酮按照40:1的配比进行混合，其中，异丙醇和氮甲基吡咯烷酮的金属杂质浓度分别低于10ppt和100ppt，本发明选用异丙醇和氮甲基吡咯烷酮的金属杂质浓度分别为10ppt和100ppt为一具体实施方式，混合后复合溶剂的金属杂质浓度为12.2ppt。使用上述复合溶剂溶解液晶，并对液晶进行测试。其中，复合溶剂在测试过程中的出峰时间为3分钟，液晶的出峰时间为5分钟，液晶溶解在该复合溶剂中的溶解速度稍慢，将溶解后得到的含水率为2％的溶液放置36小时，未出现液晶析出的现象，且在这36小时内蠕动管未出现变形。为了降低对液晶测试人员的职业危害，在整个制备复合溶剂的过程中，需满足异丙醇在空气中的浓度不高于1020mg/m3，且氮甲基吡咯烷酮在空气中的浓度不高于100mg/m3的工作条件。
实施例3
将异丙醇和氮甲基吡咯烷酮按照30:1的配比进行混合，其中，异丙醇和氮甲基吡咯烷酮的金属杂质浓度分别低于10ppt和100ppt，本发明选用异丙醇和氮甲基吡咯烷酮的金属杂质浓度分别为10ppt和100ppt为一具体实施方式，混合后复合溶剂的金属杂质浓度为12.9ppt。使用上述复合溶剂溶解液晶，并对液晶进行测试。其中，复合溶剂在测试过程中的出峰时间为3分钟，液晶的出峰时间为5分钟，液晶溶解在该复合溶剂中的溶解速度较快，将溶解后得到的含水率为2％的溶液放置36小时，未出现液晶析出的现象，且在这36小时内蠕动管未出现变形。为了降低对液晶测试人员的职业危害，在整个制备复合溶剂的过程中，需满足异丙醇在空气中的浓度不高于1020mg/m3，且氮甲基吡咯烷酮在空气中的浓度不高于100mg/m3的工作条件。
实施例4
将异丙醇和氮甲基吡咯烷酮按照20:1的配比进行混合，其中，异丙醇和氮甲基吡咯烷酮的金属杂质浓度分别低于10ppt和100ppt，本发明选用异丙醇和氮甲基吡咯烷酮的金属杂质浓度分别为10ppt和100ppt为一具体实施方式，混合后复合溶剂的金属杂质浓度为14.3ppt。使用上述复合溶剂溶解液晶，并对液晶进行测试。其中，复合溶剂在测试过程中的出峰时间为3分钟，液晶的出峰时间为5分钟，液晶溶解在该复合溶剂中的溶解速度较快，将溶解后得到的含水率为2％的溶液放置36小时，未出现液晶析出的现象，且在这36小时内蠕动管未出现变形。为了降低对液晶测试人员的职业危害，在整个制备复合溶剂的过程中，需满足异丙醇在空气中的浓度不高于1020mg/m3，且氮甲基吡咯烷酮在空气中的浓度不高于100mg/m3的工作条件。
实施例5
将异丙醇和氮甲基吡咯烷酮按照15:1的配比进行混合，其中，异丙醇和氮甲基吡咯烷酮的金属杂质浓度分别低于10ppt和100ppt，本发明选用异丙醇和氮甲基吡咯烷酮的金属杂质浓度分别为10ppt和100ppt为一具体实施方式，混合后复合溶剂的金属杂质浓度为15.6ppt。使用上述复合溶剂溶解液晶，并对液晶进行测试。其中，复合溶剂在测试过程中的出峰时间为3分钟，液晶的出峰时间为5分钟，液晶溶解在该复合溶剂中的溶解速度较快，将溶解后得到的含水率为2％的溶液放置36小时，未出现液晶析出的现象，且在这36小时内蠕动管未出现变形。为了降低对液晶测试人员的职业危害，在整个制备复合溶剂的过程中，需满足异丙醇在空气中的浓度不高于1020mg/m3，且氮甲基吡咯烷酮在空气中的浓度不高于100mg/m3的工作条件。
实施例6
将异丙醇和氮甲基吡咯烷酮按照10:1的配比进行混合，其中，异丙醇和氮甲基吡咯烷酮的金属杂质浓度分别低于10ppt和100ppt，本发明选用异丙醇和氮甲基吡咯烷酮的金属杂质浓度分别为10ppt和100ppt为一具体实施方式，混合后复合溶剂的金属杂质浓度为20ppt。使用上述复合溶剂溶解液晶，并对液晶进行测试。其中，复合溶剂在测试过程中的出峰时间为3.5分钟，液晶的出峰时间为5分钟，液晶溶解在该复合溶剂中的溶解速度较快，将溶解后得到的含水率为2％的溶液放置36小时，未出现液晶析出的现象，且在这36小时内蠕动管未出现变形。为了降低对液晶测试人员的职业危害，在整个制备复合溶剂的过程中，需满足异丙醇在空气中的浓度不高于1020mg/m3，且氮甲基吡咯烷酮在空气中的浓度不高于100mg/m3的工作条件。
实施例7
将异丙醇和氮甲基吡咯烷酮按照5:1的配比进行混合，其中，异丙醇和氮甲基吡咯烷酮的金属杂质浓度分别低于10ppt和100ppt，本发明选用异丙醇和氮甲基吡咯烷酮的金属杂质浓度分别为10ppt和100ppt为一具体实施方式，混合后复合溶剂的金属杂质浓度为25ppt。使用上述复合溶剂溶解液晶，并对液晶进行测试。其中，复合溶剂在测试过程中的出峰时间为3.5分钟，液晶的出峰时间为5分钟，液晶溶解在该复合溶剂中的溶解速度较快，将溶解后得到的含水率为2％的溶液放置36小时，未出现液晶析出的现象，且在这36小时内蠕动管未出现变形。为了降低对液晶测试人员的职业危害，在整个制备复合溶剂的过程中，需满足异丙醇在空气中的浓度不高于1020mg/m3，且氮甲基吡咯烷酮在空气中的浓度不高于100mg/m3的工作条件。
从上述实施例1至7可以看出，将金属杂质浓度分别为10ppt和100ppt的异丙醇和氮甲基吡咯烷酮按照5:1-50:1的配比进行混合，得到的复合溶剂的金属杂质浓度不高于25ppt，且将液晶溶解于上述复合溶剂中得到含水率为2％的溶液放置36小时，在放置的36小时内蠕动管未出现变形。异丙醇和氮甲基吡咯烷酮的体积比为15:1-30:1的复合溶剂在测试过程中的出峰时间为3分钟，其出峰时间早于体积比为5:1-10:1的复合溶剂，其金属杂质浓度为12.9ppt-15.6ppt能满足液晶测试的低金属杂质浓度的要求，且体积比为15:1-30:1的复合溶剂溶解液晶的速度比体积比为40:1-50:1的速度快，相比较而言，在配制复合溶剂时优选异丙醇和氮甲基吡咯烷酮的体积比为15:1-30:1。
区别于现有技术的情况，本发明通过将异丙醇和氮甲基吡咯烷酮以体积比例5:1-50:1进行配制得到低金属杂质浓度的复合溶剂，能很好的溶解液晶无析出，且该复合溶剂的出峰时间早于液晶各组分的出峰时间，这样既可以满足目前对液晶的测试需求，又可以降低对液晶测试人员的职业危害。显然，以上所述仅为本发明的实施方式，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所做的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (10)
1.一种用于溶解液晶的复合溶剂，其特征在于，所述复合溶剂包含异丙醇和氮甲基吡咯烷酮，所述异丙醇和所述氮甲基吡咯烷酮的体积比为5:1-50:1。
2.根据权利要求1所述的一种复合溶剂，其特征在于，所述异丙醇和所述氮甲基吡咯烷酮的体积比优选为15:1-30:1。
3.根据权利要求1所述的一种复合溶剂，其特征在于，所述异丙醇的金属杂质浓度不高于10ppt。
4.根据权利要求1所述的一种复合溶剂，其特征在于，所述氮甲基吡咯烷酮的金属杂质浓度不高于100ppt。
5.根据权利要求1所述的一种复合溶剂，其特征在于，所述复合溶剂的金属杂质浓度不高于25ppt。
6.一种液晶的测试方法，其特征在于，所述方法包括：
制备复合溶剂，所述复合溶剂包含异丙醇和氮甲基吡咯烷酮，所述异丙醇和所述氮甲基吡咯烷酮的体积比为5:1-50:1；
使用所述复合溶剂溶解液晶，并对液晶进行测试。
7.根据权利要求6所述的液晶的测试方法，其特征在于，所述异丙醇和所述氮甲基吡咯烷酮的体积比优选为15:1-30:1。
8.根据权利要求6所述的液晶的测试方法，其特征在于，所述复合溶剂的金属杂质浓度不高于25ppt。
9.根据权利要求6所述的液晶的测试方法，其特征在于，所述复合溶剂在测试过程中的出峰时间是3.0-3.5分钟。
10.根据权利要求6所述的液晶的测试方法，其特征在于，制备所述复合溶剂时满足以下工作条件：所述异丙醇在空气中的浓度不高于1020mg/m3，且所述氮甲基吡咯烷酮在空气中的浓度不高于100mg/m3。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| CB02 | Change of applicant information |
Address after: No.9-2 Tangming Avenue, Guangming New District, Shenzhen City, Guangdong Province Applicant after: TCL China Star Optoelectronics Technology Co.,Ltd. Address before: No.9-2 Tangming Avenue, Guangming New District, Shenzhen City, Guangdong Province Applicant before: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co.,Ltd. |
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| CB02 | Change of applicant information | ||
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20180420 |
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| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |