CN107941439B - 一种气密性测试方法与设备 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种气密性测试方法与设备,涉及音箱类产品的气密性检测技术领域。本发明所述的一种气密性检测的方法,包括:预设气密性测试设备的压力针向下运动的下止点,将无源辐射器放置在所述气密性测试设备的测试位置;记录所述无源辐射器在测试过程中的反弹压力数据;根据记录的所述反弹压力数据,判断所述无源辐射器的相对气密性。本发明实现了批量测试无源辐射器气密性的目的,提高了气密性测试结果的准确性。
Description
技术领域
本发明涉及音箱类产品的气密性检测技术领域,特别涉及一种气密性测试方法与设备。
背景技术
由于音箱的密封效果直接影响音箱类产品的低频输出声压。所以在制作音箱类产品时,我们往往需要对其气密性进行检测。在产品有防水要求时,我们还需要参照其气密性对其防水性能进行估判。对于无源辐射式音箱,一般采用压力表法或压差法测试其气密性。
发明人在研究本申请的过程中发现。现有技术中,在采用压力表法时,需要在产品表面预留注气孔,所述预留注气孔的后续封堵增加了漏气风险;并且,压力表法不利于对每一个产品的气密性进行准确的估判,也无法实现气密性测试的量化。在采用压差法时,需要将测试的产品放置在一个密闭的容器内,所述密闭容器以及连接所述密闭容器管道的密封程度直接影响气密性测试结果的准确性,压差法在实际使用的准确性不高。
因此,如何提高了气密性测试结果的准确性,成为亟待解决的技术问题。
发明内容
本发明旨在解决,如何提高了气密性测试结果的准确性这一技术问题。本发明所述一种气密性测试设备与方法采用了以下的技术方案。
本发明还提供一种气密性检测的方法,包括以下步骤,
预设气密性测试设备的压力针向下运动的下止点,将无源辐射器放置在所述气密性测试设备的测试位置;
记录所述无源辐射器在测试过程中的反弹压力数据;
根据记录的所述反弹压力数据,判断所述无源辐射器的相对气密性。
优选的,所述气密性测试设备的压力针向下运动到下止点;
优选的,所述气密性测试设备的压力针保持在下止点,记录所述无源辐射器的反弹压力数据,直到所述无源辐射器的所述反弹压力数据的变化趋近于0,并将所述反弹压力数据的变化趋近于0的点标记为均衡点。
优选的,所述气密性测试设备的压力针向下运动到下止点时,所述无源辐射器被压缩的幅度大于其最大伸缩幅度的20%,但不超过所述无源辐射器的最大伸缩幅度。
优选的,获得以时间为X轴,以反弹压力为Y轴的二维曲线;
所述二维曲线包括:
挤压段,用于表示所述气密性测试设备的压力针向下运动到所述下止点时,所述无源辐射器的反弹压力的变化;
均衡段,用于表示所述气密性测试设备的压力针静止在所述下止点时,所述无源辐射器的反弹压力的变化,所述均衡段包括所述均衡点。
优选的,求所述均衡段上,与所述均衡点相距固定距离H的点的斜率,根据此斜率判断所述无源辐射器的相对气密性。
优选的,所述方法还包括:统计所述反弹压力数据的变化到达所述均衡点时,使用的时间,根据此时间判断所述无源辐射器的相对气密性。
所述检测装置包括:机座,驱动部和感应器。
所述检测装置用于固定所述无源辐射器和测试所述无源辐射器的反弹压力,并将测试所得的压力数据传递给处理装置;所述处理装置记录压力数据。
所述检测装置与所述处理装置通信连接。
优选的,所述检测装置包括:机座、驱动部和感应器;
优选的,所述驱动部和所述感应器组合安装在所述机座上。
优选的,所述机座包括:上基座、第一支柱,第二支柱和底座;
优选的,所述第一支柱和所述第二支柱固定在所述底座上,所述上基座固定在所述第一支柱和所述第二支柱上;
优选的,所述底座上设置了器件固定座;
优选的,所述上基座上加工了驱动部固定孔。
优选的,所述驱动部沿着所述第一支柱和所述第二支柱进行滑动。
优选的,所述驱动部上安装了感应器;
优选的,所述感应器上设置了压力针。
优选的,所述感应器与所述处理装置通信连接。
优选的,所述感应器将所述无源辐射器随时间变化的反弹压力数据传递给所述处理装置,所述处理装置记录压力数据后,绘制成二维曲线图。
与现有技术相比,本发明主要有以下的有益效果:
本发明所述的一种气密性检测的方法,包括:预设气密性测试设备的压力针向下运动的下止点,将无源辐射器放置在所述气密性测试设备的测试位置;记录所述无源辐射器在测试过程中的反弹压力数据;根据记录的所述反弹压力数据,判断所述无源辐射器的相对气密性。本发明所述的一种气密性测试设备与方法避免了使用气体测量介质,提高了气密性测试结果的准确性,实现了无源辐射器气密性检测的准确性,达到了批量检测无源辐射器气密性的目的。
附图说明
图1为本发明所述的气密性检测方法实施例一的流程图。
图2为本发明所述的气密性检测方法实施例二的流程图。
图3为本发明所述的气密性测试二维曲线图。
图4为本发明所述的气密性测试设备主视图。
图5为本发明所述的气密性测试设备的检测装置示意图。
图6为本发明所述的机座示意图。
图7为本发明所述的驱动部和感应器安装图。
图8为本发明所述的处理装置工作流程图。
附图标记说明:1—检测装置、11—机座、111—上基座、1111—驱动部固定孔、112—第一支柱、113—第二支柱、114—底座、1141—器件固定座、12—驱动部、13—感应器、131—压力针、2—处理装置。
具体实施方式
为了便于理解本发明,下面将参照相关附图对本发明进行更全面的描述。附图中给出了本发明的较佳。但是,本发明以许多不同的形式来实现,并不限于本文所描述的。相反地,提供这些的目的是使对本发明的公开内容的理解更加透彻全面。
除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的目的,不是旨在于限制本发明。
第一实施例:
参考图1,为本发明所述的气密性检测方法实施例一的流程图。本发明还提供一种气密性检测的方法,包括以下步骤,
S1.预设气密性测试设备的压力针向下运动的下止点,将无源辐射器放置在所述气密性测试设备的测试位置;
S2.记录所述无源辐射器在测试过程中的反弹压力数据;
S3.根据记录的所述反弹压力数据,判断所述无源辐射器的相对气密性。
所述气密性测试设备的压力针向下运动到下止点;
所述气密性测试设备的压力针保持在下止点,记录所述无源辐射器的反弹压力数据,直到所述无源辐射器的所述反弹压力数据的变化趋近于0,并将所述反弹压力数据的变化趋近于0的点标记为均衡点。
所述气密性测试设备的压力针向下运动到下止点时,所述无源辐射器被压缩的幅度大于其最大伸缩幅度的20%,但不超过所述无源辐射器的最大伸缩幅度。
获得以时间为X轴,以反弹压力为Y轴的二维曲线;
所述二维曲线包括:
挤压段,用于表示所述气密性测试设备的压力针向下运动到所述下止点时,所述无源辐射器的反弹压力的变化;
均衡段,用于表示所述气密性测试设备的压力针静止在所述下止点时,所述无源辐射器的反弹压力的变化,所述均衡段包括所述均衡点。
求所述均衡段上,与所述均衡点相距固定距离H的点的斜率,根据此斜率判断所述无源辐射器的相对气密性。
第二实施例:
参考图2,为本发明所述的气密性检测方法实施例二的流程图。本发明还提供一种气密性检测的方法,包括以下步骤,
A1.预设气密性测试设备的压力针向下运动的下止点,将无源辐射器放置在所述气密性测试设备的测试位置;
A2.所述气密性测试设备的压力针向下运动到下止点,记录所述无源辐射器在测试过程中的反弹压力数据;
A3.根据记录的所述反弹压力数据,判断所述无源辐射器的相对气密性。
所述气密性测试设备的压力针保持在下止点,记录所述无源辐射器的反弹压力数据,直到所述无源辐射器的所述反弹压力数据的变化趋近于0,并将所述反弹压力数据的变化趋近于0的点标记为均衡点。
所述气密性测试设备的压力针向下运动到下止点时,所述无源辐射器被压缩的幅度大于其最大伸缩幅度的20%,但不超过所述无源辐射器的最大伸缩幅度。
获得以时间为X轴,以反弹压力为Y轴的二维曲线;
所述二维曲线包括:
挤压段,用于表示所述气密性测试设备的压力针向下运动到所述下止点时,所述无源辐射器的反弹压力的变化;
均衡段,用于表示所述气密性测试设备的压力针静止在所述下止点时,所述无源辐射器的反弹压力的变化,所述均衡段包括所述均衡点。
统计所述反弹压力数据的变化到达所述均衡点时,使用的时间,根据此时间判断所述无源辐射器的相对气密性。
参考图3,为本发明所述的气密性测试二维曲线图。在所述无源辐射器的气密性良好的情况下,当按压所述无源辐射器后,并且,所述无源辐射器的下压凹陷幅度固定不变的情况下,由于所述无源辐射器的内部气压的增大,造成内部气体从所述无源辐射器上的缓慢的溢出,所需实现所述无源辐射器的反弹压力数据的变化值为接近于0的时间比较漫长。当所述无源辐射器的气密性较差的情况下,当使用物品按压所述无源辐射器后,并且,所述物品下压所述无源辐射器的造成的凹陷幅度固定不变的情况下,所述无源辐射器的内部气体从孔洞排除,所需实现所述无源辐射器的反弹压力数据的变化值接近于0的时间相对较短。
本发明所述的气密性测试设备对所述无源辐射器进行检测气密性的过程中,不断地对所述无源辐射器的反弹压力数据进行记录,并绘制时间与压力的二维曲线图。所述的二维曲线图是以测试过程中的时间为X轴,以所述无源辐射器的反弹压力数据为Y轴。所述二维曲线包括:挤压段,用于表示所述气密性测试设备的压力针向下运动到所述下止点时,所述无源辐射器的反弹压力的变化;均衡段,用于表示所述气密性测试设备的压力针静止在所述下止点时,所述无源辐射器的反弹压力的变化,所述均衡段包括所述均衡点。
并在二维曲线图中分别标注了O、A、B、T0,T1和T2点,和固定距离H。图中的O点表示气密性测试设备刚启动的瞬间点。图中的A点表示所述无源辐射器测试过程中,所述无源辐射器反弹压力的最大值。图中的B点为所述无源辐射器的反弹压力数据变化值接近于0的取值点,即为均衡点。图中的固定距离H表示距离均衡点的一个取值。图中的T0点表示所述无源辐射器刚被挤压的瞬间的时间取值点。图中的T1点表示在A点的时间取值点。图中的T2点表示在B点的时间取值点。
参考图4,为本发明所述的气密性测试设备主视图。本发明提供一种气密性测试设备,包括:检测装置1和处理装置2。其中,所述检测装置1与所述处理装置2通信连接。所述检测装置1用于固定所述无源辐射器和测试所述无源辐射器的反弹压力数据,并将测试所得的压力数据传递给处理装置2。所述处理装置2记录压力数据,实时接收所述检测装置1检测所述无源辐射器所得的数据。所述处理装置2对接收的数据进行实时记录,并绘制压力的二维曲线图。
在气密性测试设备进行检测工作时,将所述无源辐射器放置于所述检测装置1上,使用所述检测装置1对所述无源辐射器进行气密性检测。所述检测装置1对所述无源辐射器进行挤压。所述检测装置1收集挤压所述无源辐射器得到的反弹压力数据,并将反弹压力数据传递给处理装置2。所述处理装置2接收数据,以测试过程中的时间为X轴,以所述无源辐射器的反弹压力数据为Y轴绘制成二维曲线图。技术人员在处理装置2中查看二维曲线图,了解所述无源辐射器的气密性状况,判断当前测试的无源辐射器的气密性。
参考图5,为本发明所述的气密性测试设备的检测装置1示意图。所述检测装置1主要包括:机座11,驱动部12和感应器13。所述驱动部12和所述感应器13组合安装在所述机座11上。所述感应器13固定在驱动部12上,所述感应器13与所述处理装置2通信连接,如图4所示。其中,在所述驱动部12的驱动下,所述感应器13在所述机座11上滑动到指定位置。所述感应器13用于对所述无源辐射器进行气密性检测,收集所述无源辐射器的反弹压力的变化数据。所述驱动部12固定在机座11上,用于带动所述感应器13运动。
在气密性测试设备进行检测工作时,将所述无源辐射器放置在所述检测装置1上。设置所述驱动部12在机座11上的向下运动位置,在所述驱动部12的带动下,所述感应器13在所述机座11上做向下运动。所述驱动部12滑动到指定位置后停止滑动,避免所述驱动部12带动所述感应器13向下运动造成被测试所述无源辐射器的损坏。所述驱动部12的向下运动距离为所述无源辐射器的最大伸缩幅度的20%以上,并且,所述驱动部12的向下运动距离小于所述无源辐射器的最大伸缩幅度。所述感应器13对所述无源辐射器进行气密性检测,并实时传送所述无源辐射器随时间变化的反弹压力数据。
参考图6,为本发明所述的机座11示意图。所述机座11包括:上基座111、第一支柱112,第二支柱113和底座114。所述第一支柱112和所述第二支柱113固定在所述底座114上,所述底座114用于固定所述无源辐射器。所述上基座111安装在第一支柱112和第二支柱113上,所述上基座111用于固定驱动设备。所述上基座111上加工了驱动部固定孔1111。所述第一支柱112和所述第二支柱113用于设备的向下运动。所述底座114上设置了器件固定座1141,所述器件固定座1141用于固定待检测的无源辐射器。
参考图7本发明所述的驱动部12和感应器13安装图。所述驱动部12和所述感应部13组合安装。所述驱动部12上安装了感应器13,所述感应器13上设置了压力针131。如图6所示。所述驱动部12固定安装在驱动部固定孔1111上。所述驱动部12沿着所述第一支柱112和所述第二支柱113进行滑动。在所述驱动部12的带动下,所述感应器13沿着所述第一支柱112和所述第二支柱113进行运动。所述感应器13上设置了压力针131。所述感应器13与所述处理装置2通信连接。如图4所示。所述压力针131与所述无源辐射器相接触,所述压力针131与所述无源辐射器中央部位相接处。所述压力针131用于感应所述无源辐射器的反弹压力。
本发明所述的气密性测试设备进行检测工作时,所述驱动部12和所述感应器13同时启动。所述驱动部12按照预先设定的滑动位置,沿着所述第一支柱112和所述第二支柱113进行滑动。在所述驱动部12的带动下,所述感应器13沿着所述第一支柱112和所述第二支柱113进行运动。所述感应器13上的所述压力针131与所述无源辐射器的中央部位相接触,确保测试压力值的准确性。所述压力针131推动所述无源辐射器做大于所述无源辐射器最大伸缩幅度20%的伸缩运动,但不超过所述无源辐射器的最大伸缩幅度。
其中,所述驱动部12和所述感应器13共同完成所述无源辐射器的气密性测试,所述感应器13实时记录所述无源辐射器随时间变化的反弹压力数据。所述驱动部12下滑到预先设定的位置后,所述驱动部12停止工作,所述感应器13保持在停止位置。由于,所述无源辐射器被所述感应器13挤压,造成所述无源辐射器内气压增大,因此,所述感应器13固定在停止位置后,气体从所述无源辐射器上的溢出,所述无源辐射器内的气压稳步下降。当所述无源辐射器的反弹压力与所述感应器13下压的压力达到平衡时,既是所述无源辐射器的反弹压力数据变化值为0时,或者所述感应器13的测量压力变化值接近0时,气密性检测过程结束。
参考图8,为本发明所述的处理装置工作流程图。本发明所述的气密性测试设备对所述无源辐射器进行检测气密性的过程中,所述处理装置与所述检测装置进行通信连接。所述检测装置对所述无源辐射器进行气密性检测。
其中,所述处理装置实时接收所述检测装置传递的数据。所述检测装置包括了驱动部和感应器。所述驱动部带动所述感应器运动。在开始测试所述无源辐射器气密性前,设置所述驱动部的运动距离,确定所述感应器运动的下止点,避免所述感应器损坏所述无源辐射器。所述感应器上有压力针,所述压力针与所述无源辐射器的中央部位相连接。所述压力针收集所述无源辐射器测试得到的压力数据。
本发明主要有以下的优点:
本发明所述的一种气密性检测的方法,包括:预设气密性测试设备的压力针向下运动的下止点,将无源辐射器放置在所述气密性测试设备的测试位置;记录所述无源辐射器在测试过程中的反弹压力数据;根据记录的所述反弹压力数据,判断所述无源辐射器的相对气密性。本发明实现了批量测试无源辐射器气密性的目的,提高了气密性测试结果的准确性。
上述为本发明较佳的实施方式,但本发明的实施方式并不受上述的限制,其他的任何未背离本发明的精神实质与原理下所作的改变、修饰、替代、组合、简化,均应为等效的置换方式,都包含在本发明的保护幅度之内。
Claims (8)
1.一种气密性检测的方法,其特征在于,包括:
预设气密性测试设备的压力针向下运动的下止点,将无源辐射器放置在所述气密性测试设备的测试位置;
所述气密性测试设备的压力针向下运动到下止点;
所述气密性测试设备的压力针保持在下止点,记录所述无源辐射器的反弹压力数据,直到所述无源辐射器的所述反弹压力数据的变化趋近于0,并将所述反弹压力数据的变化趋近于0的点标记为均衡点;
记录所述无源辐射器在测试过程中的反弹压力数据;
根据记录的所述反弹压力数据,判断所述无源辐射器的相对气密性。
2.根据权利要求1所述的气密性检测的方法,其特征在于,所述气密性测试设备的压力针向下运动到下止点时,所述无源辐射器被压缩的幅度大于其最大伸缩幅度的20%,但不超过所述无源辐射器的最大伸缩幅度。
3.根据权利要求2所述的气密性检测的方法,其特征在于,获得以时间为X轴,以反弹压力为Y轴的二维曲线;
所述二维曲线包括:
挤压段,用于表示所述气密性测试设备的压力针向下运动到所述下止点时,所述无源辐射器的反弹压力的变化;
均衡段,用于表示所述气密性测试设备的压力针静止在所述下止点时,所述无源辐射器的反弹压力的变化,所述均衡段包括所述均衡点。
4.根据权利要求3所述的气密性检测的方法,其特征在于,求所述均衡段上,与所述均衡点相距固定距离H的点的斜率,根据此斜率判断所述无源辐射器的相对气密性。
5.根据权利要求1所述的气密性检测的方法,其特征在于,所述方法还包括:统计所述反弹压力数据的变化到达所述均衡点时,使用的时间,根据此时间判断所述无源辐射器的相对气密性。
6.一种气密性测试设备,其特征在于,包括:
检测装置(1)和处理装置(2);
所述检测装置(1)用于固定无源辐射器和测试所述无源辐射器的反弹压力,并将测试所得的压力数据传递给处理装置(2);所述处理装置(2)记录压力数据;
所述检测装置(1)与所述处理装置(2)通信连接;
所述检测装置(1)包括:机座(11)、驱动部(12)和感应器(13);
所述驱动部(12)和所述感应器(13)组合安装在所述机座(11)上;
所述感应器固定在所述驱动部上,所述驱动部固定在机座上,用于带动所述感应器运动。
7.根据权利要求6所述的气密性测试设备,其特征在于,所述机座(11)包括:上基座(111)、第一支柱(112),第二支柱(113)和底座(114);
所述第一支柱(112)和所述第二支柱(113)固定在所述底座(114)上,所述上基座(111)固定在所述第一支柱(112)和所述第二支柱(113)上;
所述底座(114)上设置了器件固定座(1141);
所述上基座(111)上加工了驱动部固定孔(1111);
所述驱动部(12)沿着所述第一支柱(112)和所述第二支柱(113)进行滑动。
8.根据权利要求7所述的气密性测试设备,其特征在于,所述驱动部(12)上安装了感应器(13),所述感应器(13)上设置了压力针(131);
所述感应器(13)与所述处理装置(2)通信连接。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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GR01 | Patent grant | ||
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