CN107924105A - 透镜驱动装置、摄像机模块、以及摄像机搭载装置 - Google Patents

透镜驱动装置、摄像机模块、以及摄像机搭载装置 Download PDF

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Abstract

本发明提供既能够实现小型化又能够适当地确保OIS用的推力的透镜驱动装置。该装置具备抖动修正用驱动部，该抖动修正用驱动部利用由被磁铁支架保持的磁铁部和所述抖动修正用线圈部构成的音圈电机的驱动力，使包含磁铁部及磁铁支架的抖动修正可动部在与光轴方向正交的面内相对于包含抖动修正用线圈部的抖动修正固定部摆动，从而进行抖动修正。抖动修正可动部具有磁轭，该磁轭与磁铁支架卡合，在磁铁部中配置于与光轴方向正交的方向的面侧，且所述磁轭的抖动修正用线圈部侧的面与磁铁部中的抖动修正用线圈部侧的面对齐。

Description

透镜驱动装置、摄像机模块、以及摄像机搭载装置
技术领域
本发明涉及自动聚焦用及抖动修正用的透镜驱动装置、具有自动聚焦功能及抖动修正功能的摄像机模块、以及摄像机搭载装置。
背景技术
一般而言，在智能手机等便携终端中搭载有小型的摄像机模块。在这种摄像机模块中适用具有自动进行拍摄被拍摄物时的对焦的自动聚焦功能(以下称作“AF功能”，AF：Auto Focus，自动聚焦)、以及光学修正拍摄时产生的抖动(振动)以减轻图像模糊的抖动修正功能(以下称作“OIS功能”，OIS：Optical Image Stabilization，光学防抖)的透镜驱动装置(例如专利文献1、2)。
自动聚焦用及抖动修正用的透镜驱动装置具备用于使透镜部沿光轴方向移动的自动聚焦用驱动部(以下称作“AF用驱动部”)、以及用于使透镜部在与光轴方向正交的平面内摆动的抖动修正用驱动部(以下称作“OIS用驱动部”)。
AF用驱动部例如具有：自动聚焦用线圈部(以下称作“AF用线圈部”)，其配置在透镜部的周围；以及自动聚焦用磁铁部(以下称作“AF用磁铁部”)，其相对于AF用线圈部在径向上间隔开配置。AF用驱动部利用由AF用线圈部和AF用磁铁部构成的音圈电机的驱动力，使包含透镜部及AF用线圈部的自动聚焦可动部(以下称作“AF可动部”)在光轴方向上相对于包含AF用磁铁部的自动聚焦固定部(以下称作“AF固定部”)移动，从而自动地进行对焦。
OIS用驱动部例如具有：抖动修正用磁铁部(以下称作“OIS用磁铁部”)，其配置于AF用驱动部；以及抖动修正用线圈部(以下称作“OIS用线圈部”)，其相对于OIS用磁铁部在光轴方向上间隔开配置。包含AF用驱动部及OIS用磁铁部的抖动修正可动部(以下称作“OIS可动部”)以相对于包含OIS用线圈部的抖动修正固定部(以下称作“OIS固定部”)在光轴方向上间隔开的状态，被支撑部件支撑。OIS用驱动部利用由OIS用磁铁部和OIS用线圈部构成的音圈电机的驱动力，使OIS可动部在与光轴方向正交的平面内摆动，从而进行抖动修正。
图1是用于说明对以往的透镜驱动装置中的透镜部进行驱动的磁路的图。
在图1所示的专利文献1的透镜驱动装置中，将OIS用磁铁部兼用作AF用磁铁部。具体而言，配置透镜部(图示省略)的AF可动部5具有透镜支架51和AF用线圈部52，AF固定部6具有磁铁支架61和磁铁部62(该磁铁部62为AF用磁铁部且兼用作OIS用磁铁部)。
另外，OIS可动部7具有AF用驱动部(AF可动部71及AF固定部72)。OIS可动部7以在光轴方向受光侧与OIS固定部(图示省略)的OIS用线圈部8间隔开的状态被支撑。此外，摄像部具有CCD(Charge Coupled Device)型图像传感器等摄像元件(图示省略)，被配置在透镜部的光轴方向成像侧。摄像元件(图示省略)对通过透镜部(图示省略)成像的被拍摄物像进行摄像，在摄像元件(图示省略)的光轴方向受光侧配置红外滤镜(图示省略)。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：国际公开第2013/121788号
专利文献2：日本特开2014-85624号公报
发明内容
发明要解决的问题
然而，在专利文献1的透镜驱动装置中，在图1中，AF可动部5构成为，相对于与AF用线圈部52对置而被磁化的磁铁部62，向光轴方向成像侧或光轴方向受光侧移动，也就是向靠近或远离摄像部的方向移动以进行对焦。另外，OIS可动部7利用磁铁部62的漏磁通，相对于在与AF用线圈部52对置而被磁化的磁铁部62的下方配置的OIS用线圈部8在与光轴方向正交的面内摆动。
这样，在专利文献1的透镜驱动装置中，将磁铁部62兼用作AF用磁铁部和OIS用磁铁部，从而不需要分别地设置具有双方的功能的磁铁，实现了透镜驱动装置自身的小型化。在该透镜驱动装置的结构中存在以下问题：由于使用为了确保AF用的磁通而配置的磁铁部62的漏磁通J，所以难以充分地获得为了使OIS可动部7可动的、在与光轴方向正交的平面内的摆动方向上的推力。
在此，为了将磁铁部62的磁通集聚，如专利文献2所示，可以考虑使用磁轭。
但是，专利文献2中，将安装于磁铁部的磁轭的高度设为比磁铁部的高度高，在磁铁部的上侧构成比磁铁部的厚度小的磁隙，由此，构成为将朝向AF用线圈的磁通集聚。因此，有可能，用于提高与光轴方向正交的平面内的摆动方向的推力(OIS用的推力)的磁通减少而无法充分地得到确保。
本发明的目的在于，提供既能够实现小型化又能够适当地确保OIS用的推力的透镜驱动装置、具备该透镜驱动装置的摄像机模块、以及摄像机搭载装置。
解决问题的方案
本发明的透镜驱动装置采用以下结构，其具备：抖动修正用驱动部，该抖动修正用驱动部具有：磁铁部，其配置于透镜部的周围；磁铁支架，其保持所述磁铁部；以及抖动修正用线圈部，其相对于所述磁铁部在光轴方向上间隔开配置，所述抖动修正用驱动部利用由所述磁铁部和所述抖动修正用线圈部构成的音圈电机的驱动力，使包含所述磁铁部及所述磁铁支架的抖动修正可动部在与光轴方向正交的面内相对于包含所述抖动修正用线圈部的抖动修正固定部摆动，从而进行抖动修正，所述抖动修正可动部具有磁轭，该磁轭与所述磁铁支架卡合，在所述磁铁部中配置于与所述光轴方向正交的方向的面侧，且所述磁轭的所述抖动修正用线圈部侧的面与所述磁铁部中的所述抖动修正用线圈部侧的面对齐。
本发明的摄像机模块，其特征在于，具备：上述结构的透镜驱动装置；透镜部，其安装于所述自动聚焦可动部；摄像部，其对通过所述透镜部成像的被拍摄物像进行摄像。
本发明的摄像机搭载装置，其为信息设备或运输设备，其特征在于，具备上述的摄像机模块。
发明效果
根据本发明，既能够实现小型化，又能够适当地确保OIS用的推力。
附图说明
图1是用于说明以往的透镜驱动装置中的透镜部的位移的图。
图2是表示搭载本发明的一实施方式的摄像机模块的智能手机的图。
图3是摄像机模块的外观立体图。
图4是摄像机模块的分解立体图。
图5是透镜驱动装置的分解立体图。
图6是OIS可动部的分解立体图。
图7是OIS固定部的分解立体图。
图8是摄像机模块中沿着Z轴及X轴方向的剖面图。
图9是摄像机模块中沿着Z轴及Y轴方向的剖面图。
图10是表示磁轭和磁铁部之间的关系的透镜驱动装置的侧视图。
图11是示意性地表示磁轭的变形例的图。
图12是示意性地表示磁轭的变形例的图。
图13是表示作为搭载车载用摄像机模块的摄像机搭载装置的汽车的图。
具体实施方式
以下，基于附图对本发明的实施方式进行详细说明。
图2是表示搭载本发明的一实施方式的摄像机模块A的智能手机M的图。图2A是智能手机M的主视图，图2B是智能手机M的后视图。
智能手机M例如搭载摄像机模块A作为背面摄像机OC。摄像机模块A具备自动聚焦功能及抖动修正功能，能够自动地进行对被拍摄物进行拍摄时的对焦，并且光学修正在拍摄时产生的抖动(振动)来拍摄不模糊的图像。
图3是摄像机模块A的外观立体图。图4是摄像机模块A的分解立体图。
如图3、图4所示，在本实施方式中，使用正交坐标系(X，Y，Z)来进行说明。在后述的图中，也用相同的正交坐标系(X，Y，Z)来表示。以如下方式搭载摄像机模块A：在智能手机M实际进行拍摄的情况下，X方向为上下方向(或左右方向)、Y方向为左右方向(或上下方向)、Z方向为前后方向。即，Z方向为光轴方向，图中上侧为光轴方向受光侧(也称作“微距位置侧”)，下侧为光轴方向成像侧(也称作“无限远位置侧”)。在此，“微距位置”是指对焦于位于最短拍摄距离的被拍摄物时的透镜位置(最靠受光侧的位置)，“无限远位置”是指对焦于位于无限远的被拍摄物时的透镜位置(最靠成像侧的位置)。即，从微距位置到无限远位置的范围是AF可动部11(参照图6)的可移动范围。
摄像机模块A具备将透镜收容于圆筒形的透镜筒中的透镜部3、AF用及OIS用的透镜驱动装置1、对通过透镜部成像的被拍摄物像进行摄像的摄像部(图示省略)、以及覆盖整体的屏蔽罩2等。
屏蔽罩2是从光轴方向观察的俯视时呈正方形的有盖四方筒体，上表面具有圆形的开口2a。透镜部(图示省略)从该开口2a面向外部。屏蔽罩2被固定在透镜驱动装置1的OIS固定部20的底座部件23(参照图7)。屏蔽罩2具有导电性，与OIS固定部20的接地端子(图示省略)电连接而接地。
摄像部(图示省略)具有摄像元件(图示省略)，且被配置在透镜驱动装置1的光轴方向成像侧。摄像元件(图示省略)例如由CCD(charge coupled device，电荷耦合器件)型图像传感器、CMOS(complementary metal oxide semiconductor，互补金属氧化物半导体)型图像传感器等构成。摄像元件(图示省略)对通过透镜部(图示省略)成像的被拍摄物像进行摄像。在摄像元件(图示省略)的光轴方向受光侧配置红外滤镜(图示省略)。
图5是透镜驱动装置1的分解立体图，图6是OIS可动部100的分解立体图。另外，图7是OIS固定部20的分解立体图，图8是图2所示的摄像机模块A中沿着Z轴及X轴方向的剖面图，图9是图2所示的摄像机模块A中沿着Z轴及Y轴方向的剖面图。
如图5所示，透镜驱动装置1具备OIS可动部(抖动修正可动部)100、OIS固定部20、以及支撑部件30等。
OIS可动部100具有构成OIS用音圈电机的OIS用磁铁部(在此为磁铁部122)，是抖动修正时在XY平面内摆动的部分。OIS固定部20是具有OIS用线圈部的部分。即，透镜驱动装置1的OIS用透镜驱动部采用了动磁式。OIS可动部100包含AF用驱动部(AF可动部11及AF固定部12，参照图6)。
OIS可动部100相对于OIS固定部20在光轴方向受光侧间隔开配置，并通过支撑部件30与OIS固定部20连结。具体而言，支撑部件30由沿着Z方向延伸的6根吊线(以下称作“吊线30”)构成。吊线30的一端(上端)固定于OIS可动部100(上侧弹性支撑部13，参照图6)，另一端(下端)固定于OIS固定部20(线圈基板21，参照图7)。OIS可动部100在XY平面内可摆动地被吊线30支撑。
在本实施方式中，6根吊线30中的、吊线31A、31B作为霍尔元件161(参照图6)的信号路径来使用(信号用吊线)。另外，吊线32A、32B作为对霍尔元件161的供电路径来使用(霍尔元件供电用吊线)。并且，吊线33A、33B作为对AF用线圈部112(参照图6)的供电路径来使用(线圈供电用吊线)。此外，吊线30的根数不限于此，也可以多于6根。
如图6所示，OIS可动部100具备AF可动部11、AF固定部12、上侧弹性支撑部13、以及下侧弹性支撑部14等。AF可动部11具有构成AF用音圈电机的AF用线圈部，是在对焦时在光轴方向上移动的部分。AF固定部12是具有AF用磁铁部的部分。即，透镜驱动装置1的AF用驱动部采用动圈式。AF可动部11相对于AF固定部12在径向内侧间隔开配置，并通过上侧弹性支撑部13及下侧弹性支撑部14与AF固定部12连结。
AF可动部11具有透镜支架111、AF用线圈部112、以及位置检测用磁体15。
透镜支架111是圆筒形的部件，通过粘结或螺合将透镜部(图示省略)固定在透镜收容部111a中。透镜支架111在透镜收容部111a的周面上具有上侧凸缘部111b及下侧凸缘部111c。在由上侧凸缘部111b和下侧凸缘部111c夹着的部分(以下称作“线圈卷绕部”)卷绕AF用线圈部112。
透镜支架111在透镜收容部111a的上部外周的与将十字方向旋转45°后的方向(以下称作“对角方向”)交叉的四个部分具有对上侧弹性支撑部13进行固定的上弹簧固定部111e。透镜支架111具有从四个上弹簧固定部111e中的位于对角的两个上弹簧固定部111e向径向外侧突出的捆绑部111f。另外，透镜支架111在下表面的与X方向及Y方向(以下称作“十字方向”)交叉的四个部分具有对下侧弹性支撑部14进行固定的下弹簧固定部(图示省略)。
透镜支架111在透镜收容部111a的上部外周的与十字方向交叉的四个部分具有比上侧凸缘部111b及下侧凸缘部111c更向径向外侧伸出的突出部111d。突出部111d的上表面为用于限制AF可动部11向光轴方向受光侧的移动的被卡止部，突出部111d的下表面为用于限制AF可动部11向光轴方向成像侧的移动的被卡止部。
AF用线圈部112是在对焦时通电的空芯线圈，被卷绕在透镜支架111的线圈卷绕部的外周面上。AF用线圈部112的两端被捆绑于透镜支架111的捆绑部111f、111f。
在形成于透镜支架111的上弹簧固定部111e的磁体收容部111h中配置位置检测用磁体15。配置在与位置检测部16对应的一侧的位置检测用磁体15(以下称作“第一位置检测用磁体15A”)实际使用于AF可动部11的位置检测。另一个位置检测用磁体15(以下称作“第二位置检测用磁体15B”)是在AF可动部11的位置检测中不使用的虚设磁体。为了使作用于AF可动部11的磁力平衡并使AF可动部11的姿势稳定，而配置第二位置检测用磁体15B。即，在未配置第二位置检测用磁体15B的情况下，磁铁部122产生的磁场使偏向一方的磁力作用于AF可动部11，AF可动部11的姿势不稳定，因此通过配置第二位置检测用磁体15B来防止该情况。
AF固定部12具有磁铁支架121、磁铁部122、以及位置检测部16。在将AF可动部11插入到磁铁支架121中之后，安装磁铁部122。
磁铁支架121具有俯视为正方形的四角筒形状。磁铁支架121在此由非磁性体形成，对安装于侧壁1211的内表面的磁铁部122进行保持。
侧壁1211具有与磁轭18(18A～18D)的卡合部184卡合的被卡合部1214。被卡合部1214呈在侧壁1211的各个下部向下方开口的切口形状，且与磁轭18(18A～18D)以在X轴或者Y轴方向上卡合而限制了在Z方向上的移动的状态进行卡合。
在磁铁支架121中的、在侧壁之间的四个连结部(沿着Z方向的四个边)处形成为向径向内侧凹陷为圆弧状的部分(以下称作“线插通部121a”)中配置吊线30。通过设置线插通部121a，来避免在OIS可动部100摆动时，吊线30与磁铁支架121发生干扰。
磁铁支架121在上部具有向径向内侧伸出为环状的阻挡器部121b。在阻挡器部121b中，切除了与透镜支架111的上弹簧固定部111e对应的部分，使得AF可动部11能够比磁铁支架121的上表面更向光轴方向受光侧移动。在AF可动部11向光轴方向受光侧移动时，阻挡器部121b与透镜支架111的突出部111d抵接，由此限制了AF可动部11向光轴方向受光侧的移动。另外，在阻挡器部121b的上表面载置上侧弹性支撑部13的臂部131c、131f、132c、132f。
磁铁支架121在下表面121e的四角具有对下侧弹性支撑部14进行固定的下弹簧固定部(以下称作“下弹簧固定部121e”)。磁铁支架121在上部的四角具有对上侧弹性支撑部13进行固定的上弹簧固定部121c。上弹簧固定部121c的角部121d(以下称作“减震材料配置部121d”)的上表面形成为比磁铁支架121的上表面(安装上侧弹性支撑部13的面)稍微凹陷，使得在安装上侧弹性支撑部13时形成间隙。减震材料配置部121d的顶角部(与线插通部121a的上部连续设置的部分)比下部更向外侧延伸，被切除为圆弧状。减震材料配置部121d的被切除为圆弧状的部分构成线插通部121a的一部分。
磁铁部122具有四个长方体状的永磁体122A～122D及连结磁轭123。永磁体122A～122D沿着磁铁支架121的四个侧壁的内表面配置。如图8及图9所示，以在AF用线圈部112中形成沿径向横穿的磁场的方式，对永磁体122A～122D进行磁化。例如，对于永磁体122A～122D，将内周侧磁化为N极，将外周侧磁化为S极。透镜支架111的突出部111d位于磁铁部122与磁铁支架121的阻挡器部121b之间的空间中。
由磁铁部122及AF用线圈部112构成AF用音圈电机。在本实施方式中，磁铁部122兼用作AF用磁铁部和OIS用磁铁部。
永磁体122A的一个长度方向端面和与其相邻的永磁体122B的长度方向端面通过连结磁轭123连结。连结磁轭123在一个端部具有磁轭部123a，在另一个端部具有磁轭部123b。即，在永磁体122A的与第一位置检测用磁体15A邻近的端面配置磁轭部123a，在永磁体122B的与第一位置检测用磁体15A邻近的端面配置磁轭部123b。
同样地，永磁体122C的一个长度方向端面和与其相邻的永磁体122D的长度方向端面通过连结磁轭124连结。在永磁体122C的与第二位置检测用磁体15B邻近的端面配置磁轭部124a，在永磁体122D的与第二位置检测用磁体15B邻近的端面配置磁轭部124b。
磁轭部123a、123b用于抑制磁铁部122产生的磁通与霍尔元件161的检测部交叉，即用于降低漏磁通。通过配置磁轭部123a、123b，能够降低霍尔元件161的输出偏移，将放大器增益设定得较高。检测敏感度得到提高。在配置了磁轭部123a、123b的情况下，在其与第一位置检测用磁体15A之间产生吸引力。为了使作用于AF可动部11的磁力平衡并使AF可动部11的姿势稳定，而配置磁轭部124a、124b。
在本实施方式中，虽然适用了连结磁轭123、124，但是也可以由各自独立的部件构成磁轭部123a、123b、124a、124b。但是，如本实施方式所示那样，优选将磁轭部123a、123b连结。由此，与分别在永磁体122A、122B上安装磁轭部的情况相比，安装作业被显著地简化。另外，由于在连结磁轭部123a和磁轭部123b的连结部与第一位置检测用磁体15A之间也产生吸引力，所以在以使该吸引力为所希望的值的方式设计连结磁轭123的情况下，能够使磁轭部123a、123b的厚度较薄。能够相应地使永磁体122A、122B的长度较长，因此AF用驱动部的驱动特性得到提高。并且，对于增强AF固定部12的强度也是有用的。
磁轭18由磁性体构成，例如由SPCC(日本JIS标准，冷轧钢板)等板状的磁性体形成。磁轭18与磁铁部122连接以增加磁铁部122的吸附力。在此，磁轭18具有与永磁体122A～122D的每一个连接的四个板状的磁轭18A～18D。
磁轭18A～18D配置在磁铁部122中与光轴方向正交的方向的面侧。在此，磁轭18A～18D相对于永磁体122A～122D被吸附到磁化方向(在此为磁化方向外侧)上。
磁轭18A～18D以使下表面(OIS线圈211A～211D侧的面)与各永磁体122A～122D的下表面(OIS线圈211A～211D侧的面)对齐的方式，安装在对应的永磁体122A～122D上。即，优选磁轭18(磁轭18A～18D)与磁铁部122(永磁体122A～122D)中的在光轴方向上OIS线圈部211(OIS线圈211A～211D)侧的面即下表面对齐。这些对齐的下表面与OIS用线圈部211(OIS线圈211A～211D)对置。另外，磁轭18A～18D的上表面形成为，与对应的永磁体122A～122D的上表面高度相同，或者比各上表面低。
在磁轭18A～18D的上部形成有与磁铁支架121的侧壁1211的被卡合部1214卡合的卡合部184。卡合部184与被卡合部1214的形状对应地形成，通过与被卡合部1214卡合，来限制在水平方向上正交的两个方向中的一个方向(X轴方向或者Y轴方向)上的移动。即，通过卡合部184与被卡合部1214相互卡合，能够将磁轭18A～18D相对于安装在磁铁支架121上的永磁体122A～122D配置在定位于水平方向的准确的位置。
如图6所示，在本实施方式中，磁轭18A～18D的卡合部184形成为凹状，磁铁支架121的侧壁1211的被卡合部1214形成为嵌入卡合部184的凸状。
本实施方式中的卡合部184及被卡合部1214形成为，在卡合状态下，磁铁支架121与磁轭18(18A～18D)不会相对地在Z轴方向上移动。
磁轭18(18A～18D)在呈矩形板状的磁轭主体182的上部中央部形成向上方开口的中央凹状部，在构成该中央凹状部的对置边部的上端部分别具有向对置方向突出的阻挡爪部186。另一方面，对于磁铁支架121的侧壁1211上的被卡合部1214，其凸状部的基端侧向水平方向凹陷，形成与阻挡爪部186嵌合的爪嵌合部1212。通过阻挡爪部186嵌合于爪嵌合部1212，来限制磁轭18A～18D相对于磁铁支架121在Z轴方向上相对地移动。由此，能够防止因永磁体122A～122D的吸引力而相对于永磁体122A～122D向下方(光轴方向)错位。
卡合部184及被卡合部1214利用磁铁部122的外侧的面，具体为利用永磁体122A～122D的半径方向外侧的面(外侧面)，在该面上卡合。由此，磁轭18A～18D与侧壁1211一起，以上部为非磁性体、下部为磁性体的方式构成OIS可动部100的侧壁部分。
即使磁铁支架121所保持的磁铁部122(永磁体122A～122D)预先被磁化，也能够将磁轭18A～18D在防止其因磁铁部122的吸引力而向下方错位的同时安装于磁铁支架121。即，在使磁轭18A～18D吸附于磁铁部122(永磁体122A～122D)的外侧面的同时，在外侧面上将凹状的卡合部184嵌合于凸状的被卡合部1214。由此，磁轭18A～18D以在水平方向上正交的两个方向中的一个方向(X轴方向或者Y轴方向)和Z轴方向上的相对移动受到限制的状态，在适合的位置容易地被吸引并安装于磁铁支架121。由此，能够进行透镜驱动装置1的组装。此外，也可以将磁轭18A～18D与树脂制的磁铁支架121一起通过嵌件成型来一体地成型。通过嵌件成型带来的部件一体化，能够减少工时且提高组装时的位置精度。另外，也可以使树脂包含磁性体而对磁铁支架121进行成型。
位置检测部16配置于磁铁支架121的四个上弹簧固定部121c中的一个。位置检测部16具有：霍尔元件161，其利用霍尔效应来检测磁场的变化；以及位置检测用基板162，其对霍尔元件161进行供电，并用于提取检测信号。霍尔元件161具有由半导体元件构成的检测部(图示省略)，并配置为检测部的检测方向与光轴方向一致。位置检测部16主要对第一位置检测用磁体15A的磁场的变化进行检测。由此，对光轴方向上的AF可动部11的位置进行检测。
上侧弹性支撑部13例如是由铍铜、镍铜、不锈钢等构成的板簧，在整体俯视时呈正方形。上侧弹性支撑部13具有：相对于AF固定部12对AF可动部11进行弹性支撑的上侧板簧131、132；用于向霍尔元件161供电的电源线部133、134；以及提取来自霍尔元件161的检测信号的信号线部135、136。通过蚀刻加工，对上侧板簧131、132、电源线部133、134及信号线部135、136进行成型。
上侧板簧131具有两个弹簧部131A和131B。弹簧部131A具有：透镜支架固定部131a，其固定于透镜支架111；磁铁支架固定部131b，其配置于透镜支架固定部131a的径向外侧，并固定于磁铁支架121；以及臂部131c，其连结透镜支架固定部131a和磁铁支架固定部131b。同样地，弹簧部131B具有透镜支架固定部131d、磁铁支架固定部131e、以及臂部131f。透镜支架固定部131a、131d连结在臂部131c的内侧，磁铁支架固定部131b、131e连结在臂部131c、131f的外侧。
透镜支架固定部131a、131d具有与透镜支架111的上弹簧固定部111e对应的形状。通过将透镜支架111的定位凸起嵌插于透镜支架固定部131a、131d的固定孔，来将上侧板簧131相对于透镜支架111进行定位、固定。
磁铁支架固定部131b、131e具有与磁铁支架121的上弹簧固定部121c对应的形状。通过将上弹簧固定部121c的定位凸起嵌插于磁铁支架固定部131b、131e的固定孔，来将上侧板簧131相对于磁铁支架121进行定位、固定。
臂部131c、131f在XY平面内以波动的方式延伸，在AF可动部11移动时弹性变形。
上侧板簧131具有从磁铁支架固定部131b弯曲地延伸的线连接部131g。向AF用线圈部112供电用的吊线33B(参照图5)连接于线连接部131g。上侧板簧131具有从透镜支架固定部131d延伸的俯视为U字状的线圈连接部131h。线圈连接部131h通过焊接与捆绑于透镜支架111的一个捆绑部111f的、AF用线圈部112的一个端部电连接。
上侧板簧132虽然不是与上侧板簧131完全相同的形状，但是由于基本结构相同而省略说明。向AF用线圈部112供电用的吊线33A(参照图5)连接于上侧板簧132的线连接部132g。另外，线圈连接部132h通过焊接与捆绑于透镜支架111的另一个捆绑部111f的、AF用线圈部112的另一个端部电连接。
电源线部133在两个端部具有与磁铁支架121的定位凸起对应的固定孔133a、133b。电源线部133在一个端部具有弯曲地延伸的线连接部133c。向霍尔元件161供电用的吊线32A(参照图5)连接于线连接部133c。电源线部133的另一个端部与位置检测用基板162的电源端子连接。
电源线部134具有与电源线部133对称的形状。向霍尔元件161供电用的吊线32B(参照图5)连接于电源线部134的线连接部134c。另外，电源线部134的另一个端部与位置检测用基板162的电源端子连接。
信号线部135具有与磁铁支架121的定位凸起对应的固定孔135a。信号线部135在一个端部具有弯曲地延伸的线连接部135b。来自霍尔元件161的检测信号提取用的吊线31A(参照图5)连接于线连接部135b。信号线部135的另一个端部与位置检测用基板162的信号端子连接。
信号线部136具有与信号线部135对称的形状。来自霍尔元件161的信号提取用的吊线31B(参照图5)连接于信号线部136的线连接部136b。另外，信号线部136的另一个端部与位置检测用基板162的信号端子连接。
线连接部131g、132g、133c、134c、135b、136b位于磁铁支架121的线插通部121a的光轴方向受光侧。在将上侧弹性支撑部13安装于磁铁支架121的状态下，在线连接部131g、132g、133c、134c、135b、136b与减震材料配置部121d之间形成间隙(参照图5)。在该间隙中配置减震材料。另外，线连接部131g、132g、133c、134c、135b、136b具有易于弹性变形的形状。利用线连接部131g、132g、133c、134c、135b、136b与吊线30的弯曲，可吸收落下时的冲击。因此，能够有效地防止吊线30由于落下等的冲击而塑性变形或断裂。
与上侧弹性支撑部13同样地，下侧弹性支撑部14例如是由铍铜、镍铜、不锈钢等构成的板簧(以下称作“下侧板簧14”)，在整体俯视时具有正方形。下侧板簧14将AF固定部12(磁铁支架121)和AF可动部11(透镜支架111)弹性地连接。通过蚀刻加工对下侧板簧14进行成型。
下侧板簧14(下侧弹性支撑部件)具有四个弹簧部141～144。弹簧部141具有：透镜支架固定部141a，其固定于透镜支架111；磁铁支架固定部141b，其配置在从透镜支架固定部141a旋转了90°的位置，固定于磁铁支架121；以及臂部141c，其连结透镜支架固定部141a和磁铁支架固定部141b。弹簧部142～144也具有相同的结构。
对于透镜支架固定部141a～144a，相邻的透镜支架固定部彼此通过连结部145连结，整体具有与透镜支架111的下弹簧固定部(图示省略)对应的形状。通过将透镜支架111的下弹簧固定部(图示省略)的定位凸起嵌插于透镜支架固定部141a～144a的固定孔，来将下侧板簧14相对于透镜支架111进行定位、固定。
磁铁支架固定部141b～144b具有与磁铁支架121的下弹簧固定部121e对应的形状。通过将下弹簧固定部121e的定位凸起嵌插于磁铁支架固定部141b～144b的固定孔，来将下侧板簧14相对于磁铁支架121进行定位、固定。
在对OIS可动部100进行组装时，首先，将位置检测部16(霍尔元件161及位置检测用基板162)安装到磁铁支架121，将连结磁轭123、124安装到磁铁支架121的磁轭收容部(图示省略)。然后，将上侧弹性支撑部13安装于上弹簧固定部121c。
这时，将电源线部133、134的一端与位置检测用基板162的电源端子焊接而电连接。另外，将信号线部135、136的一端与位置检测用基板162的信号端子焊接而电连接。
接着，将下侧板簧14安装于透镜支架111的下弹簧固定部(图示省略)，在该状态下，将透镜支架111从光轴方向成像侧嵌插到磁铁支架121中。然后，将上侧板簧131、132安装到透镜支架111的上弹簧固定部111e上。另外，在磁铁支架121的下弹簧固定部(图示省略)安装下侧板簧14。
这时，将上侧板簧131的线圈连接部131h与捆绑于透镜支架111的一个捆绑部111f的AF用线圈部112的一个端部焊接而电连接。同样地，将上侧板簧132的线圈连接部132h与捆绑于透镜支架111的另一个捆绑部111f的AF用线圈部112的另一个端部焊接而电连接。
接着，将永磁体122A～122D从光轴方向成像侧插入到磁铁支架121，并进行粘结。同时，在永磁体122A的长度方向端面粘结连结磁轭123的一个磁轭部123a，在永磁体122B的长度方向端面粘结连结磁轭123的另一个磁轭部123b。另外，在永磁体122C的长度方向端面粘结连结磁轭124的一个磁轭部124a，在永磁体122D的长度方向端面粘结连结磁轭124的另一个磁轭部124b。
接着，将磁轭18A～18D通过嵌合安装于磁铁支架121。具体而言，磁轭18A～18D通过永磁体122A～122D的吸引力而吸附于永磁体122A～122D的外表面，且将卡合部184卡合到磁铁支架121的被卡合部1214。由此，磁轭18A～18D配置于定位在永磁体122A～122D的外表面的位置，并卡合于磁铁支架121。在此，阻挡爪部186嵌合于爪嵌合部1212，因此，磁轭18A～18D分别以在XY轴的一个方向和Z轴方向上的移动受到限制的状态，安装于磁铁支架121。这样，对OIS可动部100(AF用驱动部)进行组装。
这样，透镜驱动装置1具有：AF用线圈部112，其配置在透镜部的周围；以及AF用磁铁部122，其相对于AF用线圈部112在径向上间隔开配置。透镜驱动装置1具备AF用驱动部(OIS可动部100)，该AF用驱动部利用由AF用线圈部112和AF用磁铁部122构成的音圈电机的驱动力，使包含AF用线圈部112的AF可动部11在光轴方向上相对于包含AF用磁铁部122的AF固定部12移动，从而自动地进行对焦。
如图7所示，OIS固定部20具备线圈基板21、连接基板22、底座部件23、以及位置检测部24等。
线圈基板21是俯视时呈正方形的基板，在中央具有圆形的开口21a。线圈基板21在四角具有吊线30的另一端(下端)所插入的线固定孔21b。另外，线圈基板21在开口21a的周缘部的与对角方向交叉的位置具有定位孔21c。
线圈基板21在光轴方向上与磁铁部122对置的位置具有OIS用线圈部211。OIS用线圈部211具有与永磁体122A～122D对应的四个OIS线圈211A～211D。以使从永磁体122A～122D的底面放射的磁场在Z方向上横穿OIS线圈211A～211D的每一个长边部分的方式，设定OIS线圈211A～211D及永磁体122A～122D的大小和配置。由磁铁部122和OIS用线圈部211构成OIS用音圈电机。
与线圈基板21同样地，连接基板22是在俯视时呈正方形的基板，在中央具有圆形的开口22a。连接基板22在开口22a的周缘部的与线圈基板21的定位孔21c对应的位置具有定位孔22b。连接基板22在沿Y方向的两边分别具有向下方弯折地形成的控制端子22c。
连接基板22在开口22a的内周缘部的与对角方向交叉的四个部位具有用于向OIS用线圈部211供电的电源端子22d。另外，连接基板22具有用于对AF用线圈部112及OIS用线圈部211供电的电源线(图示省略)、和从位置检测部24输出的检测信号用的信号线(图示省略)。在连接基板22的背面配置对XY平面中的OIS可动部100的位置进行检测的位置检测部24。
位置检测部24例如由利用霍尔效应检测磁场的霍尔元件24A、24B(磁性传感器)构成。霍尔元件24A、24B分别配置在连接基板22的下表面的相邻的两边上的大致中央位置。通过由霍尔元件24A、24B检测由磁铁部122形成的磁场，能够确定出XY平面中的OIS可动部100的位置。此外，也可以独立于磁铁部122将位置检测用磁体配置于OIS可动部100。
与线圈基板21同样地，底座部件23是在俯视时呈正方形的部件，在中央具有圆形的开口23a。底座部件23在开口23a的周缘部的与线圈基板21的定位孔21c及连接基板22的定位孔22b对应的位置具有定位凸起23b。
底座部件23在周缘部上，在与连接基板22的控制端子22c对应的位置具有凹部23c。凹部23c形成为朝向下方向外侧扩展的锥形。另外，底座部件23在开口23a的周缘部具有：收容霍尔元件24A、24B的霍尔元件收容部23d、以及收容连接基板22的电源端子22d的端子收容部23e。
在对OIS固定部20进行组装时，首先，通过焊接将线圈基板21和连接基板22进行粘结。由此，将OIS用线圈部211和连接基板22的电源线(图示省略)电连接。
接着，将底座部件23的定位凸起23b嵌插于线圈基板21的定位孔21c及连接基板22的定位孔22b，将线圈基板21及连接基板22载置于底座部件23。通过将连接基板22的控制端子22c卡合到底座部件23的凹部23c上，来将线圈基板21及连接基板22固定于底座部件23。这样，对OIS固定部20进行组装。
这样，透镜驱动装置1具有：磁铁部122(OIS用磁铁部)，其配置于AF用驱动部；以及OIS用线圈部211，其相对于磁铁部122在光轴方向上间隔开配置。透镜驱动装置1具备OIS用驱动部，该OIS用驱动部利用由OIS用线圈部211、磁轭18及磁铁部122构成的音圈电机的驱动力，使包含磁铁部122的OIS可动部100在与光轴方向正交的平面内相对于包含OIS用线圈部211的OIS固定部20摆动，从而进行抖动修正。
在组装透镜驱动装置1时，将吊线33A、33B的一端分别插通于上侧板簧132的线连接部132g、上侧板簧131的线连接部131g，并通过焊接固定。将吊线32A、32B的一端分别插通于电源线部133的线连接部133c、电源线部134的线连接部134c，并通过焊接固定。将吊线31A、31B的一端分别插通于信号线部135的线连接部135b、信号线部136的线连接部136b，并通过焊接固定。由此，将吊线30与上侧板簧131、132、电源线部133、134、以及信号线部135、136电连接。
接着，将吊线30的另一端(下端)插通于线圈基板21的线固定孔21b，并通过焊接固定。由此，将吊线30与连接基板22的电源线及信号线电连接。即，借助吊线30和上侧弹性支撑部13，能够进行对AF用线圈部112、霍尔元件161的供电以及对霍尔元件161的动作控制。
另外，以包围吊线30的方式将减震材料(图示省略)配置于磁铁支架121的减震材料配置部121d(包含线插通部121a的上部)。减震材料介于上侧板簧131、132与磁铁支架121之间。通过使减震材料(图示)介于上侧板簧131、132与磁铁支架121之间，抑制了不必要的共振(高阶的共振模式)的产生，因此能够确保动作的稳定性。可以使用分配器来将减震材料容易地涂覆到减震材料配置部121d上。作为减震材料，例如能够适用紫外线固化性的硅胶。
以将屏蔽罩2的下端部与连接基板22的接地端子(图示省略)抵接的方式，将屏蔽罩2安装于透镜驱动装置1。屏蔽罩2经由接地端子(图示省略)接地，因此能够遮断EMC(Electro-Magnetic Compatibility)噪声。
在透镜驱动装置1中进行抖动修正的情况下，对OIS用线圈部211通电。若对OIS用线圈部211通电，则基于磁铁部122的磁场与在OIS用线圈部211中流过的电流之间的相互作用，在OIS用线圈部211中产生洛仑兹力(弗莱明左手法则)。洛仑兹力的方向是与磁场的方向(Z方向)和在OIS用线圈部211的长边部分中流过的电流的方向(X方向或Y方向)正交的方向(Y方向或X方向)。由于OIS用线圈部211被固定，因此反作用力作用于磁铁部122。该反作用力为OIS用音圈电机的驱动力，具有磁铁部122的OIS可动部100在XY平面内摆动，从而进行抖动修正。
在透镜驱动装置1中进行自动对焦的情况下，对AF用线圈部112通电。若对AF用线圈部112通电，则基于磁铁部122的磁场与在AF用线圈部112中流过的电流之间的相互作用，在AF用线圈部112中产生洛仑兹力。洛仑兹力的方向是与磁场的方向(X方向或Y方向)和在AF用线圈部112中流过的电流的方向(Y方向或X方向)正交的方向(Z方向)。由于磁铁部122被固定，因此反作用力作用于AF用线圈部112。该反作用力为AF用音圈电机的驱动力，具有AF用线圈部112的AF可动部11在光轴方向上移动，从而进行对焦。
在此，在不进行对焦的未通电时，AF可动部11通过上侧板簧131、132及下侧板簧14保持被吊在无限远位置与微距位置之间的状态(以下称作“基准状态”)。即，在OIS可动部100中，AF可动部11(透镜支架111)通过上侧板簧131、132及下侧板簧14，在相对于AF固定部12(磁铁支架121)被定位的状态下，以能够朝Z方向两侧位移的方式受到弹性支撑。
在进行对焦时，根据是使AF可动部11从基准状态朝微距位置侧移动还是朝无限远位置侧移动，来控制电流的方向。另外，根据AF可动部11的移动距离来控制电流的大小。
在对焦时AF可动部11朝无限远位置侧移动的情况下，透镜支架111的突出部111d的下表面向磁铁部122的上表面接近，最终抵接。即，利用透镜支架111的突出部111d的下表面和磁铁部122的上表面，来限制朝无限远位置侧的移动。
另一方面，在对焦时AF可动部11朝微距位置侧移动的情况下，透镜支架111的突出部111d的上表面向磁铁支架121的阻挡器部121b的下表面接近，最终抵接。即，利用透镜支架111的突出部111d的上表面和磁铁支架121的阻挡器部121b的下表面，来限制朝微距位置侧的移动。
并且，在透镜驱动装置1的AF用驱动部中，基于位置检测部16的检测信号进行封闭回路控制。根据封闭回路控制方式，不需要考虑音圈电机的磁滞特性(hysteresischaracteristics)，而且能够直接地检测出AF可动部11的位置稳定的情况。并且，还能够与像面检测方式的自动对焦对应。因此，响应性能高，能够实现自动对焦动作的高速化。
接着，对摄像机模块A中作为进行抖动修正的OIS驱动部发挥功能的磁铁部122(永磁体122A～122D)、与磁轭18(18A～18D)之间的关系进行说明。
图10是表示磁轭18与磁铁部122之间的关系的透镜驱动装置1的侧视图(右视图)。
对于磁轭18A～18D的形状，将高度、长度、厚度设定为，不会使作为OIS驱动部的磁路发挥功能的永磁体122A～122D中的磁通饱和。
与磁轭18A～18D中在上部中央部分具有凹状部的卡合部184对应地，磁铁支架121的四个侧壁1211的各自的下部的被卡合部1214在下部的中央部分具有嵌合于卡合部184的凹状部的凸状部。
为了使磁通集中，优选磁轭18A～18D全面地安装于各自对应的永磁体122A～122D的外侧面(位于磁化方向上的磁化面)，但由于磁轭18A～18D由例如SPCC等形成，所以也需要考虑其重量。由于将磁轭18A～18D作为AF可动部的一部分而设置，因此若重量增加则用于使其可动的由磁通产生的推力、功耗、装置整体的结构会变大。
对于本实施方式中的在作为OIS驱动部发挥功能的OIS用线圈部211上，自由可动地配置有永磁体122A～122D及磁轭18A～18D的结构，已知磁轭18的上部中央部分附近的磁通密度较低。由此，在本实施方式中，对磁通密度较低的部分进行切割而形成凹状，相应地使磁铁支架121的下部中央部分形成为向下方突出的凸状，使两个部分相互嵌合。
由此，通过减轻重量而不降低磁通密度，从而磁轭18A～18D成为重量效率高的形状。
对于将磁轭18A～18D安装于永磁体122A～122D的磁极面的结构，若相对于永磁体122A～122D，磁轭长度YL过长，则磁通易于从永磁体122A～122D的侧面绕入。由此，使OIS可动部100在XY平面内摆动的推力(用于抖动修正的推力)降低。
另外，若与永磁体122A～122D的高度相比，磁轭18A～18D的高度过高，则磁通易于从永磁体122A～122D的上侧绕入。由此，虽然AF用驱动部的推力增加，但是使OIS可动部100在XY平面内摆动的推力(用于抖动修正的推力)降低。另外，若与永磁体122A～122D的厚度相比，磁轭18A～18D的厚度(该厚度为板厚，即径向的长度、X或者Y轴方向上的长度)过薄，则磁通饱和，磁导降低，使磁通集中的效果减小。另一方面，若厚度过厚，则磁路的效率降低。由此，使OIS可动部100在XY平面内摆动的推力(用于抖动修正的推力)降低。
据此，优选磁轭18A～18D的磁轭长度YL比磁铁部122(永磁体122A～122D)的磁铁长度ML短，例如设为ML的90％的长度。
另外，优选磁轭18A～18D的上部中央部的长度YCL为磁轭长度YL的50％的长度。
另外，优选磁轭18A～18D的高度YT比磁铁部122(永磁体122A～122D)的磁铁高度MT短，例如设为MT的70％的长度。另外，优选磁轭18A～18D的中央部分的高度YCT比磁铁部122(永磁体122A～122D)的磁铁高度MT短，例如设为MT的30％的长度。另外，磁轭18A～18D的厚度为0.16～0.2mm，因此能够将可动部重量设为适合的重量。
依据上述内容，根据磁铁部122(永磁体122A～122D)的形状来设定磁轭18(18A～18D)的形状(长度、高度、厚度)。由此，磁轭18(18A～18D)能够成为使OIS用驱动部(抖动修正)的推力最大、且减少了由磁轭18(18A～18D)带来的重量增加的形状(磁轭18自身的重量效率良好的形状)，OIS用线圈部211中的磁通密度成为不会使磁通饱和的程度(例如，磁通密度为1.5T左右)，还能够使抖动修正用的推力提高。
另外，永磁体122A～122D的磁导也得到提高，因此，也能够使AF用线圈部112所产生的推力(AF用驱动部的推力)提高。例如，在以上述尺寸来构成磁轭18及磁铁部122的情况下，若OIS用线圈部211的推力提高不足20％，则AF用线圈部112的推力会提高5％左右。
根据具有本实施方式的透镜驱动装置的摄像机模块，既能够实现小型化，又能够适当地确保OIS用的推力。
另外，也可以使磁轭18及磁铁部122形成为图11及图12所示的形状。图11及图12是示意性地表示磁轭的变形例的图。图11A、图12A分别是示意性地表示磁铁部122(相当于各永磁体)、磁轭18、以及OIS用线圈部211之间的位置关系的侧视图，图11B及图12B是图11A及图12A所示的磁轭中央部分的剖面图。
图11所示的磁轭18F呈矩形板状，将磁轭18的卡合部设为水平的直线。磁轭18F的磁轭长度YL比磁铁部122的磁铁长度ML短，设为ML的90％的长度。磁轭18F的高度YT比磁铁部122的磁铁高度MT短，例如设为MT的70％的长度。另外，磁轭18F的整体卡合到磁铁支架121的侧壁中的向下方开口的凹状部分，从而构成面状的侧壁部。
根据该结构，磁轭18F在对透镜驱动装置1进行组装时，即使受到永磁体122A～122D的吸引力吸引，也能够定位安装于XY方向上的适合的位置。
图12所示的磁轭18G是在上部的中央开口的凹状。磁轭18G的磁轭长度YL比磁铁部122的磁铁长度ML短，例如设为ML的90％的长度。磁轭18G的中央部分的高度YCT比磁铁部122(永磁体122A～122D)的磁铁高度MT短，例如设为MT的30％的长度。磁轭18A～18D的构成凹状底边的上部中央部的长度YCL例如设为磁轭长度YL的50％的长度。磁轭18G的高度YT比磁铁部122的磁铁高度MT短，例如设为MT的70％的长度。
另外，磁轭18G以其上部卡合到磁铁支架121的侧壁中的向下方开口的凹凸状部分，从而构成面状的侧壁部。
利用该结构，磁轭18F在对透镜驱动装置1进行组装时，即使受到永磁体122A～122D的吸引力吸引，也能够定位安装于XY方向上的适合的位置。另外，在图11所示的磁路中，磁轭18(18A～18D)的上部中央部的磁通密度最低。由此，图12所示的磁轭18G中切除了其上部中央部，因此，能够减小OIS可动部100的重量而不降低磁通密度，提高用于OIS可动部100的推力。此外，与磁轭18G的卡合部184卡合的磁铁支架121的被卡合部1214成为能够对应于磁轭18G的卡合部184的形状进行嵌合的形状。
此外，在本实施方式中，构成为将磁轭18(18A～18D)安装于磁铁部122(永磁体122A～122D)的外表面(磁极面的一个面)，但也可以构成为将磁轭18(18A～18D)安装于磁铁部122(永磁体122A～122D)的内表面、或者内表面及外表面两者。由此，能够进一步增强使OIS可动部100移动的推力。
以上，基于实施方式对由本发明者完成的发明进行了具体说明，但本发明并不限于上述实施方式，能够在不脱离其要点的范围内进行变更。
在实施方式中，作为具备摄像机模块A的摄像机搭载装置的一例，列举作为带有摄像机的便携终端的智能手机进行了说明，但本发明能够适用于作为信息设备或者运输设备的摄像机搭载装置。作为信息设备的摄像机搭载装置，是指具有摄像机模块和对由摄像机模块获得的图像信息进行处理的控制部的信息设备，例如包括带摄像机的便携电话、笔记本电脑、平板终端、便携式游戏机、web摄像机、带摄像机的车载装置(例如后方监控装置、行车记录仪装置)。另外，作为运输设备的摄像机搭载装置，是指具有摄像机模块和对由摄像机模块获得的图像进行处理的控制部的运输设备，例如包括汽车。
图13是表示作为搭载车载用摄像机模块VC(Vehicle Camera，车用摄像机)的摄像机搭载装置的汽车C的图。图13A是汽车C的主视图，图13B是汽车C的后方立体图。汽车C搭载实施方式中说明的摄像机模块A作为车载用摄像机模块VC。如图13所示，车载用摄像机模块VC例如朝向前方安装于挡风玻璃，或者朝向后方安装于尾门。该车载用摄像机模块VC作为后方监控用、行车记录仪用、碰撞避免控制用、自动驾驶控制用等被使用。
应该认为此次公开的实施方式在所有方面均为例示，而非用于限制。本发明的范围并非由上述说明表示，而是由权利要求书表示，并且还包括与权利要求书等同的含义及范围内的所有变更。
2015年8月31日提出的日本专利申请特愿2015-170921号中包含的说明书、附图及摘要的公开内容全部引用于本申请。
附图标记说明
1 透镜驱动装置
2 屏蔽罩
18、18A、18B、18C、18D 磁轭
11 AF可动部
12 AF固定部
20 OIS固定部
100 OIS可动部(抖动修正可动部、AF用驱动部)
111 透镜支架
112 AF用线圈部
121 磁铁支架
122 磁铁部(AF用磁铁部、OIS用磁铁部)
122A、122B、122C、122D 永磁体
184 卡合部(凹状部)
186 阻挡爪部(爪部)
211 OIS用线圈部
1211 侧壁
1212 爪嵌合部
1214 被卡合部(凸状部)
M 智能手机
A 摄像机模块

Claims (8)

1.一种透镜驱动装置，其具备：
抖动修正用驱动部，该抖动修正用驱动部具有：磁铁部，其配置于透镜部的周围；磁铁支架，其保持所述磁铁部；以及抖动修正用线圈部，其相对于所述磁铁部在光轴方向上间隔开配置，所述抖动修正用驱动部利用由所述磁铁部和所述抖动修正用线圈部构成的音圈电机的驱动力，使包含所述磁铁部及所述磁铁支架的抖动修正可动部在与光轴方向正交的面内相对于包含所述抖动修正用线圈部的抖动修正固定部摆动，从而进行抖动修正，
所述抖动修正可动部具有磁轭，该磁轭与所述磁铁支架卡合，在所述磁铁部中配置于与所述光轴方向正交的方向的面侧，且所述磁轭的所述抖动修正用线圈部侧的面与所述磁铁部中的所述抖动修正用线圈部侧的面对齐。
2.如权利要求1所述的透镜驱动装置，其中，
所述抖动修正可动部具有自动聚焦用驱动部，该自动聚焦用驱动部具有配置在透镜部的周围的自动聚焦用线圈部，所述自动聚焦用驱动部利用由所述自动聚焦用线圈部和所述磁铁部构成的音圈电机的驱动力，使包含所述自动聚焦用线圈部的自动聚焦可动部在光轴方向上相对于包含所述磁铁部的自动聚焦固定部移动，从而自动地进行对焦。
3.如权利要求1所述的透镜驱动装置，其中，
所述磁轭具有卡合部，该卡合部与形成于所述磁铁支架的被卡合部卡合，在所述磁铁部中配置于与所述光轴方向正交的方向的面侧，
所述磁轭通过所述卡合部与所述被卡合部的卡合而相对于所述磁铁部定位。
4.如权利要求3所述的透镜驱动装置，其中，
所述磁轭为安装于所述磁铁部的矩形板状，
所述卡合部包含凹状部，该凹状部是将所述磁轭的上部中央部切除而形成的，
所述被卡合部具有卡合于所述凹状部的凸状部。
5.如权利要求3所述的透镜驱动装置，其中，
在所述卡合部及所述被卡合部上设置有爪部及爪嵌合部，所述爪部及所述爪嵌合部相互嵌合，并限制所述磁铁支架及所述磁轭相对地在所述光轴方向上移动。
6.如权利要求1所述的透镜驱动装置，其中，
所述磁铁支架由树脂材料形成，磁轭由作为磁性体的钢板形成，所述磁轭嵌件成型于所述磁铁支架。
7.一种摄像机模块，其具备：
权利要求1所述的透镜驱动装置；
透镜部，其安装于所述自动聚焦可动部；
摄像部，其对通过所述透镜部成像的被拍摄物像进行摄像。
8.一种摄像机搭载装置，其为信息设备或运输设备，具备权利要求7所述的摄像机模块。
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