CN107889548B - 漂移补偿 - Google Patents

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Abstract

电路设计的每个实现定义频率响应。对于设计的测试批次,测量频率响应,每个频率响应在环境参数的稳定值处,其中全体值分布在参数范围上。基于测量结果,定义描述依赖于环境参数的设计的频率响应的设计特定模型。对于在设计的实现的主要批次中的单元,在环境参数的稳定值处测量单元特定频率响应;模型被拟合到响应,由此,得到单元特定模型;与单元相关联地存储表示单元特定模型的数据;以及结合补偿级来操作单元,补偿级配置成确定环境参数的当前值并补偿相对于与参数无关的参考频率响应的漂移。

Description

漂移补偿
技术领域
本文公开的发明通常涉及电路的连续生产和用于操作这样的电路的技术。特别是,它涉及用于以减小环境引起的漂移的影响的方式制造并操作预定电路设计的实现的方法和设备。它还涉及包括预定电路的实现的信号处理设备和配置成补偿通常与电路设计的参考行为或电路设计的特定实现的参考行为有关的漂移的补偿级。
背景
在经历漂移的电路中,在环境条件中的变化导致在电路的操作特性中的通常不希望有的变化。操作特性可包括电压、电流、频率、相位、振幅、总功率、功率谱、延迟、极化和调制特征。环境条件可包括外部因素,例如在环境温度中的波动、内部温度、湿度或磁通量密度,但也有内部因素,例如在被明确地产生用于由电路使用的信号例如给电路供应能量的以电气或光学形式的信号中的变化、输入数据或其它信息。环境条件可以由环境参数的值定量地描述。
在图1A所述的一般方法中,电路110m、120m被建模为响应于电路当前接收的输入信号x(t)而产生输出信号y(t)的设备。如果电路被假设是近似时间恒定的且输入和输出信号被建模为时间的周期性函数(的组合),则电路可在频率ω的不同值处从它的增益G(ω)或相位φ(ω)方面被定量地特征化。术语“频率响应”用于指,对于在相关频率范围ωa≤ω≤ωb中的频率,增益值或相位值或这两者的集合。在本公开中,一般标记Q(ω)意思是覆盖增益、相位和这两个量的任何组合表示(复数或否则二维的,例如Q(ω)=G(ω)exp(jφ(ω)))。由于漂移而改变的电路的操作特性可包括增益或相位或这两者。
电路的精确漂移行为可在不同的操作频率之间在数量上或在性质上不同。可通过在不同的环境条件例如可观察的环境参数的稳定值的集合下测量一系列频率响应来捕获电气特性的漂移的频率相关性。等效的可选方案可以是测量在稳定的操作频率的集合处的电气特性,同时环境条件以已知的方式改变。
除了电路的操作环境的人工稳定化以外,有用于减小漂移的消极性以进行直接测量并接着应用相应的补偿的通常实行的方法。补偿可以例如旨在使电路的当前输出信号(或频率响应)接近于参考信号(或参考频率响应)。有效漂移——即在施加补偿的情况下——从而减小了。
申请人的较早的公开WO14094823A1作为例子被引用,其中提出用于补偿频率相关同相/正交通道失配的技术。直接测量可以是对在变化的环境条件下操作的电路有吸引力的选项,因为漂移引起的变化被捕获为实测信号的部分,并可最终被补偿。基于直接测量的方法然而可能在计算上是昂贵的或否则相对缓慢地做出响应。
从申请人的申请WO10069365A1中,此外已知可使用多个线性滤波器根据模仿模数转换器(ADC)的行为的转换器的离散时间模型来估计并最终补偿在ADC中的非线性误差。根据那个公开,通过应用测试信号并测量相应的输出信号能量来对每个单独的ADC调节离散时间模型。这种方法由于它的相对适度的计算费用和低算法延迟而是有利的,但可能有准确度问题,除非ADC在稳定的环境条件下操作。
概述
本发明的目的是,例如通过提出用于由补偿信号校正电路设计的实现的相应输出信号的技术来提出用于制造可被操作同时经历减小的有效漂移的实现的方法和设备。另一目的是提出具有每单位时间提高的吞吐量的这样的制造方法和设备。再一目的是提出用于操作具有减小的有效漂移的电路设计的实现而不管变化的环境条件的方法和设备。
这些目的中的至少一些由根据仅限定本发明的保护范围的所附独立权利要求的方法和设备实现。从属权利要求限定有利的实施方式。
考虑根据预定的电路设计制造的电路,特别是半导体电路或集成电路。电路设计的例子类型包括:模数转换器、数模转换器、上变频混频器、下变频混频器、频率调制器、频率解调器、可编程增益放大器、低噪声放大器以及通用放大器。可以为电路设计识别至少一个输入-输出信号对,其中输入信号和输出信号可以是电信号本身,或可以可选地使用适当的换能器光学地、机械地、声学地或通过能量的不同物理形式被接收或产生。电路可被看作电路设计的(物理)实现;此外,它们可被认为属于实现的主要批次。可以连续地生产(或以相对大的数量生产,或在工业规模上生产,或大规模地生产)电路。定义了设计特定模型,以便描述依赖于至少一个环境参数的电路设计的所有实现的频率响应(见例如前面的章节)。特别是,设计特定模型可预测不同的频率响应,且一般针对环境参数的不同值而这么做。虽然设计特定模型的准确度可能关于一些或大部分实现是令人满意的,但是制造缺陷、材料缺陷和其它不规则可能使准确度相对于其它实现减小。
在一个实施方式中,在实现的主要批次中的单元经历所有下面的事情。首先,通过在单元上执行测量来在环境参数的稳定值处记录(或测量)单元特定频率响应。设计特定模型当在环境参数的稳定值处被评估时然后拟合到单元特定频率响应,由此,得到描述依赖于环境参数的单元的频率响应的单元特定模型。最后,与单元相关联地存储表示这样得到的单元特定模型的数据。这个实施方式可实现制造电路设计的目的,使得它的至少一个实现可以以减小的有效漂移操作,因为所存储的数据可被访问并用于在实现被操作的背景中预测实现的漂移行为(根据它的频率响应的变化)。
可在实现中将表示单元特定模型的数据存储在从所连接的设备可访问的本地存储器中。可选地,数据存储在配置成与所述实现相关地操作的补偿级的存储器中或在这样的补偿级可在操作期间访问的存储器中。此外可选地,数据可存储在联网库中、在用它相关联的实现的标识符标记的位置处。
单元特定模型可被表示和存储为值的有限表格。在单元的操作期间,这个表格由补偿级读出,补偿级可以可选地在读出的值之间进行插值。可选地,单元特定模型可由公式(取决于频率和环境参数的分析表达式)表示,该公式的数值参数在单元被制造之后拟合到单元,并在操作期间被评估以使补偿成为可能。将模型表示为公式可能有时是更有存储效率的。
在一个实施方式中,补偿级(实现使用该补偿级来操作)配置成确定环境参数的当前值并基于其相对于参考频率响应来补偿漂移,参考频率响应独立于环境参数。特别是,补偿可包括估计在环境参数的所确定的当前值处的单元特定模型并确定在期望准确度内达到与参考频率响应一致所需的补偿的数量。更精确地,补偿可包括确定当前操作频率并评估在当前操作频率处和在环境参数的所确定的值处的频率响应(即增益、相位或这两者)。优选地,补偿在数字域中被实现。因此,在上面提到的电路设计的类型中,优选地,补偿级布置在电路的其中以数字形式表示信号的一侧上。
在一个实施方式中,基于来自在属于电路设计的实现的测试批次的实现上执行的测量的信息来准备设计特定模型。如在本公开中使用的,实现属于“主要批次”,除非它属于“测试批次”。可在具有实质上等效的生产设备的一个或更多个并行生产线上并使用实质上等效的原始材料来生产主要批次。虽然可在测试批次中的实现上执行相对昂贵的测量(例如,环境参数的多个值的频率响应的记录,或等效地,记录对于环境参数的变化值的在固定频率的集合处的响应),在正常成本压力下生产主要批次,由此,测量可朝着最小数量减小,最小数量被认为足以保证每个实现的执行在商业上可接受的界限内。此外由于盈利性原因,通常避免使测试批次变得比合乎情理的更多,而主要批次关于它的总数不被限制;更确切地,主要批次应包括大量实现以受益于规模经济。测试批次可使用与将用于主要批次的相同的生产设备作为单独的测试系列被生产。可选地,通过在连续生产正运行时从主要批次提取所生产的样品来形成测试批次;这意味着主要批次不需要在比测试批次更晚的时间点被生产。在这个可选的方法中,当最早的单元被生产时,没有完整的设计特定模型将是可用的;替代地,我们可稍后回到最早的单元,记录在环境参数的稳定值处的频率响应,并定义如上所示的那些单元的单元特定模型。
在测试批次中的M1实现上,记录N个数量的频率响应,每个频率响应针对环境参数的稳定值。为每个实现记录一个或更多个频率响应。在环境参数的相同值(的集合)处记录所有频率响应是不必要的。虽然对本实施方式不是必要的,在环境参数中的某些变化事实上是合乎需要的,使得设计特定模型可在分布在电路设计的被预期的工作范围上的数据点的基础上被定义。同样,在电路设计的多于一个实现上执行测量是有利的且优选地,这些实现由不同的生产线生产(如果多个生产线被提供),使得单独的不规则“达到平均数”并被中和(neutralized)。因此,将鉴于下面的因素选择在测试批次中的实现的数量M1,就像为这些记录的频率响应的数量N一样:
i)来自市场的较高成本压力
Figure GDA0002893565530000051
减小M1或N或这两者。
ii)较宽的所需工作范围(环境参数)
Figure GDA0002893565530000052
增加N。
iii)在实现之间的较高的变化
Figure GDA0002893565530000053
增加M1
在通过将设计特定模型拟合到越来越多的数据点来逐渐改进设计特定模型的方法中,在实现之间的高变化(第三因素)可转换成模型的缓慢收敛。注意在这样的情况中,设计特定模型的准确度不一定是限制设计的特定实现的性能的因素;替代地,将设计特定模型拟合到单独的实现的增加的努力可能是要采取的更有效的措施。
在一个实施方式中,温度可以是设计特定模型取决于的环境参数。为了有效地覆盖工作范围,可在环境温度(例如实验室温度)处记录测试批次的一些频率响应,当人工冷却或加热被应用时记录其它频率响应。可使用反馈控制来使这个冷却或加热稳定,以便在合理地稳定的温度处记录频率响应。可采用用于使其它环境参数稳定的类似的技术,以便使在测试批次上的测量具有高可靠性。
在一个实施方式中,将设计特定模型拟合到为特定单元(在主要批次中)记录的频率响应的步骤可包括确定近似于在设计特定模型——当为环境参数的所述稳定值被评估时——和在另一个上的单元特定频率响应之间的偏差的单元特定校准项。单元特定校准项可以是与频率无关的,或可随着频率而改变。在后一情况中,单元特定校准项可相应于频率的函数,其为在一方面设计特定模型对于环境参数的值预测的频率响应和另一方面对主要批次中的特定单元记录的实际频率响应之间的差异。可选地,如果施加小于单位一的比例增益,则单元特定校准项可相应于这个差异的按比例缩减的版本。
在一个实施方式中,设计特定模型可包括两个相互独立的贡献:一个是基本频率响应(仅仅频率的函数)而一个是补偿项(环境参数和可选地,频率的函数)。因为这些贡献基于从对测试批次的测量计算的共同数量,这两者都是与单元无关的。可应用于主要批次中的单元的单元特定模型可因此包括三个相互独立的贡献,即与单元无关的基本频率响应、与单元无关的补偿项和单元特定校准项(仅频率的函数)。在数学形式中,令ω表示频率,令T和V是示例环境参数,并令m是识别单元的索引,该单元的单元特定模型被得到,以它们的最一般形式的贡献可被写为:Q0(ω)、P(ω;T,V)、Rm(ω)。单元特定模型可因此被分成受到独立评估的三个项:Qm(ω;T,V)=Q0(ω)+P(ω;T,V)+Rm(ω)。回想起与单元无关的补偿项P和单元特定校准项Rm相对于频率可以是恒定的。注意,单元特定模型可由两种类型的所存储的数据表示,即在针对电路设计的实现的测试批次测量的多个频率响应的基础上准备的数据(第一类型)和在环境参数的稳定值处在单元的单元特定频率响应的测量的基础上准备的数据。重要地,可在单个频率响应的测量的基础上或至少在少量的、独自地对定义单元的频率响应的在统计上可靠的模型将是不够的测量的基础上准备第二类型的数据。
在一个实施方式中,设计特定模型取决于的环境参数可以是用于给电路设计供电的供电电压(或驱动电压)的值。
在一个实施方式中,设计特定模型取决于的环境参数可以是前置放大器的增益的值,电路设计配置成与前置放大器协作。可结合I/Q调制器或I/Q解调器中的ADC(或数字化器)来实行前置放大。
如已经提到的,可为电路设计的每个实现独立地分配参考频率响应。参考频率响应通常是独立于环境参数的函数。可根据当前期望的目标来选择电路设计的特定实现的参考频率响应,当前期望的目标例如特定实现的漂移的减小,或两个实现的相对漂移的减小,或在一组实现中的单元之间的相互漂移的减小,或使两个或更多个实现的频率响应在整个环境参数范围内相等。只有当参考频率响应为每个实现独立地可分配时,才可实现这些目标中的一些。
在一个实施方式中,结合第二实现并结合配置成补偿至少第一实现的漂移的补偿级来操作电路设计的第一实现。在这个实施方式中,参考频率响应是第二实现的频率响应。在这个关系中,第二实现用作参考,而不考虑它经历的相对于环境参数的任何漂移。可选地,第二实现被补偿(由同一补偿级或由另外的补偿级)以具有减小的漂移,且第一实现的参考频率响应被选择,使得它模仿被补偿的第二实现的行为。在这个关系中,可选择第二实现的参考频率响应以尽可能简化漂移补偿任务,特别是通过选择接近(在适当的意义上,例如L1或L2标准)于在工作范围的较大部分中的实际频率响应的参考频率响应。这个布置可帮助减少起源于在两个电路之间的成双失配的误差,例如I/Q不平衡误差和与时间交错的ADC相关的误差。
时间交错ADC是一个示例应用,其中同一电路设计的两个或更多个实现并行地布置,以及其中在实现之间的未受控偏差可降低ADC的准确度。温度和供电电压在这个关系中作为环境参数是优选的。
I/Q调制器和I/Q解调器是另一示例应用,其中协力地操作同一电路设计的两个实现,更精确地,调制器或解调器的两个ADC并行分支。在这个关系中,补偿级可以是可配置成校正相应的ADC输出信号之一(相应于I和Q通道中的每个)的I/Q失配(通道失配)补偿器。可选地,校正被应用在处理I和Q通道并将这些组合成公共输出信号的数据解调器的下游。如果前置放大器布置在ADC的上游(特别是可变增益放大器,例如在I/Q调制器或I//Q解调器的每个分支之中的相应ADC的上游的一个前置放大器或在两个分支的上游的公共前置放大器),信号的特征可随着前置放大器的当前增益而改变。发明人认识到,前置放大增益和/或影响前置放大器的行为(共同地:增益状态)的其它设置在上述意义上作为环境参数是相关的。也就是说,在这个实施方式中,设计特定模型可预测对于不同的增益状态的不同频率响应。
在一个实施方式中,电路设计涉及用于将模拟输入信号转换成数字输出信号的ADC。在多个实现根据参考频率响应的相同拷贝被补偿的意义上,参考频率响应对于这样的设计可以是与单元无关的。这可实现减小漂移并减少瑕疵例如电路设计的非线性的双重目的。发明人认识到,环境参数的有利组合是供电电压和温度。
在一个实施方式中,表示单元特定模型的数据可表示在实际频率响应和参考频率响应之间的差异。可选地,数据可表示实际频率响应和参考频率响应的比。频率响应可包括增益、相位或这些量的组合。这是表示单元特定模型的有利方式,因为平均地说,待表示的值将通常接近于零(对于差异)或接近于一(对于比)。可使用熵编码方法来有效地量化这样的值。
在另一方面中,制造系统包括协作来实现上面所述的类型的预定电路的多个部分。系统的部分可以位于同一地点,特别是物理地被连接或以其他方式被集成,或可以可选地在地理上分布。在一个实施方式中,制造系统包括存储电路设计的设计特定模型的存储器、用于产生电路设计的还未校准的实现的组装部分和通信地耦合到存储器的校准部分。在正常操作中,由组装部分产生的所有实现将由校准部分校准。校准部分特别包括:用于测量所产生的单元的频率响应的分析器、用于确定这样的频率响应被测量时的环境条件(实际上,通过测量在上面提到的环境参数的值)的环境传感器以及用于将设计特定模型拟合到实测频率响应并从而得到单元特定模型的设备编程器,与单元相关的单元特定模型的表示被存储。优选地在环境参数的近似稳定的值处测量频率响应。
因为对在主要批次中的实现只需要有限数量的测量,所提出的制造系统可被实现为具有每单位时间的高吞吐量,从而实现本发明的上述目的之一。
在一个实施方式中,制造系统还包括测试部分,其中测试环境传感器、测试分析器和处理器协作以基于电路设计的实现的测试批次上的测量来定义设计特定模型。如上面已经所述的,当在环境参数的稳定值处维持所述实现之一时,对实现测量频率响应。针对在测试批次中的所有实现且优选地针对环境参数的不同稳定值(的集合)收集数据(频率响应),由此,可定义设计特定模型。表示设计特定模型的数据存储在制造系统的存储器中,其中它可由校准部分访问。
在另一方面中,信号处理设备包括作为预定电路设计的实现的单元、存储表示描述单元的单元特定模型的数据的存储器和配置成基于单元特定模型和一个或更多个环境参数的值来补偿相对于参考频率响应的偏移的补偿级,单元特定模型取决于环境参数。补偿级可使用环境传感器例如本地温度计来确定环境参数的值。可选地,补偿级从信号处理设备的另一部件例如布置成确定供电电压的当前值的伏特计得到这个信息。
在一个实施方式中,信号处理设备的存储器存储表示单元特定模型的量化方面的至少两种类型的数据。如上面解释的,基于相对较大数量的测量(在测试批次上)来得到第一类型的数据,而基于一个或相对较小数量的测量(在单元上,作为主要批次的部分)来得到第二类型的数据。
在另一方面中,通过参考表示上面所述的类型的单元特定模型的数据以漂移补偿来操作预定电路设计的实现。更精确地,确定模型取决于的环境参数的当前值,针对当前值评估模型,并应用适当的校正,以便补偿单元离参考频率响应的偏差。特别是,补偿可包括确定当前操作频率,仅对这个频率评估模型和参考频率响应,并应用局部补偿。当局部补偿被应用时,只得到表示在当前操作频率处或附近的单元特定模型的这样的数据可能就足够了。
在不同的实现中,表示单元特定模型的数据可存储在单元或相关存储器中,或可从在由与单元相关的唯一标识符指定的位置处的联网库获取。
如上面提到的,表示单元特定模型的数据可与查找表或可被评估以得到变量的具体值的表达式有关,该表达式取决于这些变量。表达式可包含基本代数或超越函数或简单的特殊函数或这些的组合。特别是,表达式可以是阶数小于10、优选地小于5、例如小于4的多项式,例如三次或二次多项式。
在另一方面中,提供包括具有指令的计算机可读介质的计算机程序产品,指令用于使可编程计算机执行上面所述的方法之一。下面给出计算机可读介质的例子。
注意,来自上面所述的实施方式的特征可组合以形成新实施方式,而不偏离本发明的范围。这在相互不同的权利要求中列举特征的情况下也适用,除非特征在技术上是不可兼容的。
附图的简要说明
现在将更详细地且参考附图描述实施方式,其中:
图1A示出电路设计;
图1B示出根据一个实施方式的电路设计和相应的补偿级;
图2示出根据一个实施方式的用于实现电路设计的制造系统;
图3示出根据一个实施方式的具有用于存储单元特定模型的集成存储器的电路设计;
图4示出根据一个实施方式的具有集成补偿级和用于存储单元特定模型的存储器的信号处理设备;
图5示出根据一个实施方式的具有补偿级的I/Q解调器的细节;
图6示出根据一个实施方式的具有N≥2个并行子转换器和补偿级的时间交错ADC;
图7A、7B、7C和7D示出根据一个实施方式的具有4个并行子转换器和至少一个补偿级的时间交错ADC的细节;以及
图8示出根据一个实施方式的具有补偿级的频率解调器的细节。
所有附图是示意性的,且通常只示出对说明本发明的目的必要的部分,而其它部分可被省略或仅仅被建议。
实施方式的详细描述
上面简要讨论了图1A。图1B示出相同的单元120m,其为结合补偿级130m来操作的预定电路设计的实现(在主要批次中)。补偿级130m可服务于单元120m或也可服务于额外的单元。然而,为了补偿在单元120m中的漂移的目的,补偿级130m从存储器121m获取表示单元特定模型Qm(ω;T,V)的数据。单元特定模型为在操作频率ω的被允许对在范围内的每个值和两个环境参数T和V预测频率响应(包括增益、相位或这些量的组合)。被允许的范围可以例如是标称值的三元组(ω0,T0,V0)的邻域。在例子中,单元特定模型考虑一个内部量和一个外部量的效应,其中内部量直接从电线读出,而外部量使用传感器131m来测量。在这个实施方式的变形中,单元特定模型可以考虑仅外部或仅内部因素,或任何数量的每个因素的组合。在例子中,单元特定模型取决于V[伏特]的供电电压和T[开尔文]的温度,单元120m使用该供电电压被驱动。在这里,电压可直接从平行于供电电压线的线被读出到单元120m内,而专用温度传感器131m布置在单元120m附近并通信地耦合到补偿级130m
补偿级130m可以可选地接收单元120m的输出信号y(t),它可基于该输出信号来确定当前操作频率ω。强调补偿级130m不需要使用y(t)来确定设备的当前漂移;这替代地由单元特定模型预测。可选地,补偿级130m接收输入信号x(t),并基于那个信号来确定当前操作频率。作为又一可选方案,补偿级130m应用与频率无关的补偿,其中没有确定当前操作频率ω的需要;在这种情况下,单元特定模型可以是与频率无关的,或可由于频率而在小程度上改变,使得具有合理的准确度的那个补偿可被实现而不特别考虑频率。
通过针对环境参数的当前值(和可选地,为当前操作频率)评估单元特定模型,补偿级130m确定单元的实际频率响应120m。基于实际频率响应并基于预定参考频率响应,补偿级130m输出补偿信号,加法器132m将补偿信号加到单元120m的输出信号y(t),由此,得到被补偿的输出信号z(t)。在补偿级130m的正常操作中,与输出信号y(t)关于环境参数的漂移比较,被补偿的输出信号z(t)关于环境参数的漂移(有效漂移)减小了。
如前面提到的,补偿级130m可以可选地访问按照离参考频率响应的实际偏差来表达的单元特定模型。可接着一般使用偏差的恒定倍数作为要加到输出信号y(t)的补偿信号。这种方法可能在计算上是有利的,且如所解释的,从存储器使用的观点来看也是有利的(有效的量化/编码;不需要存储参考频率响应)。然而,如果预期参考频率响应将在单元120m的寿命期间被替代,则将参考频率响应与单元特定模型分开地存储可能是优选的。
在可选的但在功能上等效的实现中,加法器132可由用乘法作用于输出信号y(t)上的乘法器(未示出)代替,因为这个信号由补偿信号所给出的因子重新按比例被调整。在这个实现中,将单元特定模型表示为单元的参考频率响应和实际频率响应的比可能是方便的。
图2示出制造系统200,其为了简单起见作为位于同一地点上的组件并以示意性方式被绘制。回想起制造系统的部分可在地理上被分布和/或可以用非同时发生的方式来操作。在系统中,组装部分210产生单元1201,1202,...,其为预定电路设计的实现。电路设计可在存储器中被编码为硬件描述、电路布局等,并可以可选地由涉及待使用的原始材料的指令补充。单元1201,1202,...在未校准的条件中离开该组装部分,且单元在仍然在这个条件中时的漂移补偿只在直接测量的基础上是可能的。系统200还包括校准部分220、设备编程器230、存储设计特定模型的存储器240以及可选的测试部分250。
在校准部分220中,环境传感器221测量特定模型取决于的一个或更多个环境参数的值。为了说明的目的,环境参数在附图上由T和V表示,且环境传感器221由温度计符号例示;回想起本发明决不限于取决于两个环境参数的模型,也不限于其中一个是温度的环境参数的模型。校准部分220还可包括用于主动引起期望环境条件的装置(未示出),例如用于供应选定供电电压的电源。当所测量或所应用的环境条件在可应用的准确度内是稳定的时,分析器222将测试输入信号x(t)应用于当前存在的单元(在附图上:单元1205),并记录输出信号y(t),以便产生在相关频率间隔[ωab]中的频率响应。接着将这样产生的表示频率响应的数据从分析器222提供到设备编程器230。
设备编程器230配置成从存储器240获取设计特定模型(或其相关部分),并将设计特定模型拟合到在考虑中的单元1205的频率响应,使得单元特定模型被得到。设备编程器230还配置成将表示给定单元120m的单元特定模型的数据存储在与单元相关的存储器130m中。如上面提到的,存储器130m可以在单元120m内部或外部或可以是联网库的部分,它可从该联网库由一个或更多个补偿级(在图2中未示出)访问。
在制造系统200的可选测试部分250中,提供布置在测试分析器252附近的测试环境传感器251连同用于将相关环境条件主动应用于在测试中的单元的可选装置(未示出)。测量结果——包括在相关间隔中的频率响应——由处理器253分析,处理器253基于结果来定义设计特定模型并转发表示模型的数据用于存储在存储器240中。在正常成本压力下,设想只在属于电路设计的实现的测试批次的单元上执行在测试部分250中的测量。只在校准部分220中测量在主要批次中的单元。
关于制造系统200的产品,图3示出具有用于存储表示单元特定模型的数据的集成存储器121m的连续生产的单元120m。优选地具有不需要持久的供电来维持所存储的数据的非易失性类型的集成存储器121m从补偿级(未示出)变得可访问,补偿级可结合单元120m来布置并负责补偿漂移。例如,无线或有线连接可建立在集成存储器121m和补偿级之间。
作为布置包含单元特定模型的集成存储器的上述方法的可选方案,图4示出布置成接收输入信号x(t)并提供被补偿的输出信号z(t)作为它的最终输出的连续生产的信号处理设备400,被补偿的输出信号z(t)由加法器432产生,作为一方面来自为电路设计的实现的单元420的原始输出信号y(t)和另一方面由补偿处理器430准备的补偿信号的和。补偿处理器430可配置成基于从第一存储器421获取并针对当前操作频率和环境参数的当前值评估的单元特定模型并进一步基于从第二存储器422获取的单元的参考频率响应Qref来得到补偿信号,补偿处理器430比较参考频率响应与所预测的频率响应。在图4所示的例子中,从原始输出信号y(t)得到当前操作频率。对于近似时间恒定的电路设计,如果从输入信号x(t)得到操作频率,则将得到等效结果。单元特定模型取决于的环境参数的当前值由布置在单元420附近的传感器431测量。
如在附图上由虚线框指示的,传感器431、加法器432和补偿处理器430可被视为补偿级410,其为包括这些设备的协作组件。这样的补偿级410接收原始输出信号y(t)并产生被补偿的输出信号z(t)。传感器被包括在补偿级410中作为整体部分。补偿级410可被认为将原始输入信号y(t)处理为较少受漂移影响的信号,而不加上抵消离参考频率响应的漂移引起的偏差(的部分)的补偿项。
在图3和4中所示的电路的在工业上有用的应用是ADC。漂移的抵消因此是所示的或在这些电路中启用的补偿布置的主要目的。然而,发明人设想在图4中例示的类型的补偿处理器或补偿级可被给与另外的责任,例如非线性误差的消除或减少。
现在转到当前设想的应用,其中结合另外的实现来操作电路设计的实现,图5示出同相/正交解调器500的细节。在申请人的较早的公开WO10105694A1中更详细地描述了这样的设备。可布置在正交接收机中的I/Q解调器500包括充当同相(I)信号路径的上分支和充当正交(Q)信号路径的下分支。I信号路径包括第一混频器514a,而Q信号路径包括第二混频器514b。这两个混频器514a和514b都适合于处理在输入端口510上的预先放大的射频(RF)信号。基于在点506处提供的所接收的RF信号来产生预先放大的RF信号,适当的增益施加到所接收的RF信号。增益可由公共前置放大器508或由布置在I/Q解调器的每个分支中的相应混频器514a和514b的下游的前置放大器516a和516b(被示为可变增益放大器)施加。优选地,增益是信号自适应的,并可改变,以便对所接收的RF信号中的变化、特别是由于改变接收条件而引起的变化做出响应,以实现在输入端口510处的信号的期望摆幅。
此外,I/Q解调器500包括本地振荡器(LO)单元517,其适合于对混频器514a和514b产生LO信号。提供到混频器514a和514b的LO信号被正交地提供,即理想地,在LO信号之间有90度互相移。混频器514a和514b布置成执行将RF信号的感兴趣信号频带下变频到较低的频率范围。根据在图5中所示的实施方式,I/Q解调器500还包括在图5中的可变增益前置放大器516a和516b的下游示出的分别在I和Q信号路径中的第一滤波器520a和第二滤波器520b。滤波器520a和520b布置成抑制从混频器514a和514b输出且可能被前置放大器516a和516b放大的不需要的频率分量。在图5中,滤波器520a和520b被示为低通滤波器。然而在I/Q解调器可具有不同的类型(例如不一定适合于在直接转换接收机中使用)的其它实施方式中,滤波器520a和520b可替代地是带通滤波器。而且,在图5所示的实施方式中,I/Q解调器500包括分别在I和Q信号路径中的第一ADC 525a和第二ADC 525b。第一ADC 525a适合于将来自滤波器520a的输出信号转换成用于产生实数值未补偿的数字I分量的数字表示。类似地,第二ADC 525b适合于将来自滤波器520b的输出信号转换成用于产生实数值未补偿的数字Q分量的数字表示。这些实数值信号可一起被示为未补偿的复数数字信号。
如在WO10105694A1中解释的,差的信道平衡——即I和Q信号路径的传递函数不近似地相等的条件——限制可实现的图像衰减,其原本是I/Q解调器的合意特性。这样的不平衡通常是由于温度变化、制造不准确性和在I和Q信号路径中的物理部件的其它非理想性。
为了补偿不足的图像衰减的问题,I/Q解调器500还包括补偿级530,其适合于补偿在I和Q信号路径之间的不平衡。补偿级530适合于从在ADCs 525a、525b的下游的点532a、532接收未补偿的数字信号,并减小所述不平衡。在可选的实施方式中,用于基于来自ADCs525a和525b的输出信号来产生信号的一个或更多个中间部件(未示出)可紧接着在这些分量的下游被连接。这样的中间部件的非限制性例子可以例如是滤波器或用于执行采样速率转换例如内插或抽取的部件。
在图5所示的设置的示例实现中,补偿级530基于从存储器521得到并考虑至少一个当前增益状态(或增益设置)的单元特定模型来补偿第一ADC 525a和第二ADC 525b的输出。当前增益状态可以是公共前置放大器508(在图5中由虚线连接线示出)或布置在每个分支或这两个分支中的每个前置放大器516a、516b的设置。(为了说明目的,在图5中建议单元特定模型还包括使用传感器531测量的外部环境参数的影响)。第一ADC 525a朝着参考频率响应Qref,1=Qref,1(ω)被补偿,该参考频率响应独立于增益状态,但可否则接近于第一ADC525a的未补偿的频率响应(在工作范围内)。第二ADC 525b朝着与第一ADC 525a相同或近似相同的频率响应被补偿,即Qref,2=Qref,1。以这种方式配置的补偿级530帮助确保I/Q解调器在整个工作范围内保持平衡,特别是对于前置放大器508和/或前置放大器516a、516b的不同增益状态。
在另一示例实现中,补偿级530由布置在相应的分支中并独立地操作的两个通道式补偿级代替。关于所附权利要求的语言,两个通道式补偿级的组合在功能上构成I/Q失配补偿器。这两个通道式补偿级可被编程以应用相同的参考频率响应,使得两个通道都朝着公共参考点被补偿,且通道失配减小或被限制。这可导致相对更简单的实现,但可通常与比图5所示的选项更带宽限制的性能相关。
使用常见的一般知识和/或例程实验来调整上面参考图5所述的用于在I/Q调制器中使用的补偿级被认为是在本领域中的技术人员的能力内的。
在图8中示出解调器。调节器不同于根据图5的I/Q调制器,因为它在单个通道上而不是在多个通道上操作,公共LO信号被施加到这些通道。换句话说,图8所示的解调器提供实数值标量或实数值矢量作为输出。解调器可布置在RF接收机中或可与RF接收机相关。
解调器包括适合于处理输入信号、优选地RF信号的部件,输入信号在点806处被提供到解调器并提供在点834处的数字信号作为处理的结果。如图8所示,解调器包括第一前置放大器808、滤波器812、混频器814、连接到混频器814的本地振荡器(LO)817、第二前置放大器816、ADC 825和在远下游端处的补偿级830。部件与它们在图5中的对应物类似地运行。特别是,滤波器812可以是低通滤波器。使用这个设置,到达ADC 825的输入侧的信号经历以下操作中的至少一个:混合、过滤、在第一前置放大器808中的放大和在第二前置放大器816中的放大。在实施方式中,至少一个放大器具有可变增益,且它的增益状态(或增益设置)被馈送到补偿级830作为环境参数。因此,补偿级830在给定时间点的行动可被第一前置放大器808的当前增益状态或第二前置放大器816的当前增益状态或这两者影响。更精确地,补偿级830根据在当前增益状态的这个值处评估的单元特定模型通过预测ADC 825的实际行为来补偿相对于(预定)参考频率响应的漂移。
图6示出包括数量N≥2的并行子转换器6201,6202,…的时间交错ADC 600,每个子转换器布置在从时间交错ADC 600的输入端口601延伸到输出端口602的信号路径中。沿着从输入端口601一直到每个子转换器620m的信号路径的相应的潜在地发散的通道频率响应由相应的传递函数610m示意性地指示。在N个子转换器6201,6202,…的下游,布置接收N个输入并产生N个输出的公共补偿级630。在补偿级630的下游,布置选择器640,其示意性地被示为开关,配置成每次将补偿级630的N个输出中的一个连接到时间交错ADC 600的输出端口602。
补偿级630获取表示子转换器6201,6202,…的单元特定模型的数据,并且还包括用于感测单元特定模型取决于的一个或更多个环境参数的当前值的传感器631。传感器631可包括与子转换器6201,6202,…中的每个相关的子传感器,使得环境参数的局部值可以以高准确度被测量。补偿级630能够补偿在每个子转换器6201,6202,…的输出信号中的漂移,使得输出信号接近为相应的子转换器620m设置的参考频率响应Qref,m。时间交错ADC 600的设计者自由选择参考频率响应,其进一步使子转换器6201,6202,…彼此地且在整个相关频率范围内相等;这在下面参考图7A至图7D被讨论。补偿级630可进一步负责补偿在通道频率响应当中的不希望有的发散;前面在申请人的申请EP2158680A1中讨论了这个问题。
在图6所示的结构的变形中,补偿级630可位于选择器640的下游。
图7A示出具有四个并行子转换器7201,7202,7203,7204的时间交错ADC的细节。除了补偿在子转换器7201,7202,7203,7204的每个中的漂移以外,还希望限制在子转换器7201,7202,7203,7204当中的互漂移。为了这个目的,包括三个补偿级73012,73023,73034。这些中的每个连接到相应的环境传感器73121,73123,73134和存储表示子转换器7201,7202,7203,7204的单元特定模型的数据的存储器72121,72123,72134。在补偿器73012,73023,73034的下游,可以提供与图6所示的选择器640类似的选择器。
图7B示出对根据图7A的布局的在功能上等效的可选方案。三个补偿级73012,73032,73042被包括,但与图7A的级联式布局不同,所有三个补偿级使用第二子转换器7202的频率响应作为参考频率响应。暗示第二子转换器720的输出穿过三个连续补偿级的这个差异可转换成在四个被补偿的信号当中的错误传播的减小。
图7C示出对根据图7A的布局的在功能上等效的可选方案。在这里,单个补偿级7301234是所有四个子转换器7201,7202,7203,7204所共有的。因为单个补偿级7301234同时访问来自所有四个子转换器的信号,可预期极好的性能。这也使实现复杂的、可能信号自适应的联合补偿方案变得可能。
最后,图7D示出混合方法,其中第一前置补偿级73013负责减小在第一子转换器7201和第三子转换器7203的输出信号之间的互漂移,以及第二前置补偿级73024负责减小在第二子转换器7202和第四子转换器7204的输出信号之间的互漂移。在前置补偿级的下游,公共补偿级7301234应用最终补偿以进一步减小在每对所提到的信号内和此外在这两对之间的互漂移。由于可从前置补偿级73013和73024预期的稳定化行动,公共补偿级7301234有更易管理的补偿任务要完成,且可能在较宽范围的操作条件下在这个方面中是成功的。
结束语
即使本公开描述并描绘了特定的示例实施方式,本发明不限于这些特定的例子。可做出对上述示例实施方式的修改和变化而不偏离仅由所附权利要求限定的本发明的范围。
在权利要求中,词“包括”并不排除其它元件或步骤,且不定冠词“a”或“an”并不排除多个。某些度量在相互不同的从属权利要求中被陈述的起码事实并不指示这些度量的组合不能有利地被使用。在权利要求中的任何参考符号不应被理解为限制它们的范围。
在上面公开的设备和方法可被实现为软件、固件、硬件或其组合。在硬件实现中,在上面的描述中提到的功能单元之间的任务的划分并不一定相应于到物理单元的划分;相反,一个物理部件可具有多个功能,且一个任务可由在协作中的几个物理部件以分布式方式执行。某些部件或所有部件可被实现为由数字处理器、信号处理器或微处理器执行的软件或被实现为硬件或为专用集成电路。这样的软件可分布在可包括计算机存储介质(或非临时介质)和通信介质(或临时介质)的计算机可读介质上。如本领域中的技术人员公知的,术语“计算机存储介质”包括在任何方法或技术中实现的、用于存储信息例如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其它数据的易失性和非易失性的、可移动和不可移动的介质。计算机存储介质包括但不限于RAM、ROM、EEPROM、闪存或其它存储器技术、CD-ROM、数字通用盘(DVD)或其它光盘存储器、盒式磁带、磁带、磁盘存储器或其它磁性存储设备或可用于存储期望信息并可由计算机访问的任何其它介质。此外,通信介质一般体现计算机可读指令、数据结构、程序模块或在调制数据信号例如载波或其它传输介质中的其它数据并包括任何信息输送介质是技术人员公知的。
在下文的一个或更多个实施方式中可实现本公开的各方面。
1)一种与预定电路设计相关的方法,其中所述电路设计的每个实现定义在频率范围([ωab])中的在输入信号(x(t))和输出信号(y(t))之间的频率响应({Q(ω),ωa≤ω≤ωb}),所述方法包括:
对于在所述电路设计的实现的主要批次中的单元:
iii-1)在至少一个环境参数(T,V)的稳定值处测量所述单元的单元特定频率响应;
iii-2)将在所述至少一个环境参数的所述稳定值处的设计特定模型(Q(ω;T,V)=Q0(ω)+P(ω;T,V))拟合到所述单元特定频率响应,其中所述设计特定模型描述依赖于所述至少一个环境参数的所述电路设计的频率响应,由此,得到描述依赖于所述至少一个环境参数的、所述单元的频率响应的单元特定模型(Qm(ω;T,V)=Q0(ω)+P(ω;T,V)+Rm(ω));
iii-3)与所述单元相关联地存储表示所述单元特定模型的数据。
2)如1)所述的方法,还包括随后的步骤:
iii-4)结合补偿级来操作所述单元,所述补偿级获取表示所述单元特定模型的所述数据,确定所述至少一个环境参数的当前值,并基于所述当前值和所述单元特定模型来补偿相对于参考频率响应({Qref(ω),ωa≤ω≤ωb})的漂移,所述参考频率响应独立于所述至少一个环境参数。
3)如1)或2)所述的方法,还包括在先的步骤:
ii)基于在测试批次上的测量结果来定义所述设计特定模型(Q(ω;T,V)=Q0(ω)+P(ω;T,V))。
4)如3)所述的方法,还包括在先的步骤:
i)测量对所述电路设计的M1实现的测试批次的N个频率响应,其中每个频率响应在所述至少一个环境参数的稳定值((Tn,Vn),1≤n≤N)处被测量,以及所述至少一个环境参数的所述稳定值分布在参数范围({(T,V):Ta≤T≤Tb,Va≤V≤Vb})上。
5)如1)至4)中的任一项所述的方法,其中温度是所述至少一个环境参数之一。
6)如1)至5)中的任一项所述的方法,其中:
所述电路设计配置成由供电电压供电;以及
所述供电电压的电压是所述至少一个环境参数之一。
7)如1)至6)中的任一项所述的方法,其中:
所述电路设计配置成与前置放大器一起使用;以及
所述前置放大器的增益是所述至少一个环境参数之一。
8)如1)至7)中的任一项所述的方法,其中步骤iii-2)包括确定单元特定校准项,所述单元特定校准项接近在一方面的在所述至少一个环境参数的所述稳定值处的所述设计特定模型和另一方面的所述单元特定频率响应之间的偏差。
9)如8)所述的方法,其中所述单元特定模型是以下三个独立贡献的和:
与单元无关的频率响应(Q0(ω));
与单元无关的补偿项(P(ω;T,V)),其随着所述至少一个环境参数而改变;以及
单元特定校准项(Rm(ω))。
10)如2)到9)中的任一项所述的方法,其中步骤iii-4)包括结合所述电路设计的另一实现来操作所述单元,其中所述参考频率响应是所述另一实现的频率响应。
11)如10)所述的方法,其中:
所述电路设计涉及模数转换器;以及
步骤iii-4)包括将所述单元和所述另一实现作为时间交错模数转换系统的并行部件来操作。
12)如11)所述的方法,其中温度和供电电压是所述至少一个环境参数。
13)如10)所述的方法,其中:
所述电路设计涉及模数转换器;
步骤iii-4)包括操作被布置在同相/正交、I/Q、调制器或I/Q解调器的并行分支中时的所述单元和所述另一实现;以及
所述补偿级是I/Q失配补偿器。
14)如13)所述的方法,其中:
前置放大器布置在所述模数转换器的相应一个的上游的每个分支中;
温度和所述前置放大器的增益状态是所述至少一个环境参数。
15)如2)到9)中的任一项所述的方法,其中:
所述电路设计涉及模数转换器,所述输入信号是模拟信号而所述输出信号是数字电信号;以及
所述参考频率响应是与单元无关的。
16)如15)所述的方法,其中:
所述模数转换器配置成由供电电压供电;以及
所述至少一个环境参数是温度和所述供电电压的电压。
17)如2)所述的方法,其中在步骤iii-3)中存储的所述数据在相对于所述参考频率响应的差异或比率方面表示所述单元特定模型。
18)如1)至17)中的任一项所述的方法,其中所述电路设计涉及半导体电路,优选地集成电路。
19)一种用于实现预定电路设计的制造系统,其中所述电路设计的每个实现定义在频率范围([ωab])中的在输入信号(x(t))和输出信号(y(t))之间的频率响应({Q(ω),ωa≤ω≤ωb}),所述制造系统包括:
存储器,其用于存储描述依赖于至少一个环境参数(T,V)的、所述电路设计的频率响应的设计特定模型(Q(ω;T,V)=Q0(ω)+P(ω;T,V));
组装部分,其用于产生应该校准的所述电路设计的实现;
校准部分,其包括:
环境传感器,其用于测量所述至少一个环境参数;
分析器,其布置在所述环境传感器附近并配置成在所述至少一个环境参数的稳定测量值处测量由所述组装部分产生的对于单元的单元特定频率响应;以及
设备编程器,其配置成将所述设计特定模型拟合到在所述至少一个环境参数的所述稳定测量值处的所述单元特定频率响应,由此,得到描述依赖于所述至少一个环境参数的所述单元的频率响应的单元特定模型(Qm(ω;T,V)=Q0(ω)+P(ω;T,V)+Rm(ω)),并与所述单元相关联地存储表示所述单元特定模型的数据。
20)如19所述的制造系统,还包括测试部分,其包括:
测试环境传感器,其用于测量所述至少一个环境参数;
测试分析器,其配置成测量对所述电路设计的实现的测试批次的多个频率响应,在将所述实现之一维持在所述至少一个环境参数的稳定测量值处的同时,每个频率响应被测量;以及
处理器,其配置成:
从所述测试分析器接收测量结果,
基于所述测量结果来定义所述设计特定模型,以及
将表示所述设计特定模型的数据存储在所述制造系统的所述存储器中。
21)一种信号处理设备,包括:
单元,其为预定电路设计的实现;
存储器,其存储表示单元特定模型(Qm(ω;T,V)=Q0(ω)+P(ω;T,V)+Rm(ω))的数据,所述单元特定模型描述依赖于至少一个环境参数的、在频率范围([ωab])中的、在所述单元的输入信号(x(t))和输出信号(y(t))之间的频率响应;以及
补偿级,其配置成:
从所述存储器获取所述数据,
确定所述至少一个环境参数的当前值,以及
基于所述当前值和所述单元特定模型来补偿相对于参考频率响应({Qref(ω),ωa≤ω≤ωb})的漂移,所述参考频率响应独立于所述至少一个环境参数。
22)如21)所述的信号处理设备,其中所述补偿级包括用于测量所述至少一个环境参数的环境传感器。
23)如21)或22)所述的信号处理设备,其中所述存储器至少存储表示所述单元特定模型的量化方面的第一类型的数据和第二类型的数据,
所述第一类型基于针对所述电路设计的实现的测试批次测量的多个频率响应而被准备,以及
所述第二类型基于在所述至少一个环境参数的稳定值处的所述单元的单元特定频率响应的测量而被准备。
24)一种操作作为预定电路设计的实现的单元的方法,所述方法包括:
得到表示单元特定模型(Qm(ω;T,V)=Q0(ω)+P(ω;T,V),ωaω)+P(b)的数据,所述单元特定模型描述依赖于至少一个环境参数的、在频率范围([ωab])中的、在所述单元的输入信号(x(t))和输出信号(y(t))之间的频率响应;以及
确定所述至少一个环境参数的当前值;以及
基于所述当前值和所述单元特定模型来补偿相对于参考频率响应({Qref(ω),ωa≤ω≤ωb})的所述单元的漂移,所述参考频率响应独立于所述至少一个环境参数。
25)如24)所述的方法,其中所述数据将所述单元特定模型表示为公式,以及补偿所述单元的漂移的步骤包括针对所述至少一个环境参数的所述当前值评估所述公式。
26)一种包括具有指令的计算机可读介质的计算机程序产品,所述指令用于使可编程计算机执行1)到18)和25)中的任一项的方法。

Claims (30)

1.一种与预定电路设计相关的方法,其中所述电路设计的每个实现定义在频率范围中的在输入信号(x(t))和输出信号(y(t))之间的频率响应,所述方法包括:
ii)基于在所述电路设计的实现的测试批次上的测量结果来定义所述电路设计的设计特定模型(Q(ω;T,V)),所述设计特定模型描述依赖于影响所述电路设计的操作的至少一个参数(T,V)的、所述电路设计的频率响应;以及
对于在所述电路设计的实现的主要批次中的单元(120m),其中所述主要批次包括在实现的所述测试批次以外的实现,以及其中所述单元在实现的所述测试批次以外:
iii-1)得到作为在所述至少一个参数的特定值处测量的所述单元的频率响应的单元特定频率响应;
iii-2)将在所述至少一个参数的所述特定值处的所述设计特定模型拟合到所述单元特定频率响应,由此,得到描述依赖于所述至少一个参数的、所述单元的频率响应的所述单元的单元特定模型(Qm(ω;T,V));以及
iii-3)与所述单元相关联地存储表示所述单元特定模型的数据。
2.如权利要求1所述的方法,还包括随后的步骤:
iii-4)结合补偿级(130m)来操作所述单元,所述补偿级获取表示所述单元特定模型的所述数据,确定所述至少一个参数的当前值,并基于所述当前值和所述单元特定模型来补偿所述单元的频率响应和参考频率响应(Qref)之间的偏差,其中所述参考频率响应独立于所述至少一个参数。
3.如权利要求1所述的方法,还包括在先的步骤:
i)测量对所述电路设计的M1实现(110m)的测试批次的N个频率响应,其中每个频率响应在所述至少一个参数的特定值处被测量,以及所述至少一个参数的所述特定值分布在参数范围上。
4.如权利要求2所述的方法,还包括在先的步骤:
i)测量对所述电路设计的M1实现(110m)的测试批次的N个频率响应,其中每个频率响应在所述至少一个参数的特定值处被测量,以及所述至少一个参数的所述特定值分布在参数范围上。
5.如权利要求1-4中的任一项所述的方法,其中,温度是所述至少一个参数之一。
6.如权利要求1-4中的任一项所述的方法,其中:
所述电路设计配置成由供电电压供电;以及
所述供电电压的电压是所述至少一个参数之一。
7.如权利要求1或3所述的方法,其中:
所述电路设计配置成与前置放大器(508)一起使用;以及
所述前置放大器的增益是所述至少一个参数之一。
8.如权利要求2所述的方法,其中:
所述电路设计配置成与前置放大器(508)一起使用;以及
所述前置放大器的增益是所述至少一个参数之一。
9.如权利要求4所述的方法,其中:
所述电路设计配置成与前置放大器(508)一起使用;以及
所述前置放大器的增益是所述至少一个参数之一。
10.如权利要求1或3所述的方法,其中步骤iii-2)包括确定单元特定校准项,所述单元特定校准项接近在一方面的在所述至少一个参数的所述特定值处的所述设计特定模型和另一方面的所述单元特定频率响应之间的偏差,以及其中所述单元特定模型是以下三个独立贡献的和:
与单元无关的频率响应;
与单元无关的补偿项,其随着所述至少一个参数而改变;以及
所述单元特定校准项。
11.如权利要求7所述的方法,其中步骤iii-2)包括确定单元特定校准项,所述单元特定校准项接近在一方面的在所述至少一个参数的所述特定值处的所述设计特定模型和另一方面的所述单元特定频率响应之间的偏差,以及其中所述单元特定模型是以下三个独立贡献的和:
与单元无关的频率响应;
与单元无关的补偿项,其随着所述至少一个参数而改变;以及
所述单元特定校准项。
12.如权利要求2、4、8和9中任一项所述的方法,其中步骤iii-2)包括确定单元特定校准项,所述单元特定校准项接近在一方面的在所述至少一个参数的所述特定值处的所述设计特定模型和另一方面的所述单元特定频率响应之间的偏差,以及其中所述单元特定模型是以下三个独立贡献的和:
与单元无关的频率响应;
与单元无关的补偿项,其随着所述至少一个参数而改变;以及
所述单元特定校准项。
13.如权利要求2、4、8和9中的任一项所述的方法,其中步骤iii-4)包括结合所述电路设计的另一实现来操作所述单元,其中所述参考频率响应是所述另一实现的频率响应。
14.如权利要求12所述的方法,其中步骤iii-4)包括结合所述电路设计的另一实现来操作所述单元,其中所述参考频率响应是所述另一实现的频率响应。
15.如权利要求13所述的方法,其中:
所述电路设计是模数转换器设计;
步骤iii-4)包括将所述单元和所述另一实现作为时间交错模数转换系统的并行部件来操作;以及
温度和用于给所述电路设计供电的供电电压是所述至少一个参数。
16.如权利要求14所述的方法,其中:
所述电路设计是模数转换器设计;
步骤iii-4)包括将所述单元和所述另一实现作为时间交错模数转换系统的并行部件来操作;以及
温度和用于给所述电路设计供电的供电电压是所述至少一个参数。
17.如权利要求13所述的方法,其中:
所述电路设计是模数转换器设计;
步骤iii-4)包括操作被布置在同相/正交、I/Q、调制器或I/Q解调器的并行分支中时的所述单元和所述另一实现;
所述补偿级是I/Q失配补偿器;
前置放大器(516a,516b)布置在所述单元和所述另一实现的相应一个的上游的每个分支中;以及
温度和在所述每个分支中的所述前置放大器(516a,516b)的增益状态是所述至少一个参数。
18.如权利要求14所述的方法,其中:
所述电路设计是模数转换器设计;
步骤iii-4)包括操作被布置在同相/正交、I/Q、调制器或I/Q解调器的并行分支中时的所述单元和所述另一实现;
所述补偿级是I/Q失配补偿器;
前置放大器(516a,516b)布置在所述单元和所述另一实现的相应一个的上游的每个分支中;以及
温度和在所述每个分支中的所述前置放大器(516a,516b)的增益状态是所述至少一个参数。
19.如权利要求2、4、8和9中的任一项所述的方法,其中:
所述电路设计是模数转换器设计,所述输入信号是模拟信号而所述输出信号是数字电信号;
所述参考频率响应是与单元无关的;
所述模数转换器设计配置成由供电电压供电;以及
所述至少一个参数是温度和所述供电电压的电压。
20.如权利要求12所述的方法,其中:
所述电路设计是模数转换器设计,所述输入信号是模拟信号而所述输出信号是数字电信号;
所述参考频率响应是与单元无关的;
所述模数转换器设计配置成由供电电压供电;以及
所述至少一个参数是温度和所述供电电压的电压。
21.如权利要求2所述的方法,其中在步骤iii-3)中存储的所述数据在相对于所述参考频率响应的差异或比率方面表示所述单元特定模型。
22.如权利要求1-4、8、9、11、14-18、20和21中的任一项所述的方法,其中所述电路设计是半导体电路设计。
23.如权利要求22所述的方法,其中所述半导体电路设计是集成电路设计。
24.一种用于实现预定电路设计的制造系统(200),其中所述电路设计的每个实现定义在频率范围中的在输入信号(x(t))和输出信号(y(t))之间的频率响应,所述制造系统包括:
测试部分(250),其配置成基于在所述电路设计的实现的测试批次上的测量结果来定义所述电路设计的设计特定模型(Q(ω;T,V)),所述设计特定模型描述依赖于影响所述电路设计的操作的至少一个参数(T,V)的、所述电路设计的频率响应;
存储器(240),其用于存储所述设计特定模型;
组装部分(210),其用于产生应该校准的所述电路设计的实现;以及
校准部分(220),其包括传感器(221)、分析器(222)和设备编程器(230),其中:
所述传感器(221)用于测量所述至少一个参数;
所述分析器(222)被布置在所述传感器附近并配置成对于在实现的所述测试批次以外的并由所述组装部分产生的单元,得到作为在所述至少一个参数的特定测量值处测量的所述单元的频率响应的单元特定频率响应;以及
所述设备编程器(230)被配置成将所述设计特定模型拟合到在所述至少一个参数的所述特定测量值处的所述单元特定频率响应,由此,得到描述依赖于所述至少一个参数的所述单元的频率响应的、所述单元的单元特定模型(Qm(ω;T,V)),并与所述单元相关联地存储表示所述单元特定模型的数据。
25.如权利要求24所述的制造系统,其中所述测试部分包括:
测试传感器(251),其用于测量所述至少一个参数;
测试分析器(252),其配置成测量对所述电路设计的实现的所述测试批次的多个频率响应,在将所述实现之一维持在所述至少一个参数的特定测量值处的同时,每个频率响应被测量;以及
处理器(253),其配置成:
从所述测试分析器接收测量结果,
基于所述测量结果来定义所述设计特定模型,以及
将表示所述设计特定模型的数据存储在所述制造系统的所述存储器中。
26.一种信号处理设备(400),包括:
单元(420),其为预定电路设计的实现;
存储器(421),其存储表示所述单元的单元特定模型(Qm(ω;T,V))的数据,所述单元特定模型描述依赖于影响所述电路设计的操作的至少一个参数(T,V)的、在频率范围中的、在所述单元的输入信号(x(t))和输出信号(y(t))之间的频率响应;以及
补偿级(410),其配置成:
从所述存储器获取所述数据,
确定所述至少一个参数的当前值,以及
基于所述当前值和所述单元特定模型来补偿所述单元的频率响应和参考频率响应(Qref(ω))之间的偏差,其中所述参考频率响应独立于所述至少一个参数,
其中所述存储器至少存储表示所述单元特定模型的第一类型的数据和第二类型的数据,
所述第一类型基于针对所述电路设计的实现的测试批次测量的多个频率响应而被准备,以及
所述第二类型基于在所述至少一个参数的特定值处的所述单元的单元特定频率响应的测量而被准备,
其中所述单元不属于所述电路设计的实现的所述测试批次。
27.如权利要求26所述的信号处理设备,其中所述补偿级包括用于测量所述至少一个参数的传感器(431)。
28.一种操作作为预定电路设计的实现的单元的方法,所述方法包括:
得到表示所述单元的单元特定模型(Qm(ω;T,V))的数据,所述单元特定模型描述依赖于影响所述电路设计的操作的至少一个参数(T,V)的、在频率范围中的、在所述单元的输入信号(x(t))和输出信号(y(t))之间的频率响应;
确定所述至少一个参数的当前值;以及
基于所述当前值和所述单元特定模型来补偿所述单元的频率响应和参考频率响应(Qref)之间的偏差,其中所述参考频率响应独立于所述至少一个参数,
其中所述数据包括第一类型的数据和第二类型的数据,
所述第一类型基于针对所述电路设计的实现的测试批次测量的多个频率响应而被准备,以及
所述第二类型基于在所述至少一个参数的特定值处的所述单元的单元特定频率响应的测量而被准备,
其中所述单元不属于所述电路设计的实现的所述测试批次。
29.如权利要求28所述的方法,其中所述数据将所述单元特定模型表示为公式,以及补偿所述单元的频率响应和参考频率响应之间的偏差的步骤包括针对所述至少一个参数的所述当前值评估所述公式。
30.一种具有指令的计算机可读介质,所述指令用于使可编程计算机执行权利要求1到23和28到29中的任一项的方法。
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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10517021B2 (en) 2016-06-30 2019-12-24 Evolve Cellular Inc. Long term evolution-primary WiFi (LTE-PW)
US11129906B1 (en) 2016-12-07 2021-09-28 David Gordon Bermudes Chimeric protein toxins for expression by therapeutic bacteria
KR102364019B1 (ko) * 2020-08-12 2022-02-18 울산과학기술원 센서 드리프트 보상 방법 및 장치
CN116882333B (zh) * 2023-09-05 2024-01-09 深圳宏芯宇电子股份有限公司 一种芯片极限频率的预测方法、装置、设备及介质

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1050475A (zh) * 1989-09-20 1991-04-03 德国Itt工业股份有限公司 漂移电压均衡运算放大器
CN101399613A (zh) * 2007-09-27 2009-04-01 日立通讯技术株式会社 4值相位调制器
EP2158680A1 (en) * 2007-06-21 2010-03-03 Signal Processing Devices Sweden AB Compensation of mismatch errors in a time-interleaved analog-to-digital converter
WO2010069365A1 (en) * 2008-12-16 2010-06-24 Signal Processing Devices Sweden Ab Methods and apparatuses for estimation and compensation of nonlinearity errors
WO2010105694A1 (en) * 2009-03-20 2010-09-23 Signal Processing Devices Sweden Ab Methods and apparatuses for compensation of i/q imbalance
CN101953157A (zh) * 2008-02-29 2011-01-19 模拟设备公司 用于视频补偿的反馈系统和装置
WO2014094823A1 (en) * 2012-12-18 2014-06-26 Signal Processing Devices Sweden Ab Methods and devices for handling channel mismatches of an i/q down-converted signal and a two-channel ti-adc
CN104199186A (zh) * 2014-09-16 2014-12-10 中国科学院光电技术研究所 一种具有对象频率特性补偿功能的压电倾斜镜高压驱动器

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003247853A (ja) * 2002-02-22 2003-09-05 Heraeus Electro Nite Kk 信号計測用増幅演算器の温度特性補正方法、そのシステム及びこれに用いられる増幅演算器
US6892155B2 (en) * 2002-11-19 2005-05-10 Agilent Technologies, Inc. Method for the rapid estimation of figures of merit for multiple devices based on nonlinear modeling
US7133644B2 (en) 2003-06-06 2006-11-07 Interdigital Technology Corporation Digital baseband system and process for compensating for analog radio transmitter impairments
JP2007280222A (ja) * 2006-04-10 2007-10-25 Toshiba Corp 半導体集積回路の設計システム
JP2009260626A (ja) * 2008-04-16 2009-11-05 Toshiba Mach Co Ltd アナログ入力データの温度補正装置
US9160310B2 (en) 2008-04-30 2015-10-13 Scott R. Velazquez Linearity compensator for removing nonlinear distortion
JP5573781B2 (ja) 2011-06-13 2014-08-20 株式会社デンソー Cr発振回路およびその周波数補正方法
US9595923B2 (en) 2013-03-14 2017-03-14 Peregrine Semiconductor Corporation Systems and methods for optimizing amplifier operations
US9680422B2 (en) * 2013-03-27 2017-06-13 Qualcomm Incorporated Power amplifier signal compensation

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1050475A (zh) * 1989-09-20 1991-04-03 德国Itt工业股份有限公司 漂移电压均衡运算放大器
EP2158680A1 (en) * 2007-06-21 2010-03-03 Signal Processing Devices Sweden AB Compensation of mismatch errors in a time-interleaved analog-to-digital converter
CN101399613A (zh) * 2007-09-27 2009-04-01 日立通讯技术株式会社 4值相位调制器
CN101953157A (zh) * 2008-02-29 2011-01-19 模拟设备公司 用于视频补偿的反馈系统和装置
WO2010069365A1 (en) * 2008-12-16 2010-06-24 Signal Processing Devices Sweden Ab Methods and apparatuses for estimation and compensation of nonlinearity errors
WO2010105694A1 (en) * 2009-03-20 2010-09-23 Signal Processing Devices Sweden Ab Methods and apparatuses for compensation of i/q imbalance
WO2014094823A1 (en) * 2012-12-18 2014-06-26 Signal Processing Devices Sweden Ab Methods and devices for handling channel mismatches of an i/q down-converted signal and a two-channel ti-adc
CN104199186A (zh) * 2014-09-16 2014-12-10 中国科学院光电技术研究所 一种具有对象频率特性补偿功能的压电倾斜镜高压驱动器

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
"Gyro sensor drift compensation by Kalman filter to control a mobile inverted pendulum robot system";Hyung-Jik Lee等;《2009 IEEE International Conference on Industrial Technology》;20090519;第1-6页 *
"Online Drift Compensation for Chemical Sensors Using Estimation Theory";Michael J. Wenzel等,;《IEEE Sensors Journal》;20100920;第11卷(第1期);第225-232页 *
"电涡流传感器温度漂移分析及补偿实现";樊树江等;《传感技术学报》;20040331;第2004年卷(第3期);第427-430页 *

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